专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]表面系统-CN201711136676.3有效
  • 邱奕昌;蔡政廷;潘世耀;杨兰昇;郭修玮;锺绍恩 - 致茂电子(苏州)有限公司
  • 2017-11-16 - 2021-04-09 - G01B11/24
  • 一种表面系统,用以量具低反射的表面表面系统包含结露装置与量装置。结露装置用以形成一液体层于表面上。结露装置包含腔体、控温气体源与增湿气体源。腔体用以容纳。控温气体源连接至腔体,用以提供控温气体至腔体中以控制的温度。增湿气体源连接至腔体,用以提供水气至腔体中以形成液体层于表面上。量装置包含平台、光源与影像撷取装置。平台用以放置具有液体层的。光源用以提供光束以照射平台上的。影像撷取装置用以侦测自平台上的散射的光束。通过在表面上形成液体层,可增加光束照射于表面上的散射量。因此影像具有高信噪比,表面能够被精准量与提升量测速度。
  • 表面系统
  • [发明专利]一种表面缺陷检测装置及方法-CN202110063814.X在审
  • 张鹏黎 - 上海御微半导体技术有限公司
  • 2021-01-18 - 2021-05-14 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种表面缺陷检测装置及方法,该装置包括工件台,第一检测单元、第二检测单元和控制器,工件台承载,第一检测单元位于第一表面的上方,第二检测单元位于第二表面的下方,第一检测单元和第二检测单元中的光源单元出射光束,并经过物镜单元入射至表面,光束经表面反射或散射形成反射或散射光束,采集单元采集反射或散射光束生成表面图像;控制器控制工件台承载运动,并根据第一表面图像识别第一表面的缺陷,根据第二表面图像识别第二表面的缺陷,实现同时检测上下表面的缺陷,提高检测效率。
  • 一种表面缺陷检测装置方法
  • [发明专利]装置及其量方法-CN201110322575.1无效
  • 孙庆成;余业纬;陈彦霖;陈玮鑫 - 中央大学
  • 2011-10-21 - 2013-04-24 - G01J1/00
  • 一种量装置用以量,并包括至少一个屏幕、至少一个量单元以及至少一个保持单元。屏幕是部分透光,且具有相对的一第一表面及一第二表面邻设于屏幕的第一表面。量单元与对应设置,并邻设于屏幕的第二表面。保持单元保持屏幕、及量单元的相对距离,量单元撷取屏幕的第二表面的影像,以计算的光场分布。本发明的量装置可快速量的光场分布,并具有成本低及准确度高的优点。
  • 装置及其方法
  • [发明专利]一种氟化晶体位错密度的检测方法-CN202310380824.5在审
  • 苏良碧;张博;汤港;寇华敏 - 中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 2023-04-11 - 2023-08-01 - G01N1/32
  • 本发明涉及晶体检测技术领域,具体涉及一种氟化晶体位错密度的检测方法,尤其适合用于氟化钙晶体的位错密度分析。一种氟化晶体位错密度的检测方法,所述检测方法为:(1)对所述氟化晶体的表面进行预处理;(2)利用腐蚀混合溶液腐蚀氟化晶体的表面,随后终止腐蚀,所述腐蚀混合溶液用于在所述氟化晶体的表面形成腐蚀坑;(3)观察所述氟化晶体的表面,统计所述氟化晶体中的错蚀坑数量,基于所述错蚀坑的数量计算所述氟化晶体的位错密度,其中所述错蚀坑为所述腐蚀坑中具有位错特性的腐蚀坑。
  • 一种氟化物晶体密度检测方法
  • [发明专利]一种表面轮廓分析方法-CN200410064108.3有效
  • 许华珍;童启弘;高清芬;张中柱 - 财团法人工业技术研究院
  • 2004-08-19 - 2006-02-22 - G01B11/24
  • 本发明一种表面轮廓分析方法,是关于一种通过由分析干涉强度而获得表面轮廓的方法,并运用一分光干涉仪,结合宽频光源(白光)进行表面轮廓的分析。本发明的分析方法是结合峰值位置检测分析法与相位分析法以描绘出表面轮廓,并具有高量解析度。此外,本发明的分析方法仅需一笔干涉强度资料即可分析出的相位与轮廓信息,并不像现有量技术必须切换不同干涉量模式,即相移干涉术模式和垂直扫描干涉术模式,才可取得的相位与轮廓信息。因此,本发明的分析方法可进一步缩短量所需的时间,而运用于线上产品品质检测的场合中。
