钻瓜专利网为您找到相关结果
1745535 个，建议您
升级VIP 下载更多相关专利
[发明专利] 散热器测试 装置 -CN201911216231.5 有效
发明人：
周泽平 ;李恒
- 专利权人：
深圳市禾望电气股份有限公司
申请日：
2019-12-02
-
公布日：
2021-12-07
-
主分类号：
G01M99/00 文献下载
摘要： 本申请公开一种散热器测试 装置，所述散热器测试 装置包括用于存储冷却介质 的容器，所述容器具有冷却介质 流出口和冷却介质 流入口；通过第一管路依次连接的所述冷却介质 流出口、动力装置以及冷却介质 流入接头，通过第二管路依次连接的冷却介质 流出接头、换热器以及所述冷却介质 流入口；所述冷却介质 流入接头和所述冷却介质 流出接头用于与待测试 的第一散热器固定连接；所述动力装置用于为所述冷却介质 提供动力；与所述换热器固定连接的风扇和测试 腔室，所述测试 腔室用于收容待测试 的第二散热器本申请通过将风冷散热器测试 装置与水冷散热器测试 装置集成在一起，并且可同时测试 多个测试 项目；简化了测试 流程，缩减了测试 时间，降低了测试 成本。散热器 测试 装置
[发明专利] 动态的滤芯相容性测量方法及装置 -CN202210160811.2 在审
发明人：
王丰 ;刘军 ;陆智勇
- 专利权人：
三门核电有限公司
申请日：
2022-02-22
-
公布日：
2022-05-17
-
主分类号：
G01N15/08 文献下载
摘要： 本发明实施例提供一种动态的滤芯相容性测量方法及装置，所述方法包括：构建滤芯测试 管路；获取介质 属性，调节测试 介质 的属性；根据介质 流量开启出液阀门及进液阀门，开启取样阀门，获取测试 介质 作为空白样；调节出液阀门及进液阀门，使测试 介质 流入介质 储罐，装入待测滤芯；根据介质 属性调节测试 介质 的属性，根据介质 流量开启出液阀门及进液阀门，开启取样阀门，获取测试 介质 作为测试 样；获取空白样与测试 样中的介质 数据，得到待测滤芯的相容性测量结果采用本方法能够通过动态的考察滤芯装入前后管路中介质 的清洁程度，能够安全、便捷地评价滤芯在核电多种工况中的介质 相容性，并且还原了核电工况，提高了测试 结果的可靠性。动态 相容性 测量方法 装置
[发明专利] 一种PCBA功能测试 的装置及方法 -CN201680038376.9 有效
发明人：
尹朋 ;侯晓东 ;兰启庆
- 专利权人：
深圳配天智能技术研究院有限公司
申请日：
2016-12-30
-
公布日：
2020-11-17
-
主分类号：
G01R31/28 文献下载
摘要： 一种PCBA测试 装置及方法，该测试 装置包括：控制装置(101)、组网介质 (102)以及测试 装置(103)；控制装置(101)与组网介质 (102)相连；组网介质 (102)与测试 装置(103)相连；控制装置(101)用于向组网介质 (102)发送地址扫描指令，以用于查询连接在组网介质 (102)上的测试 装置(103)的地址；组网介质 (102)用于连接控制装置(101)与多个测试 装置(103)；当测试 装置(103)连接到组网介质 (102)时，测试 装置(103)用于接收地址扫描指令，并向控制装置(101)发送本测试 装置(103)的地址，使得控制装置(101)记录并存储连接在组网介质 (102)上的多个测试 装置(103)的地址；当控制装置(101)与多个测试 装置(103)完成连接时，多个测试 装置(103)用于对多个待测PCBA进行检测。该测试 装置能提高PCBA的检测效率。一种 pcba 功能 测试 装置 方法
[发明专利] 摩擦测试 设备和方法 -CN202210549213.4 在审
发明人：
黄振兴
- 专利权人：
荣耀终端有限公司
申请日：
2022-05-20
-
公布日：
2023-01-17
-
主分类号：
G01N3/56 文献下载
摘要： 本申请实施例提供了一种摩擦测试 设备和方法，该设备包括固定模块、第一平台和控制模块：固定模块，用于将待测试 物体固定在第一平台上；控制模块与第一平台之间存在连接关系，用于控制第一平台进行振动，其中，第一平台与待测试 物体之间放置有测试 介质 ，测试 介质 与待测试 物体相接触，用于测试 待测试 物体的耐摩擦性，且测试 介质 跟随第一平台的振动而振动。该设备中，因测试 介质 是放置于第一平台与待测试 物体之间的，因此，用户可以根据需求更换测试 介质 ，方便用户使用各种测试 介质 对待测试 物体进行摩擦测试 ，使得所测试 的摩擦场景比较丰富，较大程度的模拟各种摩擦场景。摩擦 测试 设备 方法
[实用新型] 一种红外组件多介质 测试 装置 -CN202021400994.3 有效
发明人：
胡小玲 ;魏裕玉 ;杨敏
- 专利权人：
深圳长城开发科技股份有限公司
申请日：
2020-07-14
-
公布日：
2021-02-26
-
主分类号：
G01M11/00 文献下载
