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- [发明专利]一种半导体器件测试探针台-CN202211127242.8在审
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程格;符庭傲
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程格
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2022-09-16
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2022-12-13
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G01R1/073
- 本发明公开了一种半导体器件测试探针台,属于半导体器件测试设备技术领域。一种半导体器件测试探针台,包括检测台主体,防护罩壳,所述防护罩壳固定设置于检测台主体的内部顶端,所述防护罩壳的内部设置有夹持机构,所述检测台主体的顶端固定设置有防护外框,所述夹持机构包括螺杆,升降台、联动杆和夹持推板,所述联动杆设置有四个,通过夹持机构的设置,将半导体晶圆放在晶圆放置板的顶端后,通过夹持机构可以将半导体晶圆夹紧,防止半导体晶圆在测试时间会移动,达到更好的测试效果,也可以对不同大小的半导体晶圆进行夹持固定,从而达到对不同大小的半导体晶圆进行测试。
- 一种半导体器件测试探针
- [实用新型]一种半导体元器件的测试治具-CN202122887170.4有效
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汤虎
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苏州万达电子科技有限公司
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2021-11-23
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2022-06-28
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G01R31/26
- 本实用新型涉及治具技术领域,具体为一种半导体元器件的测试治具,包括台面、传动带和底板,台面位于传动带上方,底板位于传动带下方,传动带内侧穿插设置有一对呈左右分布的传动轮,两个传动轮圆心处穿插设置有传动轴,电磁铁通电使得弹簧推动夹持件夹持住待测试的半导体元器件,电机实现了传动带带动传送盒进行传动,传送盒使待测试的半导体元器件进行传送,伸缩杆使得长条片顺着支撑件前面进行上下移动,解决了目前的半导体元器件测试治具不便于将半导体元器件进行摆放在治具上而导致对半导体元器件夹持稳固过于不便、在测试的过程中导致半导体元器件发生移位、不便于对金属棒进行调整、从而导致测试过于不便的问题。
- 一种半导体元器件测试
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