专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]基于移动波导反射的MEMS光开关及N×N阵列-CN202211240829.X在审
  • 戴道锌;胡寅鹏;李欢 - 浙江大学
  • 2022-10-11 - 2023-06-23 - G02B6/35
  • 本发明公开了一种基于移动波导反射的MEMS光开关及阵列。包括基底以及置于基底上的光学结构和机械结构;其中光学结构包括固定波导反射移动波导反射,固定波导反射固定于基底布置,移动波导反射悬空于基底布置;固定波导反射移动波导反射之间通过一对半折叠弹簧连接,固定波导反射移动波导反射上均设置有亚波长反射面。本发明实现了光路切换的效果,具有带宽范围大、插入损耗低、串扰低、消光比高、制作工艺简单、加工成本低、功耗低、扩展性强等显著优势。
  • 基于移动波导反射mems开关阵列
  • [发明专利]反射自清洁装置及太阳能光热发电系统-CN201710607675.6有效
  • 兰宝胜 - 龙岩智康太阳能科技有限公司
  • 2017-07-24 - 2023-10-10 - B08B1/02
  • 本发明属于反射清洁技术领域,尤其涉及一种反射自清洁装置及太阳能光热发电系统,其反射自清洁装置用于清洁摆动的反射,包括两组移动组件和清洁组件,清洁组件的两侧分别与两移动组件连接,两移动组件均包括固定板和转动地设于固定板上的滚轮组,两固定板分别位于反射的相对两侧,且两滚轮组均与反射表面接触;当反射摆动时,两滚轮组分别沿反射的表面来回滚动,且两固定板带动清洁组件贴附于反射的上表面以对反射的上表面进行清洁。转动架转动以追踪太阳,两移动组件则利用反射两端的高度变化,使两移动组件分别沿反射两侧边缘在两端之间来回移动,进而带动清洁组件清洁在反射,无需耗电驱动清洗,发电效率高。
  • 反射清洁装置太阳能光热发电系统
  • [实用新型]反射自清洁装置及太阳能光热发电系统-CN201720906149.5有效
  • 兰宝胜 - 深圳市智康新能科技有限公司
  • 2017-07-24 - 2018-04-20 - B08B1/02
  • 本实用新型属于反射清洁技术领域,尤其涉及一种反射自清洁装置及太阳能光热发电系统,其反射自清洁装置用于清洁摆动的反射,包括两组移动组件和清洁组件,清洁组件的两侧分别与两移动组件连接,两移动组件均包括固定板和转动地设于固定板上的滚轮组,两固定板分别位于反射的相对两侧,且两滚轮组均与反射表面接触;当反射摆动时,两滚轮组分别沿反射的表面来回滚动,且两固定板带动清洁组件贴附于反射的上表面以对反射的上表面进行清洁。转动架转动以追踪太阳,两移动组件则利用反射两端的高度变化,使两移动组件分别沿反射两侧边缘在两端之间来回移动,进而带动清洁组件清洁在反射,无需耗电驱动清洗,发电效率高。
  • 反射清洁装置太阳能光热发电系统
  • [发明专利]微波段高分辨迈克尔逊干涉测量系统-CN201510955887.4在审
  • 石中兵;丁玄同 - 核工业西南物理研究院
  • 2015-12-18 - 2017-06-27 - G01R23/16
  • 本发明属于微波频谱测量技术领域,具体公开一种微波段高分辨迈克尔逊干涉测量系统,包括微波分束光栅、固定反射反射反射运动系统、微波探测系统和第二固定反射反射为由多个反射连接而成的组合体,反射的左侧设有第二固定反射,第二固定反射反射配合将入射光路经过多次反射后沿原光路返回回去。本发明通过设置反射和第二固定反射的组合,使反射移动相同距离的条件下,增加了微波由反射系统引起的程差,提高迈克尔逊干涉系统的空间分辨率。
  • 微波分辨迈克干涉测量系统
  • [实用新型]微波段高分辨迈克尔逊干涉测量系统-CN201521065945.8有效
  • 石中兵;丁玄同 - 核工业西南物理研究院
  • 2015-12-18 - 2016-06-29 - G01R23/16
  • 本实用新型属于微波频谱测量技术领域,具体公开一种微波段高分辨迈克尔逊干涉测量系统,包括微波分束光栅、固定反射反射反射运动系统、微波探测系统和第二固定反射反射为由多个反射连接而成的组合体,反射的左侧设有第二固定反射,第二固定反射反射配合将入射光路经过多次反射后沿原光路返回回去。本实用新型通过设置反射和第二固定反射的组合,使反射移动相同距离的条件下,增加了微波由反射系统引起的程差,提高迈克尔逊干涉系统的空间分辨率。
  • 微波分辨迈克干涉测量系统
  • [发明专利]傅里叶变换光谱仪和傅里叶变换光谱方法-CN202180047113.5在审
  • N·温苏里;T·埃希特迈尔 - 曼彻斯特大学
  • 2021-06-29 - 2023-04-07 - G01J3/26
