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[发明专利]精密线光源照明装置-CN200810300116.1无效
发明人：姚立新;孙明睿;张武学;王永忠;费玖海;杨志 -专利权人：中国电子科技集团公司第四十五研究所
申请日： 2008-01-16 - 公布日： 2008-07-16 - 主分类号： F21V8/00 文献下载
摘要：一种精密线光源照明装置，由光纤线光源和对应光线的透镜组成照明光路，光纤线光源支撑在支座上，透镜镶在镜框内，镜框支撑在镜架上，其特征是照明光路有同轴光照明光路、上路光照明光路、下路光照明光路共三条，上路光纤线光源、同轴光纤线光源和下路光纤线光源自上而下顺序平行固定在支座上，上路光照明光路和下路光照明光路的尾部为对称于同轴光照明光路的侧光照明，三条照明光路的终点汇聚在同一被照物体上。本发明结构紧凑、成像精密，提高了照明效果和光能利用率，更加真实的获取图像信息。通过光路的转折与压缩，减少了光源部分占用的空间，可应用在对印刷线路板取像照明的自动光学检测设备上。
精密光源照明装置

[发明专利]显微镜以及半导体制造装置-CN202211250424.4在审
发明人：岩城智;清水翼 -专利权人：株式会社东京精密
申请日： 2022-10-12 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G02B21/06 文献下载
摘要：提供能够简单且适当地进行同时进行同轴照明以及斜光照明的情况下的亮度调整的显微镜以及半导体制造装置。在设置于半导体制造装置的显微镜中，具备：同轴照明部，将第1波段的同轴照明光照射于工件；斜光照明部，将与第1波段不同的第2波段的斜光照明光照射于工件；和摄像部，被工件正反射的同轴照明光的正反射光和被工件散射后的斜光照明光的散射光的混合光入射
显微镜以及半导体制造装置

[发明专利]一种适用于氮化物球体表面的光学照明系统-CN202310554214.2在审
发明人：孙峰;张辉;王晟;董廷霞;陈友聚;李泽坤;张宝存;卜令良;肖珊珊 -专利权人：中材高新氮化物陶瓷有限公司;中国建材集团有限公司
申请日： 2023-05-16 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开一种适用于氮化物球体表面的光学照明系统，涉及陶瓷球表面缺陷检测领域，光学照明系系统的光源由同轴光源和球积分光源两种光源配合叠加构成，球积分光源向待测物体发射第一照明光线，同轴光源向待测物体发射第二照明光线，待测物体处被照明后，待测物体将第一照明光线和第二照明光线反射回去，光线依次通过球积分光源的中央开孔以及同轴光源的玻璃镜面，且玻璃镜面、中央开孔以及待测物体的中轴线保持一致，保证光路完整；同轴光源向待测物体发射的第二照明光线补充了球积分光源因中央开孔而缺失的光源，从而提高了待测物体处的照明效果。
一种适用于氮化物球体表面光学照明系统

[发明专利]照明系统、具有照明系统的检验工具及操作照明系统的方法-CN202210561988.3在审
发明人： F·考文贝里斯;J·德格里夫;P·贝古奇;K·戈尔曼 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-10-30 - 公布日： 2022-07-29 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请实施例涉及照明系统、具有照明系统的检验工具及操作照明系统的方法。可配置区域光源布置于照明光束路径的照明光轴中，其中所述可配置区域光源经配置使得可设定不同光束直径。至少一个照明透镜定位于所述照明光束路径中以将准直光束至少引导到所述对象的表面上的视野上，其中所述照明光束路径的所述照明光轴的入射角的值等于成像光束路径的成像光轴的反射角的值。本发明允许在一种照明系统中组合广角同轴照明及准直同轴照明的功能性。
照明系统具有检验工具操作方法

[发明专利]照明系统、具有照明系统的检验工具及操作照明系统的方法-CN201580055825.6在审
发明人： F·考文贝里斯;J·德格里夫;P·贝古奇;K·戈尔曼 -专利权人：科磊股份有限公司
申请日： 2015-10-30 - 公布日： 2017-05-31 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明揭示一种照明系统、一种检验工具及一种用于检验对象的方法。可配置区域光源布置于照明光束路径的照明光轴中，其中所述可配置区域光源经配置使得可设定不同光束直径。至少一个照明透镜定位于所述照明光束路径中以将准直光束至少引导到所述对象的表面上的视野上，其中所述照明光束路径的所述照明光轴的入射角的值等于成像光束路径的成像光轴的反射角的值。本发明允许在一种照明系统中组合广角同轴照明及准直同轴照明的功能性。
照明系统具有检验工具操作方法

