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[发明专利]成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序-CN200810096914.7无效
发明人：大槻博树 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2008-05-07 - 公布日： 2008-11-12 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明提供了成像装置、缺陷像素校正装置、装置中的处理方法和程序，成像装置包括：缺陷像素存储单元，存储缺陷像素的位置信息和像素缺陷信息；图像输入单元，输入图像；缺陷像素确定单元，基于位置信息确定每个像素是否为缺陷像素；像素共有缺陷确定单元，基于像素缺陷信息确定缺陷像素是否包括在缺陷像素组中；像素类型确定单元，确定每个像素的类型；内插像素选择单元，基于缺陷像素的类型和表示缺陷像素是否包括在缺陷像素组中的确定结果选择被确定为缺陷像素的像素的周边像素；内插值计算单元，基于所选的周边像素的值计算被确定为缺陷像素的像素的内插值；内插内插值替换单元，用计算得到的内插值替换被确定为缺陷像素的像素的值。
成像装置缺陷像素校正中的处理方法程序

[发明专利]修复缺陷像素所造成暗点的方法及系统-CN201910609992.0在审
发明人：黄泰钧;梁鹏飞 -专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2019-07-08 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G09G3/3208 文献下载
摘要：本发明公开一种修复缺陷像素所造成暗点的方法，包括侦测正常像素的亮度、侦测缺陷像素的亮度、侦测缺陷像素的坐标，并将缺陷像素的坐标反馈给控制电路、修复缺陷像素以及将经修复的缺陷像素显示在显示面板上。正常像素的亮度作为预设亮度，且正常像素提供额外亮度弥补缺陷像素的亮度，以及缺陷像素的亮度低于正常像素的亮度。另外，本发明还提供一种修复缺陷像素所造成暗点的系统。
缺陷像素正常像素修复暗点侦测控制电路显示面板预设反馈

[发明专利]缺陷像素校正设备及其控制方法和执行该方法的程序-CN201310056060.0无效
发明人：中尾大辅 -专利权人：索尼公司
申请日： 2013-02-22 - 公布日： 2013-09-11 - 主分类号： H04N5/367 文献下载
摘要：本发明涉及缺陷像素校正设备及其控制方法和执行该方法的程序。一种缺陷像素校正设备包括：缺陷图案获取单元，被配置为获取用于校正关注的像素的像素群中的多个缺陷像素的位置的图案作为缺陷图案；像素选择单元，被配置为基于缺陷图案从像素群中的除缺陷像素之外的像素之中选择一个或更多像素；以及缺陷像素校正单元，被配置为使用选择的像素校正关注的缺陷像素。
缺陷像素校正设备及其控制方法执行程序

[发明专利]一种定位缺陷亚像素位置的方法-CN201310682600.6有效
发明人：张力舟;尹镇镐;孟祥明;张磊;张畅;郭建强 -专利权人：合肥京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2013-12-12 - 公布日： 2017-02-15 - 主分类号： G02F1/13 文献下载
摘要：本发明提供一种定位缺陷亚像素位置的方法及定位缺陷亚像素位置的装置，属于显示装置制造技术领域，其可解决现有的缺陷亚像素位置不能准确定位的问题。本发明的定位缺陷亚像素位置的方法，其中，基板包括复数个亚像素，复数个亚像素划分为多个像素周期，每个像素周期包括至少两个亚像素，包括对各像素周期进行对比，确定缺陷亚像素所在的像素周期的位置；对含有缺陷亚像素的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比，确定缺陷亚像素的位置。定位缺陷亚像素位置的装置包括比较单元，用于对像素周期进行比较，确定缺陷亚像素所在的像素周期的位置，并对含有缺陷亚像素所在的像素周期内的各亚像素与其他亚像素进行对比，确定缺陷亚像素的位置。
一种定位缺陷像素位置方法

[发明专利]图像处理设备及其控制方法-CN201280038880.0有效
发明人：安田隆幸;荻野洋;小川武志 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2012-08-07 - 公布日： 2014-04-16 - 主分类号： H04N5/367 文献下载
摘要：判断穿过缺陷像素并且配置用于计算所述缺陷像素的信号水平的像素的方向。获取如下的信号水平之间的比：与所述缺陷像素相邻接、并且颜色与所述缺陷像素不同的像素的信号水平；以及与沿着所判断出的方向相对于所述缺陷像素进行配置且颜色与所述缺陷像素相同的像素相邻接、并且颜色与所述缺陷像素不同的像素的信号水平输出通过将用于计算所述缺陷像素的信号水平的像素的信号水平的平均值乘以所计算出的比而获得的值，作为所述缺陷像素的信号水平。
图像处理设备及其控制方法

