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[发明专利]分光测试装置及分光机-CN202110821300.6在审
发明人：段雄斌;张利利;曹亮;何选民 -专利权人：深圳市标谱半导体科技有限公司
申请日： 2021-07-20 - 公布日： 2021-10-01 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供了一种分光测试装置及分光机。分光测试装置包括：多个探针组，各探针组包括两个探针组件；多个滑块组，各滑块组包括第一滑块和第二滑块；驱动机构，用于驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动；以及，支撑板。本申请的分光测试装置，设置驱动机构驱动各第一滑块与相应第二滑块反向移动，进而带动各探针组中两个探针组件相互靠近与远离；当各探针组的两个探针组件远离时，可以将LED芯片置于该探针组中，两个探针组件靠近时，以接触点亮LED芯片，以便对LED芯片进行测试；而通过设置多个探针组，从而可以实现同时对多个LED芯片进行测试，从而可以在无需增加分光机的前提下，提升测试效率，成本低。
分光测试装置

[发明专利]分光分析装置以及分光分析方法-CN202080078426.2在审
发明人：村山广大;猿谷敏之;渡边芙美枝;原理纱 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2020-10-20 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：在本公开所涉及的分光分析装置(1)中，控制部(40)基于分光光谱中的、仅产生表面等离激元的共振光谱的第一波段中的第一分光光谱的信息来获取样品(S)的折射率信息，基于获取到的折射率信息，在分光光谱中的、产生共振光谱以及样品(S)的吸收光谱的第二波段中的第二分光光谱中，决定共振光谱的峰值波长与吸收光谱的峰值波长相互一致的、由照射部(10)照射的照射光(L1)相对于膜(M)的入射角度，并从基于所决定的入射角度得到的第二分光光谱的信息来分析样品
分光分析装置以及方法

[发明专利]分光测量装置和分光测量系统-CN201780070028.4有效
发明人：河野诚 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2021-07-02 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：分光测量装置对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量，分光测量装置包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和将第1框体与第2框体可相对旋转地连结的臂部件，臂部件的基端侧可旋转地连结于第2框体，在臂部件的前端侧安装有第1框体。
分光测量装置系统

[发明专利]分光测量装置和分光测量系统-CN201780070029.9有效
发明人：河野诚 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：分光测量装置对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量，分光测量装置包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和连结部，其可变更第1框体与第2框体的相对位置地连结第1框体与第2框体。
分光测量装置系统

[发明专利]分光测量装置和分光测量系统-CN201780070041.X有效
发明人：河野诚 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2017-11-13 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：分光测量装置对被测量物照射光并对与该照射相应地从被测量物输出的测量光进行测量，该分光测量装置包括：第1框体，其收纳射出光的光源，形成有由光源射出的光通过的第1开口，具有遮光性；第2框体，其形成有测量光通过的第2开口，收纳接收通过了第2开口的测量光的分光器，具有遮光性；和可装卸地保持第1框体和第2框体的配件。
分光测量装置系统

[发明专利]分光装置和分光用光源-CN201310549829.2无效
发明人：伊贺光博;田名网健雄;角龍信之 -专利权人：横河电机株式会社
申请日： 2013-11-07 - 公布日： 2014-05-21 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本发明提供分光装置和分光用光源。该分光装置包括：光学系统，使输出光透过，该输出光从接收到来自光源的照射光的试样输出；二维阵列光检测器，拍摄透射所述光学系统的光；以及控制器，所述光学系统包括：第一光学器，设置在所述试样和所述二维阵列光检测器之间
分光装置用光

[发明专利]一种多路声光移频模块及可跳频单频光纤激光器-CN202110741224.8在审
发明人：潘伟巍;张磊;付小虎;董金岩;赵儒臣 -专利权人：上海频准激光科技有限公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2021-12-03 - 主分类号： H01S3/067 文献下载
摘要：其中一种多路声光移频模块，包括：分光装置，用以接收一光信号，并根据所述光信号形成至少两路分光信号输出；声光调制装置，包含至少两路声光调制器，输入端连接所述分光装置，用以接收一路所述分光信号，对所述分光信号做处理以形成处理信号；耦合装置，输入端连接所述声光调制装置，用以对所述处理信号做耦合处理。
一种声光模块可跳频单频光纤激光器

