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[发明专利]一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质-CN202211034096.4在审
发明人：常振;司福祺;王煜;奚亮;黄书华;赵欣 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2022-08-26 - 公布日： 2022-12-23 - 主分类号： H04N5/235 文献下载
摘要：本发明的一种成像光谱仪快速自动化曝光成像方法及存储介质，包括以下步骤指定波段、指定行作为测光像元，根据该区域像元的平均DN值作为测光依据；然后对成像光谱仪进行初始化操作，根据需要设定相关参数：基于上述指定的波段、指定的行作为测光像元，进行测光，并得到曝光时间T；最后采用曝光时间T进行数据采集。本发明根据成像光谱仪数据特点，在保证测光质量的前提下，通过指定波段、指定空间维像元的方法，减少读出像元，缩短测光图像的读出时间；结合成像系统工作原理，通过两点法，快速读出两幅短曝光测光图像即可得到目标曝光时间、实现成像光谱仪快速自动化曝光成像，准确、可靠。
一种成像光谱仪快速自动化曝光方法存储介质

[发明专利]一种带状测区低空摄影测量像控点布测方法-CN201710479248.4有效
发明人：吴迪军;熊伟;何广源;潘飞;李剑坤;谢坤;吴珍丽;李书银;薛万唱 -专利权人：中铁大桥勘测设计院集团有限公司
申请日： 2017-06-22 - 公布日： 2019-06-07 - 主分类号： G01C11/34 文献下载
摘要：本发明公开了一种带状测区低空摄影测量像控点布测方法，涉及摄影测量技术领域，包括以下步骤：根据待测区域的带宽、带长、地形类别和测图比例尺，确定测图精度；根据待测区的地形类别、带宽、测图比例尺及测图精度，确定像控点的航向点间距a和旁向点间距b；在平行于线路中心线左、右两侧对称布设1排或若干排像控点，设置地标；使用全站仪、水准仪或GNSS RTK方法测定像控点的坐标和高程。本发明能够根据实际情况确定合理的像控点的数量和位置，避免像控点过于密集导致施工难度过大，且能够减轻野外工作量，降低劳动强度，缩短施工周期；同时，也避免因像控点的密度过低而导致测图精度不满足规定要求的问题
一种带状低空摄影测量像控点布测方法

[发明专利]一种量测相机配合经纬仪测树技术-CN200810132915.2无效
发明人：冯仲科;姚山;吴露露;刘永霞;袁进军;邹晓涛;聂伟 -专利权人：北京林业大学
申请日： 2008-07-01 - 公布日： 2008-11-05 - 主分类号： G01B11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种量测相机配合经纬仪双像测树的技术。此技术以量测型相机、电子经纬仪为工具，内方位元素未知和外方位元素已知，实现以量测相机配合经纬仪双像测量立木树高，首先，利用空间前方交会的方法获得控制点的坐标，然后，采用量测相机获取待测区域的两幅图像，利用两张相片的同名像点列出误差方程
一种相机配合经纬仪技术

[发明专利]基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法-CN201410672006.3有效
发明人：叶朗;徐旭;熊召;李奇;周海;曹庭分;张亮;贺群 -专利权人：中国工程物理研究院激光聚变研究中心
申请日： 2014-11-20 - 公布日： 2015-04-08 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于单色光自准直仪二次准直原理的劈角测量方法，首先利用单色光自准直仪对待测劈板前表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；然后利用单色光自准直仪对待测劈板后表面进行自准直，测得此时待测劈板后表面反射像与前表面反射像夹角；最后基于反射、折射定律，得出劈板劈角计算公式并将两次测量结果联立二元一次方程组，解出劈板劈角。其显著效果是：本发明基于光学自准直、折射、反射定律的基本光学原理，测量精度高，成本低，操作简单，具有很高的通用性与实用性；通过本方法不仅能准确测出待测劈板劈角，还能测出待测劈板材料对于自准直仪光源的折射率
基于单色光准直仪二次原理测量方法

[实用新型]一种双模式中心偏测量系统-CN202022854034.0有效
发明人：谢志梅;冯晨哲 -专利权人：四川景鉴影科技有限公司
申请日： 2020-12-02 - 公布日： 2021-07-27 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种双模式中心偏测量系统，包括准直仪和自准直仪，其中准直仪用于在透射模式时投射带十字线的平行光束到待测透镜上，并在待测透镜的焦面上呈现十字线像；自准直仪至少包括设置于内部的图像传感器和设置于前端的透镜头，自准直仪在透射模式时，用于将待测透镜的焦面上呈现的十字线像通过透镜头显现给图像传感器，从而得到待测透镜的中心偏差；自准直仪在反射模式时，用于投射带十字线的光束并垂直入射到待测透镜的被测面上，反射光通过透镜头将十字线像显现给图像传感器，从而得到待测透镜被测面的倾斜度和中心偏差。
一种双模中心测量系统

