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[发明专利]带电粒子束装置-CN201880091659.9有效
发明人：本村俊一;野间口恒典;川崎忠宽;加藤丈晴;吉田龙视 -专利权人：株式会社日立高新技术;一般财团法人日本精细陶瓷中心
申请日： 2018-03-29 - 公布日： 2023-09-29 - 主分类号： H01J37/09 文献下载
摘要：带电粒子束装置中，在使用具有圆环形状的带电粒子束光圈的情况下，带电粒子束中的电流密度最高的光轴上的带电粒子束被遮挡，因此难以将带电粒子束光圈配置到最优的搭载位置。因此，与圆环形状的带电粒子束光圈(120)分别地具备圆孔形状的带电粒子束光圈(119)，能够切换将圆环形状的带电粒子束光圈配置在带电粒子束的光轴上的情况和将圆孔形状的带电粒子束光圈配置在带电粒子束的光轴上的情况
带电粒子束装置

[发明专利]用于运行粒子治疗设备的方法-CN201110083139.3有效
发明人：马丁·布劳尔 -专利权人：西门子公司
申请日： 2011-04-02 - 公布日： 2011-10-12 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于运行粒子治疗装置(100)的方法。所述粒子治疗装置(100)包括粒子产生装置(101)、用于从产生的照射粒子的至少一部分中产生粒子束的射线产生装置(102)、用于自动采集粒子束的粒子束强度的采集装置(103-105)和粒子束影响装置(110)，所述粒子束影响装置(110)构造为根据采集的粒子束强度和对于粒子束强度的预定的额定值影响所述粒子束强度。
用于运行粒子治疗设备方法

[发明专利]粒子束照射系统、粒子束照射方法、照射计划程序、照射计划装置、电磁场生成装置以及照射装置-CN201980040738.1在审
发明人：稻庭拓;野田耕司;岩田佳之 -专利权人：国立研究开发法人量子科学技术研究开发机构
申请日： 2019-06-17 - 公布日： 2021-02-05 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明提供粒子束治疗装置、粒子束治疗系统、照射计划装置以及粒子束照射方法。在粒子束治疗系统(1)中，磁场生成装置(9)在被检测体的靶附近生成影响粒子束的磁场的同时通过加速器(4)对从离子源(2)取出的粒子束进行加速，通过射束输送系统(5)搬送，并从照射装置(6)照射。在粒子束的照射中，照射计划装置(20)制作将磁场的影响加进去的粒子束的照射计划，并根据该照射计划照射粒子束。
粒子束照射系统方法计划程序装置电磁场生成以及

[实用新型]质谱仪及其进样机构-CN201921080158.9有效
发明人：卓泽铭;张业荣;吕金诺;蔡伟光;杜绪兵;陈颖 -专利权人：广州禾信仪器股份有限公司
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2020-06-02 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：进样机构包括粒子束形成装置以及粒子束阻挡装置。粒子束形成装置具有粒子束形成通道以及分别设于粒子束形成通道的两端的进样口和粒子束出口。粒子束阻挡装置包括挡板以及用于驱动挡板运动的驱动机构；挡板具有用于供粒子束穿过的第一通道。当挡板运动至第一通道与粒子束出口相对应时，粒子束穿过第一通道；当挡板运动至第一通道与粒子束出口错开时，粒子束由挡板阻挡。质谱仪包括该进样机构、粒子加速电极以及检测机构，使用该质谱仪能够准确检测超细颗粒物中单颗粒物的空气动力学粒径和化学组成。
质谱仪及其样机

[发明专利]带检测器装置的粒子束仪-CN201210243040.X有效
发明人： D·多尼茨;C·瓦格纳 -专利权人：卡尔蔡司NTS有限责任公司
申请日： 2012-03-31 - 公布日： 2012-11-14 - 主分类号： H01J37/26 文献下载
摘要：本发明涉及一种带检测器装置的粒子束仪(1，24)。该粒子束仪具有第一和第二粒子束柱(16、2)，第一和第二粒子束柱分别具有产生第一或第二粒子束的第一或第二束产生器以及将第一或第二粒子束聚焦在目标(11)上的第一或第二物镜。第一粒子束柱具有第一粒子束轴线(28)。第二粒子束柱具有第二粒子束轴线(29)。设置检测相互作用粒子和/或相互作用束的检测器(12)，检测轴线(33)从检测器延伸到目标。第一粒子束柱的第一粒子束轴线和第二粒子束柱的第二粒子束轴线形成不同于0°和180°的第一角度第一粒子束柱的第一粒子束轴线和该第二粒子束柱的第二粒子束轴线布置在第一平面(32)内。
检测器装置粒子束

