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- [发明专利]IC测试方法和设备-CN200680039392.6有效
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汤姆·瓦叶尔斯
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NXP股份有限公司
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2006-10-12
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2008-10-29
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G01R31/3185
- 测试电路具有移位寄存器电路(76),用于存储为了测试集成电路核心的指令数据。移位寄存器电路的每一级包括:第一移位寄存器存储元件(32),用于存储从串行输入(wsi)接收到的信号并以扫描链操作模式将所述信号提供给串行输出(wso);以及第二并行寄存器存储元件(38),用于存储来自第一移位寄存器存储元件的信号并以更新操作模式将所述信号提供给并行输出测试电路还包括多路复用器(70),用于向移位寄存器电路的串行输入(wsi)发送串行测试输入或向移位寄存器电路(76)的串行输入中发送附加输入(wpi[n])。在优选实施例中,测试电路还包括控制电路(78),所述控制电路响应于存储在移位寄存器的至少一级中的特定值以产生更新信号,所述更新信号用于将其他移位寄存器级设定为更新操作模式。
- ic测试方法设备
- [发明专利]一种毫秒级精度计时方法-CN200510115854.5无效
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陈夕华
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中兴通讯股份有限公司
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2005-11-10
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2007-05-16
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G04F10/00
- 本发明公开了一种毫秒级精度计时方法,首先,初始化具有跑表硬件的芯片中的实时时钟状态寄存器、周期中断告警寄存器、跑表时钟计数寄存器;然后,实时时钟状态寄存器同步启动跑表时钟计数寄存器按1/100秒的频率计数、周期中断告警时钟计数寄存器按1/1000秒的频率进行计数;判断周期中断告警时钟计数寄存器的当前计数值是否小于10,若是,继续进行计数,判断是否停止计数,若是,则获取当前计数值。按照本发明所述方法,从硬件上实现了毫秒级精度计时。若否,则产生硬件中断,将周期中断告警时钟计数寄存器清零,并重新开始计数。
- 一种毫秒精度计时方法
- [实用新型]一种I2C总线传输装置-CN201620058844.6有效
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刘宇博;王旭东
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哈尔滨理工大学
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2016-01-21
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2016-06-15
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G06F13/38
- 一种I2C总线传输装置,它涉及一种传输装置。本实用新型为了解决现有技术的I2C总线通讯系统存在占用主循环时间,造成通讯时间长,通讯效率低的问题。本实用新型的I2C控制器的输出端分别连接状态寄存器、模式寄存器、地址寄存器和数据发送寄存器,数据发送寄存器通过发送移位寄存器连接I2C总线,数据接收寄存器的输入端通过接收移位寄存器连接I2C总线,数据接收寄存器的输出端连接I2C控制器,计数器与I2C控制器建立双向数据传输连接,I2C控制器与I2C总线建立双向数据传输连接。本实用新型在保证大量传输数据的同时可以正常执行其他控制、通讯功能,提高了通讯效率和通讯质量。
- 一种sup总线传输装置
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