[实用新型]一种改进光学比较测角仪装置-CN201120465327.8有效
发明人：武锐;赵莹 -专利权人：北京创思工贸有限公司
申请日： 2011-11-22 - 公布日： 2012-07-18 - 主分类号： G01B11/26 文献下载
摘要：一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改进光学比较测角仪装置，本实用新型的技术方案是：它包括光学比较测角仪和其工作平台，以及反射装置，所述反射装置设置在光学比较测角仪的工作平台上。以反射装置的表面反射像作为刻度尺，量出被测光学元件两个完全分离的反射像之间的距离。本实用新型扩大了普通光学比较测角仪最大为1°的测量范围，提供了一种用于测量光束偏转角超出量程范围的改造光学比较测角仪装置。
一种改进光学比较测角仪装置

[发明专利]反射式中心测定仪的反射像直接快速调整方法-CN200610025908.3无效
发明人：胡情强 -专利权人：上海星庆光学仪器有限公司
申请日： 2006-04-21 - 公布日： 2007-10-24 - 主分类号： G02B27/62 文献下载
摘要：本发明公开了一种反射式中心测定仪的反射像直接快速调整方法，它使中心测定仪内物镜焦点和被测球面反射的球心像点的重合调整变得更为简单便捷，使仪器的精度不确定性通过操作人员的调整得到校正。其技术方案为：调整方法包括：将大通量分划板替代工作分划板，放置在中心测定仪的聚光镜和分光棱镜之间，同时在中心测定仪的仪器焦点及被测面球心处放置适当密度的显影屏；调整所述中心测定仪，同时观察显影屏上的仪器焦点光斑和被测面反射像点光斑本发明应用于反射式中心测定仪的反射像直接快速调整。
反射中心测定直接快速调整方法

[实用新型]伸缩式采像探测器-CN201821993195.4有效
发明人：黄秋至;李国军;李勇琴;林旭东 -专利权人：广东电网有限责任公司;广东电网有限责任公司河源供电局
申请日： 2018-11-29 - 公布日： 2019-07-02 - 主分类号： G01J5/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种伸缩式采像探测器，该伸缩式采像探测器包括采像探头、伸缩杆和显示器，伸缩杆包括套杆和设置于套杆的内部的移动杆，且伸缩杆的一端与采像探头连接，伸缩杆的另一端与显示器连接，采像探头包括红外热成像仪和摄像仪，红外热成像仪用于采集被测设备的热图像信息，摄像仪用于采集被测设备的光学图像信息，显示器与采像探头电连接，用于接收并显示采像探头采集的图像信息。与现有技术中的红外热成像探测器相比，本实用新型提供的伸缩式采像探测器，可对待测物进行红外热成像检测及可见光成像检测，具有检测范围广、使用灵活性好的优点。
探头伸缩杆伸缩式探测器显示器红外热成像仪本实用新型被测设备摄像仪采集套杆检测红外热成像探测器光学图像信息红外热成像可见光成像热图像信息使用灵活性图像信息电连接移动杆

[实用新型]一种线阵闪测仪-CN202223341447.4有效
发明人：段存立;黄宏臻 -专利权人：东莞市兆丰精密仪器有限公司
申请日： 2022-12-12 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及检测仪器技术领域，提供一种线阵闪测仪，在闪测仪中定义发光点到所述取像元件的焦距所在轴线的直线距离为A；定义所述发光点到取像元件的中心点的直线距离为B；定义发光点到取像元件的焦点的直线距离为C；定义取像元件的焦距为H；定义经过发光点的中心线与焦距所在轴线的夹角为α；其中，A、B、C、H、α的关系满足公式：tanα＝A/C，C＝H‑B。本实用新型通过设置闪测仪满足公式，从而使线阵光源所射出光线的相交线与取像元件的焦距(取像元件的的最佳工作距离)的焦点相互重叠，使得取像元件在此照射角度下成像轮廓达到最清晰的状态，从而锁定两组线阵光源的最佳照射角度，为取向镜头的取像过程提供更清晰的画面。
一种线阵闪测仪

[发明专利]一种周视瞄准镜像跳像旋检测装置及方法-CN202210837010.5在审
发明人：王劲松;高奔;李丽娟;林雪竹;薛克娟;王浩 -专利权人：长春理工大学
申请日： 2022-07-15 - 公布日： 2022-10-11 - 主分类号： F41G1/54 文献下载
摘要：本发明公开一种周视瞄准镜像跳像旋检测装置，包括检测单元、第一支撑单元以及第二支撑单元，其中，检测单元包括白光零位仪，第一支撑单元包括升降组件和第一旋转组件，第二支撑单元包括第二旋转组件和夹持组件。本发明还提供一种周视瞄准镜像跳像旋检测方法，使待测周视瞄准镜瞄准白光零位仪提供的无穷远目标，将待测周视瞄准镜在方位方向调整一定角度，然后将待测周视瞄准镜的位置反向调整一定角度，旋转白光零位仪并调整白光零位仪，使得待测周视瞄准镜仍然瞄准白光零位仪提供的无穷远目标，白光零位仪旋转的值以及白光零位仪调整的值即为待测周视瞄准镜的像旋和像跳量。
一种瞄准镜像跳像旋检测装置方法

