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[实用新型]芯片筛选装置-CN201920230126.6有效
发明人：王志钢 -专利权人：展讯通信(上海)有限公司
申请日： 2019-02-21 - 公布日： 2020-01-21 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型提出一种芯片筛选装置，所述芯片筛选装置包括：芯片筛选板，所述芯片筛选板连接有芯片测试座，所述芯片测试座用于和待检测芯片连接，以对所述芯片筛选板通电来对所述待检测芯片进行检测；底盘组件，所述底盘组件位于所述芯片筛选板的下方，所述底盘组件承托所述芯片筛选板从而减少或避免所述芯片筛选板受力弯曲。通过采用上述技术方案，使底盘组件承托芯片筛选板从而减少或避免芯片筛选板受力弯曲，延长芯片筛选板和芯片测试座的使用寿命，极大地提高芯片筛选一致性和效率。
芯片筛选底盘组件芯片测试座检测芯片受力弯曲承托本实用新型使用寿命板连接通电检测

[实用新型]芯片筛选装置及具有其的筛选设备-CN202021731363.X有效
发明人：不公告发明人 -专利权人：杭州旗捷科技有限公司
申请日： 2020-08-19 - 公布日： 2021-05-11 - 主分类号： B65G49/07 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种芯片筛选装置及具有其的筛选设备，该芯片筛选装置用于配合振动装置使用，芯片筛选装置装设于振动装置的物料输出口处并能够随振动装置振动，芯片筛选装置包括用于供芯片以立放状态向前移动的传送轨道，传送轨道具有至少一个筛选部，筛选部用于筛选传送轨道上以预设方位置放的芯片，该芯片筛选装置能够按照预设的规律将芯片筛选，以提高再生芯片的生产效率。
芯片筛选装置具有设备

[发明专利]一种不良芯片筛选方法-CN202110090092.7有效
发明人：肖南海;杨斌;洪海霞;贾美景;刘洪;葛志阳 -专利权人：上海音特电子有限公司
申请日： 2021-01-22 - 公布日： 2022-05-31 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本发明适用于芯片测试技术领域，提供了一种不良芯片筛选方法，所述方法是根据预设的热力学筛选方法对待筛选的芯片进行热力学性能筛选，得到符合热力学要求的芯片，再根据预设的电学筛选方法对所述符合热力学要求的芯片进行电学性能筛选，得到符合电学性能要求的芯片，通过同时对待筛选芯片进行热力学测试和电学参数测试，能够有效保证芯片出厂的合格率；最后获取所述符合电学性能要求的芯片的电学参数测试数据，并基于正态分布原理筛选出电学参数测试数据符合3σ原则的芯片，能够筛选出具有高度一致的电学参数的良品，剔除存在失效风险的良品，从而进一步提高芯片出厂的合格率。
一种不良芯片筛选方法

[发明专利]芯片筛选装置及方法-CN201910621260.3在审
发明人：曾轩;莫双玉;叶繁 -专利权人：株洲中车时代电气股份有限公司
申请日： 2019-07-10 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明提供一种芯片筛选装置，其包含：可调电源，其与交流电源连接，用于依据芯片筛选要求，提供预设电压值的电压；监控插件板，其与可调电源连接，其上有监控插件，用于通过监控插件对待筛选芯片进行对应的芯片状态测试；芯片安装工装，其与监控插件板连接，其上设置的插槽用于安装待筛选芯片；电压测量模块，其并联在监控插件板的两端，用于测量待筛选芯片两端的电压；状态指示模块，其与监控插件板连接，用于指示芯片状态测试的测试结果，以得到待筛选芯片的筛选结果。本发明测试速度快，显著提高了筛选效率，能够直观的反映芯片测试筛选结果，测试流程简单，避免了芯片的损坏，并且专用的芯片安装工装还具备管脚整形的效果。
芯片筛选装置方法

[实用新型]一种栅状BGA器件芯片筛选模具-CN202320777689.3有效
发明人：杨小磊;吴均 -专利权人：深圳市一博科技股份有限公司
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： B07C5/34 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种栅状BGA器件筛选模具，所述模具用于筛选管脚精度不同的芯片，所述栅状BGA器件芯片筛选模具包括一板卡，所述板卡上具有筛分区，所述筛分区上设置有多个过孔，多个所述过孔与筛选芯片上管脚的位置一一对应，所述过孔为非金属过孔，且所述过孔孔径精度值与芯片管脚直径的最小精度值相同，以筛选出管脚可以插接入到所述过孔内的芯片。本申请栅状BGA器件筛选模具结构简单容易制备，其筛选方法简单，筛选结果直观明了，可以筛分同批次芯片中管脚直径精度不同的芯片，使筛分出的芯片保持芯片管脚精度的一致性，以利于后续芯片焊接生产的的自动化流程，
一种 bga 器件芯片筛选模具

