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[发明专利]一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法-CN201410800313.5在审
发明人：马永光;韩玉峰;钱冰华;高启轩 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-05-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和处于测试区内的待测天线所在位置为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到到处于测试区任意位置的待测天线的传播路径长为长轴长度，在紧缩场暗室中构建一个椭球面；椭球面与紧缩场暗室各面及紧缩场暗室内部空间物体的交汇处即为同步反射点位置。该方法快速的找到紧缩场内反射信号与直射波信号同时到达接收天线的同步反射点位置。
一种紧缩天线测量同步反射位置识别方法

[发明专利]一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法-CN201410800369.0在审
发明人：马永光;李贵兰;袁岩兴;马蔚宇 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-29 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点位置识别方法，包括在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在所述三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据所述紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以所述紧缩场馈源所在位置T为圆心，以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射至处于测试区的待测目标所在位置A的发射波传播路径为半径，在所述紧缩场暗室中构建一个圆球面；所述同步散射点位于所述圆球面与所述紧缩场暗室各面及其内部各物体的交汇处通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的有干扰作用的同步散射点位置。
一种紧缩雷达目标特性测量同步散射位置识别方法

[发明专利]一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法-CN201410796710.X在审
发明人：马永光;杨金涛;康宁;何锦 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-29 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场雷达目标特性测量同步散射点区域确定方法，在紧缩场暗室内建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置为圆心，分别以紧缩场馈源发射波经紧缩场反射面反射再直达处于测试区的待测目标的最远和最近的距离为半径在紧缩场暗室中构建两个圆球面；两个圆球面及两个圆球面之间的空间即为同步散射点区域。通过本发明方法可快速找到紧缩场内与待测目标散射信号同时到达紧缩场馈源的存在干扰作用的散射信号的同步散射点最大区域。
一种紧缩雷达目标特性测量同步散射区域确定方法

[发明专利]一种1mm频段紧缩场系统-CN201610036997.5有效
发明人：王学田;刘迟;寇雨馨;王伟 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2016-01-20 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明针对目前1mm频段紧缩场系统检测静区场后撤掉检测系统进行后续测试的情况，提出一种1mm频段紧缩场系统。包括紧缩场反射面、紧缩场馈源、馈源位置调整机构、静区场二维扫描架、二维转台；其中，发射端包括紧缩场反射面、紧缩场馈源以及馈源位置调整机构，馈源位置调整机构用来支撑紧缩场馈源；接收端包括静区场二维扫描架和二维转台，所述静区场二维扫描架水平维行程与地面平行，所述静区二维扫描架与所述二维转台连接，保证静区二维扫描架垂直维和水平维行程中心对准紧缩场反射面中心。
紧缩场静区二维扫描位置调整机构紧缩场馈源二维转台频段馈源反射面水平维反射面中心检测系统系统检测行程中心发射端接收端平行对准垂直测试支撑保证

[发明专利]一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法-CN201410796746.8在审
发明人：马永光;马蔚宇;杨金涛;钱冰华 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2014-12-18 - 公布日： 2015-04-22 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本发明公开一种紧缩场天线测量同步反射点区域确定方法，包括在紧缩场暗室中建立三维直角坐标系；在三维直角坐标系中确定紧缩场馈源所在位置；根据紧缩场馈源的位置和测试区的位置确定紧缩场反射面所在位置；以紧缩场馈源所在位置和待测天线所在测试区内的离紧缩场反射面水平方向最近和最远的位置点作为焦点，以紧缩场馈源经紧缩场反射面到测试区的距离的最小和最大值为长轴长度，在紧缩场暗室中构建两个椭球面；两个椭球面及两椭球面之间的空间即为同步反射点区域。
一种紧缩天线测量同步反射区域确定方法

[实用新型]一种内凹化的紧缩场锯齿装置-CN202020066035.6有效
发明人：李志平;王正鹏;武建华 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2020-01-13 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： G01R29/08 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种内凹化的紧缩场锯齿装置，区别于传统的紧缩场锯齿，该设计通过控制每个锯齿沿径向绕紧缩场反射面系统几何中心等长度分布，以此来实现锯齿内凹。在同等紧缩场反射面系统尺寸下，相比传统的锯齿设计，该内凹化的锯齿设计能增加紧缩场反射面系统中心实体部分的面积，提升静区口径利用率和改善紧缩场低频性能。
一种内凹化紧缩锯齿装置

