专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]电子倍增器内部区域的改进-CN201980080736.5在审
  • R·尤雷克;K·宏特尔 - 艾德特斯解决方案有限公司
  • 2019-08-26 - 2021-08-24 - H01J43/28
  • 本发明涉及在离子检测中使用类型的电子倍增器装置,以及用于延长操作寿命或以其它方式改善性能的修改。本发明可以实施为电子倍增器的形式,该电子倍增器包括一系列离散的电子发射表面,这些电子发射表面被配置成提供电子放大链,该电子倍增器被配置成抑制或防止污染物进入、或部分地通过、或完全通过电子倍增器电子倍增器可以包括一个或多个挡板,该挡板被配置成与不具有一个或多个挡板的相同或相似的电子倍增器相比降低电子倍增器的真空传导率。
  • 电子倍增器内部区域改进
  • [发明专利]电子倍增器的测试系统和测试方法-CN202011558296.0在审
  • 王运佳;王一非;刘国栋;高连山;王亮 - 北京无线电计量测试研究所
  • 2020-12-25 - 2021-05-07 - G01R31/00
  • 本申请涉及电子倍增器技术领域,公开一种电子倍增器的测试系统。该电子倍增器的测试系统包括真空腔室、电子测试工位、离子测试工位和可移动靶台,其中,真空腔室用于为测试提供真空环境;电子测试工位设置在所述真空腔室内;离子测试工位设置在所述真空腔室内;可移动靶台设置在所述真空腔室内,用于放置被测电子倍增器,可拖动所述被测电子倍增器在所述电子测试工位与所述离子测试工位之间移动。该电子倍增器的测试系统可在同一真空环境下提供电子源和离子源对被测电子倍增器进行测试,提高了测试效率。本公开实施例还提供了一种电子倍增器的测试方法。
  • 电子倍增器测试系统方法
  • [发明专利]一种用于检测C6-C8的电子倍增器的校正方法-CN202310292837.7在审
  • 倪朋勃;毛敏;郝为;邴磊;刘士彬 - 中法渤海地质服务有限公司
  • 2023-03-22 - 2023-10-24 - G01N27/62
  • 本发明公开了一种用于检测C6‑C8的电子倍增器的校正方法,属于电子倍增器技术领域,包括将检测得出的各组分的测量信号值输入标准曲线公式计算出测量浓度值S;根据电子倍增器的运行时间t,根据电子倍增器的衰减趋势方程计算出信号值衰减率A;根据校正公式计算出各组分的校正浓度值Y;判断电子倍增器的放大倍数是否低于放大倍数参考值,若不是,返回继续对气体进行进样分析;若是,通过质谱调谐功能调整电子倍增器的电压,调整调谐参考离子的信号值,返回继续对样本进行进样分析本发明一种用于检测C6‑C8的电子倍增器的校正方法,能在测试工作中及时补偿电子倍增器的信号衰减带来的测量误差,并且不需要中止运行状态。
  • 一种用于检测c6c8电子倍增器校正方法
  • [发明专利]一种调节电子倍增器增益的方法-CN201410657159.0有效
  • 段炼;刘立鹏;刘盈智;马乔 - 聚光科技(杭州)股份有限公司
  • 2014-11-18 - 2015-02-18 - H01J43/30
  • 本发明涉及一种增益调节方法,包括以下步骤:在电子倍增器上加载初始电压V初1,按照步长ΔV1调节加载在电子倍增器上的电压,在每一个电压下,记录电子倍增器上产生的散粒噪声的信号,随着加载在电子倍增器上的电压的变化,首次得到的大于预设的第一阈值的信号对应的加载在电子倍增器上的电压为第一电压,首次得到的大于预设的第二阈值的信号对应的加载在电子倍增器上的电压为第二电压,根据所述第一电压和第二电压,得出对应最佳增益的目标电压,将目标电压值加载在电子倍增器上,将增益调节至最佳。
  • 一种调节电子倍增器增益方法
  • [发明专利]电子探测电子探测系统-CN202211216077.3在审
  • 胡继闯;何伟;张景龙;郎永辉;牛辉;宋航;张月新;张镇旗;李凤民;张子豪 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2022-09-30 - 2022-11-25 - H01J37/244
  • 本发明提供一种电子探测电子探测系统。该电子探测包括:法拉第笼,用于收集二次电子;固定于屏蔽外筒的电子倍增器,用于基于电子倍增器输入端的第一电压和电子倍增器输出端的第二电压对二次电子进行一级倍增放大;分别与电子倍增器输入端和电子倍增器输出端连接的供电环,用于向电子倍增器输入端提供第一电压,向电子倍增器输出端提供第二电压;固定于屏蔽外筒的半导体探测,用于对二次电子施加第三电压和偏置电压以将二次电子进行二级倍增放大后转换为电流信号;与半导体探测连接的放大器电路,用于将电流信号转换为电压信号;信号放大处理电路,用于将电压信号进行放大后转换为图像信号,可以提高电子探测效率,增强图像信噪比。
