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[发明专利]一种乳腺图像去散射处理方法和系统-CN201811557573.9有效
发明人：袁洲;姚鹏;张文日;牛杰;徐亮 -专利权人：上海联影医疗科技股份有限公司
申请日： 2018-12-19 - 公布日： 2022-07-22 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本申请实施例公开了一种乳腺图像去散射处理方法，该方法包括：在一定压迫厚度下，采集乳腺图像；从所述乳腺图像中分割出有组织区域和无组织区域；基于所述乳腺图像、多个第一散射核和多个第二散射核，将所述乳腺图像的有组织区域以所述第一散射核进行去散射迭代处理，将所述乳腺图像的无组织区域以所述第二散射核进行去散射迭代处理，以估算出所述有组织区域对散射图像的第一散射贡献和所述无组织区域对散射图像的第二散射贡，获得去散射乳腺图像。
一种乳腺图像散射处理方法系统

[发明专利]一种散射调整装置、光源及投影系统-CN201910602668.6有效
发明人：葛明星;陈龙 -专利权人：无锡视美乐激光显示科技有限公司
申请日： 2019-07-04 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G03B21/20 文献下载
摘要：本发明提供一种散射装置，包括：第一散射区域和第二散射区域；其中，所述第一散射区域与第二散射区域具有不同的雾度，且第一散射区域的雾度小于第二散射区域的雾度。其能实现对激发光散射角度的调整，以达到光源设计需要的雾度要求，保证一致性；并且该设计可以降低以往对单片的公差要求，提升生产的良率，减低生产成本。
一种散射调整装置光源投影系统

[发明专利]一种基于目标与环境复合电磁散射场的运动目标识别方法-CN202210486256.2在审
发明人：田贵龙;彭鹏;孙华龙;宋涛 -专利权人：中国人民解放军空军工程大学
申请日： 2022-05-06 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G06T7/246 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于目标与环境复合电磁散射场的运动目标识别方法，包括以下步骤：根据识别区域的多个运动目标与环境复合情形，将整个时间段的多个运动目标的运动过程分解为若干个时间点；基于每个时间点，通过区域分解法，将识别区域分解为目标区域和粗糙面区域，分别获取目标区域的第一散射特性，以及粗糙面区域的第二散射特性，并将第二散射特性作为贡献散射耦合进目标区域；基于第一散射特性和贡献散射，获取每个时间点对应的目标区域的第一复合散射特性；将不同时间点的第一复合散射特性进行串联，得到第二复合散射特性；根据运动目标的速度、位置、间距，对运动目标进行识别；本发明在电磁散射计算领域具有很高的工程应用价值。
一种基于目标环境复合电磁散射运动识别方法

[发明专利]光散射式尘埃传感器-CN201811563834.8在审
发明人：朴商杙;金度勋;黄昡喆;李明镛;金东柱 -专利权人：株式会社三莹S&C
申请日： 2018-12-20 - 公布日： 2019-12-17 - 主分类号： G01N15/00 文献下载
摘要：光散射式尘埃传感器包括：光散射区域；发光部，其给光散射区域提供发射光；受光部，其检测从光散射区域生成的散射光；以及发射光限制部，其置于发光部和光散射区域之间。发射光包括：周边区域光，以及强度比周边区域光均匀的中心区域光。发射光限制部阻断所述发射光的一部分，发射光的一部分包括周边区域光。
发射光光散射周边区域发光部尘埃传感器光散射式区域生成区域提供中心区域强度比散射光受光部检测

[发明专利]用于改善成像中的散射估计和校正的方法和设备-CN201980079114.0在审
发明人：丹尼尔·加农;白传泳;喻智聪;A·杰恩;C·R·小毛雷尔 -专利权人：爱可瑞公司
申请日： 2019-11-25 - 公布日： 2021-07-23 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：提供了一种x射线成像设备和关联的方法，用于接收从宽轴向区域的宽孔径扫描和该宽轴向区域内的窄轴向区域的窄孔径扫描测得的投射数据，以及使用优化的散射估计技术确定该宽轴向区域中的估计的散射。优化的散射估计技术是基于窄轴向区域中测得的散射与窄轴向区域中估计的散射之间的差异。可以对基于核的散射估计/校正技术进行拟合，以最小化窄轴向区域中的散射差异，并且此后将拟合后的(优化的)基于核的散射估计/校正应用于宽轴向区域。优化可以在投射数据域或重建域中进行。还使用了迭代过程。
用于改善成像中的散射估计校正方法设备

