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[发明专利]一种1mm频段紧缩场系统-CN201610036997.5有效
发明人：王学田;刘迟;寇雨馨;王伟 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2016-01-20 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况，提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台；其中，发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构，馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源；接收端包括静区场二维扫描架和二维转台，所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行，所述静区二维扫描架与所述二维转台连接，保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
紧缩场静区二维扫描位置调整机构紧缩场馈源二维转台频段馈源反射面水平维反射面中心检测系统系统检测行程中心发射端接收端平行对准垂直测试支撑保证

[发明专利]一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法-CN201410796710.X在审
发明人：马永光;杨金涛;康宁;何锦 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-29 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置为圆心，分别以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射再直达处于测试区的待测目标的最远和最近的距离为半径在紧缩场暗室中构建两个圆球面；两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为同步散射点区域。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的存在干扰作用的散射信号的同步散射点最大区域。
一种紧缩雷达目标特性测量同步散射区域确定方法

[发明专利]一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法-CN201410800369.0在审
发明人：马永光;李贵兰;袁岩兴;马蔚宇 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-29 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。
一种紧缩雷达目标特性测量同步散射位置识别方法

[实用新型]相位中心位置可调的紧缩场馈源及紧缩场测试系统-CN202022364996.8有效
发明人：夏冬雪 -专利权人：深圳市蓉声科技有限公司
申请日： 2020-10-21 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01Q1/12 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种相位中心位置可调的紧缩场馈源及紧缩场测试系统。其中，馈源相位中心位置可调的紧缩场馈源包括：馈源本体、连接装置及滑动装置；滑动装置包括滑轨和滑动对接；馈源本体安装于连接装置；连接装置与滑动对接固定连接；滑动对接安装于滑轨，当紧缩场测试系统使用跨标准带宽频率的馈源时，滑动对接带动连接装置上的馈源本体沿滑轨滑动，使得馈源本体相位中心在不同带宽的工况下与紧缩场反射面的曲面焦点均能进行匹配。
相位中心位置可调紧缩馈源测试系统

[发明专利]一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法-CN201410800313.5在审
发明人：马永光;韩玉峰;钱冰华;高启轩 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。
一种紧缩天线测量同步反射位置识别方法

[实用新型]直线型馈源切换装置-CN202122116876.0有效
发明人：夏冬雪 -专利权人：深圳市蓉声科技有限公司
申请日： 2021-09-03 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种直线型馈源切换装置，包括线性滑动机构、动力机构、多个紧缩场馈源设备，以及，吸波板；线性滑动机构包括滑轨和滑动板，滑动板与滑轨适配；动力机构包括线性驱动装置，用于驱动滑动板在滑轨内滑动；多个紧缩场馈源设备分别对应不同的待测频段；紧缩场馈源设备固定连接于滑动板，且相邻的紧缩场馈源设备之间设置有预定间隔；吸波板与滑动板所在的平面平行且间隔设置；并且，吸波板开设有透波孔；透波孔用于仅使其中一个紧缩场馈源设备与待测件进行测试本实用新型相比人工手动更换馈源，大大节省了馈源的更换的时间，提高了测试效率。
线型馈源切换装置

[发明专利]一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法-CN201410796746.8在审
发明人：马永光;马蔚宇;杨金涛;钱冰华 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。
一种紧缩天线测量同步反射区域确定方法

[发明专利]一种紧缩场馈源偏焦量化值确定方法、系统、设备及介质-CN202310000334.8有效
发明人：邓晖;王甲迪 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2023-01-03 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场馈源偏焦量化值确定方法、系统、设备及介质，涉及电磁测量技术领域，该方法包括根据紧缩场反射面的类型确定馈源相位中心无偏焦情况下测试区截面的电场强度；确定馈源相位中心偏焦情况下口面场的电场强度；根据馈源相位中心偏焦情况下口面场的电场强度确定馈源相位中心偏焦情况下测试区截面的电场强度；根据馈源相位中心偏焦情况下测试区截面的电场强度与馈源相位中心无偏焦情况下测试区截面的电场强度的比值，确定紧缩场馈源偏焦量化值本发明能够快速、准确得到紧缩场馈源偏焦量化值。
一种紧缩馈源量化确定方法系统设备介质

[实用新型]紧缩场天线测试系统-CN202120572686.7有效
发明人：卜景鹏;东君伟;冼育览 -专利权人：中山香山微波科技有限公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种紧缩场天线测试系统，包括：测试暗箱及均设于暗箱内的紧缩场馈源、反射面和测试机器人，所述紧缩场馈源设于反射面与测试机器人之间并用于发射测试信号，所述反射面用于将紧缩场馈源发射的电磁波形成紧缩场静区本实用新型的紧缩场天线测试系统采用暗箱、紧缩场馈源、反射面和测试机器人构成，由馈源和反射面在暗室内形成平面波辐射，由伺服机器人携带待测天线完成运动扫描，测试机器人极化轴旋转，多次重复方位轴旋转测试，即可得到各个截面的天线远场方向图
紧缩天线测试系统

