“用丝型像质计”专利关键词查询_检索下载_查询列表_检索列表_行业专利分布_钻瓜专利网

钻瓜专利网为您找到相关结果6633312个，建议您升级VIP下载更多相关专利

[实用新型]一种用丝型像质计-CN202320725916.8有效
发明人：王灿璜;王庆忠 -专利权人：浙江屹轩检测设备有限公司
申请日： 2023-04-04 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及像质计技术领域，特别是涉及一种用丝型像质计，包括丝型像质计本体，所述丝型像质计本体上设有便于对压力管道进行检测的横板机构，所述横板机构包括水平尺和定位板，所述丝型像质计本体的侧端部固定安装有固定竖杆，所述固定竖杆的上端部开设有T形槽，所述水平尺的侧端部固定安装有T形杆，所述T形杆滑动安装在T形槽的内侧壁，所述定位板位于丝型像质计本体的一侧，所述定位板的侧端部固定安装有两个真空吸盘。本实用新型通过设置了定位板和真空吸盘相配合，通过真空吸盘吸附在焊缝位置对定位板进行固定，以此对丝型像质计本体进行固定，固定较为稳定，便于丝型像质计本体的检测。
一种用丝型像质计

[发明专利]一种压力管道无损检测用丝型像质计-CN201810531065.7在审
发明人：张立红;吕程;陈力群;郭炜;陈平;李志楠;李斌;何梦莹 -专利权人：湖北特种设备检验检测研究院
申请日： 2018-05-29 - 公布日： 2018-08-17 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种压力管道无损检测用丝型像质计，包括像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区；像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区均设置于像质计底板，像质计固定区用于将丝型像质计固定于工件，像质计型号区上标记有像质计型号，像质计识别区上设有多个以规定的间距平行排列的像质计识别丝，像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区的材质均为聚乙烯。本发明通过将像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区的材质均设计为聚乙烯，能够有效控制射线检测灵敏度，提高聚乙烯管道焊接接头检测技术水平，保障管道焊接接头的安全性和可靠性，从源头更好地控制聚乙烯管道焊接质量
像质计固定区识别区底板聚乙烯聚乙烯管道焊接接头无损检测压力管道射线检测灵敏度保障管道检测技术有效控制焊接源头安全

[实用新型]一种压力管道无损检测用丝型像质计-CN201820815169.6有效
发明人：张立红;吕程;陈力群;郭炜;陈平;李志楠;李斌;何梦莹 -专利权人：湖北特种设备检验检测研究院
申请日： 2018-05-29 - 公布日： 2019-01-08 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种压力管道无损检测用丝型像质计，包括像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区；像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区均设置于像质计底板，像质计型号区上标记有像质计型号，像质计识别区上设有多个以规定的间距平行排列的像质计识别丝，像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区的材质均为聚乙烯。本实用新型通过将像质计底板、像质计固定区、像质计型号区及像质计识别区的材质均设计为聚乙烯，能够有效控制射线检测灵敏度，提高聚乙烯管道焊接接头检测技术水平，保障管道焊接接头的安全性和可靠性，从源头更好地控制聚乙烯管道焊接质量
像质计识别区底板固定区聚乙烯本实用新型聚乙烯管道焊接接头无损检测压力管道射线检测灵敏度保障管道检测技术有效控制焊接源头安全

[发明专利]一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法-CN202310480603.5在审
发明人：陈云霞;储钰昆;徐潇;胡海宁;杨洪刚;朱正暘;王晨华 -专利权人：上海电机学院
申请日： 2023-04-28 - 公布日： 2023-07-25 - 主分类号： G06T7/60 文献下载
摘要：本发明提供一种基于丝型像质计丝径测量的图像比例尺计算方法。属于图像处理技术领域。方法包括以下步骤：步骤1对包含丝型像质计的射线图像进行预处理；步骤2通过矩形框选取像质计局部区域作为ROI；步骤3对步骤2中得到的ROI进行二值化处理；步骤4对步骤3得到的结果采用直线检测方法检测直线以及端点坐标；步骤5计算所得直线的斜率，利用三角函数求出丝型像质计的丝径；步骤6对照像质计型号和标称丝径，计算比例尺。本发明可计算出丝型像质计不同线号的丝径，通过对照丝型像质计的实际标称丝径，可求出不同射线图像的比例尺。
一种基于丝型像质计丝径测量图像比例尺计算方法

