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[发明专利]一种内存压力测试方法、装置、设备及存储介质-CN202210469693.3在审
发明人：刘元爽 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-04-30 - 公布日： 2022-09-09 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请公开了一种内存压力测试方法、装置、设备及存储介质，涉及内存测试技术领域，应用于整机箱管理控制器，包括：读取存储机器中当前处于活动状态的内存槽位的数量以得到当前活动内存槽位数，并判断当前活动内存槽位数是否为零；若当前活动内存槽位数不为零，则启动预设内存压力测试工具执行相应的测试操作；获取预设内存压力测试工具生成的与当前活动内存槽位数对应的压力测试文件，并对测试文件进行分析得到相应的测试分析结果。本申请通过整机箱管理控制器实现了整个内存渐变压力的测试流程的自动协调控制，即实现内存测试的自动化，提高了测试效率，并最大程度上保护了内存和整个存储硬件。
一种内存压力测试方法装置设备存储介质

[发明专利]一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法-CN202110841032.4在审
发明人：张迎华;蒲嘉鹏;肖晟熙;郑磊;刘佳劲;刘喆旻 -专利权人：曙光信息产业股份有限公司
申请日： 2021-07-23 - 公布日： 2021-10-22 - 主分类号： G11C29/50 文献下载
摘要：本申请涉及一种测试基板、LLCR测量方法及测试基板测试方法，属于计算机技术领域。该测试基板包括：基板、内存插槽以及测试端子；内存插槽，设置于所述基板上，用于连接内存；测试端子，设置于所述基板上，所述测试端子的数量与所述内存插槽的接触点的总数量相同，一个接触点对应连接一个所述测试端子，从而利用所述测试端子来替代内存金手指进行LLCR测试。本申请通过该测试基板，使得在对内存金手指进行LLCR测试时，通过将待测内存条插接于该测试基板上的内存插槽中，通过测量测试基板上每一对测试端子的接触阻抗值，达到对内存金手指的间接测量的目的，这样避免对内存金手指表面镀层造成损伤
一种测试 llcr 测量方法方法

[发明专利]一种基于混合云的内存自动化测试方法和系统-CN202211665140.1在审
发明人：曾祥卫;赵春辉;刘石柱 -专利权人：深圳市章江科技有限公司
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-04-18 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本说明书实施例提供一种基于混合云的内存自动化测试方法和系统，属于内存自动化测试领域，其中，所述系统包括：包括部署在公有云上的内存管理模块及本地测试端模块；本地测试端模块包括至少一个本地测试端；本地测试端包括本地测试服务器及至少一个测试设备，待测试内存安装在测试设备上，本地测试服务器与内存管理模块建立通信连接，本地测试服务器用于从内存管理模块下载测试策略，测试设备用于从本地测试服务器下载测试策略，并根据测试策略对待测试内存进行测试，获取测试数据，测试设备还用于将测试数据发送至本地测试服务器；本地测试服务器还用于将测试数据发送至内存管理模块，具有实现内存的自动化测试，提高测试效率的优点。
一种基于混合内存自动化测试方法系统

[实用新型]内存颗粒测试设备-CN202222690138.1有效
发明人：张喆 -专利权人：深圳泰思特半导体有限公司
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2023-01-06 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本实用新型公开一种内存颗粒测试设备，涉及内存测试技术领域。所述内存颗粒测试设备包括支撑台、多个内存颗粒测试装置、多个料盒和转运机构。其中，所述支撑台上设有上料工位、下料工位和多个测试工位；多个所述内存颗粒测试装置分别设于多个所述测试工位，多个所述内存颗粒测试装置均可对所述内存颗粒进行测试；所述转运机构设于所述支撑台，所述转运机构用于将所述内存颗粒由所述上料工位移动至所述测试工位；多个所述料盒设于所述下料工位上，所述料盒用于储放所述内存颗粒，所述转运机构还用于将所述内存颗粒由所述测试工位移动至所述下料工位。本实用新型技术方案可解决现有内存颗粒测试效率低导致生产效率降低的问题。
内存颗粒测试设备

