“颗粒强度测量”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果2994134个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[发明专利]一种颗粒两相流浓度测量方法、装置和计算机设备-CN202310834355.X在审
发明人：李玉宇;孟磊;刘万里;梁秀广;张国柱;白玉勇;杜明生;彭思伟 -专利权人：大唐环境产业集团股份有限公司
申请日： 2023-07-07 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： G01N29/02 文献下载
摘要：本申请涉及颗粒两相流中颗粒相浓度测量技术领域，特别是涉及一种颗粒两相流浓度测量方法，通过获取待测颗粒两相流散射的超声后向散射信号；根据超声后向散射信号得到超声后向散射系数，并通过无因次尺寸参数根据超声散射信号得到散射信号强度；根据蒙特卡罗模型将散射信号强度换算为声子数；根据散射系数和声子数得到待测颗粒两相流的浓度。本申请仅需一个超声换能器即可完成声波发射和散射信号的接收，结合蒙特卡罗模型数值分析得到超声后向散射声子数与浓度之间的对应关系，建立超声后向散射系数与浓度之间的变化曲线，经多项式拟合得到预测浓度信息的定量关系式，实现待测颗粒两相流中颗粒相浓度的准确测量
一种颗粒两相浓度测量方法装置计算机设备

[发明专利]一种通过单固桥测量颗粒材料的结块强度参数的方法及装置-CN202010007820.9有效
发明人：龚俊波;陈明洋;余畅游;姚孟惠;刘岩博;汤伟伟;吴送姑;杜世超;高振国;侯宝红;尹秋响 -专利权人：天津大学
申请日： 2020-01-05 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种通过单固桥测量颗粒材料的结块强度参数的方法及装置，通过装置固定两个颗粒，控温控湿使两个颗粒之间生成单个固桥，通过显微镜测定固桥半径，并用外力破坏固桥，从而采用公式σ＝C/πb2或σ＝G/πbc2计算获得该材料的结块强度参数。其中，σ为颗粒材料的结块强度参数，b为固桥半径，C为破碎半径为b的固桥所需要的力，即结块强度；G为颗粒重量，bc为临界固桥半径。装置由控温控湿箱，固定颗粒装置和显微镜组成。固定颗粒装置可为双机械臂压力传感、提拉、平台下降、震动等形式。该方法具有更准确的物理意义和可信度，精度高，可重复性强，测量周期短，样品消耗少，和高通量等优势。
一种通过单固桥测量颗粒材料结块强度参数方法装置

[发明专利]空气微生物测量设备和方法-CN201480075160.0有效
发明人：朴哲佑;李成华;郑义暻 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2014-12-12 - 公布日： 2019-07-02 - 主分类号： G01N21/76 文献下载
摘要：提供了一种空气微生物测量设备和测量方法。空气微生物测量设备包括：颗粒分离装置，包括用于引入空气的引入部和被设置在引入部的一侧的喷嘴部；微生物颗粒通道，穿过喷嘴部的内通道的空气中的微生物颗粒流过该微生物颗粒通道；空气颗粒通道，穿过喷嘴部的外空间的空气中的空气颗粒流过该空气颗粒通道；收集装置，与微生物颗粒通道连通，收集装置包括过滤部，微生物颗粒被收集到过滤部上；以及冷光测量装置，被设置在收集装置的一侧，用以检测被收集到过滤部上的微生物颗粒所发出的光的光量或强度。
空气微生物测量设备方法

[其他]用于使颗粒成像的系统及光强度测量系统-CN202090001013.X有效
发明人：梅迪·瓦泽-艾拉瓦尼;桑克萨·博伊亚尔;拉希特·夏尔马;赵国衡 -专利权人：应用材料公司
申请日： 2020-10-06 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：揭露一种用于使颗粒成像的系统及一种光强度测量系统。用于使颗粒成像的系统包括成像装置。成像装置具有透镜和检测器。激光源被配置成发射激光束。检测器被配置成累积穿过透镜的累积光的强度。累积光被颗粒散射。颗粒在给定的时段内通过激光束。
用于颗粒成像系统强度测量

[发明专利]一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置及方法-CN202110344752.X在审
发明人：浦世亮;吴学成;毛慧;吴迎春;陈玲红;王凌珑;岑可法 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司;浙江大学
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置：单光源多光束激光发射系统，包括激光器、光纤分束器和准直扩束器；激光器发射的激光束依次经光纤分束器和准直扩束器限制成直径不同的准直平行光束，照射输送带形成直径不同的多光斑，颗粒经过光斑产生散射光信号；散射光信号采集系统，包括三条采集通道，用于将散射光信号依次经透镜和分束器分开记录在不同光电探测器上，得到散射光强度‑时间图像；散射光信号处理系统，通过对散射光强度‑时间图像进行模式识别和反演，获得颗粒的粒径。本发明还公开了一种采用上述测量装置的测量方法。该装置和方法基于光散射原理，可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量，测量结果准确及时。
一种测量输送带上筛分颗粒粒度装置方法