[发明专利]一种口径宽高比任意的扁平紧缩场装置-CN202310213092.0在审
发明人：李志平 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2023-03-06 - 公布日： 2023-05-02 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种口径宽高比任意的扁平紧缩场装置，该装置主要由扁平状的紧缩场口径、准直而成的扁平平面波静区和馈源组成，口径宽高比任意，推荐大于或等于2。本发明公开了任意扁平紧缩场的低频极限设计公式，低频极限由口径的类型、窄边电尺寸和宽高比共同决定。扁平反射面紧缩场推荐采用对角馈布局，可减小反射面对馈源的立体张角，降低馈源对反射面的照射电平，从而减小静区幅度锥削，提升超大型扁平化紧缩场的口径利用率达67％。扁平化的紧缩场口径，能降低紧缩场口径和屏蔽暗室的高度，能降低高精密要求反射面的自重变形，有利于超大型紧缩场的工程实现和成本控制，并保证高频性能和低频极限性能。
一种口径任意扁平紧缩装置

[实用新型]一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统-CN202221258428.2有效
发明人：陈宇钦;张佳莺;何丽华;袁国强;王琳 -专利权人：苏州益谱电磁科技有限公司
申请日： 2022-05-24 - 公布日： 2022-11-15 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种紧缩场、球面近场复合天线测试系统，包括电磁波暗室、紧缩场反射板、可倒伏吸波板、馈源、探头和多轴转台，多轴转台上设有待测天线安装位；紧缩场反射板与多轴转台相互正对，可倒伏吸波板设在紧缩场反射板与多轴转台之间，且正对于多轴转台，探头设在可倒伏吸波板上；可倒伏吸波板具有直立状态和倒伏状态，且在直立状态下在紧缩场反射板与多轴转台之间构成完全遮挡，在倒伏状态下不构成遮挡；馈源设于紧缩场反射板前方的一侧，且指向紧缩场反射板该系统将紧缩场测试系统和球面近场测试系统整合在同一个电磁波暗室中，从而覆盖更多的工作频率范围，提高测试场的利用率，降低测试成本，同时避免转场带来的麻烦。
一种紧缩球面近场复合天线测试系统

[发明专利]一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置-CN201810289348.5有效
发明人：张良聪;高超 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2018-04-03 - 公布日： 2020-03-31 - 主分类号： G01S7/40 文献下载
摘要：本发明涉及一种确定紧缩场的不确定度的方法及装置，方法包括：获取紧缩场的静区场的场分布；根据所述静区场的场分布，获取所述静区场的平面波谱；对所述平面波谱进行解析以提取至少一个平面波分量所分别对应的分量参数；获取所述紧缩场的静区场内被测物体的特征参数；根据各个所述平面波分量所分别对应的分量参数以及所述特征参数，确定所述紧缩场的不确定度。通过本发明的技术方案，得到的不确定度能够更为准确的反应紧缩场对测量结果所造成影响的影响程度。
一种确定紧缩不确定方法装置

[实用新型]紧缩场天线测试系统-CN202120572686.7有效
发明人：卜景鹏;东君伟;冼育览 -专利权人：中山香山微波科技有限公司
申请日： 2021-03-19 - 公布日： 2021-10-08 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种紧缩场天线测试系统，包括：测试暗箱及均设于暗箱内的紧缩场馈源、反射面和测试机器人，所述紧缩场馈源设于反射面与测试机器人之间并用于发射测试信号，所述反射面用于将紧缩场馈源发射的电磁波形成紧缩场静区本实用新型的紧缩场天线测试系统采用暗箱、紧缩场馈源、反射面和测试机器人构成，由馈源和反射面在暗室内形成平面波辐射，由伺服机器人携带待测天线完成运动扫描，测试机器人极化轴旋转，多次重复方位轴旋转测试，即可得到各个截面的天线远场方向图
紧缩天线测试系统

