专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]谱分析方法及谱分析装置-CN201480076818.X有效
  • 工藤恭彦;大林贤一;川名修一 - 株式会社岛津制作所
  • 2014-03-05 - 2019-09-03 - G01N27/62
  • 本发明为一种谱分析方法,其将生成自分析对象化合物的离子中的一个或多个离子作为基准离子,使用针对该基准离子而获得的谱色谱图来进行试样中所含的所述分析对象化合物的定性及/或定量,该谱分析方法中,针对所述一个或多个基准离子中的各方而设定一个或多个候选基准离子,并针对所述所设定的候选基准离子中的各方而获取所述试样的谱色谱图,求所述谱色谱图上的规定位置上出现的波峰与预先设定的模型波峰的形状类似度,将与所述形状类似度在规定值以上的波峰相对应的候选基准离子确定为所述基准离子
  • 谱分析方法装置
  • [发明专利]谱分析装置及谱分析方法-CN201380081698.8有效
  • 朝野夏世 - 株式会社岛津制作所
  • 2013-12-17 - 2019-01-22 - G01N27/62
  • 本发明中,真空度相对较低的第1中间真空室(212)内所发生的离子的解离的程度具有能量依赖性,且取决于离子的大小等。因此,对离子导向器(24)施加规定的最佳直流偏压,以在第1中间真空室(212)内形成使得来源于试样中的目标化合物的离子不怎么解离、而在观测该目标化合物时成为噪声的来源于夹杂物的离子的解离得到促进这样的直流电场。最佳直流偏压是通过使用提取离子色谱来评价SN比而预先求出的,所述提取离子色谱是基于在改变直流偏压的条件下采集到的数据的色谱。由此,与仅着眼于目标化合物的信号强度的以往的装置相比,定量的精度、灵敏度进一步提高。
  • 谱分析装置方法
  • [发明专利]气相色谱谱分析装置-CN201680083342.1有效
  • 坂本雄纪;住吉崇史;平松良朗 - 株式会社岛津制作所
  • 2016-03-07 - 2021-06-08 - G01N30/72
  • 气相色谱谱分析装置,对目标试样进行基于EI法的电离下的GC/MS测定。在基于所得到的数据的色谱上检测峰,将各峰所对应的谱与化合物DB对照来鉴定化合物。提取鉴定时的相似度低的化合物作为测定对象化合物,以包含与该化合物对应的峰的保持时间的方式设定测定窗,制作仅在测定窗内进行基于CI法的电离那样的控制程序。然后,按照该控制程序,以在测定窗内向电离室内供给试剂气体并且点亮热电子生成用的热丝、而在其以外的时间范围内停止试剂气体的供给并且熄灭热丝的方式进行控制,同时进行针对目标试样的GC/MS测定。在测定窗以外的时间范围内不产生试剂气体离子,因此能减轻该离子向电离室内等的附着,能够进行长期稳定的测定。
  • 色谱谱分析装置
  • [发明专利]离子注入装置及离子注入装置的控制方法-CN201811351479.8有效
  • 佐佐木玄 - 住友重机械离子科技株式会社
  • 2018-11-14 - 2022-07-29 - H01J37/317
  • 质量分析装置(22)具备:质量分析磁铁(22a),对通过引出电极从离子源引出的离子束施加磁场而使其偏转;谱分析狭缝(22b),设置于质量分析磁铁(22a)的下游,且使偏转的离子束中所希望的离子种的离子束选择性地通过;及透镜装置(22c),设置于质量分析磁铁(22a)与谱分析狭缝(22b)之间,且对朝向谱分析狭缝(22b)的离子束施加磁场及电场中的至少一种来调整离子束的收敛及发散。质量分析装置(22)在隔着谱分析狭缝(22b)的上游侧至下游侧为止的规定的调整范围内,利用透镜装置(22c)来改变通过谱分析狭缝(22b)的离子束的收敛位置,由此调整质量分辨率。
  • 离子注入装置控制方法
  • [发明专利]谱分析-CN201780069889.0有效
  • 彼得·欧康纳;玛丽亚·安德烈亚·范阿格托文 - 华威大学
  • 2017-09-12 - 2023-03-31 - H01J49/00
  • 一种进行谱分析的方法,包括:使用静电或电动离子阱来容纳多个离子,每个离子具有荷比,离子具有第一多个荷比,每个离子沿着具有半径的静电或电动离子阱内的路径;并且对于第二多个荷比中的每一个:依赖于荷比,以荷比依赖性方式调整离子半径;以半径依赖的方式碎裂由此调整的离子;并测定离子的谱。
  • 谱分析
  • [发明专利]谱分析-CN200980126034.2有效
  • C·鲍曼;H·拜尔斯;P·舒尔茨纳皮;M·沃德 - 电泳有限公司
  • 2009-05-18 - 2011-05-25 - G01N33/68
  • 一种检验靶分析物的方法,该方法包括:(a)提供可包含靶分析物的多个样品,其中各样品用质量标签或质量标签的组合作差异性标记,所述质量标签来自质量标签的集合,各质量标签是包含谱上不同的质量标记物基团的同量异序质量标签,从而可通过质谱法区分这些样品;(b)混合所述多个标记样品以产生分析混合物并将所述分析混合物引入质谱仪;(c)选择具有第一荷比的离子,该第一荷比等于用特定数量的质量标签标记的靶分析物的离子;(d)使具有该第一荷比的离子断裂成多个片段离子,其中所述多个片段离子的一部分包含至少一个完整的质量标签;(e)选择具有第二荷比的离子,该第二荷比等于包含至少一个完整质量标签的靶分析物的片段的离子;(f)使具有该第二荷比的离子断裂成多个其它片段离子,其中所述其它片段离子的一部分是所述质量标记物基团的离子;(g)产生在步骤(f)中产生的其它片段离子的谱图;和(h)由所述谱图测定各样品中靶分析物的含量。
  • 谱分析

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