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- [实用新型]FPC的电测治具-CN201620615345.2有效
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张影;赖永伟
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欣兴同泰科技(昆山)有限公司
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2016-06-21
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2016-12-21
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G01R31/28
- 本实用新型公开了一种FPC的电测治具，所述的电测治具安装在电测机台上，所述电测机台上还安装有与所述电测治具对应的CCD，其中，所述电测治具包括：上治具和与所述上治具对应设置的下治具，其中，所述上、下治具均包括针座和与所述针座连接的底座，所述底座与所述电测机台可拆卸式连接。本实用新型的FPC的电测治具分为对应设置的上下两组治具，用来测试柔性线路板的开、短路和四线阻值功能。且上、下治具的结构简单，所述底座可拆卸式安装在电测机台上，用于与电测机台连接，所述针座用于承载探针，使探针对柔性线路板进行测试，本实用新型的结构简单，便于维修和操作，底座与电测机台可拆卸式连接，装卸方便
- fpc电测治具
- [实用新型]一种线镭射量测装置-CN201520958315.7有效
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郭进顺;郑杰仁;张家齐
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昆山万像光电有限公司
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2015-11-27
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2016-06-22
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G01B11/00
- 一种线镭射量测装置，包括线镭射、镭射固定治具和工件固定治具，其特征在于：所述的镭射固定治具包括治具固定件、角度调节器、连接板、线镭射固定板，所述的镭射固定治具通过治具固定件与机台连接，所述的治具固定件的另一端固定有角度调节器，所述的角度调节器上安装有连接板，角度调节器可调节连接板的方向，所述的连接板通过镭射固定治具连接线镭射；所述的镭射固定治具的下方对应安装工件固定治具，工件固定治具的上表面固定有待测工件。本实用新型的有益效果在于：本实用新型利用可以调节角度的线镭射量测装置固定线镭射，改变线镭射落于待测物特征上的点数增加，使检待物需要测量的几何量精度提升，以提升量测数值的真实性及可靠度。
- 一种镭射装置
- [实用新型]低速信号测试治具-CN202223358883.2有效
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马骏驰;侯绍铮;胡远明;秦晓宁
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宁畅信息产业（北京）有限公司
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2022-12-14
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2023-07-07
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G01R31/28
- 本实用新型涉及信号测试技术领域，公开一种低速信号测试治具，包括治具主体、治具支架和探针。治具主体安装于治具支架上，治具支架能放置于待测PCB板上，待测PCB板上于待测点处设有过孔。探针的一端与治具主体连接并在治具主体上的位置可调，另一端能插设于过孔内。该测试治具通过探针与过孔插接获取低速信号，使得探针与待测点处为面接触，增大了接触面积，从而能使探针与待测点接触良好，保证测试信号的质量。治具支架和治具主体的存在能解放双手，测试过程中无需测试人员单独手持探针，一个人即可完成测试工作，提高了测试效率，节省人工成本。通过调节探针的位置能对待测PCB板不同位置处的待测点进行信号测试，通用性强。
- 低速信号测试
- [实用新型]可测较高密度之治具结构-CN201120154488.5无效
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林鸿霖
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顺探实业股份有限公司
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2011-05-16
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2012-01-04
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G01R31/00
- 本实用新型涉及一种可测较高密度之治具结构，主要包括：一待测板，该待测板上设有低密度与高密度待测点；一上治具，该上治具一侧设有低密度探针，一侧设有高密度探针；一万用治具，该万用治具上设有复数探针，其下设有导线以连接到电脑中进行测试；一转接治具，该转接治具一侧开设定位孔，一侧上层设有高密度探针，其下设导线以连接低密度探针并与万用治具之探针相结合；籍由在万用治具上置设转接治具之设计，利用转接治具之高密度探针结合上治具之高密度探针，并令低密度探针结合万用治具之探针以达到测试高密度待测板之目的，如此构造即可降低制造万用治具的成本从而达到实用目的。
- 可测较高密度结构
- [实用新型]电测设备-CN202120415017.9有效
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曹诣;陈献纮
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德律科技股份有限公司
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2021-02-25
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2021-10-15
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G01R31/28
- 本揭露提供一种用以测试待测电路板的电测设备。电测设备包含下治具以及输送装置。输送装置包含承载板、驱动模块以及两轨道。驱动模块设置于承载板上。两轨道可动地支撑于承载板上，并配置以承载与输送待测电路板。驱动模块配置以独立地驱动两轨道移动，致使待测电路板移动于下治具上方。借此，当待测电路板为小板时，可采用小体积的下治具。并且，不论待测电路板是大板或小板，驱动模块可驱动两轨道相对于上治具置中，因此在压床模块驱动上治具下压时，不会造成上治具受力位置偏向其中一轨道而导致机台变形。