[发明专利]图像形成装置-CN202310059812.2在审
发明人：吉田亚弘;铁野修一;安幸治 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2023-01-17 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G03G15/08 文献下载
摘要：图像形成装置包括用于承载由调色剂颗粒和附着到调色剂颗粒的表面的转印促进颗粒组成的显影剂的可旋转的显影剂承载构件。当F表示用于将显影剂承载构件按压在图像承载构件上的按压力、并且N表示介于调色剂颗粒和图像承载构件之间的转印促进颗粒的总数时，通过以每单位转印促进颗粒的按压力F/N将转印促进颗粒按压在调色剂颗粒上测量的转印促进颗粒和调色剂颗粒之间的粘附强度Ft、以及通过以每单位转印促进颗粒的按压力F/N将转印促进颗粒按压在图像承载构件上测量的转印促进颗粒和图像承载构件之间的粘附强度Fdr满足FtFdr，并且在中间转印带的移动方向上在转印部的上游产生放电。
图像形成装置

[发明专利]受控制的热覆层-CN201480005547.9有效
发明人：罗尔夫·维尔肯赫纳;卡斯滕·巴罗茨基;马里奥·费尔克尔;萨沙·马丁·基耶克;约翰内斯·里希特 -专利权人：西门子公司
申请日： 2014-01-20 - 公布日： 2017-08-22 - 主分类号： C23C4/12 文献下载
摘要：通过组合地测量颗粒速度、颗粒温度、颗粒强度、燃烧器电压和其在公差范围中的控制，可行的是尽管在覆层工艺中存在因磨损引起的波动但是将层重量保持恒定。
受控覆层

[发明专利]纳米颗粒转换器传感器及其使用方法-CN201780048131.9在审
发明人： D·T·赵;于江波;吴长锋;孙凯 -专利权人：华盛顿大学;蓝普臻公司
申请日： 2017-06-05 - 公布日： 2019-04-02 - 主分类号： B82Y15/00 文献下载
摘要：本公开内容提供了用于检测流体中的分析物浓度的纳米颗粒转换器及其使用方法。纳米颗粒转换器可包含与酶偶联的纳米颗粒，如Pdot，该酶催化与分析物的反应。纳米颗粒转换器进一步包含发射荧光的发色团，该荧光随反应的元素之一的浓度变化。因此，纳米颗粒转换器随着分析物浓度变化而改变荧光，从而将分析物浓度值转换成荧光强度。对这些强度的测量提供了对分析物浓度的测量。纳米颗粒转换器是生物相容的，从而允许在体内使用，以用于监测分析物血液浓度如血糖浓度。
纳米颗粒转换器分析物荧光测量分析物浓度变化转换器传感器发射荧光监测分析内容提供浓度变化生物相容发色团酶催化酶偶联流体血糖体内血液检测转换

[发明专利]单个纳米颗粒的等离激元相位成像系统和耦合效应测量方法-CN202010402497.5有效
发明人：王晖;王毅;王伟;王琰;王子潇 -专利权人：南京大学
申请日： 2020-05-13 - 公布日： 2021-04-27 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明公开单个纳米颗粒的等离激元相位成像系统和耦合效应测量方法，所述系统包括：单色激光发射模块、颗粒激发模块与颗粒散射强度检测模块，用于采集单纳米颗粒的散射光图像，包括反射镜片和图像采集器；本发明将表面等离激元共振相位成像的方法引入到单纳米颗粒的耦合效应测量中，实现了在不同厚度的烷基硫醇单分子层介导下，直接检测金膜玻片表面的单个纳米颗粒散射强度值及相位变化与单分子层厚度的关系，进一步用于单纳米颗粒表面修饰的ssDNA:miRNA分子剪切过程中由于颗粒与金膜玻片之间距离变化引起的动态相位检测和耦合效应的转换分析
单个纳米颗粒离激元相位成像系统耦合效应测量方法

[发明专利]金属纳米颗粒粒径的测量方法-CN201510301828.5有效
发明人：白本锋;肖晓飞 -专利权人：清华大学
申请日： 2015-06-05 - 公布日： 2018-04-10 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供一种金属纳米颗粒粒径的测量方法，包括提供一金属纳米颗粒粒径的测量系统；校准金属纳米颗粒粒径测量系统，得到参考光与测量光的强度比，作为基准及，和为选取的特征波长；预估金属纳米颗粒种类及粒径的分布范围；根据选取的两个特征波长λ1及λ2，建立金属纳米颗粒在两个波长和处的吸光度比值与粒径与之间的关系；根据两个特征波长λ1及λ2，建立修正后的吸光度比值与平均粒径与之间的修正关系；将金属纳米颗粒承载于所述样品池，测量金属纳米颗粒的透过率、，获得吸光度和其比值；以及将上述得到的吸光度的比值，分别代入修正前的关系和修正后的吸的修正关系中，得到待测纳米颗粒样品的修正前的平均粒径及修正后的平均粒径。
金属纳米颗粒粒径测量方法