[发明专利]芯片筛选方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备-CN202310679111.9在审
发明人：赵斌;宫成;蔡静;李亦非;陶诗洋;杨亚奇 -专利权人：国网北京市电力公司;国家电网有限公司;北京鼎诚鸿安科技发展有限公司
申请日： 2023-06-08 - 公布日： 2023-09-12 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片筛选方法、装置、计算机可读存储介质及计算机设备。其中，该方法包括：获取待筛选芯片的芯片数量，以及待筛选芯片在分组并联时每组的并联数量；获取待筛选芯片在并联均流时的目标均流类型，其中，目标均流类型包括以下至少之一：动态均流，静态均流，其中，动态均流为令芯片在开关瞬间实现电流均衡分配，静态均流为令芯片在芯片导通以后实现电流均衡分配；基于芯片数量和并联数量，对待筛选芯片进行遍历分组，得到多个初始芯片分组策略；基于目标均流类型，对多个初始芯片分组策略进行筛选，得到目标芯片分组策略。本发明解决了并联芯片的筛选指标无法与电路参数建立关联关系，且无法对并联芯片进行静态均流的技术问题。
芯片筛选方法装置计算机可读存储介质设备

[发明专利]一种细胞捕获与筛选的方法-CN202010055458.2在审
发明人：许行尚;杰弗瑞·陈;孙威严 -专利权人：南京岚煜生物科技有限公司
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2020-05-19 - 主分类号： C12M3/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种细胞捕获与筛选的方法，具体包括以下步骤：((1)采用至少一个细胞捕获与筛选芯片，从所述细胞捕获与筛选芯片的进样口加入待筛选细胞悬液，所述细胞悬液进入所述细胞捕获与筛选芯片的流道；(2)所述细胞悬液在所述流道中向所述细胞捕获与筛选芯片的出样口流动，直至反应后的细胞悬液流至所述细胞捕获与筛选芯片的出样口；(3)从所述出样口流出筛选细胞或细胞复合物。该细胞捕获与筛选的方法灵敏度高，通量大，芯片结构简单，操作便捷，成本低，可灵活组合使用细胞捕获与筛选芯片。
一种细胞捕获筛选方法

[实用新型]一种芯片测试筛选平台-CN202222011607.2有效
发明人：李卓然 -专利权人：上海思汀电子科技有限公司
申请日： 2022-08-02 - 公布日： 2023-02-10 - 主分类号： B07C5/342 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片测试筛选平台，涉及芯片生产设备技术领域，包括输送设备和三维扫描设备，所述输送设备前端一侧设置有筛选架，所述三维扫描设备安装于筛选架上，且所述筛选架内设置有拨条块。本实用新型设置的芯片测试筛选平台，设置三维扫描设备，先对外形进行扫描，若发现芯片外部已损坏，直接剔除，减轻后续芯片功能以及性能的测试压力，同时减去包装的成本，设置的筛选平台，通过输送设备进行芯片输送，在输送过程中，传动前侧上芯片结构，将待测定的芯片依次输送经过扫描设备，无需测试人员手动上芯片和分类，极大提高了筛选效率。
一种芯片测试筛选平台

[实用新型]芯片托盘的防反治具-CN202222551641.9有效
发明人：吴加家 -专利权人：颀中科技（苏州）有限公司;合肥颀中科技股份有限公司
申请日： 2022-09-26 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本实用新型公开了芯片托盘的防反治具，包括筛选框和用于固定支撑筛选框的支撑架；所述筛选框具有框体和设置在所述框体上的托盘穿孔，所述托盘穿孔的形状与芯片托盘相适配，所述框体上位于托盘穿孔的边角位置设置有与芯片推盘的缺口相适配的突起部本实用新型实施例通过筛选框的设置使芯片托盘在上料前被筛选框进行筛选，筛选框只能使正常放置的芯片托盘通过，从而能够过滤掉置晶反向的芯片托盘，简单方便的实现了置晶反向芯片推盘的识别。
芯片托盘防反

[发明专利]一种LED芯片的自动筛选系统及筛选方法-CN201510120826.6有效
发明人：刘军林;陶喜霞;江风益 -专利权人：南昌大学;南昌黄绿照明有限公司
申请日： 2015-03-19 - 公布日： 2017-08-11 - 主分类号： B07C5/344 文献下载
摘要：本发明公开了一种LED芯片的自动筛选系统和筛选方法，特别适用于筛除在光电参数测试后的加工过程中所产生的正向漏电不良的LED芯片。该自动筛选系统包括自动载物台、荧光显微镜、光学检测机和芯片拾取装置，自动载物台可在计算机的控制下沿XYZ轴运动，具有承载LED芯片、自动切换检测对象和自动聚焦的功能，光学检测机用以采集、显示和分析LED芯片的荧光图像，正常LED芯片和正向漏电流不良LED芯片会出现不同的荧光强度和颜色差异，据此光学检测机可判断LED芯片是否合格并输出相关信息，芯片拾取装置用以完成LED芯片的筛除工作。该筛选系统和筛选方法可自动检测并筛除正向漏电不合格的LED芯片，且该筛选系统及筛选方法无需接触LED芯片，不会给芯片造成二次损伤。
一种 led 芯片自动筛选系统方法