[发明专利]区域五维成像方法、装置、设备及存储介质-CN202310737840.5有效
发明人：刘宇舟;施钟淇;岳清瑞;张红;段浩轩;曹文希;陈天东;田露;张维 -专利权人：深圳市城市公共安全技术研究院有限公司;城市安全发展科技研究院（深圳）
申请日： 2023-06-21 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明涉及合成孔径雷达干涉测量技术领域，公开了一种区域五维成像方法、装置、设备及存储介质，包括：基于差分干涉数据，通过预设区域生长网络检测目标干涉测量数据对应的目标区域中的可靠单永久散射体；基于预设区域生长网络中的所有单永久散射体构建局部星型网络；通过局部星型网络检测目标区域中的目标剩余单永久散射体和所有双永久散射体，以基于可靠单永久散射体、目标剩余单永久散射体和所有双永久散射体对目标区域进行五维成像。本发明基于目标区域的可靠单永久散射体、目标剩余单永久散射体和所有双永久散射体对目标区域进行五维成像，解决了应用于SAR层析成像中进行区域成像的网络无法覆盖到整个研究区域的问题。
区域成像方法装置设备存储介质

[发明专利]微小物检测装置-CN202110474857.7在审
发明人：中井贤也 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2016-12-08 - 公布日： 2021-07-30 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明提供微小物检测装置，具有第1、第2光学系统，第1光学系统包含第1、第2反射区域、第1、第2穿过区域和第1受光元件，第1光学系统利用第1、第2反射区域对照射光照到粒子而散射的散射光进行反射，由此将散射光引导至第1受光元件，第2光学系统穿过第2穿过区域从粒子直接取入照到粒子而散射的散射光的一部分，根据散射光检测粒子的光学特性，通过在第2反射区域设置第1穿过区域，将散射光引导至第1受光元件，通过在第1反射区域设置第2穿过区域，将散射光引导至第2光学系统，第2穿过区域位于与第1穿过区域对置的位置，并且位于第1反射区域内被由第2反射区域中的第1穿过区域的周缘反射的散射光到达的点包围的区域的内侧。
微小检测装置

[发明专利]一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法-CN201610752000.6有效
发明人：刘灵鸽;赵兵;张启涛;李文龙;王宇;马玉丰;严瑾 -专利权人：西安空间无线电技术研究所
申请日： 2016-08-26 - 公布日： 2019-02-19 - 主分类号： G01R29/10 文献下载
摘要：一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。
一种平面近场暗室散射测试补偿方法

[发明专利]一种近场局部照射目标散射近远场转换方法-CN202111020081.8在审
发明人：贺新毅;童广德;徐秀丽;廖意 -专利权人：上海无线电设备研究所
申请日： 2021-09-01 - 公布日： 2021-11-26 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：本发明提供一种近场局部照射目标散射近远场转换方法，包含步骤：S1、将目标分割成P个散射区域；S2、依序对各个散射区域进行2‑D平面采样，获取每个采样点的2‑D近场散射数据；S3、基于2‑D近场测试天线接收电压的表达式，对散射区域的所述2‑D近场散射数据进行近远场转换，获取该散射区域的2‑D远场散射特征量；S4、将各散射区域的2‑D远场散射特征量进行总场合成，基于RCS关系式计算得到目标总体RCS。本发明还提供一种近场局部照射目标散射近远场转换方法，适用于3‑D空间采样下获取目标总体RCS。
一种近场局部照射目标散射近远场转换方法

[发明专利]一种雷达目标精细结构散射贡献提取方法-CN202010600192.5有效
发明人：高伟;魏飞鸣;顾丹丹;张元 -专利权人：上海无线电设备研究所
申请日： 2020-06-28 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01S13/90 文献下载
摘要：本发明公开了一种雷达目标精细结构散射贡献提取方法，包含：将雷达目标的几何计算区域划分为直接区域和间接区域；根据预设的成像要求，获取扫频扫角间隔；分别对直接区域和间接区域进行网格划分，得到已标记的直接区域和已标记的间接区域；分别采用直接求解法和迭代求解法对已标记的直接区域和已标记的间接区域进行求逆计算，得到扫频扫角散射场数据；根据扫频扫角散射场数据和扫频扫角间隔进行雷达成像，得到二维ISAR图像；根据二维ISAR图像分析细微结构的散射机理，得到其散射贡献在二维ISAR图像的像域中的位置，重构获取细微结构的散射贡献。本发明采用高效雷达目标仿真方法获取目标散射特性，进而成像提取细微结构散射贡献。
一种雷达目标精细结构散射贡献提取方法