[发明专利]副像偏离值测量方法及装置、刻度盘和靶式光源仪-CN202011161262.8在审
发明人：庞世红;韩磊;刘海涛;石琳;李博野 -专利权人：中国建材检验认证集团股份有限公司
申请日： 2020-10-27 - 公布日： 2021-02-12 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供一种副像偏离值测量方法及装置、刻度盘和靶式光源仪。所述方法包括以下步骤：1)将刻度盘与被测玻璃以一定距离安装于暗室内；2)在被测玻璃上确定若干测量点；将被测玻璃以实车角度安装；3)在水平方向内转动被测玻璃使观察方向与被测玻璃在竖直平面内的投影垂直；4)透过被测玻璃观察光源的副像并读取副像偏离值；5)观察者位置移动以改变被测量点，按照步骤3)和4)完成所有测量点的副像偏离值测量。所要解决的技术问题是快速、准确定量测量玻璃副像偏离值，既克服了靶试验法无法准确定量的缺点，又克服了准直望远镜仪法检测效率很低的缺点；该方法设备结构简化，安全风险低，检测效率高，简单易行，从而更加适于实用
偏离测量方法装置刻度盘光源

[发明专利]光栅剪切干涉高精度波像差检测方法-CN202010934328.6在审
发明人：卢云君;唐锋;王向朝 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2020-09-08 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：光栅剪切干涉高精度波像差检测方法，该方法采用的光栅剪切干涉仪系统包含：光学级照明系统、待测光学成像系统、物面衍射光栅版、像面衍射光栅版、二维光电传感器和计算处理单元。物面衍射光栅版和像面衍射光栅版分别置于待测光学成像系统的物面和像面。通过相移法精确提取1级衍射光与‑1级衍射光的剪切相位，按照2s剪切率进行重建得到原始波前，提高了待测光学成像系统的波像差检测精度，其中s为光栅剪切干涉仪的剪切率。该方法具有可测的数值孔径范围大、光栅干涉仪的剪切率可调，可精确测量光学成像系统的波像差等优点。
光栅剪切干涉高精度波像差检测方法

[发明专利]便携式采集读数摄像机-CN201110245908.5有效
发明人：程鸿;吴海燕;韦穗;张成;沈川 -专利权人：安徽大学
申请日： 2011-08-25 - 公布日： 2011-12-14 - 主分类号： H04N5/225 文献下载
摘要：本发明涉及一种便携式采集读数摄像机，包括由摄像机主体和镜头组成的摄像机，摄像机主体通过导向机构固定在支架上，支架上固设螺旋测微仪，螺旋测微仪的螺杆上套设旋钮，旋钮与导向机构上开设的凹槽相配合。本发明将摄像机与螺旋测微仪集成为一体，结构简单、便于携带。通过控制螺旋测微仪螺杆的前后移动，带动摄像机的前后移动，从而控制像平面的前后移动，进而得到聚焦图像和不同位置的散焦图像，完成对图像的采集，此外，通过螺旋测微仪可以直接读出像平面上图像位置之间的相对移动距离参数
便携式采集读数摄像机

[实用新型]便携式采集读数摄像机-CN201120312470.3有效
发明人：程鸿;吴海燕;韦穗;张成;沈川 -专利权人：安徽大学
申请日： 2011-08-25 - 公布日： 2012-04-18 - 主分类号： H04N9/04 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种便携式采集读数摄像机，包括由摄像机主体和镜头组成的摄像机，摄像机主体通过导向机构固定在支架上，支架上固设螺旋测微仪，螺旋测微仪的螺杆上套设旋钮，旋钮与导向机构上开设的凹槽相配合。本实用新型将摄像机与螺旋测微仪集成为一体，结构简单、便于携带。通过控制螺旋测微仪螺杆的前后移动，带动摄像机的前后移动，从而控制像平面的前后移动，进而得到聚焦图像和不同位置的散焦图像，完成对图像的采集，此外，通过螺旋测微仪可以直接读出像平面上图像位置之间的相对移动距离参数
便携式采集读数摄像机

[发明专利]一种光栅光谱仪像质测量方法和装置-CN201811091899.7有效
发明人：杜国军;王春雨;董欣;张超;范龙飞;贾馨;欧宗耀;崔程光;张志飞;陆玉婷;陈宗 -专利权人：北京空间机电研究所
申请日： 2018-09-19 - 公布日： 2020-11-20 - 主分类号： G01J3/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度光栅光谱仪像质测量方法和装置，其中所述装置包括：一个经过积分球匀化的单色光源，一个带有狭缝靶标的平行光管，一个被测成像光谱仪和一个数据处理系统。狭缝靶标由微动位移台控制可沿垂直于被测光谱仪狭缝方向平移，被测光谱仪可接收该单色光源经过狭缝靶标的信号。通过分析计算光谱仪上某一组像元光强变化和狭缝移动量的关系得到光谱仪的线扩散函数，去除狭缝靶标宽度对测试结果的影响，经过傅里叶变换解算出系统光谱方向的MTF。此种方法解决了成像光谱仪光谱方向的传递函数无法测试的问题，实现了成像光谱仪像质的精确测试。
一种光栅光谱仪测量方法装置

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