[发明专利]一种芯片运行状态数据筛选方法-CN202111007277.3在审
发明人：方金花;潘子健;李杰 -专利权人：方金花
申请日： 2021-08-30 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G06F11/30 文献下载
摘要：本发明提供的一种芯片运行状态数据筛选方法，涉及数据处理技术领域。在本发明中，接收多条芯片运行状态数据，其中，每一条芯片运行状态数据表征在目标数据采集设备采集芯片运行状态数据的时刻目标监控芯片的运行状态；基于第一筛选规则对多条芯片运行状态数据进行筛选处理，得到多条第一运行状态筛选数据，并确定多条第一运行状态筛选数据的数据量与预先配置的数据量阈值之间的大小关系；若确定多条第一运行状态筛选数据的数据量大于或等于数据量阈值，则基于第二筛选规则对多条第一运行状态筛选数据进行筛选处理，得到多条目标芯片运行状态数据基于上述步骤，可以改善现有技术中对数据进行筛选的效果不佳的问题。
一种芯片运行状态数据筛选方法

[发明专利]一种存储芯片早期存储失效筛选方法及测试系统-CN202310054307.9在审
发明人：沈杨 -专利权人：普冉半导体（上海）股份有限公司
申请日： 2023-02-03 - 公布日： 2023-06-23 - 主分类号： G11C29/06 文献下载
摘要：本申请涉及一种存储芯片早期存储失效筛选方法及测试系统。筛选方法包括步骤：获取晶圆上所有芯片的第一电压数据；建立第一电压数据分布曲线；筛选出失效芯片和离散度超过第一离散度的高风险芯片；建立晶圆上第一电压数据的分布热点图；确定失效芯片和高风险芯片集中的高风险区域；将高风险芯片以及高风险区域内的芯片进行可靠性测试，并获取测试后的芯片的第二电压数据；根据第二电压数据确定不合格芯片；根据不合格芯片的第一电压数据确定目标卡控值，用于对同批次的晶圆芯片进行早期失效筛选。测试系统基于上述筛选方法并包括电压数据获取模块、可靠性测试模块、分析计算模块和筛选模块。本申请可实现更加高效全面的早期存储失效筛选。
一种存储芯片早期失效筛选方法测试系统

[发明专利]一种不良芯片筛选方法-CN201310382429.7无效
发明人：李明 -专利权人：长贝光电（武汉）有限公司
申请日： 2013-08-28 - 公布日： 2013-11-27 - 主分类号： B07C5/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种不良芯片筛选方法，包括如下步骤：将共晶之前的芯片放置于载玻片上，再将放置有芯片的载玻片放置于加热台上进行加热处理，待加热完毕将带有芯片的载玻片置于显微镜下进行不良检测，根据检测结果，不合格芯片被筛选剔除，合格芯片进行后续工艺生产。通过本发明的芯片筛选方法，可以将污染或清洁工作处理不当引起的不良芯片筛选剔除，有利于减少芯片在后续工艺中的材料浪费，提高芯片良品率和生产效率。
一种不良芯片筛选方法

[发明专利]太阳能电池芯片的筛选方法、装置及其系统-CN201910447734.7在审
发明人：张志良;刘晓清;苏青峰 -专利权人：北京铂阳顶荣光伏科技有限公司
申请日： 2019-05-27 - 公布日： 2020-11-27 - 主分类号： H01L21/67 文献下载
摘要：本发明公开了一种太阳能电池芯片的筛选方法、装置及其系统，用以在太阳能电池芯片进行封装前，将芯片根据客户要求进行筛选，从而减少不符合要求的芯片占用后端封装工艺的时间，提升生产效率。所述太阳能电池芯片的筛选方法，包括：发送第一请求信息给制造执行系统(MES)，所述第一请求信息用于获取待筛选芯片的检测参数；接收所述MES发送的第一反馈信息，所述第一反馈信息包括根据所述第一请求信息确定的检测参数；根据预设条件，判断所述待筛选芯片的检测参数是否满足预设条件，若是，则输送所述待筛选芯片到下一工序。
太阳能电池芯片筛选方法装置及其系统

[发明专利]一种石墨烯芯片加工筛选方法-CN202110714518.1有效
发明人：闫子豪 -专利权人：山东中亿烯创新材料科技有限公司
申请日： 2021-06-25 - 公布日： 2023-05-16 - 主分类号： B07C5/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种石墨烯芯片加工筛选方法，包括如下步骤：步骤一：将所述石墨烯芯片根据电流等级插入到筛选设备上的石墨烯芯片位置上；步骤二：获取石墨烯芯片对应位置的综合应力数据，所述综合应力数据包括电气应力数据、热应力数据和压力应力数据；本发明中通过对现有筛选设备进行改进，改进后的筛选设备对石墨烯芯片插槽进行优化，优化后的石墨烯芯片插槽孔径大于石墨烯芯片本体，这样可以使得石墨烯芯片在安装和拆装时，均能够便捷实现对石墨烯芯片进行操作，无需对石墨烯芯片本体增大过大的插拔力，这样可以有效防止石墨烯芯片本体发生损坏，从而避免石墨烯芯片本体在筛选时发生不必要的损耗。
一种石墨芯片加工筛选方法

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