专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]成像系统-CN201580049031.9有效
  • T·克勒;M·格拉斯;R·普罗克绍 - 皇家飞利浦有限公司
  • 2015-09-11 - 2021-04-20 - A61B6/02
  • 本发明涉及一种立体管辐射系统,其中从每个辐射源发射的辐射覆盖检测器表面的不同区域。另外,本发明还涉及一种立体的管成像方法,其中两个辐射源被独立地操作,并且每个覆盖检测器表面区域的一部分。这是有利的,在于其与已知的立体管成像相比可以降低辐射剂量,并为立体管成像引入了新的可能性,例如,改进在主体内的对象跟踪。
  • 成像系统
  • [实用新型]辐射检查系统-CN201720779396.3有效
  • 冯志涛;胡晓伟;曹艳锋;王少锋;王彦华;闫雄;王春雷 - 北京君和信达科技有限公司
  • 2017-06-29 - 2018-02-06 - G01N23/04
  • 本实用新型公开了一种辐射检查系统包括辐射装置、第一检测器、第二检测器、第一除法器、第二除法器、减法器以及控制器,利用第一除法器可以确定被检测物体在第一预设位置和第二预设位置之间行进的平均速度v,利用第二除法器、减法器可以确定第二时刻t2之后经过第二时间间隔T2=K/v‑T0,以便于控制器在时刻t2之后经过第二时间间隔发出用于控制辐射装置发射辐射束的指令,其中,K为基于检测规避部分的长度和第二预设位置确定的参数,T0为基于辐射检查系统的系统响应延迟预先设定的延迟补偿。由此,通过设定延迟补偿实现对被检测物体的辐射扫描的精确控制。
  • 辐射检查系统
  • [发明专利]无移动部件的双光谱成像器及其漂移纠正方法-CN201680081426.1有效
  • 达里奥·卡比;摩西·拉斐;利维·圣戈尔 - CI系统(以色列)股份有限公司
  • 2016-02-11 - 2021-01-26 - G01J3/28
  • 一种装置对来自一场景的辐射进行成像。一图象形成光学构件在一非制冷式的检测器上形成所述场景的一图像,所述非制冷式的检测器具有两个分离的区域。一第一滤波器容许在一第一波段中的辐射在所述第一个检测器区域上。一第二滤波器容许在一第二波段中的辐射在所述第二个检测器区域上。两个被固定地定位的楔形的构件各自通过一f数小于1.5引导来自所述场景的辐射通过所述图象形成光学构件到所述检测器上。被定位在所述装置内的一黑体源减少由所述装置周围的环境变化引起的漂移。所述黑体源通过多个楔形的构件中的一个将辐射投射到所述检测器的一区域上,所述检测器不会接收来自所述场景的辐射。基于从所述黑体产生的多个像素信号修改来自所述场景的辐射产生的多个像素信号。
  • 移动部件光谱成像及其漂移纠正方法
  • [发明专利]辐射检查系统和辐射检查方法-CN201710515891.8在审
  • 冯志涛;胡晓伟;曹艳锋;王少锋;王彦华;闫雄;王春雷 - 北京君和信达科技有限公司
  • 2017-06-29 - 2017-10-03 - G01N23/04
  • 本发明公开了一种辐射检查系统和辐射检查方法。该辐射检查系统包括辐射装置、第一检测器、第二检测器和控制单元,控制单元可以基于第一检测器检测到的第一时刻、第二检测器检测到的第二时刻以及两个检测器的预设位置之间的距离,确定所述被检测物体在所述第一预设位置和所述第二预设位置之间行进的平均速度v,并在所述第二时刻t2之后经过第一时间间隔T1=K/v‑T0,发出用于控制所述辐射装置发射所述辐射束的指令,其中,K为基于所述检测规避部分的长度和所述第二预设位置确定的参数,T0为基于辐射检查系统的系统响应延迟预先设定的延迟补偿由此,通过设定延迟补偿实现对被检测物体的辐射扫描的精确控制。
  • 辐射检查系统方法

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