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[发明专利]X射线装置及其获取医学图像的方法-CN201780073254.8有效
发明人：宋正龙;李炳元 -专利权人：三星电子株式会社
申请日： 2017-11-24 - 公布日： 2023-08-08 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种X射线装置的获取医学图像的方法，包括：获取目标对象的原始辐射图像以及对象的捕获条件信息；通过将原始辐射图像和捕获条件信息输入到被配置为用于估计散射辐射的学习网络模型，获取与原始辐射图像相关的散射辐射图像；并且基于原始辐射图像和散射辐射图像从原始辐射图像获取散射辐射处理的医学图像，其中，被配置为估计散射辐射的学习网络模型是使用多个散射辐射图像和与多个散射辐射图像中的每一个相关的多条捕获条件信息来教导的学习网络模型
射线装置及其获取医学图像方法

[发明专利]散射辐射的仿真以及可视化-CN200880006139.X有效
发明人： S·G·赫曼;C·博伊默;J·布朗东;N·康拉茨;O·艾卡波特;K·J·恩格尔;C·赫尔曼;R·基维特;H·莱曼 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2008-02-22 - 公布日： 2010-03-24 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：散射辐射具有非直观的性质。提出一种发信号系统(28)，其提供指示所预测或者所测量的散射辐射的空间分布的可感知信号(34)。实施例为在暴露于散射辐射的环境中工作的人员提供了对散射辐射暴露的个人危险的简便的评估。一种用于预测散射辐射的分布的方法考虑至少一个对象相关参数(18)和至少一个辐射相关参数(22)，以及对其作出响应，预测散射辐射的分布。
散射辐射仿真以及可视化

[发明专利]低散射辐射单元及多频共口径天线阵列-CN202110412564.6有效
发明人：章秀银;杨圣杰;张海伟;王敏;薛泉 -专利权人：华南理工大学;华为技术有限公司
申请日： 2021-04-16 - 公布日： 2022-08-05 - 主分类号： H01Q1/36 文献下载
摘要：本申请涉及一种低散射辐射单元及多频共口径天线阵列，低散射辐射单元包括低散射辐射结构，低散射辐射结构包括金属辐射臂和两个以上的开口谐振环，开口谐振环沿金属辐射臂的路径间隔设置。低散射辐射结构设计为在金属辐射臂的路径间隔设置两个以上的开口谐振环，利用开口谐振环在高频产生谐振，可降低金属辐射臂的散射效应，有效减少对其他高频率辐射单元的遮挡效应。
散射辐射单元多频共口径天线阵列

[发明专利]具有非晶态材料的散射辐射栅格及非晶态材料的用途-CN201810050823.3在审
发明人： R·贝克尔;M·吕里格 -专利权人：西门子医疗有限公司
申请日： 2018-01-18 - 公布日： 2018-07-27 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明公开了具有非晶态材料的散射辐射栅格及非晶态材料在散射辐射栅格中的用途。散射辐射栅格具有X射线辐射可透过和吸收X射线辐射的交替布置的层(1、2)，其中吸收X射线辐射的层(2)由非晶态材料形成。本发明还公开了非晶态金属的用途，用于散射辐射栅格的吸收X射线辐射的层(2)。
非晶态材料散射辐射栅格吸收非晶态金属交替布置可透过

[发明专利]用于制造散射射线准直仪的方法和散射射线准直仪-CN202010558847.7在审
发明人： T·厄格勒;S·维尔特;V·克里斯蒂奇;M·M·科勒斯恩-格雷 -专利权人：西门子医疗有限公司
申请日： 2020-06-18 - 公布日： 2020-12-22 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于制造散射辐射准直仪(2)的方法，该散射辐射准直仪(2)从下侧(4)开始沿构造方向(6)延伸到上侧(8)，散射辐射准直仪(2)具有吸收X射线的壁部(10)，并且在散射辐射准直仪(2)中在壁部(10)之间形成用于非散射X射线的贯通通道(12)，其中使用光刻工艺，借助于该光刻工艺由混合有X射线吸收材料的光刻胶形成散射辐射准直仪(2)的壁部(10)。
用于制造散射射线准直仪方法