[发明专利]一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置-CN202110634435.1在审
发明人：李志平;何国瑜;武建华;王正鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-06-07 - 公布日： 2021-08-27 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明公开了一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置，包括紧缩场反射面、馈源以及平面波静区；所述的馈源为紧缩场装置的电磁波辐射源；采用对角馈布局，紧缩场反射面的顶点在口径对角线接近的位置，馈源相心与反射面焦点共点位于反射面的虚旋转对称轴上；所述的紧缩场反射面为二次曲面结构，中心实体为旋转抛物面部分，用于将馈源辐射的球面波在静区内校正为平面波；所述的平面波静区为馈源辐射的电磁波经反射面校正后满足远场测试要求的有限立体空间区域。
一种口径利用率超大型紧缩装置

[实用新型]一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置-CN202121277493.5有效
发明人：李志平;何国瑜;武建华;王正鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2021-06-07 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高口径利用率超大型静区的紧缩场装置，包括紧缩场反射面、馈源以及平面波静区；所述的馈源为紧缩场装置的电磁波辐射源；采用对角馈布局，紧缩场反射面的顶点在口径对角线接近的位置，馈源相心与反射面焦点共点位于反射面的虚旋转对称轴上；所述的紧缩场反射面为二次曲面结构，中心实体为旋转抛物面部分，用于将馈源辐射的球面波在静区内校正为平面波；所述的平面波静区为馈源辐射的电磁波经反射面校正后满足远场测试要求的有限立体空间区域。
一种口径利用率超大型紧缩装置

[发明专利]一种通过馈源偏焦调节提升紧缩场低频静区性能的方法-CN202310252820.9在审
发明人：洪涛;吴瑞恒;胡伟;高雨辰;姜文 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-06-30 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种通过馈源偏焦调节提升紧缩场低频静区性能的方法，确定紧缩场反射面焦距、反射面偏置方向、静区尺寸和静区位置；将静区投影到反射面，确定投影在反射面偏置方向的最低点和最高点；计算得到使偏焦前后馈源相位中心分别到反射面偏置方向上最低点和最高点的距离之差相同的馈源偏焦路线；得到馈源偏焦前各频点紧缩场静区前中后三个位置的相位分布，判断静区相位的整体分布形态；在馈源偏焦路线上进行取样，得到馈源位于各样点位置时静区前中后三个位置的相位数据；比较馈源位于各样点位置时静区前中后三个位置的相位数据得到使静区相位分布最佳的馈源偏焦位置本发明能够在不改变紧缩场反射面、馈源和暗室结构的前提下提升紧缩场低频静区性能。
一种通过馈源调节提升紧缩低频性能方法

[发明专利]一种口径宽高比任意的扁平紧缩场装置-CN202310213092.0在审
发明人：李志平 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种口径宽高比任意的扁平紧缩场装置，该装置主要由扁平状的紧缩场口径、准直而成的扁平平面波静区和馈源组成，口径宽高比任意，推荐大于或等于2。本发明公开了任意扁平紧缩场的低频极限设计公式，低频极限由口径的类型、窄边电尺寸和宽高比共同决定。扁平反射面紧缩场推荐采用对角馈布局，可减小反射面对馈源的立体张角，降低馈源对反射面的照射电平，从而减小静区幅度锥削，提升超大型扁平化紧缩场的口径利用率达67％。扁平化的紧缩场口径，能降低紧缩场口径和屏蔽暗室的高度，能降低高精密要求反射面的自重变形，有利于超大型紧缩场的工程实现和成本控制，并保证高频性能和低频极限性能。
一种口径任意扁平紧缩装置

[发明专利]一种通过调节馈源偏角提升紧缩场静区性能的方法-CN202310254046.5在审
发明人：洪涛;吴瑞恒;姜文;魏昆;胡伟 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-06-02 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本申请公开了一种通过调节馈源偏角提升紧缩场静区性能的方法，该方法包括：确定紧缩场反射面焦距、反射面偏置方向、静区尺寸和静区位置；将静区投影到反射面，确定投影在反射面偏置方向的最低点和最高点；通过仿真或测量得到馈源方向图数据；将馈源从指向最低点旋转到指向最高点，用几何光学法计算不同偏角反射面偏置方向上静区的幅度平坦度，通过比较找到使幅度平坦度最小的馈源偏角。本发明能够在不改变紧缩场反射面、馈源和暗室结构的前提下提升紧缩场静区性能。
一种通过调节馈源偏角提升紧缩场静区性能方法

[发明专利]一种毫米波\亚毫米波多频段口径共用全息紧缩场系统-CN201210041618.3有效
发明人：李志平;武建华;许鼎;王正鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2012-02-21 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本发明涉及一种毫米波\亚毫米波多频段口径共用全息紧缩场系统，该紧缩场主要由多频段馈源系统，全息口径透射面组成。该全息紧缩场全息口径透射面参数取决于多频段的中心频率。馈源位置、工作频率、照射角等参数由广义相似性原理确定。馈源在高于中心频率的频段距离全息口径透射面较远，馈源张角较小，馈源在低于中心频率的频段距离全息口径透射面较近，馈源张角较大。
一种毫米波亚毫米波频段口径共用全息紧缩系统

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