[发明专利]粒子束系统和用于操作粒子束系统的方法-CN201911262518.1在审
发明人： B.加姆;M.马蒂杰维克 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2019-12-10 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： H01J37/244 文献下载
摘要：本发明涉及一种粒子束系统以及一种用于操作其的方法。粒子束系统包括第一粒子束柱(例如电子束柱)和第二粒子束柱(例如离子束柱)。其中在粒子束系统的第一操作模式下，其中布置有开口的端盖被布置在第一粒子束(例如电子束)的束路径的外侧，并且在粒子束系统的第二操作模式下，端盖被布置为使得第一粒子束的束路径可以延伸穿过端盖的开口，并且来自工作区域的二次粒子可以穿过端盖的开口到达在第一粒子束柱的内部的检测器当粒子束系统处于第一操作模式时，使用第一粒子束柱记录布置在工作区域中的物体的图像。当粒子束系统处于第二操作模式时，使用第二粒子束(例如离子束)加工物体。
粒子束系统用于操作方法

[发明专利]用于粒子放射治疗装置的束流控制方法及束装置-CN202211343700.1在审
发明人：贾天吉;杨春晓;周利荣;石健;马力祯;郑立夫 -专利权人：兰州科近泰基新技术有限责任公司
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本公开提供一种用于粒子放射治疗装置的束流控制方法及装置，方法包括：获取偏转磁铁的长度、偏转磁铁边沿到靶区的第二水平距离；根据粒子放射治疗装置的治疗需求设置每一粒子束的出射点到靶区的距离，每一粒子束的入射角度和运动轨迹半径；对于每一粒子束，根据偏转磁铁的长度、第二水平距离、该粒子束的出射点到靶区的距离，该粒子束的入射角度、该粒子束的运动轨迹半径，计算该粒子束的入射点位置；对于每一粒子束，根据粒子束在聚束磁铁磁场区域的出射点到靶区的距离和该粒子束的入射角度，计算该粒子束的出射点位置；根据所有粒子束入射点位置和出射点位置确定聚束磁铁磁场区域的边界；根据边界配置对应的磁场区域控制粒子束引入靶区。
用于粒子放射治疗装置控制方法束装

[发明专利]粒子束形成装置-CN201380051775.5在审
发明人：武田直希;田原雅哉;小泉和裕;平山纪友;竹川畅之;宫川拓真 -专利权人：富士电机株式会社;国立大学法人东京大学
申请日： 2013-10-17 - 公布日： 2015-06-24 - 主分类号： G01N15/14 文献下载
摘要：本发明提供一种能够形成粒子束，并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置，其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束，其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置，其中，所述减压容器(12)的内部被减压；所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外，另一端配置在减压容器(12)内，获取减压容器(12)外的粒子源(2)，将粒子束导入减压容器(12)内；所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地，该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15)，其中，所述光照射装置对粒子束照射光；所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光；所述信号处理装置
粒子束形成装置

[发明专利]质谱仪及其进样机构以及单颗粒物的检测方法-CN201910624588.0在审
发明人：卓泽铭;张业荣;吕金诺;蔡伟光;杜绪兵;陈颖 -专利权人：广州禾信仪器股份有限公司
申请日： 2019-07-11 - 公布日： 2021-01-12 - 主分类号： H01J49/04 文献下载
摘要：进样机构包括粒子束形成装置以及粒子束阻挡装置。粒子束形成装置具有粒子束形成通道以及分别设于粒子束形成通道的两端的进样口和粒子束出口。粒子束阻挡装置包括挡板以及用于驱动挡板运动的驱动机构；挡板具有用于供粒子束穿过的第一通道。当挡板运动至第一通道与粒子束出口相对应时，粒子束穿过第一通道；当挡板运动至第一通道与粒子束出口错开时，粒子束由挡板阻挡。质谱仪包括该进样机构、粒子加速电极以及检测机构，使用该质谱仪能够准确检测超细颗粒物中单颗粒物的空气动力学粒径和化学组成。
质谱仪及其样机以及颗粒检测方法

[发明专利]带电粒子束装置-CN201880091722.9有效
发明人：野间口恒典;本村俊一;川崎忠宽;加藤丈晴;吉田龙视 -专利权人：株式会社日立高新技术;一般财团法人日本精细陶瓷中心
申请日： 2018-03-29 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： H01J37/09 文献下载
摘要：作为校正带电粒子束用的电磁透镜所具有的正的球面像差的装置，已知组合圆孔电极和圆环电极而得的球面像差校正装置。在该球面像差校正装置中，在向圆孔电极和圆环电极之间施加了电压时，由于圆孔电极产生的凸透镜效果，带电粒子束装置的焦点发生变化。因此，在具备产生带电粒子束的带电粒子束源(101)、具有圆环形状的带电粒子束光圈(120)、向带电粒子束光圈施加电压的带电粒子束光圈电源(108)的带电粒子束装置中，带电粒子束光圈电源向带电粒子束光圈施加极性与带电粒子束的电荷相反的电压
带电粒子束装置