  • 电子探测器探测系统
  • [实用新型]电子探测电子探测系统-CN202222615214.2有效
  • 胡继闯;何伟;张景龙;郎永辉;牛辉;宋航;张月新;张镇旗;李凤民;张子豪 - 纳克微束(北京)有限公司
  • 2022-09-30 - 2023-01-24 - H01J37/244
  • 本实用新型提供一种电子探测电子探测系统。该电子探测包括:法拉第笼,用于收集二次电子;固定于屏蔽外筒的电子倍增器,用于基于电子倍增器输入端的第一电压和电子倍增器输出端的第二电压对二次电子进行一级倍增放大;分别与电子倍增器输入端和电子倍增器输出端连接的供电环,用于向电子倍增器输入端提供第一电压,向电子倍增器输出端提供第二电压;固定于屏蔽外筒的半导体探测,用于对二次电子施加第三电压和偏置电压以将二次电子进行二级倍增放大后转换为电流信号;与半导体探测连接的放大器电路,用于将电流信号转换为电压信号;信号放大处理电路,用于将电压信号进行放大后转换为图像信号,可以提高电子探测效率,增强图像信噪比。
  • 电子探测器探测系统
  • [实用新型]中子探测-CN201320198268.1有效
  • 孙志嘉;周健荣;陈元柏;王艳凤;杨桂安;许虹;唐彬;杨振 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2013-04-18 - 2013-09-25 - G01T3/00
  • 本实用新型提供一种中子探测,包括:用于提供漂移电场的漂移电极、用于对入射的中子进行转换的涂硼气体电子倍增器结构、用于对中子转换后产生的原初电子进行气体放大的气体电子倍增器结构以及用于读出放大后的电子信号的读出电极;漂移电极、涂硼气体电子倍增器结构、气体电子倍增器结构和读出电极互相平行设置且顺次排列;涂硼气体电子倍增器结构采用至少一个级联的第一气体电子倍增器膜构成,且第一气体电子倍增器膜的至少一面涂有硼层。本实用新型能够大大提高中子探测效率且计数率高,时间分辨率好,可实现更高量级的时间分辨,同时该中子探测兼具气体探测的优点γ抑制能力高、成本低和可大面积制作。
  • 中子探测器
  • [发明专利]中子探测与中子探测方法-CN201310136203.9有效
  • 孙志嘉;周健荣;陈元柏;王艳凤;杨桂安;许虹;唐彬;杨振 - 中国科学院高能物理研究所
  • 2013-04-18 - 2017-03-08 - G01T3/00
  • 本发明提供一种中子探测与中子探测方法。中子探测包括用于提供漂移电场的漂移电极、用于对入射的中子进行转换的涂硼气体电子倍增器结构、用于对中子转换后产生的原初电子进行气体放大的气体电子倍增器结构以及用于读出放大后的电子信号的读出电极;漂移电极、涂硼气体电子倍增器结构、气体电子倍增器结构和读出电极互相平行设置且顺次排列;涂硼气体电子倍增器结构采用至少一个级联的第一气体电子倍增器膜构成,且第一气体电子倍增器膜的至少一面涂有硼层。本发明的中子探测,能够大大提高中子探测效率且计数率高,时间分辨率好,可实现更高量级的时间分辨,同时该中子探测兼具气体探测的优点γ抑制能力高、成本低和可大面积制作。
  • 中子探测器探测方法
  • [实用新型]一种适用于质谱仪的新型多轴检测-CN202222365466.4有效
  • 黄泽建;高佳奇;王涵文 - 上海砺沐科学仪器有限公司
  • 2022-09-06 - 2023-01-17 - H01J49/02
  • 本实用新型提供了一种适用于质谱仪的新型多轴检测,处于真空环境下,包括相对设置的打拿级和电子倍增器,打拿级和电子倍增器外设有检测支架,检测支架的两侧开设有离子入口与中性分子出口,打拿级和电子倍增器同轴设置在检测支架内并位于离子入口的两侧本实用新型通过在检测前端设有透镜组,对质量分析出射的离子进行聚焦,以减少离子的发散,使更多的离子沿轴线方向进入检测,提升离子在质量分析和检测之间的传输效率,并通过在打拿级和倍增之间的屏蔽板,降低离子进入电子倍增器的几率,减少离子对电子倍增器的干扰,提升系统检测准确性,并防止电子倍增器受到离子冲击而损坏,从而实现了高效率离子传输及检测。
  • 一种适用于质谱仪新型检测器

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