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[实用新型]光电关联式一体显微镜-CN202221607425.5有效
发明人：任辛;刘航;张松涛;赵真 -专利权人：惠然科技有限公司
申请日： 2022-06-17 - 公布日： 2022-10-21 - 主分类号： G01N21/84 文献下载
摘要：本实用新型光电关联式一体显微镜包括：电镜样品仓、样品传送器、电镜样品台、电镜、电镜气门阀、控制器、光镜气门阀、光镜样品仓、光镜、光镜样品台、转换仓样品台、真空泵和转换仓，电镜固定在电镜样品仓上端并且伸入电镜样品仓内，电镜样品台装在电镜正下方电镜样品仓内，在电镜样品仓内一侧装有样品传送器，在电镜样品仓内另一侧与转换仓一侧相通，在电镜样品仓和转换仓相通处装有电镜气门阀，在转换仓内装有转换仓样品台；光镜固定在光镜样品仓上端并且伸入光镜样品仓内，光镜样品台装在光镜正下方光镜样品仓内，在光镜样品仓内一侧装有样品传送器，在光镜样品仓内另一侧与转换仓另一侧相通，在光镜样品仓和转换仓相通处装有光镜气门阀。
光电关联一体显微镜

[实用新型]一种用于分析不规则光片的电子探针样品台-CN202220200798.4有效
发明人：吴敏;李增胜;迟乃杰 -专利权人：山东黄金矿业股份有限公司矿业管理分公司;山东省地质科学研究院
申请日： 2022-01-25 - 公布日： 2022-06-14 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型涉及地质勘探电子探针测试用样品台技术领域，具体公开了一种用于分析不规则光片的电子探针样品台，包括样品台以及设置在样品台上的大光片放样区和小光片放样区，大光片放样区设有大光片样品孔，大光片样品孔内安装有大样品托，大样品托上放置大光片样品；小光片放样区设有两个小光片样品孔，小光片样品孔内安装有小样品托，大样品托上放置小光片样品；本实用新型采用设计不同尺寸的光片样品孔，适用不同非标准尺寸的光片，使得非标准尺寸光片能顺利进入电子探针腔室进行观测；对非标准尺寸的光片的固定形式多样；设计的样品托的底部设有调节凹槽，方便调节光片样品的高度，样品托的底部还设置水平调节螺钉，调节光片样品的水平。
一种用于分析不规则电子探针样品

[发明专利]一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓-CN202010964848.1在审
发明人：朱新勇;刘平安;张磊;王玉建;刘永利;张朝惠;郭永玲 -专利权人：青岛青源峰达太赫兹科技有限公司
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2020-11-13 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本发明公开了一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓，包括发射光路单元、探测光路单元、样品转盘、样品转盘旋转电机和样品仓，发射光路单元、探测光路单元均置于样品仓中，样品转盘的一部分置于样品仓内，另一部分密封穿过样品仓壳置于样品仓外，样品转盘置于发射光路单元和探测光路单元中间位置，在样品转盘环向上均匀设置样品固定孔，样品转盘旋转电机与样品转盘连接，带动样品转盘转动，实现样品固定孔在样品仓内和样品仓外的转换，并将含有待测样品的样品固定孔置于发射光路单元和探测光路单元构成的太赫兹光路光轴上通过样品转盘旋转电机和样品转盘实现自动进样，选用空气单向阀控制进出样品仓的空气流速，保证仓内压强恒定。
一种不间断测量赫兹时域光谱系统透射样品

