专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种检测装置检测方法-CN201910936900.X有效
  • 张学军;胡海翔;陶小平 - 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 2019-09-29 - 2020-09-08 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种将相位偏折检测法与激光干涉检测法相结合的检测装置检测方法,检测装置包括成像单元、光路调整单元、参考镜组、激光干涉照明单元和相位偏折投影单元,相位偏折投影单元与参考镜组形成共轭关系,相位偏折投影单元投射出的图案光线穿过参考镜组后至待检测。本发明提供的检测装置检测方法在保持了激光干涉检测法的检测精度的同时,提升了动态范围,误差频段覆盖宽,从低频到中高频误差均可检测,无需扫描即可快速完成全口径检测。系统无需额外复杂的位姿标定过程,基于激光干涉光路本身的激光光斑对准即可完成检测系统的位姿调整。
  • 一种检测装置方法
  • [实用新型]一种汽车车灯检测装置-CN202320809668.5有效
  • 曲洪亮;周红玉;陈佳琪 - 长春鸿德汽车照明有限公司
  • 2023-04-13 - 2023-08-11 - G01B21/20
  • 一种汽车车灯检测装置,涉及汽车配件领域,本实用新型包括检测台;安装在检测台上的检测传感器组、检测装置和面固定装置;所述检测传感器组与检测装置相连;安装在检测装置上的车灯标准模块,所述固定装置与车灯标准模块相接触。本实用新型的一种汽车车灯检测装置,有效解决了车灯和车身不能完美贴合的问题,能够使车身造型设计更加多元化,检测车灯更加便利化。检测传感器组中的多个传感器与检测装置以及固定装置相互配合,分别检测车灯多个位置的贴合程度,使车灯能够与汽车车身更好的贴合。通过检测装置可简化检测过程中的繁杂的步骤,节省检测时间,提高检测精度。
  • 一种汽车车灯检测装置
  • [实用新型]一种检测装置检测装置检测-CN202121810776.1有效
  • 王咪;房相国;王磊;宋福田;但龙;马辉;吕卫群;孙福庆 - 中车青岛四方机车车辆股份有限公司
  • 2021-08-04 - 2022-03-01 - G01B5/14
  • 本实用新型公开一种检测装置检测装置检测座,其中,该检测座包括底板和检测模块,所述检测模块安装于所述底板,所述检测模块设置有安装部,用于安装待测弯梁,所述安装部设置有仿检测,所述仿检测为用于检测所述待测弯梁的待测面的标准区别于常规设计,本实用新型实施例所提供检测座在安装部设有仿检测,该仿检测是用于检测待测弯梁的待测面的标准,当待测弯梁安装于安装部时,待测弯梁的待测可以和仿检测面相对,此时,借助常规的间隙检测部件即可容易地对待测和仿检测之间的匹配度进行测量
  • 一种检测装置
  • [实用新型]光学元件在位检测装置-CN201520666791.1有效
  • 廖德锋;谢瑞清;赵世杰;陈贤华;王健;陈健;赵智亮;许乔 - 成都精密光学工程研究中心
  • 2015-08-31 - 2016-05-25 - G01B11/24
  • 本实用新型提供一种环抛过程中光学元件的在位检测装置。光学元件在位检测装置,按光路依次包括:平面动态干涉仪和光路转向反射镜。采用本实用新型的装置在位检测光学元件的时,平面动态干涉仪沿水平方向射出的测试光,经光路转向反射镜后垂直射向光学元件,透过上表面而在下表面反射后沿原路返回,与干涉仪中的参考光形成干涉,从而在位测得光学元件加工面的;采用本实用新型的装置可以对环抛过程中光学元件的进行在位检测,元件不用下盘就可获得其分布,进而根据获得的分布实时调整加工参数,以实现误差的收敛。本实用新型的装置可以大大减少环抛元件的检测时间,缩短元件的加工周期。
  • 光学元件在位检测装置
  • [发明专利]非球面光学元件检测装置-CN200910024274.3有效
  • 范琦;杨鸿儒;黎高平 - 中国兵器工业第二〇五研究所
  • 2009-10-12 - 2010-03-17 - G01B11/24
  • 本发明公开了一种非球面光学元件检测装置。该装置在现有干涉法检测装置的基础上,通过增设两个可控光阑实现了对检测光波和参考光波的光强测量,通过增设压电陶瓷实现了对相移干涉条纹的采集;非球面面测量软件包通过计算待检非球面光学元件的待测与标准球面之间的相位偏差以及待检非球面光学元件的理想与标准球面之间的相位偏差,可方便地获得待检非球面光学元件的与其理想间的相位偏差。因此,本发明可以有效地解决大偏离量非球面光学元件检测问题,不需要实际加工计算全息图,可降低检测成本、缩短检测周期,并提高了检测精度。
  • 球面光学元件检测装置
  • [实用新型]扫描单元及具有扫描单元的光学检测装置-CN201220031483.8有效
  • 陈义谦;陈建成;吴嘉靖;黄宗仁;陈礼爵 - 亚亚科技股份有限公司
  • 2012-01-20 - 2012-11-14 - H04N1/028
  • 本实用新型公开了一种扫描单元及具有扫描单元的光学检测装置,用于扫描及撷取待测物的影像,光学检测装置包括扫描单元及取像单元。所述扫描单元包含多个发光二极管灯条及多个分别设置于发光二极管灯条发光路径上的导光杯组结构。所述导光杯组结构用以导引发光二极管灯条所发出的光线形成光线,而上述光线分别以不同投射角度照射于待测物,且于待测物表面重叠形成有扫描区块。所述取像单元包含用以接收待测物表面对应于扫描区块的部位所反射的光线的摄像模块。藉此,提供一种降低待测物表面平整度影响的具有扫描单元的光学检测装置
  • 扫描单元具有光学检测装置
  • [发明专利]一种用于检测平板光学元件误差的装置及方法-CN201410103178.9无效
  • 李云;贾辛;徐富超;邢廷文 - 中国科学院光电技术研究所
  • 2014-03-19 - 2014-06-04 - G01B11/24
  • 本发明涉及一种用于检测平板光学元件误差的装置及方法。所述装置包括光学元件支架,匹配液体,匹配液体盛放槽。所述装置可在使用立式干涉仪测量平板光学元件时,消除平板光学元件后光学表面反射光对前光学表面面误差检测造成的干扰,进而检测出可靠的光学表面面误差分布。本装置及方法能有效解决普通立式干涉仪无法检测平板光学元件误差的问题,且装置及方法原理简单、制造及使用成本较低,在不改变原立式干涉仪结构的情况下能完成对平板光学元件误差的检测。采用非接触的方式检测光学元件误差,对光学元件无损伤,无夹持应力。检测光学元件误差,过程中对光学元件的清洗用自来水清洗即可,不需要特殊的清洗溶剂及方法。
  • 一种用于检测平板光学元件误差装置方法

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