[发明专利]图像处理装置,图像处理方法及程序-CN200710192785.7无效
发明人：青木纯一 -专利权人：索尼株式会社
申请日： 2007-11-20 - 公布日： 2008-05-28 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：在图像处理装置中，缺陷检测单元通过将在经由图像传感器多次执行的图像拍摄操作捕获的多个图像的每个像素位置处检测到的最大像素值与用于检测白色有缺陷像素的阈值进行比较，和/或通过将在所述多个图像的每个像素位置处检测到的最小像素值与用于检测黑色有缺陷像素的阈值进行比较，来检测有缺陷像素及其缺陷等级。有缺陷像素选择单元选择预定多个具有高缺陷程度的有缺陷像素，并将与预定多个选择的有缺陷像素相关联的缺陷数据记录在缺陷数据表内。缺陷校正单元根据缺陷数据表内登记的缺陷数据校正从图像传感器输出的图像的像素的像素值。
图像处理装置方法程序

[发明专利]像素缺陷检测和校正设备和方法、成像装置、和程序-CN201010521995.8无效
发明人：桥爪淳 -专利权人：索尼公司
申请日： 2010-10-26 - 公布日： 2011-05-11 - 主分类号： H04N5/367 文献下载
摘要：一种像素缺陷检测和校正设备，包括：平均值获取部分，在排列了具有相同颜色的多个相邻像素和具有不同颜色的多个相邻像素、且作为感兴趣的像素的缺陷要被检测的像素在中心的处理区域中，获取排除了所述缺陷要被检测的像素的、具有不同颜色的相邻像素的像素值的平均值；以及缺陷确定部分，至少基于所述平均值，确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷。其中，所述缺陷确定部分通过比较所述缺陷要被检测的像素的像素值、具有不同颜色的相邻像素的平均值、和指定的不同颜色像素阈值来确定所述缺陷要被检测的像素是否有缺陷。
像素缺陷检测校正设备方法成像装置程序

[发明专利]一种图像缺陷数据增广方法及装置-CN202310018984.5在审
发明人：胡尊刚;代杰 -专利权人：苏州镁伽科技有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G06T5/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种图像缺陷数据增广方法及装置，在该方法中，对缺陷图像和缺陷图像对应的重建图像进行差异计算，确定出多个缺陷像素点以及每个缺陷像素点对应的像素差值；基于每个缺陷像素点的像素差值进行滤波处理，获得每个缺陷像素点的滤波值；保留滤波值的绝对值大于预设阈值的缺陷像素点，确定出核心缺陷；对核心缺陷进行增广处理，获得增广缺陷。可见，该方法对多个缺陷像素点的像素差值进行滤波处理，通过比较滤波值的绝对值和预设阈值，保留多个缺陷像素点中表征核心缺陷特征的缺陷像素点并进行增广处理，得到缺陷特征更加明显且缺陷类型多样化的增广缺陷，以便后续基于得到的增广缺陷对模型进行训练
一种图像缺陷数据增广方法装置

[发明专利]缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法-CN200910179601.2有效
发明人：马克·王;陈睿 -专利权人：凹凸电子(武汉)有限公司
申请日： 2009-09-29 - 公布日： 2010-06-30 - 主分类号： H04N5/217 文献下载
摘要：本发明公开了一种缺陷像素检测纠正设备、系统及检测纠正缺陷像素的方法，所述缺陷像素检测纠正设备其包括检测模块和纠正模块。所述检测模块区分传感器中的一像素为一缺陷像素，并存储该缺陷像素的位置信息。纠正模块连接至所述检测模块，用来根据所述位置信息确认所述缺陷像素，并纠正所述缺陷像素对应的一数字像素信号。本发明对缺陷像素进行了检测及纠正，并提供已纠正的像素信号，从而提高了画面质量。
缺陷像素检测纠正设备系统方法

[发明专利]缺陷像素数据校正设备和方法以及摄像设备-CN201010251940.X无效
发明人：山口利朗 -专利权人：佳能株式会社
申请日： 2010-08-09 - 公布日： 2011-03-30 - 主分类号： H04N5/357 文献下载
摘要：本发明提供了缺陷像素数据校正设备和方法以及摄像设备。根据各缺陷像素的类型和缺陷等级以及摄像条件来确定图像传感器的缺陷像素中需要校正的缺陷像素。根据缺陷像素的类型，预先准备摄像条件与要校正的缺陷像素的缺陷等级之间的对应性，从而考虑了异常信号输出电平对摄像条件的依赖性根据缺陷像素的类型而不同的事实来进行适当的缺陷像素校正。
缺陷像素数据校正设备方法以及摄像