[实用新型]一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓-CN202022010046.5有效
发明人：朱新勇;刘平安;张磊;王玉建;刘永利;张朝惠;郭永玲 -专利权人：青岛青源峰达太赫兹科技有限公司
申请日： 2020-09-15 - 公布日： 2021-01-15 - 主分类号： G01N21/3586 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种不间断测量太赫兹时域光谱系统透射样品仓，包括发射光路单元、探测光路单元、样品转盘、样品转盘旋转电机和样品仓，发射光路单元、探测光路单元均置于样品仓中，样品转盘的一部分置于样品仓内，另一部分密封穿过样品仓壳置于样品仓外，样品转盘置于发射光路单元和探测光路单元中间位置，在样品转盘环向上均匀设置样品固定孔，样品转盘旋转电机与样品转盘连接，带动样品转盘转动，实现样品固定孔在样品仓内和样品仓外的转换，并将含有待测样品的样品固定孔置于发射光路单元和探测光路单元构成的太赫兹光路光轴上通过样品转盘旋转电机和样品转盘实现自动进样，选用空气单向阀控制进出样品仓的空气流速，保证仓内压强恒定。
一种不间断测量赫兹时域光谱系统透射样品

[实用新型]一种电子探针多功能样品台-CN202220185114.8有效
发明人：李增胜;吴敏;赵大千 -专利权人：山东省地质科学研究院;山东黄金矿业股份有限公司矿业管理分公司
申请日： 2022-01-24 - 公布日： 2022-06-28 - 主分类号： G01N23/2204 文献下载
摘要：本实用新型涉及地质勘探电子探针测试用样品台技术领域，具体公开了一种电子探针多功能样品台，包括样品台以及设置在样品台上的光片放样区和薄片放样区，光片放样区设有多个光片样品孔，光片样品孔内设有光片样品托，用于放置待测的光片样品，薄片放样区设有多个薄片样品卡槽，用于放置待测的薄片样品；本实用新型设计的电子探针多功能样品台集光片样品和薄片样品于一体，使得薄片样品和光片样品能同时进入电子探针腔室，减少换样时间，减低能耗，从而高效的完成观察或测试工作；设计的压片能在压片滑槽内移动，能快速对薄片样品进行定位和取放；设计的光片样品托在圆筒内升降调节，能适用不同的光片样品，检测准确度更高。
一种电子探针多功能样品

[发明专利]光学测试装置-CN201711482344.0在审
发明人：张维维 -专利权人：深圳市华星光电技术有限公司
申请日： 2017-12-29 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：所述光学测试装置包括样品光路和位于样品光路上并用于放置样品的透光孔，所述样品比所述透光孔小，所述光学测试装置还包括设置在所述样品光路上的聚光机构，以使所述样品光路上的光经所述聚光机构汇聚在所述样品上。本发明的光学测试装置通过汇聚样品光路上的光，缩小光斑的尺寸，从而能够准确聚焦在样品上，在解决样品过小的问题的同时，不降低光源强度。
光学测试装置样品光聚光机构透光孔汇聚光斑样品光路光源聚焦

[发明专利]一种光度测量方法及装置-CN201010118286.5无效
发明人：张晓勇;郭铁 -专利权人：新奥光伏能源有限公司
申请日： 2010-03-05 - 公布日： 2010-10-20 - 主分类号： G01N21/17 文献下载
摘要：所述装置包括：2n个反射镜，其中n个反射镜位于参比光路，n个反射镜位于样品光路，其中n为0或正整数；样品，位于样品光路；检测器，用于接收参比光路上的光和样品光路上的光，并检测参比光路和样品光路的光强值；参比光路上的n个反射镜用于使参比光路上的光经过n次反射后进入检测器；样品光路上的n个反射镜和样品用于使样品光路上的光经过n次反射及一次经过样品的透射后进入检测器，或者使样品光路上的光经过n次反射及一次经过样品的反射后进入检测器
一种光度测量方法装置

