专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法-CN03129679.3无效
  • 郭俊;曹辉;印义言 - 上海华园微电子技术有限公司
  • 2003-07-04 - 2005-01-19 - H01L21/66
  • 本发明涉及记忆卡中RTL级的实时硬件测试平台及其测试方法,本发明的测试平台包括通用的记忆卡(1),设计的记忆卡(2),仿真器(3),PC机(4);将N条测试指令一一输入到所述的通用的记忆卡(1)并将对应结果输入到PC机(4);同样将N条测试指令一一输入到设计的记忆卡(2),通过VerilogHDL或者VHDL仿真器(3)得到测试结果,并将对应结果输入到PC机(4);所述的N条测试指令是指对应于一定的设计的记忆卡所需的测试指令条数;比较两个结果:结果相同,表明设计的记忆卡硬件正确或者实时修改设计的记忆卡硬件;本发明的有益效果是:由于利用了已有的标准进行测试,减少了设计中人为的出错因素、减少了设计的迭代过程,测试的效率更高。
  • 记忆rtl实时硬件测试平台及其方法
  • [发明专利]测试结构集成到集成电路中的系统及方法-CN200880013291.0有效
  • N·哈比卜;R·麦克马洪;T·佩里 - 国际商业机器公司
  • 2008-04-11 - 2010-09-08 - G01R31/00
  • 一种用于执行专用器件测试以及采集集成电路(例如ASIC)上的参量数据的系统及方法(1000),使得在不要求过多测试时间、额外的硅、或特别测试器件的情况下对每个芯片进行单独地测试。该测试系统包括集成到IC设计内的未使用回填空间中的器件测试结构(920),其中该器件测试结构(920)测试与所选择的包含于IC中的一组器件相同的一组虚拟器件(940)。器件测试结构(920)根据客户要求和设计要求(1010)由库(920)中选出。所选择的测试结构还被优先级排序(1030)并按照优先级顺序(1040)分配给设计中的设计元件。布置算法(1060)使用设计、布局、及制造要求来将所选择的测试结构布置到设计的最终布局中以进行制造(950)。
  • 测试结构集成集成电路中的系统方法
  • [发明专利]基于高耦合自动匹配技术的测试用例设计系统-CN201710936330.5有效
  • 牛云峰;汪璇璇;刘洁如;孙瑞超 - 大商所飞泰测试技术有限公司
  • 2017-10-10 - 2022-05-13 - G06F11/36
  • 本发明涉及一种基于高耦合自动匹配技术的测试用例设计系统,其中:测试需求管理模块,根据被测试的系统或产品需求规格说明书内容,提取测试需求,并进行测试需求跟踪管理;测试参数设计模块,输入被测功能的输入输出参数及各参数可能覆盖的合法值、非法值;参数组合配置模块,划分参数组合级别,配置参数之间的约束关系;测试用例生成模块,根据参数组合级别和约束关系将参数进行有效组合,自动化生成测试设计用例;用例手工调整模块,通过手工补充基础信息,将参数按照前提条件本发明通过对业务功能的输入、输出参数进行高耦合自动匹配测试设计技术实现,提高测试设计效率、实现测试路径完全覆盖被测系统。
  • 基于耦合自动匹配技术测试设计系统
  • [发明专利]一种用于芯片操作系统的测试方法-CN201610925050.X在审
  • 张介飞 - 合肥微匠信息科技有限公司
  • 2016-10-30 - 2017-02-22 - G06F9/44
  • 本发明公开了一种用于芯片操作系统的测试方法。包括如下步骤:步骤一,通过对需求评审,进行验收测试设计,进行验收测试;若验收测试出现错误进行回归测试,回归步骤四重复测试;步骤二,通过测试需求分析,系统测试设计,进行系统测试;若系统测试出现错误进行回归测试,回归步骤四重复测试;步骤三,集成测试准备,进行集成测试;若集成测试出现错误进行回归测试,回归步骤四重复测试;详细设计:单元测试准备,进行单元测试;步骤五,得到编码。本发明提供的芯片测试方法保证了软件在开发过程中的质量,目的在于发现程序执行过程中出现的错误、保证用户需求开发过程中的高质量,提高软件开发的效率,降低开发周期。
  • 一种用于芯片操作系统测试方法

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