[发明专利]一种基于图像的缺陷指数确定方法及装置-CN202310018973.7在审
发明人：胡尊刚;代杰;韩晓 -专利权人：苏州镁伽科技有限公司
申请日： 2023-01-06 - 公布日： 2023-05-26 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于图像的缺陷指数确定方法及装置，在该方法中，对第一待识别图像进行图像重建，获得第一重建图像；对第一待识别图像和第一重建图像进行差异计算，确定出多个缺陷像素点以及每个缺陷像素点对应的像素差值；基于每个缺陷像素点的像素差值，确定每个缺陷像素点的虚拟像素值；根据多个缺陷像素点的像素点总数和每个缺陷像素点的虚拟像素值，确定第一待识别图像的缺陷指数。该方法先通过待识别图像和重建图像的差异得到缺陷像素点，既确定出该待识别图像为异常图像，又确定缺陷像素点的位置；另外，通过缺陷像素点总数和虚拟像素值，确定缺陷指数，以表征待识别图像的缺陷程度，不仅符合真实场景需求
一种基于图像缺陷指数确定方法装置

[发明专利]用于检测和校正图像传感器中的缺陷像素的系统和方法-CN201080054770.4有效
发明人： G·科特;J·E·弗莱德瑞克森 -专利权人：苹果公司
申请日： 2010-10-12 - 公布日： 2012-08-15 - 主分类号： H04N5/357 文献下载
摘要：提供了用于图像传感器中的缺陷像素的检测和校正的各种技术。根据一个实施例，提供存储了已知静态缺陷的位置的静态缺陷表，并且将当前像素的位置与静态缺陷表相比较。如果发现当前像素的位置在静态缺陷表中，则将当前像素识别为静态缺陷，并利用相同颜色的前一像素的值来校正当前像素。如果当前像素未被识别为静态缺陷，则动态缺陷检测处理（444）包括将当前像素和一组邻近像素之间的像素至像素梯度与动态缺陷阈值相比较。如果检测到动态缺陷，则可通过对在表现出最小梯度的方向上位于当前像素相对两侧的两个邻近像素的值进行内插，来确定用于校正动态缺陷的替代值。
用于检测校正图像传感器中的缺陷像素系统方法

[发明专利]数字黑白图像的缺陷像素的亮度校正方法-CN201210363697.X无效
发明人：科萨列夫·鲁斯兰·尼古拉耶维奇 -专利权人：伊姆普斯封闭式股份有限公司
申请日： 2012-09-26 - 公布日： 2013-04-10 - 主分类号： G09G3/00 文献下载
摘要：一种数字黑白图像的缺陷像素的亮度校正方法，在缺陷像素的周围像素计算缺陷像素的亮度值，使用所产生的缺陷像素地图来确定缺陷群的周边，较佳使用四重连接周边，计算属于所述周边的每个缺陷像素的亮度值；迭代上述步骤，直到计算了每个缺陷像素的亮度值；将缺陷像素的亮度值计算为周围像素的亮度值的加权平均值。本发明的方法的有益效果是，通过数字黑白图像的缺陷像素的亮度校正，提高所获得的图像的质量。
数字黑白图像缺陷像素亮度校正方法

[发明专利]检测与校正缺陷像素的方法及装置-CN200710160817.5无效
发明人：高长荣 -专利权人：联发科技股份有限公司
申请日： 2007-12-18 - 公布日： 2009-02-11 - 主分类号： H04N5/14 文献下载
摘要：本发明提供一种检测及校正缺陷像素的方法及装置。所述的装置包含有缺陷像素检测单元以及缺陷像素校正单元。缺陷像素检测单元获取检测像素及多个相邻像素，以及当第一条件与第二条件满足时确定此检测像素为缺陷像素，其中缺陷像素位于包含检测像素与相邻像素的n×n区块中心，第一条件描述为最多检测到一个相邻像素的值距离检测像素的值在预设阈值范围内，第二条件描述为除了检测出的相邻像素之外，其余所有相邻像素的数值小于或大于检测像素的数值。缺陷像素校正单元根据缺陷像素检测单元校正检测像素的一个值。利用本发明可以校正有缺陷的图像，使图像品质更优良。
检测校正缺陷像素方法装置

[发明专利]像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法-CN202210124540.5在审
发明人：何伟 -专利权人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请日： 2022-02-10 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： H01L27/32 文献下载
摘要：本发明涉及一种像素修复方法及有机发光显示面板的制作方法，所述像素修复方法在像素阵列内的子像素出现缺陷形成缺陷子像素时，向断开缺陷子像素的信号接收端，通过设置连接线将缺陷子像素的阳极与相邻的正常子像素的阳极串联连接，结合亮度补偿技术即可实现对缺陷子像素的修复，使该缺陷子像素可正常发光，显示亮度和相邻正常子像素一致，实现缺陷子像素的伪正常化，可降低像素阵列内的金属走线密度，避免像素空间不足而不能进行缺陷正常化修补，降低有机发光显示面板产品内的缺陷点数量，提升产品良率。
像素修复方法有机发光显示面板制作方法

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