[实用新型]一种多路声光移频模块的可跳频单频光纤激光器-CN202121493617.3有效
发明人：潘伟巍;张磊;付小虎;董金岩;赵儒臣 -专利权人：上海频准激光科技有限公司
申请日： 2021-07-01 - 公布日： 2022-05-03 - 主分类号： H01S3/067 文献下载
摘要：其中一种多路声光移频模块，包括：分光装置，用以接收一光信号，并根据所述光信号形成至少两路分光信号输出；声光调制装置，包含至少两路声光调制器，输入端连接所述分光装置，用以接收一路所述分光信号，对所述分光信号做处理以形成处理信号；耦合装置，输入端连接所述声光调制装置，用以对所述处理信号做耦合处理。
一种声光模块可跳频单频光纤激光器

[发明专利]粉末比率测定装置、粉末比率测定系统、粉末比率测定方法、高炉以及高炉操作方法-CN202080022915.6有效
发明人：山平尚史 -专利权人：杰富意钢铁株式会社
申请日： 2020-03-24 - 公布日： 2022-11-18 - 主分类号： C21B7/24 文献下载
摘要：本发明提供能够在高炉等的操作工序中以高精度实时地测定附着于作为原料来使用的物质的表面的粉末的粉末比率的粉末比率测定装置。本发明的粉末比率测定装置是测定附着于物质(26)的表面的粉末的粉末比率的装置(12)，其中，该装置(12)具备：照明装置(18)，其对物质(26)进行照明；分光装置(16)，其对来自物质(26)的反射光进行分光并测定分光反射率；以及运算装置(22)，其至少使用通过分光装置(16)测定出的物质的表面的各位置处的分光反射率中的、粉末附着的区域的分光反射率，来算出与粉末附着的区域的面积对应的值，并基于算出的值来求出粉末比率。
粉末比率测定装置系统方法高炉以及操作方法

[实用新型]一种医疗影像设备校准装置-CN201920275488.7有效
发明人：房勇 -专利权人：房勇
申请日： 2019-03-05 - 公布日： 2019-11-29 - 主分类号： A61B6/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种医疗影像设备校准装置，包括分光管和设置在分光管左端进光口的入光管以及设置在分光管右端用于对光线进行检测的光度检测器，所述入光管内部设有透光板和物镜，所述分光管内部设有折光机构，所述分光管右端设有用于检测光线的光度检测器，所述入光管左端设有透气开口，本实用新型针对现有装置的缺点进行改进，设置了用于更换分光管内部空气的鼓气净化筒，在实际工作时，在抽气风机的作用下，外界空气穿过锥形过滤罩后会被过滤，净化后的空气进入分光管中，随后空气就会沿着入光管排出，这样就避免外界灰尘沿着入光管进入分光管中，保证了折光机构中镜面的洁净，使得校准装置的准确性更高，实用性强。
分光光管本实用新型光度检测器校准装置折光机构管内部左端医疗影像设备抽气风机透气开口外界灰尘外界空气现有装置锥形过滤进光口净化筒透光板检测鼓气排出物镜过滤穿过洁净净化改进保证

[发明专利]分光测定装置及分光测定方法-CN201811207370.7在审
发明人：铃木健吾;井口和也 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2015-11-19 - 公布日： 2019-02-15 - 主分类号： G01J3/36 文献下载
摘要：分光测定装置(1)具备光源(10)、积分器(20)、第1分光检测器(41)、第2分光检测器(42)及解析部(50)。第1分光检测器(41)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第1波段的光进行分光而取得第1光谱数据。第2分光检测器(42)接收自积分器(20)输出的光，对该光中的第2波段的光进行分光而取得第2光谱数据。第1波段与第2波段包含一部分重叠的波段。由此，实现了可分光测定更宽的波段的被测定光的分光测定装置及分光测定方法。
波段分光检测器积分器分光测定装置分光测定测定对象物光谱数据分光输出试样安装部光输出部光输入部测定光光输入光源解析配置

