|
钻瓜专利网为您找到相关结果 13378182个,建议您 升级VIP下载更多相关专利
- [发明专利]半导体隔离结构及其形成方法-CN202011228956.9在审
-
田中义典;张维哲
-
华邦电子股份有限公司
-
2020-11-06
-
2021-10-01
-
H01L21/762
- 本发明实施例提供一种半导体隔离结构,包括:衬底,具有第一沟槽及第二沟槽分别在衬底的第一区及第二区;填充层,位于第一沟槽以及第二沟槽中;衬层,在第一沟槽及第二沟槽的侧壁与底面;固定负电荷层,位于第一沟槽及第二沟槽中的填充层与衬层之间;以及固定正电荷层,位于第一沟槽中的固定负电荷层与衬层之间。在第一沟槽之中的衬层、固定正电荷层、固定负电荷层及填充层形成第一隔离结构。在第二沟槽之中的衬层、固定负电荷层及填充层形成第二隔离结构。本发明实施例的半导体隔离结构及其形成方法,可以减少PMOS装置的漏电流,并且可以避免正电荷引发NMOS装置的驼峰效应。
- 半导体隔离结构及其形成方法
|