专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]差动拉曼光谱测试方法-CN200810115601.1有效
  • 赵维谦;邱丽荣;郭俊杰;周桃庚 - 北京理工大学
  • 2008-06-25 - 2008-10-22 - G01N21/65
  • 本发明属于显微光谱成像技术领域,涉及一种差动拉曼光谱测试方法。该方法融合差动检测方法和拉曼光谱检测方法技术特点,构成一种可实现样品微区光谱检测的测试方法,通过差动技术精确捕捉激发光束聚焦焦点位置,探测对应位置的拉曼光谱,同时采用设计的光瞳滤波器,锐化差动拉曼光谱系统的爱里斑主瓣本发明显著提高了拉曼光谱显微镜的微区光谱探测能力;具有绝对跟踪零点和双极性跟踪特性,实现几何尺度绝对测量;可广泛应用于生物医学、生命科学、生物物理、生物化学、材料、工业精密检测等技术领域,进行微区几何位置和光谱特性的高精度检测
  • 差动共焦拉曼光谱测试方法
  • [发明专利]图像处理装置、程序和显微-CN201080024155.9有效
  • 冈本高明 - 株式会社尼康
  • 2010-06-02 - 2012-05-09 - G02B21/00
  • 本发明涉及能够将TIRF图像和图像简单且正确地重合的图像处理装置、程序和显微镜。基准点检测部(111),从利用全反射显微镜取得的与试料的预定面相关的TIRF图像以及利用显微镜取得的与试料的上述预定面相关的图像中,作为基准点分别检测3点以上的、作为试料的上述预定面的相同位置的像而相互对应的像坐标变换系数计算部(112),计算用于使TIRF图像中的基准点的坐标系和图像中的基准点的坐标系相互变换的坐标变换系数。重合部(113)利用该坐标变换系数,使TIRF图像和图像重合。本发明例如可以应用于对显微镜的观察图像进行图像处理的图像处理装置。
  • 图像处理装置程序显微镜
  • [发明专利]横向相减差动焦干涉元件多参数测量方法与装置-CN201910319735.3有效
  • 赵维谦;邱丽荣;王允 - 北京理工大学
  • 2019-04-19 - 2020-12-11 - G01D21/02
  • 本发明公开的横向相减差动焦干涉元件多参数测量方法与装置,属于光学精密测量技术领域。本发明将高层析、抗散射的显微测量技术创新性地融入大尺寸元件参数测量的面形干涉测量系统中,利用自行提出的横向相减差动测量技术来测量元件曲率半径、透镜折射率、透镜厚度、透镜顶焦距和镜组间隙等参数,利用自行提出的被测工件移向干涉面形测量技术来测量元件的表面面形,以期在同一测量装置上实现元件参数的高精度综合测量,大幅提高测量精度和测量效率,同时有效规避干涉测量无法测试精磨元件曲率半径等尺寸参数的难题,为光学球面加工摆脱传统样板检测束缚提供可能,具有广泛应用前景
  • 横向差动焦干元件参数测量方法装置
  • [发明专利]三差动显微成像方法与装置-CN200410073652.4有效
  • 赵维谦;谭久彬;邱丽荣 - 哈尔滨工业大学
  • 2004-09-02 - 2005-03-02 - G01B9/04
  • 本发明属于显微成像及微观测量技术领域,涉及一种轴向超分辨成像的三差动显微成像方法与装置,该装置包括光源(1),依次放在光源(1)发射端的空间滤波针孔(26)、测量显微物镜(5),其特征在于还包括放置在光源(1)发射端的扩束器(2)、偏振分光镜(3)、放置在偏振分光镜(3)透射光路上的四分之一波片(4)、以及将偏振分光镜(3)反射后的测量光束第一次分为两束测量光的分光镜(10)、将分光镜(10)透射的光束再次分为两束测量光束的分光镜(12),分别汇聚三束测量光的三个聚光镜(17)、(6)和(13),依次位于三个聚光镜前位置、面位置和后位置的三个针孔(18)、(7)和(14),以及分别贴近三个针孔后面的三个光电探测器(19)、
  • 差动显微成像方法装置
  • [发明专利]反射式CARS显微光谱测试方法与装置-CN201710366677.0有效
  • 赵维谦;黄伟华;王允;邱丽荣 - 北京理工大学
  • 2017-05-23 - 2019-07-12 - G01N21/65
  • 本发明属于显微光谱成像探测技术领域,涉及一种反射式CARS显微光谱测试方法及装置。本发明的核心思想是融合激光显微技术与CARS光谱探测技术,采用二向分光系统对瑞利光和CARS光进行无损分离,其中CARS光进行光谱探测,瑞利光进行几何定位。本发明利用曲线顶点与焦点位置精确对应这一特性,精确捕获和定位激发光斑焦点位置,实现高精度的几何探测和高空间分辨的光谱探测,构成一种可实现样品微区高空间分辨光谱探测的方法和装置。通过结合CARS显微技术,激发出的载有样品信息的拉曼散射光要远强于传统自发拉曼光,且激发时间短,为快速检测生物样品和化学材料提供可能。本发明具有定位准确、高空间分辨、光谱探测灵敏度高和测量聚焦光斑尺寸可控等优点,在生物医学,材料检测等领域有广泛的应用前景。
  • 反射式共焦cars显微光谱测试方法装置
  • [发明专利]光路双频外差显微测量装置-CN200410003475.2有效
  • 孟永钢;柳忠尧;阎聚群;张蕊;林德教;殷纯永 - 清华大学
  • 2004-03-30 - 2005-01-12 - G01B9/04
  • 光路双频外差显微测量装置,属于表面形貌测量技术领域。为了在提高分辨率和量程的同时保证系统有高的稳定性,本发明公开了一种光路双频外差显微测量装置,包括横向塞曼双频激光器,依次设置在激光器发射端轴线上的分光镜、第一会聚透镜、第一针孔、第一胶合透镜、第一半透半反镜、双折射透镜组和显微物镜,以及设置在分光镜反射光路上的第一光电探测器;还包括设置在第一半透半反镜的反射光路上的第二半透半反镜,以及分别设置在第二半透半反镜反射光路上的格兰棱镜、第二胶合透镜、第二针孔、第二光电探测器
  • 共光路双频外差显微测量装置
  • [发明专利]一种带光谱测量功能的多功能装置-CN202111657391.0在审
  • 刘杰波 - 深圳立仪科技有限公司
  • 2021-12-30 - 2022-04-05 - G02B27/00
  • 本发明公开一种带光谱测量功能的多功能装置,包括:光孔径、色散部以及第二功能部,至少一组经色散部色散后的色散光的聚焦焦点的分布轴线与至少一条第二功能部检测或加工的轴线同轴,且色散部和第二功能部之间,互相没有实现功能必须的光线通过对方至少一片镜片的带光度的区域本发明既能够测量高度又能够平面成像或做其它检测、加工,且两者的光线同轴,从而减小误差,可以用于显微镜成像对焦以让显微镜高度调节到合适的位置,也可以使用平面成像确定需要测量高度的位置,也可以用于其它加工装置还可以减少在光谱测量和其它功能之间来回跑位浪费的时间,提高检测或加工效率。
  • 一种光谱测量功能多功能装置

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