[发明专利]基于光干涉的测量系统及方法-CN202010089032.9在审
发明人：侯立信 -专利权人：三营超精密光电（晋城）有限公司
申请日： 2020-02-12 - 公布日： 2021-08-13 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明提供一种基于光干涉的测量系统，包括：光源，用于发射光源光；检测平台，所述检测平台的一表面固定设置有相互间隔的待测样品和参考样品，所述检测平台用于对所述待测样品和所述参考样品进行同步位移；光引导元件，设置于所述光源光的发射路径上，用于将所述光源光分解为测量光和参考光，并将所述测量光引导至所述待测样品，将所述参考光引导至所述参考样品，经所述待测样品反射的测量光和经所述参考样品反射的参考光合束作为干涉光；以及检测器，用于接收来自所述光引导元件引导的所述干涉光，并根据所述干涉光获取所述待测样品的光学信息。本发明还提供一种基于光干涉的测量方法。
基于干涉测量系统方法

[发明专利]一种蒸发光检测装置及基于该装置的蒸发光测量方法-CN201710380650.7有效
发明人：徐晓东;姚冬 -专利权人：苏州赛德福科学仪器有限公司
申请日： 2017-05-25 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G01N21/51 文献下载
摘要：本发明公开了提供一种带有参考光路的蒸发光检测装置，包括：光源、蒸发样品检测室、样品散射光探测器，从光源至样品散射光探测器之间设置有经过蒸发样品检测室的检测光路、以及不经过蒸发样品检测室的参考光路。本发明还公开了一种蒸发光测量方法，其骤包括：1)在测量蒸发样品时，将入射平面反射镜从检测光路中移出，使得光源发出的光线进入蒸发样品检测室，穿过样品，在样品中产生散射，然后，由样品散射光探测器接收；2)在测量参考光路时，将入射平面反射镜介入检测光路中，由样品散射光探测接收来自参考光路的信号；3)测量背景信号时，在样品散射光探测器处于无光照状态下，测量背景暗噪声。
一种蒸发检测装置基于测量方法

[发明专利]拉曼光谱检测设备和用于拉曼光谱检测的样品安全性检测方法-CN201711439073.0有效
发明人：王红球;左佳倩;刘海辉;张建红 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2020-12-11 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明的实施例提供了一种拉曼光谱检测设备以及一种用于拉曼光谱检测的样品安全性检测方法。该拉曼光谱检测设备包括：激发光光源，配置成向待测样品发射激发光；光学装置，所述光学装置具有光谱检测光路和样品成像光路，所述光谱检测光路配置成收集来自所述待测样品被激发光照射的位置的光信号，所述样品成像光路配置成拍摄所述待测样品的图像；光谱仪，配置成接收来自所述光谱检测光路的光信号并由所述光信号生成待测样品的拉曼光谱；以及样品安全性判别装置，配置成基于由所述样品成像光路拍摄的所述待测样品的图像来确定待测样品的安全性。
光谱检测设备用于样品安全性方法

[发明专利]光学测定装置以及水质分析系统-CN202180033072.4在审
发明人：小林一星;坂本启伍;原康平;有本公彦 -专利权人：株式会社堀场先进技术
申请日： 2021-04-13 - 公布日： 2022-12-30 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：通过测定由液体样品散射的散射光来测定液体样品的浊度的光学测定装置包括：样品池，其收纳液体样品；透过光测定用光源，其对样品池内的液体样品照射透过光测定用的光；散射光测定用光源，其对样品池内的液体样品照射散射光测定用的光；光检测器，其检测透过光测定的光的透过光以及散射光测定用的光的散射光；以及反射镜，其将透过光测定用的光在样品池内进行反射而朝向光检测器，散射光测定用光源以朝向反射后的光路并与该反射后的光路以预定的角度相交的方式射出散射光测定用的光，所述反射后光路为被反射镜反射而朝向光检测器的透过光测定用的光的光路。
光学测定装置以及水质分析系统