[发明专利]测量悬浮颗粒物质的方法和设备-CN02126129.6无效
发明人：足立元明;奥山喜久夫;十时慎一郎;樋口三千郎;岛冈治夫;深井秋博 -专利权人：株式会社岛津制作所
申请日： 2002-07-17 - 公布日： 2003-02-19 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量大气中悬浮颗粒物质的方法和设备。在此方法和设备中，利用一个泵将大气中的悬浮颗粒物质抽吸到一个容器内。在该容器内对大气中的悬浮颗粒物质进行充电，以电收集它们。在收集起来的悬浮颗粒物质被分散成合适浓度的条件下，利用激光束对收集起来的悬浮颗粒物质进行照射。对通过用激光束照射悬浮颗粒物质所获得的衍射和散射光线的空间强度分布进行测量。从测量结果得出悬浮颗粒物质的粒径分布。
测量悬浮颗粒物质方法设备

[发明专利]用于确定悬浮颗粒的绝对数目密度的方法和装置-CN200410070894.8有效
发明人： P·J·怀亚特;M·J·韦达 -专利权人：怀亚特技术公司
申请日： 2004-07-23 - 公布日： 2005-04-27 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：公开了一种基于光散射方法来确定溶液中颗粒的绝对数目密度的方法。校准光散射光度计，以在各个角度测量瑞利比，即对应于单位入射强度，单位被照射体积，与所述检测器对向的单位球面度的视场内的散射光。为使计算出的数目精确，被照射的颗粒应该是有效地单分散的。入射光束照射到所述样品颗粒上，在多个角度测量逾量瑞利比，由这些逾量瑞利比计算出有效尺寸，该有效尺寸又被用于计算各个角度处的微分散射强度。然后，由测到的逾量瑞利比除以相应的微分散射强度，确定单位体积单元的颗粒数目。
用于确定悬浮颗粒绝对数目密度方法装置

[发明专利]空气清洁系统及其控制方法-CN201480075144.1有效
发明人：郑义暻;朴哲佑;李成华 -专利权人： LG电子株式会社
申请日： 2014-12-12 - 公布日： 2019-04-23 - 主分类号： F24F11/89 文献下载
摘要：该空气清洁系统包括：颗粒分离装置，用于吸入室内空气以将微生物颗粒与空气颗粒分离；收集装置，收集颗粒分离装置所分离出的微生物颗粒；冷光测量装置，检测被收集到收集装置中的微生物颗粒所发出的光的光量或强度；以及至少一个空气清洁装置，其基于冷光测量装置所检测到的微生物颗粒的污染而选择性地运行。
空气清洁系统及其控制方法

[实用新型]一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置-CN202120632869.3有效
发明人：浦世亮;吴学成;毛慧;吴迎春;陈玲红;王凌珑;岑可法 -专利权人：杭州海康威视数字技术股份有限公司;浙江大学
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2022-04-12 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种测量输送带上宽筛分颗粒粒度的测量装置：单光源多光束激光发射系统，包括激光器、光纤分束器和准直扩束器；激光器发射的激光束依次经光纤分束器和准直扩束器限制成直径不同的准直平行光束，照射输送带形成直径不同的多光斑，颗粒经过光斑产生散射光信号；散射光信号采集系统，包括三条采集通道，用于将散射光信号依次经透镜和分束器分开记录在不同光电探测器上，得到散射光强度‑时间图像；散射光信号处理系统，通过对散射光强度‑时间图像进行模式识别和反演，获得颗粒的粒径。该装置基于光散射原理，可以实现宽筛分布颗粒粒度的在线原位测量，测量结果准确及时。
一种测量输送带上筛分颗粒粒度装置

[发明专利]热控覆层-CN201480005540.7有效
发明人：马里奥·费尔克尔;萨沙·马丁·基耶克;约翰内斯·里希特 -专利权人：西门子公司
申请日： 2014-01-20 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： C23C4/129 文献下载
摘要：通过对颗粒速度、颗粒温度、颗粒强度，燃烧器电压进行组合测量并且在公差范围内对其进行调节，尽管在覆层工艺中有磨损引起的波动，但层结构、层厚度和层重量可保持恒定。
覆层