专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]一种用于拉曼光谱测试的入射路偏振装置-CN202121072710.7有效
  • 张飒;韩龙飞;杨存旭;郑腾飞;余煜玺 - 厦门大学
  • 2021-05-19 - 2021-11-23 - G01N21/01
  • 一种用于拉曼光谱测试的入射路偏振装置,设于拉曼光谱仪的入射路上,包括底座、刻度盘、柱形凹槽和两块固定玻片;底座上设有若干个连接孔,用于连接拉曼光谱仪;刻度盘通过旋钮连接在底座上方;柱形凹槽竖直固定于刻度盘的中央;两块固定玻片分别上下固定于柱形凹槽内,且两块固定玻片之间接触;其中,随着刻度盘的转动,带动柱形凹槽及固定玻片同时转动,在固定玻片的作用下对拉曼光谱仪的入射路进行偏振选择,使得与固定玻片方向一致的偏振入射通过路,阻断其他方向的入射,实现入射偏振方向的改变。其与商用拉曼光谱仪进行联用配合,能实现不同偏振角度的入射激发下的拉曼光谱观测,在极性材料的拉曼观测方面有突破进展。
  • 一种用于光谱测试入射偏振装置
  • [实用新型]一种用于硅芯片的路系统及模块-CN202221197986.2有效
  • 丁晓亮;田桂霞;甘飞;李量;汪军;梁波;包苓暄;梁巍 - 苏州卓昱光子科技有限公司
  • 2022-05-18 - 2022-11-04 - G02B6/42
  • 本实用新型涉及一种用于硅芯片的路系统及模块,包括:激光器,向硅芯片提供两路入射;透镜,设置在硅芯片与激光器之间,激光器发出的两路入射经同一透镜聚光后分别射入到硅芯片的两个耦合入光光口中。本实用新型采用两路入射共用一个透镜的路系统,两路入射以透镜中心位置和两个耦合入光光口的中心位置为轴线,对称偏离设置在轴线的两侧,经过透镜折射后,两路入射能够分别入射到硅芯片上两个不同的耦合入光光口中,相比于现有技术中需要设置两个透镜分别引入两束激光,本实用新型的路系统减小了路系统所占的空间,减少元器件的数量,并且,入射经过透镜折射后倾斜射入到耦合入光光口中,改善了回损性能。
  • 一种用于芯片系统模块
  • [发明专利]导装置-CN201610030397.8在审
  • 邬斯华;罗辑 - 法雷奥照明湖北技术中心有限公司
  • 2016-01-15 - 2017-07-25 - G02B6/00
  • 本发明的实施例提供了一种导装置,包括入射端部,具有用于接收入射的端面;以及导向部和出射部,所述导向部和出射部分别位于导装置的相对的两侧,所述导向部用于将由入射端部入射朝向光出射部引导以从出射部射出,其中,所述入射端部的至少一部分表面设置有均匀化区域,所述均匀化区域配置成对入射进行均匀化。该导装置能够对入射进行均匀化处理以提高导装置的出射的均匀性。
  • 装置
  • [发明专利]红外探测器-CN202210954877.9在审
  • 郑军;刘智;左玉华;成步文 - 中国科学院半导体研究所
  • 2022-08-10 - 2022-11-04 - H01L31/0232
  • 本发明公开了一种红外探测器,包括:N型硅衬底;光吸收层,设置于N型硅衬底上的部分区域,适用于吸收入射;P型掺杂层,设置于光吸收层上,P型掺杂层设置有一凹陷区,凹陷区暴露光吸收层;光栅结构,设置于凹陷区内,光栅结构和P型掺杂层都与光吸收层顶部相连,光栅结构适用于通过对入射进行折射以改变入射的角度,使入射沿光吸收层的水平方向传播。通过设置光栅结构可以改变入射的方向,增加光吸收层吸收的效率,有效降低光吸收层的厚度。
  • 红外探测器
  • [发明专利]显示设备-CN202010342162.9有效
  • 益村和敬;佐藤哲史 - 天马日本株式会社;武汉天马微电子有限公司
  • 2020-04-27 - 2023-09-12 - G02B30/56
  • 一种显示设备,包括:包括空中成像元件的光学系统,以及具有反射的镜面的反射组件,其中所述反射组件被布置为反射第一入射以向所述空中成像元件发射作为第二入射,所述第一入射从投影对象发射并被空中成像元件反射,并且其中空中成像元件反射所述第一入射以便在与投影对象相对于形成空中成像元件的平面呈面对称的位置形成第一实像;以及反射第二入射以便在与由反射组件形成的第一实像的虚像相对于平面呈面对称的位置形成第二实像