[发明专利]一种融合多源数据的光合有效辐射散射比例预测方法-CN202210010803.X在审
发明人：白杨;常文娟;赵鹏飞;文金铭;王盼;曹佳;秦奋;郭建忠 -专利权人：河南大学
申请日： 2022-01-06 - 公布日： 2022-04-15 - 主分类号： G06F30/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种融合多源数据的光合有效辐射散射比例预测方法，属于散射辐射比估算技术领域。Sub>与卫星数据及再分析数据PAR和PARdif的随机森林决策树，根据决策树预测得到的PAR和PARdif计算生成散射辐射比；或者先根据获取的数据生成实测站点、卫星数据和再分析数据的散射辐射比，再构建实测站点与卫星数据及再分析数据的散射辐射比随机森林决策树，根据决策树直接预测得到散射辐射比。这两种方法都可以解决现有卫星遥感和再分析产品提供的散射辐射比精度较低的问题，也可解决地面观测数据站点稀疏的问题，更有利于进行面向区域或全球的散射辐射比研究。
一种融合数据光合有效辐射散射比例预测方法

[发明专利]用于制造器件的量测传感器、光刻设备和方法-CN201880032461.3在审
发明人：塞巴斯蒂安努斯·阿德里安努斯·古德恩;J·A·G·阿克曼斯;S·R·胡伊斯曼;T·M·T·A·M·埃拉扎里 -专利权人： ASML荷兰有限公司;ASML控股股份有限公司
申请日： 2018-04-13 - 公布日： 2019-12-31 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：公开了一种量测传感器设备，其包括：照射系统，其能够操作以用照射辐射照射衬底上的量测标记；光学收集系统，其配置成在由所述量测标记散射所述照射辐射之后收集散射辐射；和依赖于波长的空间滤光器，其用于在空间上过滤所述散射辐射，所述依赖于波长的空间滤光器具有依赖于所述散射辐射的波长的空间轮廓。所述依赖于波长的空间滤光器可以包括二向色滤光器和至少一个第二滤光器，所述二向色滤光器能够可操作以实质上透射第一波长范围的散射辐射且实质上阻挡第二波长范围内的散射辐射，所述第二滤光器能够操作以实质上阻挡至少在第一波长范围和第二波长范围内的散射辐射
波长散射辐射空间滤光器量测二向色滤光器照射滤光器光学收集系统传感器设备阻挡空间轮廓照射系统可操作辐射散射透射衬底过滤配置

[发明专利]断层成像分析中的散射辐射的影响的量化-CN202011124133.1在审
发明人： M.曼哈特 -专利权人：西门子医疗有限公司
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2021-04-23 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：本申请涉及断层成像分析中的散射辐射的影响的量化。根据用于量化对对象(2)的分析中的散射辐射的影响的方法，提供投影图像(9)。基于投影图像(9)以及与散射辐射的影响相关的断层成像设备(1)和/或对象(2)的特性(16、20)，产生至少一个中间图像(10、11)。借助人工神经网络(12)对至少一个中间图像(10、11)进行分析，以量化散射辐射的影响。
断层成像分析中的散射辐射影响量化

[发明专利]用于生产X射线散射辐射栅格的方法-CN201810150718.7有效
发明人： H·科克马兹;P·斯塔拉特纳 -专利权人：西门子医疗有限公司
申请日： 2018-02-13 - 公布日： 2020-09-11 - 主分类号： G21K1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于生产X射线散射辐射栅格(1)的方法，其中通过基体(4)挤压吸收X射线辐射的第一材料(3)，使得形成具有通道(6)的X射线散射辐射栅格(1)作为挤出物，X射线辐射可透过通道(6)。本发明的优点在于可以以高精度和低成本的方式生产X射线散射辐射栅格。
用于生产射线散射辐射栅格方法

[发明专利]雪堆太阳辐射获取方法及系统-CN202111176705.5在审
发明人：王飞腾;杜文涛;丁明虎;王东海;李慧林;岳晓英 -专利权人：中国科学院西北生态环境资源研究院
申请日： 2021-10-09 - 公布日： 2022-01-11 - 主分类号： G01J1/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种雪堆太阳辐射获取方法，包括以下步骤：将雪堆划分为多个斜面，获取水平面的水平直接辐射量，并根据太阳与雪堆的相对位置，获取雪堆的斜面直接辐射量；获取水平面的水平散射辐射量，并根据散射辐射转换系数，获得雪堆的斜面散射辐射量；获取地面的初始反射辐射量，并根据对应斜面的坡度获得雪堆的地面反射辐射量；获取所有斜面对应的斜面直接辐射量、斜面散射辐射量和地面反射辐射量，叠加即为雪堆的太阳辐射总量。根据本发明提出的雪堆太阳辐射获取方法，充分考虑了雪堆的斜面直接辐射量、斜面散射辐射量和地面反射辐射量，对储雪场地的评估更合理，更容易找到最佳的储雪场地。本发明还公开了一种采用上述方法的系统。
雪堆太阳辐射获取方法系统