[发明专利]光学相干层析成像系统-CN201810308326.9在审
发明人：彭世昌;丁庆 -专利权人：雄安华讯方舟科技有限公司;深圳市太赫兹科技创新研究院
申请日： 2018-04-08 - 公布日： 2018-09-14 - 主分类号： G01N21/45 文献下载
摘要：光源用于发射初始光；光纤耦合器用于将初始光分束，得到参考光和样品光；透镜组设置于光纤耦合器与待测样品之间的光路上；样品光经过光纤传输至透镜组，再经过透镜组入射至待测样品，并由待测样品反射，得到样品反射光；样品反射光经过透镜组并和参考光干涉，得到干涉光；透镜组用于降低样品光的损耗；信号采集设备用于探测干涉光以得到干涉光谱；信号处理设备用于处理干涉光谱得到待测样品的结构图像。上述光学相干层析成像系统可以增强干涉光的信号，从而使得干涉光谱中的光强较大，从而得到待测样品的结构图像的效果较好。
透镜组待测样品光学相干层析成像系统光纤耦合器干涉光谱干涉光样品光信号采集设备信号处理设备样品反射光结构图像参考光光源光纤传输分束光强入射反射探测发射干涉

[实用新型]拉曼光谱检测设备-CN201721858770.5有效
发明人：王红球;左佳倩;刘海辉;张建红 -专利权人：同方威视技术股份有限公司
申请日： 2017-12-26 - 公布日： 2018-08-28 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：该拉曼光谱检测设备包括：激发光光源，配置成向待测样品发射激发光；光学装置，所述光学装置具有光谱检测光路和样品成像光路，所述光谱检测光路配置成收集来自所述待测样品被激发光照射的位置的光信号，所述样品成像光路配置成拍摄所述待测样品的图像；光谱仪，配置成接收来自所述光谱检测光路的光信号并由所述光信号生成待测样品的拉曼光谱；以及样品安全性判别装置，配置成基于由所述样品成像光路拍摄的所述待测样品的图像来确定待测样品的安全性。
待测样品光谱检测光路拉曼光谱检测样品成像光学装置配置光路图像本实用新型光信号生成激发光光源激发光照射光路配置拉曼光谱判别装置光谱仪拍摄激发光发射

[发明专利]石英玻璃光谱透过率的检测装置-CN202111514152.X在审
发明人：聂兰舰;刘瑞旺;吴沈卉;符博;王慧;王蕾;邵竹锋;王宏杰;贾亚男;张辰阳 -专利权人：中国建筑材料科学研究总院有限公司
申请日： 2021-12-13 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： G01N21/59 文献下载
摘要：本发明公开了一种石英玻璃光谱透过率的检测装置，石英玻璃光谱透过率的检测装置中，参比光路单元具有设于第一侧的参比光路入口和设于第二侧的参比光路出口，参比光路入口至参比光路出口之间为用于参照比对的参比光路；样品光路单元具有设于第一侧的样品光路入口和设于第二侧的样品光路出口，样品光路入口至样品光路出口之间为样品光路，样品光路设有光栏，样品光路平行于参比光路；样品自动移动控制装置设于第三侧，真空泵连通管路以抽真空，氧气分析仪设于样品仓以测量其中的氧含量，电控系统连接真空泵、氧气分析仪和旋转电机，电控系统基于氧含量调节真空泵以及调节旋转电机。
石英玻璃光谱透过检测装置

[发明专利]可缩放光谱检测和测量-CN201280018232.9有效
发明人： D·特蕾西;P·L·斯托克斯;S·科伊阿尼 -专利权人：努拜欧有限公司
申请日： 2012-03-27 - 公布日： 2014-02-12 - 主分类号： G01J3/12 文献下载
摘要：本发明一般涉及用于检测和测量源自样品的光的光谱性质或同时可缩放检测和测量源自在多个样品之间存在的每个样品的光的光谱性质的系统、方法和套件，其中该系统包括：包括色散元件的光具组；以及图像传感器。检测和测量的光可以包括从样品散射的光、作为化学发光由样品内化学过程发射的光、由样品选择性吸收的光，或在激发之后作为荧光从样品发射的光。
缩放光谱检测测量

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