[发明专利]粒子束治疗系统、粒子束照射切换方法以及存储介质-CN202010013645.4有效
发明人：小野大辅;伊藤友纪 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2020-01-07 - 公布日： 2022-06-03 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明涉及粒子束治疗系统、粒子束治疗方法以及计算机程序。本发明能够切实地验证基于所选择的照射方式的粒子束的照射。粒子束治疗系统(100)具有：对粒子束加速的带电粒子射束产生装置(200)、向目标照射由带电粒子射束产生装置(200)加速的粒子束的照射装置(500)、控制带电粒子射束产生装置(200)以及照射装置(500)的控制装置(600)，控制装置(600)控制带电粒子射束产生装置(200)以及照射装置(500)，以便通过切换至少2种不同的照射方式向目标照射粒子束，进而，在切换照射方式后，根据所切换的照射方式并通过带电粒子射束产生装置(200)以及照射装置(500)试验性地照射粒子束并验证该粒子束。
粒子束治疗系统照射切换方法以及存储介质

[发明专利]穿过柱体输送辐射并为其产生治疗计划-CN202080034487.9在审
发明人： J.库利;T.兹沃特 -专利权人：美国迈胜医疗系统有限公司
申请日： 2020-03-06 - 公布日： 2021-12-17 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：使用粒子束治疗标靶的示例方法包括沿着至少部分穿过标靶的路径引导粒子束，并且在粒子束沿着路径被引导时控制粒子束的能量，使得粒子束至少处理沿着路径定位的标靶的内部部分。当粒子束沿着路径被引导时，粒子束向标靶输送超过每秒一(1)格雷的辐射剂量，持续时间少于五(5)秒。可以生成治疗计划来执行该方法。
穿过柱体输送辐射产生治疗计划

[发明专利]双束双焦带电粒子显微镜-CN202110331186.9在审
发明人： A·亨斯特;Y·邓;H·科尔;A·穆罕默德-盖达里 -专利权人： FEI公司
申请日： 2021-03-29 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： H01J37/21 文献下载
摘要：根据本公开的用于使用双束双焦带电粒子显微镜来研究样本的方法和系统包括向所述样本发射多个带电粒子，将所述多个带电粒子形成为第一带电粒子束和第二带电粒子束，以及修改所述第一带电粒子束和所述第二带电粒子束中的至少一束的聚焦特性修改所述第一带电粒子束和所述第二带电粒子束中的至少一束的所述聚焦特性，使得所述第一带电粒子束和所述第二带电粒子束的对应焦平面不同。
双束双焦带电粒子显微镜

[发明专利]电荷粒子束照射系统-CN201510085293.2有效
发明人：伊藤友纪;松田浩二;品川亮介;田所昌宏;西村荒雄 -专利权人：株式会社日立制作所
申请日： 2015-02-16 - 公布日： 2018-03-30 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本发明提供一种能够缩短电荷粒子束向照射对象的照射时间的电荷粒子束照射系统。具备电荷粒子束产生装置，其加速地射出电荷粒子束；照射装置，其具有扫描电荷粒子束的扫描电磁铁，向照射对象的多个照射点射出加速后的电荷粒子束；射束射线量测量器，其求出通过照射装置内的电荷粒子束的射线量；射束位置测量器，其求出通过扫描电磁铁扫描的电荷粒子束的位置和宽度的任意一方或双方。
电荷粒子束照射系统

[发明专利]带电粒子束照射装置-CN202110337554.0在审
发明人：佐佐井健蔵 -专利权人：住友重机械工业株式会社
申请日： 2021-03-30 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G21K5/04 文献下载
摘要：本发明的课题在于提供一种能够缩短带电粒子束的照射时间的带电粒子束照射装置。一种带电粒子束照射装置(1)，其照射带电粒子束(B)，所述带电粒子束照射装置(1)具备：加速器(2)，对带电粒子进行加速而生成带电粒子束(B)；照射部(3)，具有能够围绕旋转轴线进行旋转的机架(5)，并且照射由加速器(2)生成的带电粒子束(B)；及传输部(4)，具有设置于照射部(3)的外部并减小由加速器(2)生成的带电粒子束(B)的能量的能量衰减器(43)，并且向照射部(3)传输由加速器(2)生成的带电粒子束(B)，传输部(4)将具有通过能量衰减器(43)而能量减小的带电粒子束(B)的能量分布的该带电粒子束(B)传输到照射部(3)。
带电粒子束照射装置

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