专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种APR及一种APR的制作方法-CN201711147385.4有效
  • 刘开欣 - 武汉华星光电技术有限公司
  • 2017-11-17 - 2020-08-04 - G03F7/09
  • 本发明提供了一种APR及一种APR的制作方法,所述APR包括:APR沉底层、以及设置于所述APR沉底层上表面的感光性树脂材料层,所述的感光性树脂材料层上设置有至少两个微槽;其中,所述APR沉底层的两端分别为先印端和后印端本发明提供一种APR及一种APR的制作方法,通过将APR的沉底层的设置为厚度渐变的方法,使APR后印端的出墨减少,并利用APR先印端带来的积墨补充后印端聚酰亚胺液的不足,从而改善APR的印刷效果
  • 一种apr制作方法
  • [实用新型]一种便携式食盒-CN202222922080.9有效
  • 文飞亚;杨木易 - 成都袁鲜食品有限责任公司
  • 2022-11-03 - 2023-01-31 - A45F3/20
  • 本实用新型公开了一种便携式食盒,包括相互对称且左右两侧分别密封连接的第一面(1)和第二面(2),第一面(1)与第二面(2)之间形成有空腔(3);其特征在于:还包括封闭空腔(3)底部的底面(4),底面(4)包括第一底面(41)和第二底面(42);第一底面(41)的内侧面紧贴在第一面(1)的内侧面底部,第一底面(41)的下底边缘与第一面(1)的下边缘重合,且第一底面(41)的底部与第一面(1本实用新型结构简单,食盒本身成扁平状,体积小重量,可方便携带,使用时可撑开成盒体后用于盛装食物,使用完后还可再次折叠成扁平状,可方便回收,适合推广使用。
  • 一种便携式食盒
  • [发明专利]数据处理方法以及相关产品-CN202111458880.3在审
  • 张晓翼;洪哲鸣;张志强;王少鸣;郭润增 - 腾讯科技(深圳)有限公司
  • 2021-12-01 - 2023-06-02 - G06Q20/38
  • 数据处理方法包括:响应于针对目标节点的数据获取请求,从全区块链上读取目标节点的目标上报数据以及目标上报数据的加密路径;其中,全区块链用于存储N个节点的上报数据,目标节点是N个节点中的一个节点;从轻区块链上读取用于存储目标上报数据的区块的目标区块头,区块链包括全区块链的区块头;根据目标区块头和目标上报数据的加密路径,确定目标上报数据的准确性判别结果,输出目标上报数据的准确性判别结果。采用本申请,可以证明节点获取到的上报数据的准确性。
  • 数据处理方法以及相关产品
  • [实用新型]一种掺杂油墨印刷网-CN201320207350.6有效
  • 刘锋;季根华;李翔 - 苏州旭环光伏科技有限公司;刘锋
  • 2013-04-23 - 2013-10-09 - H01L31/0224
  • 本实用新型提供了一种掺杂油墨印刷网,属于太阳能电池技术领域,解决了主栅线全过墨设计网印刷掺杂油墨时存在的问题。掺杂油墨印刷网包括细栅线、与细栅线垂直设置的主栅线以及方阻测量条;方阻测量条位于主栅线上,主栅线上仅方阻测量条可过墨。本实用新型的掺杂油墨印刷网的主栅线上仅在方阻测量条处进行过墨,节约了油墨的消耗;另外,在扩散过程中,该设计可以有效地降低油墨的外挥发扩散作用,不仅便于控制方阻,而且能够获得质量较好的掺杂扩散分布。
  • 一种掺杂油墨印刷
  • [发明专利]一种测试方法-CN202110535466.1有效
  • 王志强 - 长江存储科技有限责任公司
  • 2021-05-17 - 2022-09-23 - G03F7/20
  • 本申请提供一种测试方法,包括:获取测试结构的图形信息,所述测试结构至少包括相互对称的第一图形部分和第二图形部分;掩膜遮盖所述测试结构的部分面积;对未被所述掩膜遮盖的测试结构进行掺杂或对被所述掩膜遮盖的测试结构进行掺杂;获取所述第一图形部分的电阻和所述第二图形部分的电阻;根据所述第一图形部分的电阻和所述第二图形部分的电阻的差值,得到所述掩膜遮盖所述测试结构的偏移。本申请实施例提供的测试方法通过测试电阻差值就可以确定掩膜的偏移,测试时间较短,且不需要破坏半导体器件的结构,能够进行大量测试。
  • 一种测试方法

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