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[发明专利]用于相干散射CT的射束硬化和衰减校正-CN200580008751.7无效
发明人： U·范斯蒂文达尔;J·－P·施洛姆卡 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2005-03-15 - 公布日： 2007-03-21 - 主分类号： G06T11/00 文献下载
摘要：在CSCT中，每个体素的散射函数的精确重建对于多色原辐射是未知的。根据本发明的典型实施方式，在重建之前执行射束硬化补偿以允许在被确定的原辐射平均衰减值的基础上执行半精确重建，由此导出等效水厚度。从等效水厚度计算能量偏移，该能量平移用于校正散射辐射的初始平均能量。此外，可以在CSCT重建之前执行CT重建以允许射束硬化校正。有利地，这可以允许提高图像质量和提高散射辐射的分辨率。
用于相干散射 ct 硬化衰减校正

[发明专利]辐射成像装置和辐射成像方法-CN200710109794.5无效
发明人：萩原明;贯井正健;西出明彦;乡野诚 -专利权人： GE医疗系统环球技术有限公司
申请日： 2007-05-08 - 公布日： 2008-01-23 - 主分类号： G01N23/04 文献下载
摘要：本发明涉及辐射成像装置和辐射成像方法。本发明通过防止伪影的生成而使图像质量得到提高。根据对对象成像区域执行扫描而得到的投影数据，重建成像区域横截面的断层摄影图像。此后，根据该密度分布计算散射辐射束数据，并利用散射辐射束数据校正投影数据。最后基于经校正的投影数据重建校正图像。
辐射成像装置方法

[发明专利]基于散射辐射分数的X-射线探测器增益校准-CN200780027404.8有效
发明人： J·蒂默;P·G·范德哈尔 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2007-07-10 - 公布日： 2009-07-22 - 主分类号： A61B6/03 文献下载
摘要：本发明公开一种用于二维X-射线探测器(315)的增益校准，其中单独地测量或估计用于散射辐射(307b)和直射辐射(307a)的增益系数。可以将加权平均应用到适当的散射分数。依赖于散射分数的增益校准方法与公知的增益校准方法相比，在X-射线图像中产生了更少的环型伪影，该公知的增益校准方法没有考虑到达所述X-射线探测器(315)的散射辐射的所述分数。
基于散射辐射分数射线探测器增益校准

[发明专利]基于强度阶差的量测系统、光刻设备及其方法-CN202180090790.5在审
发明人： J·L·克鲁泽;S·R·惠斯曼;S·A·戈登;F·阿尔佩贾尼 -专利权人： ASML控股股份有限公司;ASML荷兰有限公司
申请日： 2021-12-02 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：该系统包括辐射源、衍射元件、光学系统、检测器和处理器。辐射源生成辐射。衍射元件衍射辐射以生成第一射束和第二射束。第一射束包括第一非零衍射级，第二射束包括不同于第一非零衍射级的第二非零衍射级。光学系统从目标结构接收第一散射束和第二散射辐射束，并将第一散射束和第二散射辐射束朝向检测器引导。检测器生成检测信号。处理器分析检测信号以至少基于检测信号来确定目标结构属性。第一射束相对于第二射束被衰减，或者第一散射束相对于第二散射束被有意地衰减。
基于强度系统光刻设备及其方法

[发明专利]对正电子发射断层摄影的飞行时间测量中所利用的符合计时进行校准-CN200780001850.1有效
发明人： J·J·格里斯默;T·L·劳伦斯 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2007-01-02 - 公布日： 2009-02-11 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：一种对成像系统(10)进行校准的方法包括对来自位于成像系统(10)的膛(16)内的校准源(14)的各散射辐射事件进行符合探测。散射辐射事件基本上用于计算成像系统(10)内每个探测器通道(20)的校准时间偏移量。然后用各自的校准时间调整来校准每个探测器通道(20)。
正电子发射断层摄影飞行时间测量利用符合计时进行校准

