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- [发明专利]耗材芯片复位方法及装置-CN201811517269.1有效
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祁美超
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珠海艾派克微电子有限公司
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2018-12-12
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2020-03-03
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B41J2/175
- 本发明提供一种耗材芯片复位方法及装置。写入耗材芯片的数据由大数据块和小数据块组成,所述耗材芯片复位方法包括:将所述大数据块写入所述耗材芯片;检测所述大数据块是否被完整写入到所述耗材芯片中;若检测结果为所述大数据块已经被完整写入到所述耗材芯片中,则记录所述检测结果,所述检测结果作为扣除点数的判断标志以及重复复位操作时无需重新再写入所述大数据块的判断标志;将所述小数据块写入到所述耗材芯片中;检测所述小数据块是否被完整写入到所述耗材芯片中。本发明能够降低复位设备被干扰的可能性,提高耗材芯片的复位效率。
- 耗材芯片复位方法装置
- [实用新型]芯片测试装置和设备-CN202020583978.6有效
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王柳锋
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北京百度网讯科技有限公司
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2020-04-17
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2021-01-22
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G01R31/28
- 本申请实施例公开了一种芯片测试装置和设备,涉及芯片测试技术。其中,该芯片测试装置包括芯片测试模组和信号集成模块,其中:芯片测试模组上设置测试数据接口;信号集成模块包括集成数据接口和网络通信单元;测试数据接口与集成数据接口连接;芯片测试模组,用于承载待测芯片,并将待测芯片的测试数据通过测试数据接口和集成数据接口传输至网络通信单元;网络通信单元,用于将测试数据传输至外部设备。本申请实施例可以减少芯片测试数据输出至外部设备过程中对引线的依赖,提高测试方案的可靠性。
- 芯片测试装置设备
- [发明专利]半导体存储装置-CN202210899471.5在审
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金子二四三;妹尾真言;葛西央伦
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华邦电子股份有限公司
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2022-07-28
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2023-03-03
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G11C29/42
- 本发明的闪存(100)具有NAND芯片(200)及ECC芯片(300)。NAND芯片(200)具有可在与ECC芯片(300)之间传输数据的、专用的输入输出端子(220),ECC芯片(300)具有可在与NAND芯片(200)之间传输数据的、专用的输入输出端子(320)。在NAND芯片(200)中进行读出动作时,NAND芯片(200)经由专用的输入输出端子(220)将包含奇偶校验数据的读出数据传输至ECC芯片(300),ECC芯片(300)基于奇偶校验数据进行读出数据的错误检测、纠正,将纠正数据经由输入输出端子(330)传输至控制器(400)。
- 半导体存储装置
- [实用新型]信号源及误码测试仪-CN201620835671.4有效
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2016-08-03
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2017-01-11
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H04L1/20
- 本实用新型涉及一种信号源及误码测试仪,所述信号源包括微控制器和至少两个时钟数据恢复芯片,所述至少两个时钟数据恢复芯片级联,每个时钟数据恢复芯片产生的测试信号的传输速率不同,且每个时钟数据恢复芯片的输出端口阻抗相同;所述微控制器用于设置所述至少两个时钟数据恢复芯片中的一个时钟数据恢复芯片产生测试信号,其他的时钟数据恢复芯片处于旁路模式。本实用新型实施例提供的信号源及误码测试仪,采用至少两个时钟数据恢复芯片,且至少两个时钟数据恢复芯片采用级联的方式,并由微控制器控制其中一个时钟数据恢复芯片产生所需速率的测试信号,成本低,仪器结构简单,可实现多速率或全速率误码检测
- 信号源测试仪
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