专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [实用新型]射频参数测试电路-CN202220424380.1有效
  • 伍泳钢;邹金强 - 成都航拓航空科技有限公司
  • 2022-02-28 - 2022-08-09 - H04B17/00
  • 本实用新型涉及无线射频技术领域,涉及一种射频参数测试电路,包括功率衰减电路、功分器电路、频率测试电路、功率测试电路和调制信号参数测试电路;待测信号经过功率衰减电路后输入功分器电路,输出第一射频信号、第二射频信号和第三射频信号;第一射频信号输入至频率测试电路,频率测试电路用于对第一射频信号进行幅度调理、分频处理和差分LVPECL信号到LVTTL信号的转换,然后输出LVTTL电平信号用于计算频率;第二射频信号输入至功率测试电路,功率测试电路用于对第二射频信号进行功率检波、缓冲隔离,输出直流电压用于计算功率;第三射频信号输入至调制信号参数测试电路,输出中频信号,中频信号经滤波放大处理后输出用于参数分析。
  • 射频参数测试电路
  • [实用新型]定位模组的测试系统-CN202320644374.1有效
  • 李飞 - 合肥移瑞通信技术有限公司
  • 2023-03-28 - 2023-06-20 - G01S19/23
  • 本实用新型公开了一种定位模组的测试系统,其中,测试系统包括:信号发生器,信号发生器被配置为发射功率信号;测试治具,测试治具适于承载待测试定位模组;测试装置,测试装置与信号发生器连接,测试装置用于调节功率信号的强度,测试装置与还测试治具连接,测试装置还用于通过测试治具配置待测试定位模组进入下载模式,以将固件信息下载至待测试定位模组,测试装置还用于通过测试治具配置待测试定位模组进入测试模式,并读取待测试定位模组根据接收到的功率信号生成的测试参数,测试装置还用于根据测试参数和功率信号对待测试定位模组进行测试
  • 定位模组测试系统
  • [发明专利]空调测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质-CN202111665835.5在审
  • 单联瑜 - 北京小米移动软件有限公司
  • 2021-12-31 - 2022-04-12 - G01R31/00
  • 本公开涉及一种空调测试方法、装置、系统、电子设备及存储介质,解决相关技术中对于空调的功率因数校正模块的校正效率低,校正结果不可靠的技术问题。该方法包括:响应于获取到的测试指令,从多个测试进程中确定对应所述测试指令的目标测试进程,其中,所述目标测试进程包括稳定性测试进程、启动测试进程、开关过程测试进程中的一种或多种,所述多个测试进程是预设的用于对所述空调的功率因数校正模块进行功能测试的进程;根据所述目标测试进程对所述功率因数校正模块进行功能测试,以通过所述目标测试进程对所述功率因数校正模块在测试过程中的状态信息,生成用于表征所述功率因数校正模块的功能是否合格的测试结果。
  • 空调测试方法装置系统电子设备存储介质
  • [发明专利]一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法-CN201710212945.3在审
  • 余志聪;贾宇 - 捷开通讯(深圳)有限公司
  • 2017-04-01 - 2017-07-28 - G01R35/00
  • 本发明公开了一种杂散测试系统线损的测试装置及测试方法。该测试方法包括由上位机获取待测线损对应的预定频率和预定带宽;由上位机控制信号发生器以预定功率发射预定频率的待测信号;由功分器将预定频率的待测信号经陷波器传输至第一测试仪;由第一测试测试接收到的待测信号在预定带宽的平均功率;由上位机从信号发生器获取预定功率、从第一测试仪获取平均功率值后,获取预定功率和平均功率的差值作为预定频率和预定带宽对应的线损。通过上述方式,本发明能以相对简单的方式自动测试出不同频段的杂散测试系统的线损,从而提高杂散测试系统的工作效率。
  • 一种测试系统装置方法
  • [实用新型]功率半导体器件用老化板装置-CN202220221626.5有效
  • 姚启明;孙元鹏;张文亮 - 山东阅芯电子科技有限公司
  • 2022-01-26 - 2022-07-01 - G01R31/26
  • 本实用新型涉及一种功率半导体器件用老化板装置。其包括老化板体以及若干设置于老化板体上的测试工位区;还包括器件测试支撑连接体,待测功率半导体器件置于器件测试支撑连接体上时,待测功率半导体器件的器件引出端子插入器件测试支撑连接体上相应的器件端子定位连接孔内,以使得一器件引出端子与位于所插入器件端子定位连接孔内的测试工位测试连接体适配电连接,器件测试支撑连接体与置于所述器件测试支撑连接体上的待测功率半导体器件相互绝缘;在待测功率半导体器件上设置测试散热器。本实用新型能提高待测试功率半导体器件与老化板连接的便捷性与可靠性,提高测试的效率。
  • 功率半导体器件老化装置

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