[实用新型]一种绒面透光玻璃沼气发酵实验装置-CN201320106438.9有效
发明人：杨培志;廖承菌;杨雯;李学铭;张跃 -专利权人：云南师范大学
申请日： 2013-03-09 - 公布日： 2013-08-14 - 主分类号： C12M1/107 文献下载
摘要：该绒面透光玻璃沼气发酵实验装置的发酵池体用绒面透光玻璃制成,通过绒面透光玻璃能将太阳直射辐射转换为散射辐射，散射辐射会对实验装置内部的物料进行均匀加热发酵，能减少水气的产生，提高发酵速度，模拟出与沼气池实际发酵情况接近的发酵条件
一种透光玻璃沼气发酵实验装置

[发明专利]在医学成像中使用的屏蔽设备-CN202080047586.0在审
发明人： T·A·M·古德 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2020-06-25 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： A61B6/10 文献下载
摘要：一种X射线系统被描述为具有安装在手术台下方的散射辐射屏蔽设备。屏蔽设备(10)包括辐射阻挡材料(6)的一个或多个层和一个或多个层中的切口(8)。切口从一个或多个层的中心中的点或一个或多个层的中心附近的点朝向边缘延伸以允许辐射透射通过。屏蔽设备可围绕旋转轴旋转。屏蔽设备实质上减少源自患者的散射辐射。
医学成像使用屏蔽设备

[发明专利]用于散射仪的双光束设置-CN200680029684.1有效
发明人： S·瓦德曼 -专利权人：皇家飞利浦电子股份有限公司
申请日： 2006-08-04 - 公布日： 2008-08-13 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：提供了一种具有双光束设置的散射仪或二次散射仪和使用其的方法，以产生光学参数测量值。双光束二次散射仪包括在底部由基底(320)密封的半球形穹面外壳(318)。辐射源(302)分成两个光束产生辐射：用于照明样本表面(308)的照明光束(304)和用于提供与照明光束(304)有关的光学特征信息的校准光束(330)。定位光学成像装置(324)以获取由被照明光束(304)照明的样本表面(308)散射的散射辐射(314)的图像，并同时获取校准光束的图像。在分析散射辐射数据时，利用校准光束图像补偿辐射源(302)的光输出的变化。
用于散射光束设置

[发明专利]用于保护人免受X射线散射辐射的保护系统-CN201580049836.3有效
发明人： B·P·A·J·霍恩阿尔特;J·J·德里斯 -专利权人：皇家飞利浦有限公司
申请日： 2015-09-15 - 公布日： 2021-02-26 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本发明涉及用于保护工作人员(6)免受X射线散射辐射的保护系统(10)和方法、X射线系统以及存储有用于控制这样的系统的计算机程序单元的计算机可读介质。所述确定单元(30)被配置为确定潜在的X射线散射辐射的起源(5)，并且确定所述屏蔽设备(3)是否被定位为基于潜在的X射线散射辐射的所述起源(5)、所述屏蔽设备(3)的所述位置以及所述工作人员(6)的所述位置来保护所述工作人员
用于保护人免受射线散射辐射保护系统

[发明专利]用于表征尤其激光辐射的辐射场的测量装置和方法-CN201680089602.6有效
发明人： F.基利奇;U.恩格兰德 -专利权人：美天旎生物技术有限公司
申请日： 2016-09-26 - 公布日： 2022-05-17 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：一种用于表征辐射场（1）的辐射场测量装置（100），所述辐射场在纵向方向（z）上穿过介质（2），所述辐射场测量装置包括：具有至少一个探测器摄像机（11）的探测器装置（10），所述探测器摄像机包含至少一个探测器阵列（12），所述至少一个探测器阵列用于散射辐射（3）的图像记录，所述散射辐射在所述介质中通过所述辐射场（1）产生并且朝多个侧向方向定向，所述多个侧向方向与所述纵向方向（z）偏离；和重建装置（20），用于基于所述探测器装置（10）的图像信号来表征所述辐射场（1），其中，所述重建装置（20）被设置用于层析重建在所述辐射场（1）中的散射辐射（3）的场密度。也描述了辐射场测量装置的应用和一种在使用辐射场测量装置（100）的情况下表征辐射场（1）的方法，所述辐射场在纵向方向（z）上穿过介质（2）。
用于表征尤其激光辐射测量装置方法