[发明专利]散射元件、光源系统及显示设备-CN201811378318.8有效
发明人：郭祖强;杜鹏;李屹 -专利权人：深圳光峰科技股份有限公司
申请日： 2018-11-19 - 公布日： 2022-08-12 - 主分类号： G02B5/02 文献下载
摘要：本发明提供一种散射元件、光源系统及显示设备，所述散射元件包括基板，所述基板表面设置有：反射散射层，设置于所述基板表面的第一区域中，用于对光线进行反射式散射；及透射散射层，设置于所述基板表面的第二区域中，用于对光线进行透射式散射；其中，所述第一区域与所述第二区域不重叠。本发明提供的散射元件的反射散射层及透射散射层对光线进行散射，有利于消除了入射光线的相干性，能极好地消除入射光线中的激光形成的散斑现象。
散射元件光源系统显示设备

[发明专利]目标检测方法、系统及计算机可读存储介质-CN201880040694.8在审
发明人：李怡强;陆新飞;戴为龙 -专利权人：深圳市大疆创新科技有限公司
申请日： 2018-12-26 - 公布日： 2020-09-29 - 主分类号： G01S7/41 文献下载
摘要：一种目标检测方法、系统及计算机可读存储介质，所述方法包括：通过雷达传感器获取散射点集合，所述散射点集合包括多个散射点；根据散射点的特征信息将所述多个散射点划分到至少一个区域；针对每个区域内的散射点，根据所述区域对应的检测参数对所述区域内的散射点进行目标检测；其中，针对不同区域分别设定检测参数。
目标检测方法系统计算机可读存储介质

[发明专利]微小物检测装置-CN201680071190.3有效
发明人：中井贤也 -专利权人：三菱电机株式会社
申请日： 2016-12-08 - 公布日： 2021-06-01 - 主分类号： G01N15/06 文献下载
摘要：第1光学系统(50)包含第1反射区域(101)、第2反射区域(102)和受光元件(6)。第1反射区域(101)为椭圆面形状，利用椭圆面形状的2个焦点的位置来反射照射光照到粒子(R)而散射的散射光并将该散射光引导至受光元件(6)。第2反射区域(102)反射从粒子(R)到达的散射光并将该散射光引导至第1反射区域(101)，利用第1反射区域(101)的椭圆面形状将该散射光引导至受光元件(6)。由第2反射区域(102)反射后的散射光的光束直径在发出散射光的粒子(R)的位置处大于粒子(R)。
微小检测装置

[发明专利]一种材料识别方法、装置及存储介质-CN202111356516.6在审
发明人：高春宇;汤秀章;陈欣南 -专利权人：中国原子能科学研究院
申请日： 2021-11-16 - 公布日： 2022-03-04 - 主分类号： G01N23/20 文献下载
摘要：本发明公开了一种材料识别方法、装置及存储介质，方法包括：获取穿过部署待识别材料的探测区域的多个辐射粒子中，每个粒子对应的近似散射点和散射角；将探测区域划分为多个子区域，并针对多个子区域中每个子区域，从多个辐射粒子中，选取出对应近似散射点位于子区域内的辐射粒子，确定为对应的辐射粒子；针对多个子区域中每个子区域，基于对应的辐射粒子的散射角，确定对应的散射密度，得到与多个子区域一一对应的多个散射密度；利用预设材料识别模型，基于多个散射密度对待识别材料进行材料类型识别，得到待识别材料的材料类型识别结果。
一种材料识别方法装置存储介质

[发明专利]用于散射光测量仪的测试装置，用于散射光测量仪的测试装置的制造方法和用于检验散射光测量仪的方法-CN201480021618.4有效
发明人： K.施滕格尔;G.哈加;M.诺伊恩多夫;R.霍斯;D.施特拉克 -专利权人：罗伯特·博世有限公司
申请日： 2014-02-26 - 公布日： 2017-12-12 - 主分类号： G01N21/27 文献下载
摘要：本发明涉及一种用于散射光测量仪的测试装置(10)，散射光测量仪具有透光体(20)，该基体可以布置在散射光测量仪的测量室(16)中和包括多个散射中心(22)，借此从散射光测量仪的光源(12)射出的光(14)可以散射，其中，散射中心(22)位于透光体(20)的一个散射体段(24)中，该散射体段布置在透光体(20)的上游的区域(26)和透光体(20)的下游的区域(28)之间，和其中，该上游的区域(26)和下游的区域(28)分别没有散射中心(22)。本发明也涉及一种用于散射光测量仪的测试装置的制造方法。此外本发明涉及一种用于检验散射光测量仪的方法。
用于散射测量仪测试装置制造方法检验

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