[发明专利]光学感测装置-CN201210068637.5无效
发明人：张蕙珍;侯椗胜;刘志岷;陈志隆;杨进荣 -专利权人：昆盈企业股份有限公司
申请日： 2012-03-14 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01S17/89 文献下载
摘要：发光件用以发射出一照明光。集光件用以接收照明光并使照明光集中收敛射出，射出后，照明光沿一发射路径投射至一物件，物件反射的一成像光进入集光件后再射出。感应件用以经由一取像路径撷取照明光射向物件后反射的成像光。发射路径与取像路径同轴。光学感测装置通过集光件接收并射出照明光而形成一围绕光斑于物件上且发射路径与取像路径同轴，以产生明亮且大范围的光线分布，进而使感应件取得最佳的物件影像。
光学装置

[实用新型]一种转角同轴塔状光源-CN202020866289.6有效
发明人：邓志 -专利权人：天津聚贤三诺科技有限公司
申请日： 2020-05-21 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本实用新型涉及自动光学检测技术领域，公开了一种转角同轴塔状光源，包括同轴照明组件和分层照明组件；该转角同轴塔状光源通过在同轴照明组件下方设置分层照明组件可以向被检物发射若干组不同空间照射角度的照明光线，使不同坡度被检物表面体现不同颜色，使图像体现表面坡度信息，通过在顶部设置同轴照明组件可以向被检物发射同轴弱垂直照明光线和强补光照明光线，使镜面反射物体和高亮度物体的成像更加清晰，两部分发光组件相互配合，
一种转角同轴光源

[发明专利]一种可调节的手术显微镜用照明系统-CN201510560613.5在审
发明人：穆郁;徐大维;索继元;张瑞旺;李景;孟军合 -专利权人：航天海鹰光电信息技术(天津)有限公司;中国航天科工集团第三研究院第八三五八研究所
申请日： 2015-09-07 - 公布日： 2016-01-27 - 主分类号： A61B90/30 文献下载
摘要：本发明属于一种可调节的手术显微镜用照明系统。该照明系统由光源、聚光镜组件、动组反射组件和定组反射组件组成，定组反射组件反射后的照明光线光轴与大物镜光轴夹角为6°，动组反射组件安装在可移动的机械机构上，且可沿反射前照明光线光轴移动。本发明的优点是：通过移动动组反射组件可使反射后的照明光线与大物镜的夹角在-6°～6°间变化，由此即可实现同轴照明，又可同时实现0°照明与同轴照明。
一种调节手术显微镜照明系统

[发明专利]用于激光加工的加工头和方法-CN202180043965.7在审
发明人：托马斯·平德;安德烈亚斯·吕迪 -专利权人：百超激光有限公司
申请日： 2021-06-23 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：本发明涉及用于激光加工工件的加工头(100)，该加工头(100)具有针对用于发射加工激光束的加工激光源的第一接口(102)；针对用于发射线性偏振照明光束的照明光源的第二接口(104)；用于加工激光束和照明光束的出口开口(112)；用于检测从工件反射的照明光束的检测器装置的第三接口(106)；以及引导光学器件(116，117)，所述引导光学器件(116，117)用于至少部分同轴地引导发射的照明光束通过出口开口和至少部分同轴地引导从工件反射的照明光束通过出口开口至第三接口引导光学元件具有：偏振分束器(116)，该偏振分束器(116)用于将至少一部分的发射的线性偏振照明光束引导至出口开口的方向上；以及设置在偏振分束器与出口开口之间的延缓板(117)。
用于激光加工工头方法

[实用新型]一种组合光源装置-CN202122630275.1有效
发明人：周杰 -专利权人：广东奥普特科技股份有限公司
申请日： 2021-10-29 - 公布日： 2022-03-15 - 主分类号： F21K9/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种组合光源装置，包括：同轴光源，同轴光源包括第一外壳、分别固定在第一外壳内的分光镜和第一光源，第一光源固定在分光镜的一侧，第一外壳的底部开设有出光口、顶部开设有成像口；环形光源，环形光源包括第二外壳和第二光源本实用新型可以利用同轴光源发出的光作为机器视觉的主要照明光，将环形光源发出的光作为补充照明光，主要照明光和补偿照明光可以共同照射在目标工件上以提供视觉照明，补充光源为环形光源，补光均匀，使得该组合光源装置能够适用于更多的应用场合
一种组合光源装置