[发明专利]一种计算双面组件阵列排布背面辐射量的方法-CN201711170468.5有效
发明人：黄国昆;张臻;钱茜;于书魁;梁旭丹 -专利权人：河海大学常州校区
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2020-10-09 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种计算双面组件阵列排布背面辐射量的方法，基于视角系数法模型和组件阵列排布的空间几何关系，计算了直射光与散射光入射于地面再反射至双面组件背面的辐射量，以及利用了Perez半球散射辐射模型，计算了直接入射于双面组件背面的散射辐射量本发明方法考虑了双面组件阵列排布的安装倾角、安装高度、安装间距、安装方位角和空中直射与散射强度比例等影响因素，能够较为准确地计算出双面组件背面接收到的总辐射量，结合组件正面辐射量模型有助于优化太阳能双面组件的安装方式
一种计算双面组件阵列排布背面辐射量方法

[发明专利]配备具有多个宽带输出的辐射源的量测设备-CN202080014088.6在审
发明人：保罗·威廉·斯科尔特斯-范埃克;罗纳德·弗兰西斯克斯·赫尔曼·休格斯 -专利权人： ASML荷兰有限公司
申请日： 2020-01-17 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：该量测设备包括辐射源，该辐射源包括具有分裂成多个光学路径的输出的驱动激光器，所述多个光学路径中的每个都包括各自的宽带光产生器。该量测设备还包括：照射光学器件，所述照射光学器件用于照射结构；至少一个检测系统，所述至少一个检测系统用于检测已经由所述结构散射的散射辐射；以及处理器，所述处理器用于根据所述散射辐射确定所述结构的感兴趣的参数
配备具有宽带输出辐射源设备

[发明专利]物体检测-CN201710478003.X在审
发明人：尼古拉斯·鲍英;大卫·安德鲁斯;内舍尔·丁恩·瑞兹桂;斯塔尔特·哈默 -专利权人：无线电物理解决方案有限公司
申请日： 2010-09-17 - 公布日： 2017-11-24 - 主分类号： G01S13/88 文献下载
摘要：检测方法，包括导引辐射，使得所述辐射入射到目标上，所述辐射包括具有第一极化的分量和具有第二正交极化的分量；检测从所述目标散射的辐射，以及分析检测到的散射辐射的极化状态，以确定所述目标是否包括物体。
物体检测

[发明专利]物体检测-CN201080052052.3有效
发明人：尼古拉斯·鲍英;大卫·安德鲁斯;内舍尔·丁恩·瑞兹桂;斯塔尔特·哈默 -专利权人：曼彻斯特城市大学
申请日： 2010-09-17 - 公布日： 2012-10-03 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：检测方法，包括导引辐射，使得所述辐射入射到目标上，所述辐射包括具有第一极化的分量和具有第二正交极化的分量；检测从所述目标散射的辐射，以及分析检测到的散射辐射的极化状态，以确定所述目标是否包括物体。
物体检测

[发明专利]关于X射线装置中散射的改进及其使用方法-CN201580063381.0有效
发明人：保罗·斯科特;盖理·吉布森;尼尔·洛士利 -专利权人： IBEX创新有限责任公司
申请日： 2015-10-05 - 公布日： 2020-03-24 - 主分类号： G01T1/29 文献下载
摘要：所述装置进一步包括代表材料类型和材料厚度值的第一数据库、指示材料类型和/或材料厚度的散射辐射值的第二数据库、可执行将X射线检测器的输出信号与第一数据库中的数值进行比较的算法并且可输出来自第一数据库最可能的材料和/或厚度的处理器；从第二数据库中选择与材料类型和/或材料厚度相关联的散射辐射；将散射辐射从X射线检测器的输出信号中去除。
关于射线装置散射改进及其使用方法