- 设备
- [实用新型]一种量测治具及量测装置-CN202223094547.1有效
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李赛;蔡永;王立腾
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日达智造科技（如皋）有限公司
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2022-11-22
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2023-05-09
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G01B21/00
- 本实用新型属于量测技术领域，涉及一种量测治具，特别是一种量测治具及量测装置。它解决了现有产品在不同方位量测时因二次定位所导致的产品量测精准性问题。一种量测治具，具有若干产品定位穴位的治具板，治具板上设有位于每一产品定位穴位外围的至少一个测量避让通孔，测量避让通孔贯穿治具板的厚度方向，在治具板上还设有若干一一对应于产品定位穴位的弹性锁紧组件，以及治具板靠近产品定位穴位的产品放入口一侧的可拆定位挡块本申请优点：不仅解决了二次定位导致产品量测精准性问题，同时，可对多件产品进行定位处理，不仅提高了效率且保证后续产品装载位置的精准性。
- 一种量测治具装置
- [发明专利]引脚检查装置和引脚检查方法-CN202210192998.4在审
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陈洁
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日立安斯泰莫汽车系统(苏州)有限公司
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2022-02-28
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2023-09-05
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G01B5/00
- 本发明涉及一种用于检查器件的被测引脚的精度是否合格的引脚检查装置(1)，其具有：连接器治具板(4)，该连接器治具板(4)上形成有用于固定器件的固定部(12)；下治具板(3)，该下治具板(3)上形成有用于固定连接器治具板(4)的多孔结构；引脚精度检查治具板(5)，该引脚精度检查治具板(5)上形成有用于检查被测引脚的精度的检查孔(13)；上治具板(2)，该上治具板(2)上形成有用于固定引脚精度检查治具板(5)的多孔结构；导向轴(6)，上治具板(2)与下治具板(3)通过该导向轴(6)以相互平行的方式上下连接；压力检测器(7)，该压力检测器(7)用于检测被测引脚进入检查孔(13)时的第一压力F1；控制器(8)，该控制器(8)根据由压力检测器(7)所检测到的第一压力F1，来判断被测引脚的精度是否合格。
- 引脚检查装置方法
- [发明专利]测试治具系统及其方法-CN202210967337.4在审
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张珈华
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环胜电子（深圳）有限公司
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2022-08-12
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2022-10-18
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G01R31/28
- 一种测试治具系统，包含治具、治具电路板、处理器以及断电感测组件。治具包含基座、上盖、底部及测试探针。上盖枢接于基座的上端，其中上盖用以盖合于基座上以闭合测试空间。测试探针设置于底部。断电感测组件包含一断电感测元件及一导电元件。其中，待测电路板放置于测试探针上，上盖盖合基座并下压待测电路板，使得待测电路板接触测试探针，当上盖处于一正常盖合状态时，处理器感应通电信号并使处理器供电至治具电路板；当上盖处于一非盖合状态，处理器未感应通电信号而停止供电至治具电路板本发明还涉及一种测试治具方法。
- 测试系统及其方法
- [实用新型]测试治具系统-CN202222132697.0有效
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张珈华
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环胜电子（深圳）有限公司
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2022-08-12
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2022-11-29
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G01R31/28
- 一种测试治具系统，包含治具、治具电路板、处理器以及断电感测组件。治具包含基座、上盖、底部及测试探针。上盖枢接于基座的上端，其中上盖用以盖合于基座上以闭合测试空间。测试探针设置于底部。断电感测组件包含一断电感测元件及一导电元件。其中，待测电路板放置于测试探针上，上盖盖合基座并下压待测电路板，使得待测电路板接触测试探针，当上盖处于一正常盖合状态时，处理器感应通电信号并使处理器供电至治具电路板；当上盖处于一非盖合状态，处理器未感应通电信号而停止供电至治具电路板
- 测试系统
- [实用新型]电路板测试治具-CN201621383611.X有效
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周建辉;赵锦波;曾镇聪
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腾捷（厦门）电子有限公司
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2016-12-16
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2017-06-30
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G01R31/28
- 本实用新型涉及一种电路板测试治具，通过设置控制器以及在待测电路板上下两侧设置上治具和下治具，下治具水平设置在待测电路板的下方，上治具可上下移动地竖直设置在待测电路板上方的一侧，下治具上表面上对应待测电路板的测试单元接点设置有多个电性连接组件，上治具上对应设置有多个投光元件，测试时，电性连接组件将检测到未导通的测试单元接点反馈给控制器，控制器经处理后发送控制信号给对应位置的投光元件使其投射光线至待测电路板相应测试单元位置从而提示操作人员在该位置做不良标记动作，与该电路板测试治具能有效减少测试人员的识别时间，从而提高测试检测的效率。
- 电路板测试
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