专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统-CN201610948968.6在审
  • 彭先德;向勇 - 电子科技大学
  • 2016-10-26 - 2017-02-22 - G01B11/06
  • 本发明涉及薄膜技术领域,具体涉及一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法及系统。一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的方法,提供多组已知光学薄膜厚度的标准样品,获得多组标准样品中光学薄膜厚度与光学薄膜反射率光谱的色空间坐标之间的对应关系;基于测量待测样品的反射率光谱并获取其对应的色空间坐标,并依据所述对应关系得到待测样品的光学薄膜厚度。在测量待测样品的反射率光谱时,对于待测样品表面的光学薄膜不会造成损害,且测试时间短,因此本发明所提供的方法具有对光学薄膜无损害,且测量快速的优点。一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度的系统,具有对光学薄膜无损害,且测量快速的优点。
  • 一种基于反射率光谱测量光学薄膜厚度方法系统
  • [实用新型]一种台式高精度激光诱导击穿光谱采集系统-CN202020138166.0有效
  • 郑重;杨新艳;苏云;易裕生;吕海萍 - 深圳青锐科技有限公司
  • 2020-01-20 - 2020-10-30 - G01N21/01
  • 本实用新型涉及一种台式高精度激光诱导击穿光谱采集系统,包括样品盘、光谱采集组件、图像传感组件以及光学共轴地传导激光束至所述样品盘上的样品的第一光学体和第二光学体,所述第二光学体外连接有第三光学体,所述第二光学体和所述第三光学光学共轴地将来自样品的光谱信号传导至所述光谱采集组件和图像传感组件,所述第一光学体与所述第二光学体相对设置且通过多个第一联杆连接,所述第三光学体分别与所述光谱采集组件和所述图像传感组件相对设置且通过多个第二联杆和多个第三联杆连接。该系统能将光束严格约束在系统的光学中心,从而获得较佳的聚焦效果,具有较高的光学分辨率,同时光路稳定,光学共轴精度高,并具有图谱成像和分析功能。
  • 一种台式高精度激光诱导击穿光谱采集系统
  • [发明专利]可切换多光谱光学传感器-CN202180042321.6在审
  • K·D·波维尔;V·普拉德普 - 微软技术许可有限责任公司
  • 2021-05-17 - 2023-04-04 - G01J3/02
  • 一种光学系统,包括多光谱光学元件、可切换滤波器、双带通滤波器和传感器。多光谱光学元件接收至少处于第一光谱带和第二光谱带中的光。双带通滤波器滤除可切换滤波器的过渡区域中在第一光谱带与第二光谱带之间的光的波长。可切换滤波器以第一模式和以第二模式过滤从双带通滤波器接收的第一光谱带中的光,在第一模式中可切换滤波器透射第一光谱带中的光,在第二模式中可切换滤波器不透射第一光谱带中的光。传感器被设置在图像平面处,并且多光谱光学元件被配置为针对光谱带中的每个产生高于光谱带的预定阈值的调制传递函数值。
  • 切换光谱光学传感器
  • [发明专利]基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法-CN202310071117.8在审
  • 丁雷;王增伟;雷松涛;杨溢;成龙 - 中国科学院上海技术物理研究所
  • 2023-01-12 - 2023-06-27 - G01J3/28
  • 本发明涉及光学仪器设备监测技术领域,所要解决的技术问题是提供一种基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法,至少包括以下步骤:添设辅助测量基准面;确定需要位置校正的光学元件;量化及统计光学元件位置调动;量化及统计光校过程中仪器光谱成像质量;建立调动量‑光谱成像质量之间的数学代理模型;求解镜室最优调动量;结束,输出结果。本发明创造性地提出了基于数学代理模型的高光谱光学仪器的光校方法,能够有效地建立仪器光谱成像质量与大规模光学元件校正量之间的定量化关系,实现宽幅高光谱光学仪器在低温真空环境下的快速、高精度光学校正。本发明大大提高了低温真空环境大规模光学元件光校的可适用性和可操作性。
  • 基于数学代理模型光谱光学仪器校方
  • [发明专利]共焦显微系统及其光学照明装置-CN202010856792.8在审
  • 陈亮嘉;伍国玮;周钰轩 - 陈亮嘉
  • 2020-08-24 - 2022-02-25 - G01B11/24
  • 本发明提供共焦显微系统及其光学照明装置。该共焦显微系统,包括一光学照明装置。该光学照明装置包括有一光学模块以及一光调制单元。该光学模块,用以产生多道具有一连续光谱或准单频光谱的入射光。该光调制单元,具有多个光调制元件,每一光调制元件用以接收具有不同入射角度的入射光,并将其调制形成具有一发散角度范围的调制光,使该多个反射元件所产生的总体绕射效应不会破坏连续光谱的连续性,使得调制光的光谱图形接近于该连续光源的光谱图形,或确保后端光学系统对准单频光谱的接收性。通过此特性,该光学照明装置与共焦显微系统结合,可以保持光谱完整性或光能的有效传递,进而可以提升表面形貌深度测量的准确度。
  • 显微系统及其光学照明装置
  • [发明专利]航空高光谱遥感反演边界层气溶胶光学厚度的大气校正法-CN200510027524.0无效
  • 孙娟;段玉森;束炯 - 华东师范大学
  • 2005-07-05 - 2005-12-21 - G01B21/08
  • 一种涉及航空高光谱遥感反演边界层气溶胶光学厚度的大气校正法,尤指一种针对国产航空高光谱遥感器得到的高光谱图像,实现城市大气边界层气溶胶光学厚度的反演,属于大气环境遥感应用领域。该方法主要解决如何从大气透射光谱中提取边界层气溶胶光学厚度信息及如何进行大气校正等技术问题;该方法通过大气辐射传输原理,从大气透射光谱中提取边界层气溶胶光学厚度信息,通过将大气模式、气溶胶模式在边界层内进行再次插值得到表现反射率,实现反演边界层气溶胶光学厚度的计算。本发明的优点:本发明针对OMIS成像光谱仪,结合边界层大气辐射传输原理,从大气透射光谱中提取气溶胶光学厚度信息并进行大气校正。
  • 航空光谱遥感反演边界层气溶胶光学厚度大气校正

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