[发明专利]一种导管焊缝射线检测用像质计试块的制备方法及应用-CN201911191176.9有效
发明人：杜本莉;王海亮;王树鹏;徐健;张孝玲 -专利权人：中国航发沈阳黎明航空发动机有限责任公司
申请日： 2019-11-28 - 公布日： 2021-12-24 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明属于无损检测技术领域，具体涉及一种导管焊缝射线检测用像质计试块的制备方法及应用。本发明的技术方案如下：一种导管焊缝射线检测用像质计试块的制备方法，包括如下步骤：1)制作模拟导管：依据待检零件的规格，选取同类型的平直导管，将两段平直导管焊接形成模拟导管；2)组合安装：选取与待检零件材料、厚度对应的像质计丝，将所述模拟导管与所述像质计丝贴合，保证所述像质计丝与所述焊缝垂直并处于所述模拟导管中心区域，将其固定在梯形模具中；3)制作试块：向所述梯形模具内注入环氧树脂，待环氧树脂凝固后取出，打磨平整，形成像质计试块。
一种导管焊缝射线检测用像质计试块制备方法应用

[发明专利]一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质-CN202211379500.1在审
发明人：郭斌;李晓波;姜东民 -专利权人：北京远舢智能科技有限公司
申请日： 2022-11-04 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06V10/44 文献下载
摘要：本申请提供了一种像质计检测方法、装置、计算机设备及存储介质，所述方法包括：采用目标检测模型识别底片的像质计编号、所述像质计编号的位置信息和底片焊缝的位置信息；根据所述像质计编号的位置信息，确定目标检测区的第一边缘位置；根据所述底片焊缝的位置信息，确定所述目标检测区的第二边缘位置；所述目标检测区是由所述第一边缘位置和所述第二边缘位置组成的矩形区域；根据所述目标检测区中每行像素点的像素平均值，确定可见丝的数量；根据所述像质计编号和所述可见丝的数量，确定所述可见丝中最细可见丝的编号。本申请能够提高像质计上最细可见丝的编号的检测效率，同时减少人工劳动时间成本。
一种像质计检测方法装置计算机设备存储介质

[实用新型]一种便捷存放型无损像质计号码袋-CN201520575977.6有效
发明人：许云伟;张学锋;钟鹏;张允飞 -专利权人：浙江无损检测工程技术有限公司
申请日： 2015-08-04 - 公布日： 2015-12-30 - 主分类号： G03B42/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便捷存放型无损像质计号码袋，包括底板、像质计号码大袋和像质计号码小袋，所述底板上安装有像质计号码大袋和像质计号码小袋，像质计号码大袋位于底板的上端，像质计号码小袋位于像质计号码大袋下端；本实用新型通过将像质计号码小袋成队列排布，相邻两层像质计号码小袋存在重叠部分，这样放置像质计号码方便快捷，重叠部分保存层与层之间形式保持；底板上安装有像质计号码大袋和像质计号码小袋，大袋可以用于放置型号等等大件像质计，像质计号码小袋可以用于放置小件像质计；留有顶隙和侧隙，有利于保持相应的格式；本实用新型结构简单，操作简单，投射效果好，可用于广泛推广应用。
一种便捷存放无损像质计号码