[实用新型]一种LED焊线设备用远心测量镜头-CN201120350671.2有效
发明人：姜鹤鸣;李孟健;高云峰 -专利权人：深圳市大族激光科技股份有限公司;深圳市大族光电设备有限公司
申请日： 2011-09-19 - 公布日： 2012-05-30 - 主分类号： G02B13/22 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种LED焊线设备用远心测量镜头，镜头光路系统包括远心成像光路，同轴临界照明光路及侧光辅助照明光路等。其中成像部分光路设计为可调，以弥补镜头镜片加工误差或者镜头在机器中的装配误差引起的像面偏离；同轴照明为嵌入式临界照明，照明中的镜片既用于照明光路，也用于成像光路。侧光选用多角度及红蓝两种颜色的LED来照明。这样可以通过灯光的选择调试来满足各种不同表面属性的LED芯片测试需求。
一种 led 焊线设备用测量镜头

[实用新型]高均匀照明光源装置-CN201220057801.8有效
发明人：王俊;包凯凯;陈硕燕 -专利权人：杭州志达光电有限公司
申请日： 2012-02-22 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： F21S2/00 文献下载
摘要：高均匀照明光源装置，属于照明镜头技术领域。其特征在于包括箱体，所述的箱体中同轴设置LED光源、菲涅尔透镜和光纤。上述的高均匀照明光源装置，结构简单，涉及合理，通过在箱体内同轴设置LED光源、菲涅尔透镜和光纤，使得LED光源在每个发射角发射的光源，通过菲涅尔透镜折射至光纤上，并通过光纤传递，得到强度均匀的照明光源。
均匀照明光源装置

[实用新型]一种激光返修光学系统-CN202221675304.4有效
发明人：肖向荣 -专利权人：武汉松盛光电科技有限公司
申请日： 2022-06-29 - 公布日： 2022-11-04 - 主分类号： B23K26/046 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种激光返修光学系统，包括通过光路依次连接的激光源、变焦准直模组、第一半反半透镜和聚焦模组，所述变焦准直模组和聚焦模组均设置在第一半反半透镜的反射面；所述第一半反半透镜的透射面设有成像单元，成像单元与聚焦模组同轴设置；还包括同轴照明模块与第二半反半透镜，所述变焦准直模组输出的激光经第二半反半透镜的反射面到达第一半反半透镜，所述同轴照明模块设置在第二半反半透镜的透射面，同轴照明模块的输出的照明光经第二半反半透镜到达第一半反半透镜的反射面，且第一半反半透镜输出的激光与照明光同轴设置。本实用新型通过与激光同轴的照明光均匀地对焊接点进行照明，提升了对焊接点图像监测的准确性。
一种激光返修光学系统

[实用新型]近波长同轴定位激光打标系统-CN201020216536.4有效
发明人：汪玉树;高云峰 -专利权人：深圳市大族激光科技股份有限公司
申请日： 2010-06-04 - 公布日： 2011-01-26 - 主分类号： B41J2/435 文献下载
摘要：本实用新型提供一种近波长同轴定位激光打标系统，所述激光打标系统包括发射激光的激光器、扩束镜、CCD图像传感器、镜片、扫描振镜和发射照明光邻近所述激光波长的照明光源；所述激光器、所述扩束镜、所述镜片和所述扫描振镜沿激光光路依次设置；所述扫描振镜接收的照明光经过所述镜片反射后至所述CCD图像传感器。本实用新型的有益效果是：采用邻近波长的激光器和照明光源，以降低CCD图像传感器识别出的加工平面位置与实际激光作用位置的差异，提高了CCD同轴定位精度。
波长同轴定位激光系统

[实用新型]一种半导体晶圆正反定位的激光划片装置-CN201620969879.5有效
发明人：王建刚;刘勇;雷桂明;林峰 -专利权人：武汉华工激光工程有限责任公司
申请日： 2016-08-29 - 公布日： 2017-03-08 - 主分类号： B23K26/03 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种半导体晶圆正反定位的激光划片装置，通过透明载物台的设置，使得图像定位时，不仅可以从上方照明并获取图像，还可以同时从下方照明并获取图像，使得图像定位更精准；上方照明光源和下方照明光源均分别设置了垂直照明光源和侧方照明光源两种照明方式，垂直照明方式为点光源或同轴照明光源，侧方照明光源为环形光源，其中空部位可以使垂直光源激光光束和待加工晶圆片表面反射的光线穿过；下方成像镜头采用远心镜头，一方面采集图像信号，另一方面将下方垂直光源发送过来的光线垂直发射到待加工晶圆片下表面
一种半导体正反定位激光划片装置

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