  • 一种傅里叶变换光谱仪100,包括干涉仪10,所述干涉仪包括固定反射11、移动反射12和检测器101,其中:所述反射11、12彼此平行定位并且形成光腔;所述移动反射12能够操作以相对于所述固定反射11移动以改变所述光腔的大小;所述反射中的第一反射被定位成使得所接收的来自样品的光14穿过所述第一反射的背面进入所述光腔;所述检测器101被定位并且能够操作以检测已经穿过所述反射中的第二反射的背面离开所述光腔的光并且输出干涉图;并且所述反射11、12彼此相距一定距离,使得所述移动反射处于或能够移动到其中在所述干涉仪内反射的所接收的光14去往所述检测器101的至少两条路径16、31具有相等长度的位置。
  • 傅里叶变换光谱仪光谱方法
  • [发明专利]一种移动补偿式角反射激光干涉仪的使用方法-CN201510143547.1有效
  • 张白;康学亮;毛建东 - 北方民族大学
  • 2015-03-30 - 2018-03-13 - G01B9/02
  • 本发明公开了一种移动补偿式角反射激光干涉仪的使用方法,其中激光干涉仪包括激光源、分光、微动角反射、测量角反射、光电探测器,还包括移动微动平台,微动角反射与测量角反射包括一个向内凹陷的直角反射面,微动角反射连接在微动平台上;该微动平台优选为压电陶瓷。该改进型角反射激光干涉仪通过设置一个移动微动平台,使微动角反射发生位移,配合测量角反射、激光源、分光、光电探测器,能够获得激光干涉过程中难以测量的干涉波的小数部分,可以进一步提高该激光干涉仪的测量精度
  • 一种移动补偿反射激光干涉仪使用方法
  • [发明专利]用于干涉仪的反射轴承-CN201880046167.8有效
  • J·M·科芬 - 热电科学仪器有限公司
  • 2018-07-13 - 2022-07-26 - G01J3/02
  • 本公开内容的方面针对用于干涉仪的反射轴承。示例反射轴承包括固定不动的安装构件和移动反射组件,移动反射组件被构造成能沿其纵向轴线相对于安装构件滑动地移动移动反射组件包括管,该管被构造成在管的一个端部处接收安装构件的端部。移动反射组件还包括耦接到管的相反端部的反射。驱动磁体设置在管内,并被构造成在反射轴承处于组装构造时被接收在安装构件的镗孔内。
  • 用于干涉仪反射轴承
  • [发明专利]大口径连续可调空心角锥反射装置和调整方法-CN202011483710.6有效
  • 王利娟;孙建锋;侯培培;鲁伟;栾竹 - 中国科学院上海光学精密机械研究所
  • 2020-12-16 - 2023-07-21 - G02B7/182
  • 一种大口径连续可调空心角锥反射装置和调整方法,装置包括空心角锥反射及其调整装置,所述的空心角锥反射是由一块平面反射和一块直角反射组成,所述的调整装置包括用于调整平面反射的角度调节装置,用于固定平面反射的固定装置和直角反射的固定装置,以及用来移动所述的平面反射或是直角反射移动装置,所述的平面反射通过平面反射角度调节装置和固定装置置于所述的移动装置的一端,所述的直角反射是由两块平面反射胶合而成,通过直角反射的固定装置置于所述的移动装置的另一端本发明易于制作加工,连续改变空心角锥反射的光学口径,从而满足对不同口径光学元器件或光学设备的测量需求。
  • 口径连续可调空心反射装置调整方法
  • [发明专利]反射倾斜致动-CN201480051999.0有效
  • N·Y·陈;R·J·拓普利斯;S·韦伯斯特 - 苹果公司
  • 2014-08-07 - 2019-09-10 - G03B17/17
  • 一些实施例包括图像传感器和变焦镜头组件,该变焦镜头组件包括被布置成独立于彼此移动的多个移动镜头元件。在一些实施例中,多个移动镜头元件共享光轴。一些实施例包括用于将光接纳到微型相机的镜头和反射组件。镜头和反射组件包括折叠光学器件布置,使得光通过第一镜头进入镜头和反射组件,其中第一镜头的光轴与多个移动镜头元件正交。镜头和反射组件包括用于使光路从第一镜头的光轴折叠到多个移动镜头元件的光轴的反射,并且镜头和反射组件还包括用于使反射倾斜的致动器。
  • 反射倾斜
  • [发明专利]分光特性测量装置以及分光特性测量方法-CN201380011702.3有效
  • 石丸伊知郎 - 国立大学法人香川大学
  • 2013-02-27 - 2014-11-12 - G01J3/453
  • 本发明使从测量对象发出的测量光入射到固定反射部和反射部,形成被上述固定反射反射的测量光与被上述反射反射的测量光的干渉光。此时,通过使上述反射部进行移动来获得测量光的干渉光强度变化,基于该变化求出测量光的干涉图。另外,同时使作为测量光的波长频带的一部分的窄频带的波长的参考光入射到上述固定反射部和上述反射部,形成被该固定反射反射的参考光与被该反射反射的参考光的干涉光。此时,使上述反射部进行移动,由此基于参考光的干渉光强度变化的振幅以及上述测量光中的同上述参考光相同波长的测量光与上述参考光的相位差来校正上述测量光的干涉图,基于校正后的干涉图来求出上述测量光的光谱
  • 分光特性测量装置以及测量方法

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