  • 显示设备
  • [发明专利]芯片自动耦合测试设备及方法-CN202111006781.1有效
  • 段吉安;彭晋文;徐聪;唐佳;卢胜强;周海波;郑煜;罗志;刘蕾 - 中南大学
  • 2021-08-30 - 2023-03-10 - G01M11/02
  • 本发明提供了一种硅芯片自动耦合测试设备,包括:光纤入射组件,所述光纤入射组件夹持有入射纤,所述入射纤连通光源,所述光纤入射组件用于调整所述入射纤的位置和角度,将所述入射纤与硅芯片的光栅入口进行耦合;光纤出射组件,所述光纤出射组件夹持有出射光纤,所述出射光纤连通检测器件,所述光纤出射组件用于调整所述出射光纤的位置和角度,将所述出射光纤与硅芯片的光栅出口进行耦合;视觉检测组件,所述视觉检测组件用于检测所述入射纤和出射光纤的位置和角度;精确测距组件,所述精确测距组件用于精确检测各组件到硅芯片的距离;载物组件,所述载物组件用于装载硅芯片。本发明提供了一种硅芯片自动耦合测试方法。
  • 芯片自动耦合测试设备方法
  • [发明专利]一种晶圆检测系统及检测方法-CN202111122354.X在审
  • 高硕;黄鑫 - 长鑫存储技术有限公司
  • 2021-09-24 - 2023-03-28 - G01D21/02
  • 本申请实施例提供一种晶圆检测系统及检测方法,晶圆检测系统包括:具有镂空底座的悬浮支撑装置,悬浮支撑装置用于向晶圆提供磁力,以使晶圆悬浮于镂空底座上方;晶圆具有相对的第一面和第二面,且第一面朝向悬浮支撑装置;第一光学检测模块,用于提供第一入射,并接收第一入射经由第一面反射形成的第一反射;第二光学检测模块,用于提供第二入射,并接收第二入射经由第二面反射形成的第二反射;分析模块,基于第一入射和第一反射对第一面进行分析,并基于第二入射以及第二反射对第二面进行分析
  • 一种检测系统方法
  • [实用新型]光源系统及投影系统-CN201220050462.0有效
  • 胡飞;侯海雄 - 深圳市光峰光电技术有限公司
  • 2012-02-16 - 2012-09-19 - G03B21/20
  • 本实用新型实施例公开了一种光源系统及投影系统,该光源系统包括固态光源阵列,由至少两组固态光源组排列而成,该阵列用于产生一束入射,该束入射包括分别由该至少两组固态光源组产生的至少两部分入射;成像装置,用于将至少两部分入射分别成像至波长转换装置的不同位置;波长转换装置,用于在不同的位置分别接收至少两部分入射,并输出一束出射,该束出射包括与至少两部分入射对应的至少两部分色坐标均不同的出射
  • 光源系统投影
  • [发明专利]用以进一步传输入射的产品和生产该产品的方法以及该产品和方法的使用-CN01807906.7无效
  • 彼得·梅尔比 - 光线有限公司
  • 2001-04-11 - 2003-06-04 - E01F9/06
  • 本发明涉及到一种产品(1)和用来制造进一步传输入射的产品(1)的方法,包含至少一层(3)材料(2),在其中包埋了许多光导纤维(6),每个光导纤维(6)包含输入面(7)用来截取入射,和输出面(8)用来发射从输入面(7)传来的入射,其中,所述的表面(7、8)用主体(9)连接,入射可以穿过它从输入面(7)传导到输出面(8),所述的输出面(8)和所述的输入面(7)露出在材料层(3)之外,所述的层(3)包含朝向入射的第一表面输入面(7)和输出面(8)都可以截取和发射光线并且都从第一表面(4)伸出,所述的光线包括可见光和紫外、红外。从而实现了一种产品和用来制造所述产品的方法,其中该产品可以沿与入射被截取时相同的方向反射入射。因此产品适用于公路上的行车指示线、标记、衣服、藻类生长、机场、通信和数据通信等。
  • 用以进一步传输入射产品生产方法以及使用

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