[发明专利]一种平面波相位多段测量拼接方法-CN201810155661.X有效
发明人：马永光;杨金涛;何鑫;吴翔 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2018-02-23 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01R25/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种平面波相位多段测量拼接方法，解决现有方法无法在不同尺寸紧缩场测试，且造价昂贵，存储、保管、运输、安装复杂的问题。所述方法，包含以下步骤：在紧缩场静区边缘外固定放置激光发射设备，使激光准直仪发出的激光平面与紧缩场来波方向垂直；通过激光跟踪仪对扫描架初始位置进行定位，并保持所述激光发射设备固定不动；在激光平面内，移动探头测量得到紧缩场第一截面的平面波特性；在激光平面内平行移动所述扫描架的位置至待检测位置；在激光平面内，移动探头测量得到所述紧缩场第二截面的平面波特性；将第一截面、第二截面的平面波特性进行拼接，得到所述紧缩场平面波的相位特性。本发明实现了对大静区紧缩场平面波特性的检测。
一种平面波相位测量拼接方法

[发明专利]一种天馈式紧缩场装置-CN201711048020.6在审
发明人：李志平;霍鹏;武建华;王正鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2018-04-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种天馈式紧缩场装置，该装置主要由紧缩场反射面、自适应定位馈源、激光跟踪仪及微波暗室组成。紧缩场反射面为二次曲面，反射面尺寸增加导致反射面二维弯曲偏置量会累加且成二次方增加，将加剧自重引起的结构变形和长期蠕变，会降低反射面系统的结构稳定性和型面精度。本发明公布的天馈式紧缩场装置，反射面采用后躺式结构，馈源采用天馈式布局，有利于提升超大规模紧缩场反射面系统的结构稳定性和型面精度，提升紧缩场静区的平面波质量。
一种天馈式紧缩装置

[实用新型]一种天馈式紧缩场装置-CN201721422913.8有效
发明人：李志平;霍鹏;武建华;王正鹏 -专利权人：北京航空航天大学
申请日： 2017-10-31 - 公布日： 2018-05-25 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种天馈式紧缩场装置，该装置主要由紧缩场反射面、自适应定位馈源、激光跟踪仪及微波暗室组成。紧缩场反射面为二次曲面，反射面尺寸增加导致反射面二维弯曲偏置量会累加且成二次方增加，将加剧自重引起的结构变形和长期蠕变，会降低反射面系统的结构稳定性和型面精度。本实用新型公布的天馈式紧缩场装置，反射面采用后躺式结构，馈源采用天馈式布局，有利于提升超大规模紧缩场反射面系统的结构稳定性和型面精度，提升紧缩场静区的平面波质量。
反射面紧缩场本实用新型结构稳定性馈源激光跟踪仪尺寸增加二次曲面结构变形微波暗室偏置量平面波自适应累加二维静区蠕变躺式

[实用新型]相位中心位置可调的紧缩场馈源及紧缩场测试系统-CN202022364996.8有效
发明人：夏冬雪 -专利权人：深圳市蓉声科技有限公司
申请日： 2020-10-21 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： H01Q1/12 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种相位中心位置可调的紧缩场馈源及紧缩场测试系统。其中，馈源相位中心位置可调的紧缩场馈源包括：馈源本体、连接装置及滑动装置；滑动装置包括滑轨和滑动对接；馈源本体安装于连接装置；连接装置与滑动对接固定连接；滑动对接安装于滑轨，当紧缩场测试系统使用跨标准带宽频率的馈源时，滑动对接带动连接装置上的馈源本体沿滑轨滑动，使得馈源本体相位中心在不同带宽的工况下与紧缩场反射面的曲面焦点均能进行匹配。
相位中心位置可调紧缩馈源测试系统

[发明专利]基于NURBS的高性能三反射镜紧缩场天线测量系统-CN202310246168.X在审
发明人：俞俊生;杨尚;陈天洋;阮金波;姚远 -专利权人：北京邮电大学
申请日： 2023-03-15 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于NURBS的高性能三反射镜紧缩场天线测量系统，将非均匀有理B样条的曲线曲面拟合算法与太赫兹三反射镜紧缩场设计结合，根据太赫兹频段的电磁背景和口径场分布，赋予非均匀有理B样条建模技术一个新的应用，实现波束口径切面由圆形至方形的形状转换，兼顾了B样条的优点，同时可以实现网格的自由分配，得到符合要求紧缩场口径的赋形曲面，解决非均匀有理B样条在三反射镜紧缩场的赋形面设计过程中的适配问题。此外，在三反射镜紧缩场设计的过程中，探究一种好的能量映射条件，通过调整光线及传播路径，优化静区边缘的能量衰减关系函数，进一步解决由于主镜边缘光的衍射造成的能量分散问题，实现整个三反射镜紧缩场系统的性能提高
基于 nurbs 性能反射紧缩天线测量系统

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