专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]单光子路由操控装置-CN02111395.5无效
  • 丁良恩;冯明明;曾和平 - 华东师范大学
  • 2002-04-17 - 2004-06-30 - H04B10/30
  • 一种单光子路由操控装置,属量子保密通讯技术领域,由Mach-Zehnder干涉仪和光相位调制器组成,Mach-Zehnder干涉仪由第一(1)、第二(3)和第一全反(2)、第二全反(4)构成,第一(1)、第二(3)的比为50%,第一全反(2)、第二全反(4)是对单光子波长全反的全反。光相位调制器是由第一全反(2)通过压电微位移器(5)的微位移操控来实施的,第一全反(2)固定在压电微位移器(5)上,输入端(6)是压电微位移器(5)的控制电压输入端,光相位调制器也可以是电光相位调制器(9),电光相位调制器(9)放置在第一(1)与第一全反(2)之间,输入端(10)为电光相位调制器(9)的控制电压输入端,第一端口(7)、第二端口(8)是单光子出射端,具有结构简单,控制方便,便于实现模块化等优点
  • 光子路由操控装置
  • [发明专利]一种双聚焦点激光加工头-CN201510198407.4有效
  • 曹宇;李春林;魏鑫磊;何安;张健;朱德华;冯爱新 - 温州大学
  • 2015-04-17 - 2016-10-19 - B23K26/067
  • 本发明提供了一种双聚焦点激光加工头,包括光路腔体、腔体连接盒、伺服电机和外接法兰;光路腔体通过联轴器与伺服电机的输出轴相连;光路腔体的内部设置有、第一反射、第二反射、第三反射、聚焦和两个伸缩套筒;和第一反射分别通过一调整座固定安装在光路腔体的侧壁上,第二反射和第三反射分别通过一调整座安装在两个伸缩套筒的伸缩端上,伸缩套筒的固定端安装在光路腔体的侧壁上。该双聚焦点激光加工头通过对入射激光束进行空间,实现前后两个聚焦点,改变双光束聚焦点之间相对空间位置,提高激光能量利用效率,可有效抑制激光焊接等离子屏蔽作用,提高加工深度,改善激光加工质量。
  • 一种分束双聚焦激光工头
  • [发明专利]光学平台隔振性能声光调制检测装置与检测方法-CN201210082480.1无效
  • 苗润才;张宗权;杨宗立;谢甜 - 西安航空技术高等专科学校
  • 2012-03-27 - 2012-08-01 - G01M11/00
  • 一种光学平台隔振性能声光调制检测装置,在光学平台的中心位置放置台面水槽,地面上光学平台的前侧放置地面水槽,光学平台左侧地面上设安装架、右侧地面上设显示屏,安装架上设激光器和激光出射方向的的透射光方向设有反射,激光器上设与计算机相连的CCD摄像头,的反射光方向上设左地面反射反射的反射光方向光学平台上设左台面反射,地面水槽的左侧壁上端和台面水槽的左侧上端设光阑,地面水槽内水面反射光方向地面上设右地面反射,台面水槽内水面反射光方向光学平台上设右台面反射,显示屏位于右地面反射和右台面反射的反射光方向。
  • 光学平台性能声光调制检测装置方法
  • [发明专利]双面反射动干涉仪-CN200810018352.4无效
  • 杨庆华 - 杨庆华
  • 2008-06-02 - 2008-12-10 - G02B17/08
  • 一种双面反射动干涉仪包含一个器、两个固定的平面反射、和一个双面反射动;双面反射动为一个两表面均镀反射膜的平面平行玻璃板;双面反射动器半反射面相互平行;第一平面和第二平面关于器半反射面对称;双面反射动沿器半反射面的法线方向做直线往复运动;光程差为双面反射动位移(相对于其零光程差位置)的4倍。
  • 双面反射干涉仪
  • [实用新型]一种用于太赫兹无损检测的可视化垂直反射测量装置-CN202122275085.2有效
  • 张振伟;潘晓鹏;张存林 - 首都师范大学
  • 2021-09-18 - 2022-04-19 - G01N21/3581
  • 本实用新型涉及太赫兹检测技术领域,具体是一种用于太赫兹无损检测的可视化垂直反射测量装置,包括壳体、可见光源组件、太赫兹发射组件、太赫兹接收组件、反射、第一器和第二器;壳体内设有腔体,腔体的侧壁面上设有第一太赫兹透镜可见光源组件固定安装在壳体上;太赫兹发射组件固定安装在太赫兹接收组件和可见光源组件之间,太赫兹发射组件用于往第一器发射太赫兹波束;反射和第二器分别安装在腔体两侧,第一器位于反射和第二器之间,第一器用于将太赫兹波束反射到第二器,反射用于将可见光反射到第二器并使得可见光与太赫兹波束重合,第二器用于将可见光和太赫兹波束反射到第一太赫兹透镜。
  • 一种用于赫兹无损检测可视化垂直反射测量装置
  • [发明专利]实现多模光纤放大器模式自清洁装置、系统及方法-CN202310422479.7有效
  • 刘洋;杨经义 - 武汉中科锐择光电科技有限公司
  • 2023-04-19 - 2023-07-25 - H01S3/067
  • 本发明公开了一种实现多模光纤放大器模式自清洁装置、系统及方法,其装置包括激光模块、渐变折射率增益光纤放大器、激光、激光模式分析装置及反馈模块;激光模块将种子光为信号光及辅助光;渐变折射率增益光纤放大器对信号光及辅助光进行放大;激光将放大后的信号光及辅助光进行;激光模式分析装置输出多种模式信息;反馈模块根据多种所述模式信息生成功率反馈信息、并输出至所述激光模块;激光模块根据功率反馈信息对信号光的功率及辅助光的功率进行功率比例调节,激光输出功率比例调节后的目标激光。
  • 实现光纤放大器模式清洁装置系统方法
  • [发明专利]一种扫描排错设备和扫描排错方法-CN202010073961.0在审
  • 张少林;张万祯;周秋玲 - 深圳市威富视界有限公司
  • 2020-01-22 - 2020-05-15 - G01D5/30
  • 本申请适用于工业生产自动化技术领域,提供了一种扫描排错设备和扫描排错方法,扫描设备包括光梳测距组件和扫描控制组件,光梳测距组件包括:激光发生器、第一、第二、反射和光电探测器,激光发生器产生信号光和本振光,信号光入射第一,本振光入射第二,信号光经过第一后,反射的部分成为参考光,透射的部分成为测量光,反射垂直参考光且设置于参考光的光路上,参考光经反射反射后,与被工件反射的测量光以及本振光合并被光电探测器接收
  • 一种扫描设备方法
  • [实用新型]一种扫描排错设备-CN202020146360.3有效
  • 张少林;张万祯;周秋玲 - 深圳市威富视界有限公司
  • 2020-01-22 - 2020-09-08 - G01D5/30
  • 本申请适用于工业生产自动化技术领域,提供了一种扫描排错设备,扫描设备包括光梳测距组件和扫描控制组件,光梳测距组件包括:激光发生器、第一、第二、反射和光电探测器,激光发生器产生信号光和本振光,信号光入射第一,本振光入射第二,信号光经过第一后,反射的部分成为参考光,透射的部分成为测量光,反射垂直参考光且设置于参考光的光路上,参考光经反射反射后,与被工件反射的测量光以及本振光合并被光电探测器接收
  • 一种扫描设备

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