专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种激光雷达探测的方法与装置-CN202010792627.0在审
  • 李思佳;袁羽齐;其他发明人请求不公开姓名 - 李思佳
  • 2020-08-09 - 2022-07-26 - G01S17/10
  • 本发明公开了一种激光雷达探测的方法与装置,属于激光雷达测距领域,包括以下步骤:脉冲光源通过光耦合器或环形器将其发出的光脉冲信号耦合进延迟干涉;一个光脉冲经过延迟干涉后变成两个光脉冲从延迟干涉出射;出射的两个光脉冲信号经过光学发送天线进入待测空间;从待测空间中目标物体反射的两个光脉冲信号经光学接收天线后再次进入延迟干涉实现干涉;利用光电平衡探测器对经过光学接收天线进入延迟干涉的信号进行光电转换;对通过光电平衡探测器检测到的两个光脉冲的干涉信号,利用飞行时间法进行距离测量。本发明所述的方法与装置,抗干外界干扰能力强,可以有效解决环境背景光对激光雷达的干扰以及不同激光雷达间的干扰问题。
  • 一种激光雷达探测方法装置
  • [发明专利]基于并联法布里-珀罗干涉的重金属离子检测装置-CN202111552907.5在审
  • 张立杰;杜尚海;熊燕玲 - 吉林大学
  • 2021-12-17 - 2022-03-25 - G01N21/31
  • 本发明提供一种基于并联法布里‑珀罗干涉的光纤重金属离子检测装置,包括:探测激光器、泵浦激光器、环形器、第一法布里‑珀罗干涉、第二法布里‑珀罗干涉及分析单元;第一法布里‑珀罗干涉内部填充有待测液;在待测液及泵浦光的作用下,进入第一法布里‑珀罗干涉的探测光的反射光谱发生波长漂移,并在第二法布里‑珀罗干涉的作用下,将反射光谱发生的波长漂移量放大,分析单元根据探测光及放大漂移反射光信号,确定待测液中的重金属离子浓度,利用光热技术和金属离子的吸收峰特性实现对重金属离子的特异性检测,并采用两个并联结构的法布里‑珀罗干涉实现游标效应,提高了重金属离子检测装置的灵敏度。
  • 基于并联法布里干涉仪重金属离子检测装置
  • [实用新型]一种偏振激光波长计-CN201220426374.6有效
  • 许素安;陈乐;孙坚;钟绍俊;富雅琼;黄艳岩;谢敏 - 中国计量学院
  • 2012-08-27 - 2013-03-13 - G01J9/00
  • 本实用新型公开了一种偏振激光波长计。现有的波长计存在结构复杂或成本较高等问题。本实用新型中的参考激光和被测激光分别通过第一机械快门和第二机械快门入射至激光偏振干涉镜组,并分别构成各自的激光偏振干涉激光偏振干涉测量固定于压电陶瓷上的移动镜的位移并输出线性偏振激光束;线性偏振激光束被发送至偏振计本实用新型结构简单、体积小,所用的偏振干涉光路设置简洁,光学调节和光路对准操作简单。
  • 一种偏振激光波长
  • [实用新型]一种基于激光干涉的综合检测平台-CN202222676962.1有效
  • 梁悦;吴大伟;梁金友 - 天津龙创恒盛实业有限公司
  • 2022-10-11 - 2023-03-14 - G01B11/00
  • 本实用新型涉及综合检测平台技术领域,尤其涉及一种基于激光干涉的综合检测平台,其中包括:激光干涉、分光镜组、连接滑块、检测直线导轨和检测导轨钳制器,两个检测直线导轨平行设置在机台的台面上,激光干涉和分光镜组设置在连接滑块上,连接滑块设置在检测直线导轨上,连接滑块底部设置有用于对连接滑块限位的检测导轨钳制器,本实用新型通过激光干涉检测机构,克服了设置后检测到的定位精度和直线度等参数如果不符合设计要求,便需要进行拆机和退换货的问题,采用了本实用新型技术方案后,可通过一套的激光干涉组合一套线性镜组或直线度镜组便可以测量多种直线运动机构的定位精度或直线度数值,简化操作人员调节流程。
  • 一种基于激光干涉仪综合检测平台
  • [实用新型]应用于电子散斑干涉全场三维变形检测的检测装置-CN201920906747.1有效
  • 杨时敏;周辉;张英杰;王飞;沈伟民 - 上海航天化工应用研究所
  • 2019-06-17 - 2020-02-28 - G01B11/16
  • 本实用新型属于光学测量领域,具体涉及一种应用于电子散斑干涉全场三维变形检测的检测装置。该检测装置包括基座、水平检测机构、竖直检测机构和离面检测机构,基座上设有测量位,离面检测机构包括离面激光器、迈克尔孙干涉和压电传感器组件;迈克尔孙干涉设置于测量位处,离面激光器和压电传感器组件相对地设置于迈克尔孙干涉两侧,待测物体和相机相对地设置于迈克尔孙干涉另一方向上的两侧,以使得离面激光器产生的激光通过迈克尔孙干涉的半反半透镜分成两束,一束作为物光而另一束反射作为参考光,两束光在相机的CCD靶面上干涉成像;同时,水平检测机构和竖直检测机构亦在相机的CCD靶面上干涉成像。
  • 应用于电子干涉全场三维变形检测装置
  • [发明专利]一种干涉及其使用方法-CN200710171610.8有效
  • 刘国淦 - 上海微电子装备有限公司
  • 2007-11-30 - 2008-05-21 - G01M11/02
  • 本发明公开了一种用于后封装光刻机投影物镜检测的干涉及其使用方法,本发明的干涉包括产生光源的激光光源模块,连接激光光源模块和光开关的单模光纤,通过单模光纤和光开关连接的分光模块,接收光源的成像光学系统和图像传感器,和干涉各部件相连的主控机,干涉使用时,被测物镜安放在分光模块和接收光源的成像光学系统之间,其发明点在于:在所述的分光模块和被测物镜之间还有一个光纤位置调整模块,在被测物镜之后还有一个干涉模块,所述的干涉安装在光刻机微动平台上利用本发明的干涉可准确得测得后封装光刻机投影物镜的波前误差、并可减小光学检测元件的尺寸,而且制造简单,检测精度高且操作方便。
  • 一种干涉仪及其使用方法

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