专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学量测方法-CN201410505496.8有效
  • 蔡博修;黄怡 - 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
  • 2014-09-26 - 2018-08-10 - H01L21/66
  • 一种光学量测方法,包括:获得待测光学散射光谱;获得与待测光学散射光谱匹配的多个标准光学散射光谱;提供对空白晶圆进行光斑照射所得到的空白光学散射光谱,将每个标准光学散射光谱与空白光学散射光谱进行叠加,对应每个标准光学散射光谱得到多个叠加光学散射光谱;将待测光学散射光谱与所有的叠加光学散射光谱进行第二次匹配,获得多个第二匹配度;若所有第二匹配度均小于所有第一匹配度,输出匹配度最高的标准光学散射光谱对应的标准结构参数;若至少一第二匹配度大于第一匹配度,返回使用光斑照射光学检测结构的步骤。第二次匹配可用于检验第一次匹配结构的准确性,以确保最终的光学量测结果的准确性。这显著提升了光学量测结果的准确性。
  • 光学方法
  • [发明专利]多带通光学干涉滤光器-CN202210800384.X在审
  • C·布罗;M·比尔格;G·J·奥克肯福斯 - VIAVI科技有限公司
  • 2022-07-06 - 2023-01-13 - G02B5/28
  • 一种光学装置包括光学传感器、基于染料的光学滤光器和多带通光学干涉滤光器。多带通光学干涉滤光器被配置为使第一光谱范围的可见光、第二光谱范围的可见光和第三光谱范围的可见光通过。第二光谱范围不与第一光谱范围重叠,第三光谱范围不与第一光谱范围和第二光谱范围重叠。多带通光学干涉滤光器还被配置为防止第四光谱范围的近红外光通过。针对在0与30°之间的入射角,与第一光谱范围、第二光谱范围和第三光谱范围中的每个光谱范围相关联的角偏移小于或等于光谱范围的中心波长的2.0%。
  • 多带通光学干涉滤光
  • [发明专利]控制由光源产生的输出光束的光谱特性-CN202080077398.2在审
  • 赵颖博 - 西默有限公司
  • 2020-10-16 - 2022-06-17 - H01S3/08
  • 一种系统包括:包括多个光学振荡器的光源;光谱分析设备;以及控制器。每个光学振荡器被配置为产生光束。该控制器被配置为:基于来自光谱分析设备的数据,确定光学振荡器中的一个光学振荡器的光束的光谱特性是否不同于多个光学振荡器中的至少另一光学振荡器的光束的光谱特性。如果光学振荡器中的第一光学振荡器的光束的光谱特性不同于光学振荡器中的另一光学振荡器的光束的光谱特性,则控制器被配置为调整光学振荡器中的第一光学振荡器的光束或光学振荡器中的至少一个其它光学振荡器的光束的光谱特性
  • 控制光源产生输出光束光谱特性
  • [发明专利]一种基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法-CN201610314482.7在审
  • 刘金涛;张凯临;宋小全;吴松华;刘秉义 - 中国海洋大学
  • 2016-05-13 - 2016-10-12 - G01J3/45
  • 基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法,由光学接收系统、基于虚像相位阵列光学滤波器、匹配光学透镜、多通道光电探测系统、数据采集和处理系统构成。基于虚像相位阵列光学滤波器由虚像相位阵列和衍射光栅构成,其输出为二维空间排列的光谱干涉条纹。通过调节虚像相位阵列和衍射光栅的参数,以及匹配光学透镜焦距,可以调整基于虚像相位阵列光学滤波器输出干涉条纹的光谱特性。基于虚像相位阵列的扫频式光谱测量方法可以应用于各种与原子光谱和分子光谱相关的测量,如米散射(Mie)光谱、瑞利(Rayleigh)散射光谱、布里渊(Brillouin)散射光谱、拉曼(Raman)光谱、荧光光谱、等离子光谱
  • 一种基于虚像相位阵列扫频式光谱测量方法
  • [发明专利]光学传输设备和光学传输方法-CN201980017992.X有效
  • 间龙二 - 日本电气株式会社
  • 2019-03-11 - 2022-09-20 - H04J14/02
  • 为了提供一种能够在考虑光学组件特性的同时,实现WDM信号的光谱控制的光学传输设备,光学传输设备被设置有:WSS;波长监视器,该波长监视器输出表示第一光谱的信号,该第一光谱是WSS光学输出的光谱光学处理单元,该光学处理单元使WSS光学输出经受预定处理;温度监视器,该温度监视器输出指示光学处理装置的温度的信号;以及控制单元,该控制单元接收表示第一光谱的信号和表示温度的信号的输入,并且基于第一光谱和温度来控制
  • 光学传输设备方法
  • [发明专利]光学分析系统-CN200380107083.4有效
  • R·F·M·亨德里克斯 - 皇家飞利浦电子股份有限公司
  • 2003-11-21 - 2006-02-01 - G01J3/28
  • 光学分析系统(1)设置成确定光学信号的主成分的振幅。光学分析系统(1)包括用于探测由第一光谱加权函数加权的光学信号的第一探测器(5),以及用于探测由第二光谱加权函数加权的光学信号的第二探测器(6)。为了改进信噪比,光学分析系统(1)进一步包括色散元件(2),用于光谱色散光学信号;并包括分配元件(4),用于接收光谱色散光学信号,并用于将由第一光谱加权函数加权的第一部分光学信号分配到第一探测器(5)且将由第二光谱加权函数加权的第二部分光学信号分配到第二探测器光谱分析系统(30)和血液分析系统(40)均包括根据本发明的光学分析系统(1)。
  • 光学分析系统

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