[发明专利]一种检测电力开关X射线图像质量判定方法-CN201611047348.1有效
发明人：刘荣海;唐法庆;杨迎春;郭新良;耿磊昭;郑欣;许宏伟 -专利权人：云南电网有限责任公司电力科学研究院
申请日： 2016-11-22 - 公布日： 2019-08-13 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明实施例公开了一种检测电力开关X射线图像质量判定方法，所述方法包括：在电力开关外壳的两侧分别设置第一像质计和第二像质计；向所述电力开关多次进行X射线照射；获取每次照射每个像质计在成像板上的图像信息；所述第一像质计和所述第二像质计设置在电力开关的两侧，使得电力开关内部的设备可以完整成像。多次照射X射线后，获取两个像质计在成像板上的图像信息，将多组图像进行比较，筛选出每个像质计成像中双丝间隔距离最小的X射线图像，将所述双丝间隔最小距离与预设距离进行比较，判定所述X射线的图像质量。
像质计电力开关图像信息成像板质量判定种检测双丝判定照射X射线间隔距离完整成像预设距离最小距离组图像成像照射筛选图像

[发明专利]X射线密度像质计-CN202110748418.0在审
发明人：陈刚;陈玥霖 -专利权人：陈刚;陈玥霖
申请日： 2021-06-28 - 公布日： 2021-11-09 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种聚乙烯及非金属材质X射线无损检测领域用X射线密度像质计，包括密度像质计型号标记区、密度像质计标识块、密度像质计识别区；密度像质计型号标记区设置于密度像质计标识块上，密度像质计型号标记区上标记有密度像质计型号、标准号，密度像质计标识块固定于密度像质计识别区，密度像质计识别区是由多种阶梯状且密度不同的聚乙烯材质及非金属材质连接构成。
射线密度像质计

[发明专利]一种基于口腔CAD/CAM系统的牙冠修复体评价装置-CN202210450268.X在审
发明人：吴映燕;许晓波;许诺;倪成励;闵曦;柴梅 -专利权人：安徽医学高等专科学校
申请日： 2022-04-27 - 公布日： 2022-09-20 - 主分类号： A61C13/00 文献下载
摘要：本发明涉公开了一种基于口腔CAD/CAM系统的牙冠修复体评价装置，包括用于评价牙冠修复体的线型像质计以及用于收容线型像质计的容置机构，容置机构包括放置台、动作机构一以及动作机构二，放置台顶部开设有凹槽，凹槽中设置有载块，载块顶部开设有用于插置线型像质计的置计槽，置计槽内靠近槽口处的内壁两侧插设有两个呈对开式的封板，置计槽内设置有位于封板下方的夹持组件。当插置有线型像质计的载块在凹槽内向下移动时，动作机构一用于引导夹持组件逐渐将线型像质计夹紧固定。当线型像质计的顶部进入凹槽中时，通过容置机构，可对线型像质计起到存储及防护作用，避免其上的金属丝受到污染损坏，且保证了金属牙冠修复体评价结果的准确性。
一种基于口腔 cad cam 系统牙冠修复评价装置

[发明专利]一种双线型像质计图像处理方法、装置、设备及存储介质-CN202310432344.9有效
发明人：梅健强 -专利权人：天津职业技术师范大学（中国职业培训指导教师进修中心）
申请日： 2023-04-21 - 公布日： 2023-07-11 - 主分类号： G06T7/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种双线型像质计图像处理方法、装置、设备及存储介质；所述方法包括：根据待处理双丝图像，自动提取双线型像质计的有效区域；基于提取的双线型像质计的有效区域，对双丝图像的灰度值进行逐行累加平均计算；基于所述逐行累加平均计算得到的图像数据，检测像素点的局部极值点，并计算局部极值点所对应的向量长度信息；根据所述向量长度信息计算双丝识别结果，并基于双丝识别结果得到双丝图像的分辨力。
一种双线型像质计图像处理方法装置设备存储介质