  • 一种待测物表面轮廓分析方法
  • [发明专利]高温环境参数测量方法及装置-CN202210322857.X有效
  • 冯雪;王锦阳;岳孟坤;张金松;金鹏 - 清华大学
  • 2022-03-29 - 2023-03-31 - G01N25/20
  • 本公开涉及一种高温环境参数测量方法及装置,所述方法包括:加热,在所述达到目标温度的情况下,确定所述表面的全场弹性模量;获取所述在加热前的第一图像及达到所述目标温度的第二图像,根据所述第一图像及所述第二图像中所述多个参考点的位置信息确定所述表面的全场位移,所述全场位移表示表面各点的位移;根据所述全场位移及所述全场弹性模量得到所述表面的应变场、应力场。本公开实施例可以实现高温环境中全场弹性模量、全场位移、应变场、应力场的高效、准确测量,可以为研究的应力‑氧化耦合行为提供重要支撑,同时对材料设计提供有力指导。
  • 高温环境参数测量方法装置
  • [发明专利]表面纹理的检验方法-CN201210391776.1无效
  • 苏瑞尧;刘彦辰;谢秉澂;王俊胜 - 财团法人工业技术研究院
  • 2012-10-16 - 2014-03-26 - G01N33/00
  • 一种表面纹理检验方法,首先利用传感器以预设条件接触参考以感该参考表面纹理所产生的压力振动信息,再分析该参考表面纹理所产生的压力振动信息,以取得一组表面纹理与压力振动信息的关联性资料,接着使用该传感器以该预设条件接触以感表面纹理所产生的压力振动信息,最后根据该组表面纹理与压力振动信息的关联性资料,分析该表面纹理所产生的压力振动信息,以产生该表面纹理检验结果。借此,得以参考表面纹理作为标准,判断与参考表面纹理的一致性。
  • 表面纹理检验方法
  • [发明专利]光学检测系统-CN201610565378.5在审
  • 王人杰;赖明正 - 由田新技股份有限公司
  • 2016-07-18 - 2018-01-05 - G01N21/88
  • 一种光学检测系统,包含有一进料装置、一多轴机械手臂、以及一分类站台。该进料装置用以放置。该多轴机械手臂用以抓取该进料装置上的该,并将该移动至影像检测站台,以供该影像检测站台上的影像获取装置拍摄该表面影像,用于检测该表面瑕疵。该分类站台包含有多个设置于该影像检测站台的一侧的出料装置,该多轴机械手臂依据该的状态将该分类至各个出料装置。
  • 光学检测系统
  • [发明专利]一种光学检测装置及其方法-CN201910898538.1有效
  • 杨朝兴 - 上海御微半导体技术有限公司
  • 2019-09-23 - 2021-09-28 - G01N21/88
  • 本发明公开了一种光学检测装置及其方法,其中,装置包括工件台;载台,位于工件台上,用于承载;光源单元,位于载台的上方,且光源单元至少包括光源方向向量不共面的第一光源、第二光源和第三光源;相机,位于光源单元的上方,且相机的焦面与表面之间的距离可调节;控制单元,分别与光源单元和相机电连接,用于控制光源单元输出不同照明条件;并在不同照明条件下,控制相机分别获取表面图像以及缺陷检测图像,并根据表面图像以及缺陷检测图像获取的不同高度表面清晰图像,从而可实现无需重新调焦就可检测不同高度表面的特征。
  • 一种光学检测装置及其方法
  • [发明专利]一种用于注塑的智能检测方法-CN202310105241.1在审
  • 周静辉;李金国;虞伟炳;姚震 - 台州职业技术学院;浙江赛豪实业有限公司
  • 2023-01-20 - 2023-05-02 - G06T7/00
  • 本发明提供了一种用于注塑的智能检测方法,属于注塑检测技术领域。它解决了人工检测存在检测效率较低的问题。本用于注塑的智能检测方法包括:由尺寸检测区域对待注塑各个面的图像信息进行采集,从而将生成的注塑三维点云数据与预存的标准点云数据进行比较,生成注塑三维匹配结果;由表面缺陷检测区域对待注塑表面进行图像采集并将注塑表面图像进行缺陷检测,生成表面缺陷检测结果;根据注塑三维匹配结果和表面缺陷检测结果来判断注塑是否为合格产品,若是合格产品,控制注塑进入下一加工环节,若是不各格产品,控制注塑回到注塑机注塑环节进行重塑
  • 一种用于注塑智能检测方法

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