[发明专利]一种低非线性误差与低温漂双频激光干涉装置及方法-CN200910051049.9有效
发明人：肖鹏飞;张志平;张晓文;任胜伟;池峰;陈勇辉 -专利权人：上海微电子装备有限公司
申请日： 2009-05-12 - 公布日： 2009-11-25 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本发明提出一种低非线性误差与低温漂双频激光干涉装置，包括第一偏振分光棱镜；第二偏振分光棱镜，位于所述第一偏振分光棱镜的透射光的光路上；第三偏振分光棱镜，位于所述第一偏振分光棱镜的反射光的光路上；第一四分之一波片，所述第二偏振分光棱镜位于所述第一四分之一波片和所述第一偏振分光棱镜之间；至少一个第一角锥棱镜，并排放置于所述第二偏振分光棱镜的一侧；第二四分之一波片，位于所述第三偏振分光棱镜的一侧，本发明采用多个偏振分光棱镜级联，并且测量光路和参考光路在干涉装置内部等光程，所以不但具有极低的非线性误差，而且温度漂移也比较低。
一种非线性误差低温双频激光干涉装置方法

[实用新型]一种检测装置-CN201821502128.8有效
发明人：吴旭;李卓燕;何聂;刘承香;周鼎;张功申;陈鹏;刘安安;胡力文 -专利权人：深圳大学
申请日： 2018-09-13 - 公布日： 2019-07-12 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种检测装置，所述装置包括：分光器，与所述分光器连接的光源模块、第一光纤环形谐振模块、第二光纤环形谐振模块，与所述第一光纤环形谐振模块连接的第一光电探测器，以及与所述第二光纤环形谐振模块连接的第二光电探测器；所述分光器设置有入光口、第一分光口、第二分光口；所述入光口与所述光源模块连接、所述第一分光口与所述第一光纤环形谐振模块连接、所述第二分光口与所述第二光纤环形谐振模块连接；所述分光器的分光比为50:50本实用新型实施例可以通过分光器连接光源模块和两个光纤环形谐振模块，光纤环形谐振模块与光电探测器连接，从而实现同时检测两个光纤环形谐振模块的光纤环形谐振腔的偏振噪声。
光纤环形谐振模块分光器分光光电探测器光源模块本实用新型入光口种检测光纤环形谐振腔偏振噪声分光比检测

[实用新型]一种大动态范围PCB表面图像精密测量装置-CN202020566414.1有效
发明人：伏思华;姜广文;雷志辉;曹结新;陈状 -专利权人：湖南省鹰眼在线电子科技有限公司
申请日： 2020-04-16 - 公布日： 2020-10-27 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种大动态范围PCB表面图像精密测量装置，包括：照明光源、照明光阑、分光器、成像光阑和相机，照明光源设置于分光器的进光侧，相机设置于分光器的第一出光侧，分光器的第二出光侧朝向被测量的PCB表面，照明光源发出的照明光进入分光器的进光侧并从分光器的第二出光侧照射到PCB表面，照明光被PCB表面反射形成的成像光进入分光器并从分光器的第一出光侧照射到相机，照明光阑沿照明光的光路设置于照明光源和分光器之间，照明光阑开设有环形通光孔，成像光阑沿成像光的光路设置于分光器和相机之间，成像光阑开设有圆形通光孔。本实用新型解决了传统装置动态范围不够，导致无法对PCB表面不同材质的组件同时测量的问题。
一种动态范围 pcb 表面图像精密测量装置

[实用新型]一种显微镜的光学分光成像装置-CN202021320530.1有效
发明人：王金玉;杜凯;李俊;邹钱生;熊亮 -专利权人：杭州今誉信息科技有限公司
申请日： 2020-07-08 - 公布日： 2021-03-09 - 主分类号： G02B21/18 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种显微镜的光学分光成像装置，属于显微镜技术领域。该显微镜的光学分光成像装置包括基座、镜体组件、限位组件和支撑组件。所述基座为三通设置，所述基座内部四角均安装有限位角板，所述基座的表面设置有上沿板，所述镜体组件包括分光镜、缩小镜和数码成像器，所述分光镜安装于所述基座内。本实用新型在将分光镜移动到基座内后，将限位透镜移动到基座内，利用夹持件夹持限位透镜边部的连杆，然后通过弹性件支撑夹持件，进而支撑连杆和限位透镜，使限位透镜压着分光镜，从而可以限制分光镜的移动，使分光镜在基座内更稳定，此外，通过在基座内增设限位角板，限制分光镜的移动，使分光镜在基座内更稳定。
一种显微镜光学分光成像装置