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- [发明专利]自动分析装置-CN200810009893.0有效
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圷正志
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株式会社日立高新技术
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2008-02-27
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2008-09-03
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G01N35/00
- 本发明提供一种自动分析装置，其中，如果操作者在事前准备精度管理试样，则能够根据外部的因素进行精度管理试样的分析，可以减少操作者的负担，并且在必须进行精度管理的适当的时期一定能够实现精度管理，可以自动维持测定精度解决方法为，根据在装置内保持精度管理试样、投入标准试样、分析中的试剂的余量满足规定的条件(为0、低于指定值)、改变日期、达到指定时刻、改变操作者、超过样品数、经过时间、登记新试剂、检测出测定异常等因素，来生成对应于保持的精度管理试样的分析委托，通过传送精度管理试样进行精度管理试样的分析。
- 自动分析装置
- [发明专利]自动分析装置-CN201110204647.2有效
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圷正志
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株式会社日立高新技术
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2008-02-27
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2012-01-04
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G01N35/00
- 本发明为自动分析装置。本发明的自动分析装置具备：分析样品的分析单元；将样品架传送至所述分析单元的支架传送装置，该样品架载放保持所述样品的样品容器；将样品架投入到该支架传送装置的支架投入口；将精度管理试样以设置于所述样品架的状态来保持在装置内的机构；其特征在于，具备控制设备，其控制传送，以使得在识别到成为了规定时刻的时候，生成与保持在装置内的精度管理试样相应的规定的测定委托，分析所述精度管理试样。由此，如果操作者在事前准备精度管理试样，则能够根据外部的因素进行精度管理试样的分析，可以减少操作者的负担，并且在必须进行精度管理的适当的时期一定能够实现精度管理，可以自动维持测定精度。
- 自动分析装置
- [发明专利]自动分析系统-CN202080085217.0在审
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矢野茂;今井健太;为实秀人;千田早织
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株式会社日立高新技术
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2020-12-10
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2022-08-02
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G01N35/00
- 本发明的目的在于，提供即使是需要大量的精度管理样品的情况也抑制了精度管理所需的时间的自动分析系统。因此，本发明的自动分析系统具备：多个分析装置(190)；连接分析装置(190)的运送部(120)；和操作运送部(120)来向分析装置(190)运送样品的操作部(101)，在该自动分析系统中，具有保管能向多个分析装置(190)供给的精度管理样品的共通的保管库(210)，操作部(101)遵循按多个分析装置(190)的每一者预先登记的规则来操作保管库(210)，将精度管理样品自动向分析装置(190)运送。
- 自动分析系统
- [发明专利]样本分析装置和样本分析方法-CN201911199603.8在审
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黑野浩司
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希森美康株式会社
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2019-11-29
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2020-06-09
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G01N35/00
- 本发明提供一种样本分析装置和样本分析方法。本发明针对数个测定项目进行样本分析的样本分析装置具备：测定部，连续进行样本测定，并进行精度管理测定，其中，样本测定对混合样本和与测定项目相应的试剂而制备的测定试样进行测定，精度管理测定对混合精度管理物质和与测定项目相应的试剂而制备的测定试样进行测定；控制部，从包括从第1精度管理、第2精度管理和第3精度管理选择的至少两种精度管理在内的精度管理群按每项测定项目设定精度管理，并根据设定的精度管理控制测定部，其中，第1精度管理在一定时刻执行精度管理测定，第2精度管理在样本测定每进行一定测定次数时执行精度管理测定，第3精度管理每隔一定时间间隔执行精度管理测定。
- 样本分析装置方法
- [发明专利]自动分析装置-CN202180091709.5在审
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辻川政树;田中佳幸
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株式会社日立高新技术
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2021-11-25
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2023-09-19
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G01N35/02
- 本发明提供不需要精度管理试样的余量管理的自动分析装置。一种自动分析装置，具备：投入部，其被投入容纳检体或精度管理试样的容器；ID读取器，其读取对所述容器赋予的ID；控制部，其对所述ID分配测定项目并且控制各部；以及分析部，其基于所述测定项目，从所述容器分注所述检体或所述精度管理试样来实施分析，所述自动分析装置的特征在于，所述控制部在容纳所述精度管理试样的第一容器中的液量不充足时，将对所述第一容器的ID分配的测定项目中的未实施的测定项目分配给容纳所述精度管理试样的第二容器的ID，并使所述分析部实施分析
- 自动分析装置
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