专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]反射型数据掩膜全息ROM系统-CN200510005560.7无效
  • 文轸培 - 株式会社大宇电子
  • 2005-01-19 - 2005-12-14 - G11B7/0065
  • 一种全息只读存储器(ROM)控制系统,包括:一个锥形镜,用来折射参考,从而产生以第一角度入射到存储介质上的锥形参考;和反射型数据掩膜,其上载有要记录到存储介质上的数据的数据图样,用来调制和反射部分透过存储介质的锥形参考,从而产生以第二角度入射到存储介质上的调制后的锥形参考。调制后的锥形参考与入射参考光在存储介质上发生干涉,并由此基于干涉效应的将干涉图样记录在存储介质上。所述第一角度和所述第二角度相对于存储介质的垂直方向互为余角关系。
  • 反射数据全息rom系统
  • [发明专利]测距系统及方法-CN202110563965.1有效
  • 吴冠豪;米庆改;周思宇;熊士林 - 清华大学
  • 2021-05-24 - 2023-08-25 - G01S17/10
  • 本公开涉及一种测距系统及方法,系统包括:发射模块,用于以稳定的重复频率发射脉冲;分光模块,用于将脉冲分为参考脉冲以及测量脉冲;第一探测模块,用于将参考脉冲转换为参考电脉冲;第二探测模块,用于将测量脉冲射向被测目标后反射的脉冲转换为测量电脉冲;采集处理模块,用于按照采样频率对参考电脉冲以及测量电脉冲进行采样,并根据采样得到的测量信号以及参考信号,确定到被测目标的目标距离,其中,采样频率与重复频率具有频率差。
  • 测距系统方法
  • [实用新型]朱墨时序断层成像检验仪-CN201620238711.7有效
  • 张宁;秦达;黄威;黎智辉;许小京 - 公安部物证鉴定中心
  • 2016-03-25 - 2016-09-14 - G01N21/359
  • 本实用新型涉及一种朱墨时序断层成像检验仪,其特征在于,该成像检验仪包括一近红外光源、一分器件、一参考臂光学器件、一样品臂光学器件、一探测器和一数据采集处理装置;所述近红外光源发出的近红外光通过所述分光器件分为参考光和样品,所述参考发送到所述参考臂光学器件,所述样品经所述样品臂光学器件聚焦朱墨样品,经所述朱墨样品散射或反射的沿原路返回与经所述参考臂光学器件出射的发生干涉,干涉经所述探测器发送到所述数据采集处理装置
  • 朱墨时序断层成像检验
  • [实用新型]一种荧光光谱检测系统-CN202021265583.8有效
  • 程朋飞;潘金燕;王嘉伟 - 华北理工大学
  • 2020-07-02 - 2021-01-29 - G01N21/64
  • 本实用新型实施例提供一种荧光光谱检测系统,包括计算机、光源模块、参考模块、微通道样品池和探测模块;计算机和光源模块连接,用于控制光源模块发出激发光信号;光源模块和参考模块连接,用于将激发光信号通过参考模块发送至计算机作为参考信号;光源模块和微通道样品池连接,用于通过激发光信号对微通道样品池内的污染物进行荧光激发;探测模块和微通道样品池连接,用于探测获取荧光信号,并将荧光信号发送至计算机;计算机用于对参考信号和荧光信号进行处理
  • 一种荧光光谱检测系统
  • [发明专利]光学相干断层成像系统-CN201810264524.X有效
  • 杨旻蔚;丁庆;沈耀春 - 深圳市太赫兹科技创新研究院;深圳市太赫兹科技创新研究院有限公司
  • 2018-03-28 - 2021-08-10 - A61B5/00
  • 该系统包括光源、光纤耦合器、参考臂、样品臂、信号采集模块及信号处理模块。光源提供初始;光纤耦合器将初始分为参考光和样品参考臂将参考的反射传回至光纤耦合器;样品臂利用样品检测待测样品,样品光在待测样品产生后向散射传回至光纤耦合器;后向散射与反射光在光纤耦合器内发生干涉形成干涉;干涉被光纤耦合器分为多路干涉光谱;信号采集模块分别采集各干涉光谱;信号处理模块根据各路干涉光谱的谱线信号生成所述待测样品的检测图像。上述系统,可以消除虚像干扰和信号噪声干扰,从而使得上述系统的成像效果较好。
  • 光学相干断层成像系统
  • [发明专利]分布式光纤测温装置及分布式光纤测温方法-CN202211398477.0在审
  • 董仁才;练岸鑫;吕晨璨;孙晓萌;付晓;于天舒 - 中国科学院生态环境研究中心
  • 2022-11-09 - 2023-02-03 - G01K11/324