[发明专利]用于识别物质的系统和方法-CN200710143757.6有效
发明人： G·哈丁 -专利权人：通用电气家园保护有限公司
申请日： 2007-08-02 - 公布日： 2008-02-06 - 主分类号： G01N23/10 文献下载
摘要：该系统包括：第一散射探测器(16)，其被配置成探测第一组散射辐射(89，90)；第二散射探测器(18)，其被配置成探测第二组散射辐射(88，91)；以及处理器(190)，其被配置成从该第一组散射辐射中产生第一有效原子序数，从该第二组散射辐射中产生第二有效原子序数，并确定(642)该第一有效原子序数是否在该第二有效原子序数的范围内。
用于识别物质系统方法

[发明专利]一种高精度散射辐射计算方法-CN201610675905.8有效
发明人：蔡一凡;张臻 -专利权人：河海大学常州校区
申请日： 2016-08-15 - 公布日： 2019-12-03 - 主分类号： G06F17/50 文献下载
摘要：本发明公开了一种高精度散射辐射计算方法，首先利用太阳电池采集负载两端电压，并计算水平面总辐照度H、斜面总辐照度H_t、水平面散射辐照度H_d数据，利用现有Hay模型的直射、散射计算模型分别计算获得斜面散射辐照度，随后利用线性回归方法求得两者的差值比例系数与时间的关系，即Hay模型散射辐射修正系数，从而修正Hay模型散射计算模型，获得高精度散射辐射计算模型。该散射辐射计算方法可精准计算出散射辐照度，为光伏跟踪系统、最佳倾角计算、聚光系统提供准确的辐照数据。
一种高精度散射辐射计算方法

[发明专利]量测传感器、光刻装置以及用于制造器件的方法-CN201880030470.9有效
发明人： S·A·戈登;S·R·惠斯曼;D·阿克布鲁特;A·波洛;S·G·J·马斯杰森 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2018-03-06 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G03F9/00 文献下载
摘要：量测传感器装置包括：照射系统，可操作用于利用具有第一偏振状态的照射辐射来照射衬底上的量测标记；以及光学收集系统，被配置为在照射辐射被量测标记散射之后收集散射辐射。量测标记包括主结构，并且相对于第一偏振状态改变主要通过主结构的散射得到的散射辐射的第一部分的偏振状态和主要通过除主结构之外的一个或多个特征的散射得到的辐射的第二部分的偏振状态中的至少一个，使得散射辐射的第一部分的偏振状态不同于散射辐射的第二部分的偏振状态量测传感器装置还包括光学过滤系统，光学过滤系统基于其偏振状态滤除散射辐射的第二部分。
传感器光刻装置以及用于制造器件方法

[发明专利]具有可变尺寸检测器阵列的反向散射系统-CN201280025576.2有效
发明人： J.R.舒伯特;W.R.卡森 -专利权人：美国科技工程公司
申请日： 2012-04-13 - 公布日： 2014-02-19 - 主分类号： G01N23/203 文献下载
摘要：一种可变几何反向散射检查系统具有包括一个或多个反向散射辐射检测器的辐射检测器阵列。第二反向散射辐射检测器的位置相对于第一反向散射辐射检测器的位置可变，使得检测器的尺寸可以通过将第二辐射检测器移入或移出与第一辐射检测器的预定对准而变化。检查对象的方法包括通过将第二辐射检测器移入与第一辐射检测器的预定对准形成检测器阵列，使用穿透性辐射的笔形射束照射对象以及使用检测器阵列检测反向散射辐射。
具有可变尺寸检测器阵列反向散射系统

[发明专利]用于测量曝光图案的量测方法以及相关联的量测装置-CN202180050971.5在审
发明人： J·科特塔尔 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2021-07-20 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G02F1/35 文献下载
摘要：方法包括：在测量区域之上的所述曝光图案上施加测量辐射束，测量区域的尺寸防止或减轻来自测量辐射的光致抗蚀剂损伤；在所述测量辐射已从所述曝光图案散射之后，捕获包括所述测量辐射的散射辐射，并且在至少一个检测器上检测所述散射辐射根据散射辐射来确定感兴趣参数的值。
用于测量曝光图案方法以及相关装置

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