[实用新型]一种双丝像质计-CN202321017937.0有效
发明人：张海丽;杨海全;高文文 -专利权人：沈阳一佳无损检测有限公司
申请日： 2023-04-29 - 公布日： 2023-10-03 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双丝像质计，属于数字射线检测技术领域，包括像质计主体，所述像质计主体的外侧套设有防护盒，所述防护盒一端的外侧设置有插槽，所述插槽的外侧套设有插盖，所述防护盒的顶面和底面均开设有贴合槽本实用新型中，利用防护盒对像质计主体的外侧进行防护，同时利用多个叠合的膜片对防护盒的顶面和底面进行防护，当位于外部的膜片出现划伤或透光度降低时，直接拉动外部膜片一端的拉片把膜片撕去，利用其下部新的膜片继续进行防护，进而保证检测时的清晰度，提高了该双丝像质计的工作质量。
一种双丝像质计

[发明专利]牙科金属修复体评价用像质计-CN200910249814.8有效
发明人：郑刚;李媛 -专利权人：郑刚;李媛
申请日： 2009-11-27 - 公布日： 2011-06-01 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及一种牙科金属修复体评价用像质计。尤其适用于具有精确的金属板厚度，可以直接在X射线照相底片上反映被测对象厚度的、用于评价牙科金属修复体厚度和内部质量的像质计。借助牙科像质计不仅可以通过不同阶梯灰度的圆孔反应出X射线照相底片的灵敏度，同时，可以通过像质计不同阶梯灰度的圆孔处的光密度与牙科金属修复体上缺陷处的光密度进行比较，根据像质计上光密度与像质计底板厚度的对应关系牙科像质计的最重要特点是，在X射线照相底片上，像质计和牙科金属修复体在相同颜色的基底背景下进行比较，可以避免由于背景颜色不同，造成的观测误差。
牙科金属修复评价用像质计

[实用新型]多信息牙科金属修复体内部质量评价用像质计-CN202220950217.9有效
发明人：郑刚;李媛;林红;孙志辉;白伟;汪慧灵;张殿云;李稳;吴洋;韩建民;徐永祥;袁慎坡 -专利权人：北京大学口腔医学院
申请日： 2022-04-22 - 公布日： 2022-08-09 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种多信息牙科金属修复体内部质量评价用像质计，涉及X射线照相技术领域，通过在像质计的侧面增加显示下部金属薄片厚度尺寸的数字和下部金属薄片材质的材质数字板，使获得的X光片中，可以显示出各厚度标识点的厚度数值和所用像质计下部金属薄片的材质，由此，不但可以准确地读取标记点的厚度值，而且可以随时确认所用像质计与义齿材质的一致性，从而有效地避免因错用其他材质的像质计而导致的义齿咬合面厚度误判，缓解了现有技术中存在的像质计不利于准确依据X光片判定义齿咬合面的最小厚度及内部质量，也无法发现因使用的像质计材质与义齿材质不同，而造成的义齿内部质量误判的技术问题。
信息牙科金属修复体内质量评价用像质计

[发明专利]X射线数字图像空间分辨率智能计算方法及系统-CN202310096117.3在审
发明人：沈义平;周鹏飞;高显亮;钟珂珂;洪海波;刘晓;危荃 -专利权人：上海航天精密机械研究所
申请日： 2023-02-07 - 公布日： 2023-06-06 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明提供了一种X射线数字图像空间分辨率智能计算方法及系统，包括：利用射线探测器进行双线型像质计射线成像生成目标图像；对目标图像进行像质计规格匹配并调取同规格模板图像；计算模板图像与目标图像之间的单应矩阵；投影映射模板图像中像质计各线对极值点组合，计算求取目标图像像质计所有线对平均调制度；构建与对平均调制度的丝径相对应的连续关系曲线，进而得到X射线数字图像空间分辨率，同时显示所有计算过程及结果。本发明可主动识别匹配不同标准规格像质计类型，计算过程免除手工操作，摆脱人为误差因素，并自动计算输出空间分辨率精确结果，具有智能化计算、高准确度、高置信度、迁移拓展性良好、鲁棒性强等特点。
射线数字图像空间分辨率智能计算方法系统

1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
下一页»
尾页
共 100000 条