摘要： 本实用新型公开了一种红外组件多介质 测试 装置，包括旋转平台和用于安装红外组件的直线滑行台，所述旋转平台上设置有用于安装多个介质 的多个介质 安装位，所述多个介质 安装位环绕所述旋转平台的旋转轴线分布以便通过所述旋转平台选择不同的介质 用于测试 ，所述直线滑行台可在垂直于所述旋转平台的旋转轴线的方向上进行直线移动以调整所述红外组件与介质 之间的距离；本实用新型的红外组件多介质 测试 装置，可以通过旋转旋转平台实现不同介质 的切换，可以通过直线滑行台实现调整红外组件与介质 之间的距离，如此本实用新型可以可以根据客户不同测试 要求进行同距离不同介质 切换测试 、同介质 不同距离测试 、不同介质 不同距离测试 的多种测试 。一种 红外 组件 介质 测试 装置
[实用新型] 一种CT机射线屏蔽性能测试 设备 -CN202221798998.0 有效
发明人：
朱小和
- 专利权人：
苏州隆格尔精密自动化科技有限公司
申请日：
2022-07-13
-
公布日：
2023-02-10
-
主分类号：
G01R1/04 文献下载
摘要： 本实用新型公开了一种CT机射线屏蔽性能测试 设备，包括CT机的发射端与CT机的接收端，CT机的发射端与CT机的接收端之间设置有介质 模块，还包括测试 支架，所述测试 支架上设置有装载介质 模块的安装架；介质 移送组件，所述介质 移送组件将介质 模块移送至安装架，所述介质 移送组件包括移送模组、位于所述移送模组末端的摆臂以及位于所述摆臂端部的快换公块；测试 组件，所述测试 组件包括测试 驱动模组、位于所述测试 驱动模组末端的机械手以及位于所述机械手末端的辐照计本实用新型能够对CT机在不同介质 下的射线屏蔽情况进行测试 ，无需人工进行介质 模块的更换，实现了对CT机的自动化测试 ，能够通过更换介质 模块，对不同机种的CT机进行测试 ，实用性更强。一种 ct 射线 屏蔽 性能 测试 设备
[发明专利] 一种水泵测试 台架及测试 方法 -CN202210491967.9 在审
发明人：
朱长富 ;魏志强
- 专利权人：
上海金脉汽车电子有限公司
申请日：
2022-05-07
-
公布日：
2022-07-15
-
主分类号：
F04B51/00 文献下载
摘要： 本发明属于测试 技术领域，公开了一种水泵测试 台架及测试 方法，水泵测试 台架包括介质 箱、加热模块、内循环管路、气体循环冷却模块、液体循环冷却模块和测试 管路，介质 箱内盛装介质 液，介质 箱内安装有加热模块，加热模块能加热介质 液，内循环管路两端均与介质 箱连通，介质 液能于内循环管路与介质 箱之间循环流动，气体循环冷却模块和液体循环冷却模块均安装于内循环管路上，气体循环冷却模块和液体循环冷却模块均用于降低介质 液的温度，测试 管路的两端均与介质 箱连通，测试 管路上能安装待测泵。本发明提供的水泵测试 台架，有效保证待测泵的测试 结果的准确性，且能有效降低能源消耗。一种 水泵 测试 台架 方法
[发明专利] 半导体测试 治具的形成方法 -CN201410607154.7 有效
发明人：
石磊
- 专利权人：
通富微电子股份有限公司
申请日：
2014-10-30
-
公布日：
2017-12-08
-
主分类号：
H01L21/66 文献下载
摘要： 一种半导体测试 治具的形成方法，包括提供基底；在所述基底上形成若干相互分离的若干测试 针头；在所述基底上形成介质 层，所述介质 层填充相邻测试 针头之间的空间且覆盖测试 针头的侧壁表面，所述介质 层的表面与测试 针头的顶部表面齐平在介质 层和测试 针头上形成过渡板，所述过渡板中具有若干与测试 针头顶部表面电接触的金属块。本发明方法形成的半导体测试 治具中的介质 层用于测试 针头之间的电学隔离并提高测试 针头的机械强度，所述介质 层上具有过渡板，所述过渡板作为测试 针头与被测试 端子之间的过渡结构，以方便电学性能的测试 ，以及防止测试 针头与被测试 端子直接接触，对测试 端子造成损伤或者容易使得测试 针头发生变形。半导体 测试 形成 方法
[发明专利] 半导体测试 治具 -CN201410605254.6 有效
发明人：
石磊
- 专利权人：
通富微电子股份有限公司
申请日：
2014-10-30
-
公布日：
2017-11-10
-
主分类号：
G01R31/26 文献下载
摘要： 一种半导体测试 治具，包括基底；位于基底上若干相互分离的若干测试 针头；位于基底上的介质 层，所述介质 层填充相邻测试 针头之间的空间且覆盖测试 针头的侧壁表面，所述介质 层的表面与测试 针头的顶部表面齐平；位于介质 层和测试 针头上的过渡板，所述过渡板中具有若干与测试 针头顶部表面电接触的金属块。半导体测试 治具中的介质 层用于测试 针头之间的电学隔离并提高测试 针头的机械强度，所述介质 层上具有过渡板，所述过渡板作为测试 针头与被测试 端子之间的过渡结构，以方便电学性能的测试 ，以及防止测试 针头与被测试 端子直接接触，对测试 端子造成损伤或者容易使得测试 针头发生变形。半导体 测试