  • 本发明公开了一种分布式光纤测温方法,包括:在脉冲的入射点与最远待测位置之间布设探测光纤,选择位于入射点与最远待测位置之间的不同环境介质的下垫面和垂直于下垫面的位点作为实际待测位置;在探测光纤上选择位于入射点与最远待测位置之间的任一位点作为参考位置,利用设置在参考位置上的温度探测器探测参考位置的温度;确定实际待测位置与入射点的相对距离;探测参考位置的反斯托克斯与斯托克斯的光强之比,探测实际待测位置的反斯托克斯与斯托克斯的光强之比;根据参考位置的温度、参考位置的反斯托克斯与斯托克斯的光强之比、实际待测位置的反斯托克斯与斯托克斯的光强之比、上述的相对距离,探测实际待测位置的温度。
  • 分布式光纤测温装置方法
  • [发明专利]FLRD传感器系统和基于相位漂移的FLRD传感装置-CN202210574699.7在审
  • 夏历;郑冬巧 - 华中科技大学
  • 2022-05-24 - 2022-07-22 - G01D5/353
  • 本发明公开了一种FLRD传感器系统和基于相位漂移的FLRD传感装置,属于光纤传感技术领域,系统包括:信号产生装置,用于产生信号光和参考;FLRD传感器,设置于信号的传播路上,用于对待检测量进行传感,使信号中携带待检测量的信息;信号探测模块,设置于FLRD传感器的输出路上,用于探测携带待检测量的信息信号并转换为第一电信号;参考探测模块,设置于参考的传播路上,用于探测参考并转换为第二电信号imgContent="drawing" imgFormat="JPEG" orientation="portrait" inline="yes" />计算时间衰减常数τ,以完成测量;优选地,信号光和参考经同一调制器引出
  • flrd传感器系统基于相位漂移传感装置
  • [发明专利]感测装置的输出信号校正方法及感测装置-CN201010542360.6有效
  • 陈盟坤;林俊贤;李易聪 - 敦南科技股份有限公司
  • 2010-11-10 - 2012-05-23 - G01J3/42
  • 本发明是有关于一种感测装置的输出信号校正方法,实现于一个感测装置,该感测装置包括至少一个感测器、至少一个参考感测器,及一个处理单元,该感测器对应已知的一种理想光谱响应,该方法利用该处理单元配合该感测器及该参考感测器来执行;其特征在于该方法包含下列步骤:(A)接收该感测器的一个输出信号;(B)接收该参考感测器的一个参考输出信号;(C)根据该输出信号及该参考输出信号,以校正该感测器的该输出信号,并得到对应该感测器的一个已校正输出信号一种可校正输出信号的感测装置也在此被揭露。
  • 光感测装置输出信号校正方法
  • [发明专利]一种基于马赫-泽德干涉的旋转体角速度光学测量系统-CN201911194987.4有效
  • 董毅;张艳玲;田娅 - 山东建筑大学
  • 2019-11-28 - 2020-09-04 - G01P3/36
  • 本发明的基于马赫‑泽德干涉的旋转体角速度光学测量系统,包括激光光源、第一偏和第二偏振分束镜、分光棱镜、螺旋相位片、四分之一波片和光电探测器,信号经螺旋相位片转化为涡旋,涡旋经四分之一波片后垂直照射于待测旋转体上,反射后相对于初始涡旋发生90°旋转;第二偏振分束镜透射的参考与其反射的信号汇成一路光束,照射于偏振片上,信号光和参考经偏振片后偏振方向同向,照射于分光棱镜上。本发明的旋转体角速度光学测量系统,可调节经信号参考的光强比,以使发生干涉时的参考与信号的光强比相等,发生干涉时信号参考的光强相等,使得光电探测器获得最大的差频信号,保证了旋转体转动角速度的测量精度
  • 一种基于马赫干涉旋转体角速度光学测量系统
  • [发明专利]测距装置及其控制方法-CN200910003121.0有效
  • 孙国瑞;吴任弘 - 亚洲光学股份有限公司
  • 2009-01-05 - 2010-07-07 - G01S17/08
  • 本发明提供一种测距装置及其控制方法,该测距装置包括发射组件,用以发出测量接收系统,用以接收由该目标物反射该测量的反射,并且对应输出感测信号、比较器,包括参考信号输入端,用以接收参考信号、信号输入端,用以接收该感测信号,以及比较结果输出端,依据该参考信号与该感测信号的比较结果,输出比较结果信号、以及处理控制模块,用以提供该参考信号以及对应该比较结果信号调整该参考信号。
  • 测距装置及其控制方法

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