[发明专利]一种内存错误检测方法、系统和设备-CN202211659866.4有效
发明人：赖俊生 -专利权人：皇虎测试科技（深圳）有限公司
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-08-29 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种内存错误检测方法、系统和设备，方法包括：将应用平台作为内存测试设备的测试引擎，其中，应用平台设有系统内存；通过内存测试设备以包括逻辑分析仪的方式捕捉应用平台的实际应用程序在内存传输线上产生的数据流；通过内存测试设备将数据流处理后作为内存测试矢量对被测内存设备进行测试，以便在内存测试设备上复现应用平台或应用程序中出现的内存错误。本发明使得内存测试仪所连接的被测内存设备与应用平台中的系统内存处于完全相同的数字环境，从而能够复现所有在应用平台出错的被测内存设备，提高了内存出错的复现率。
一种内存错误检测方法系统设备

[发明专利]降低缓存命中率的内存测试方法-CN201510808418.X有效
发明人：李岩 -专利权人：英业达科技有限公司;英业达股份有限公司
申请日： 2015-11-19 - 公布日： 2018-06-29 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明提供一种降低缓存命中率的内存测试方法，包括：将待测内存划分为若干预设大小的内存区段；将预设的内存测试算法划分为若干测试步骤；对所述若干内存区段依次执行所述若干测试步骤；其中，在每一所述内存区段执行任意两个连续的所述测试步骤之间，至少对另一所述内存区段执行一所述测试步骤。本发明通过依次对不同的内存区段执行测试步骤，实现了缓存无法持续形成有效的关注区段，使得缓存状态一直在抖动，降低了缓存命中率，从而提高了内存测试的有效性；并进一步通过监测并统计所述内存测试算法执行过程的执行时间与缓存命中，根据统计结果优化内存测试算法的测试步骤划分，从而兼顾考虑内存测试的效率和有效性，优化所述内存测试方法。
内存测试测试步骤内存区段缓存命中率算法缓存缓存命中缓存状态算法执行统计结果抖动预设内存优化干预监测统计

[发明专利]内存测试方法、装置、计算机设备和存储介质-CN202111552305.X在审
发明人：乔海波;许飞;陈颖;秦晓宁;魏冰清 -专利权人：宁畅信息产业（北京）有限公司
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-05-13 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本申请涉及一种内存测试方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括：根据复制指令，将内存测试程序复制到被测试机的目标目录下；通过登录被测试机的操作系统，运行内存测试程序，基于内存测试程序，开启内存加热装置的电源端口，控制内存加热装置对内存设备进行加热；运行温度监控程序，监控被测试机在内存加热装置的加热情况下运行的工作温度；当工作温度到达预设温度阈值时，检测被测试机的系统事件日志中是否存在温度告警日志，并根据温度告警日志检测结果，生成内存测试报告。采用本方法，提高内存设备温度测试的效率，并且防止内存设备损坏。
内存测试方法装置计算机设备存储介质

[发明专利]存储器内存测试方法、装置、电子设备及存储介质-CN202211666849.3在审
发明人：吴燕宇 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2022-12-23 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明提供了一种存储器内存测试方法，所述方法包括：当检测到存储器上电后，访问所述存储器对应的机箱服务系统并确定所述机箱服务系统是否稳定；当确定所述机箱服务系统稳定后，从所述机箱服务系统中获取测试实例的原内存大小；根据所述测试实例、用户设置的测试时间阈值和单实例内存阈值执行单实例内存测试并根据所述测试实例的单实例内存大小和所述原内存大小生成单实例测试结果；根据所述测试实例执行复实例内存测试并根据所述测试实例的复实例内存大小和所述原内存大小生成复实例测试结果通过反复触发各实例启停和比较经过反复申请和释放的内存来确定导致内存异常的实例并告警。
存储器内存测试方法装置电子设备存储介质

[发明专利]一种内存压力测试的自动化测试方法、系统、设备及存储介质-CN201811298816.1在审
发明人：郑亚钗 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2018-11-02 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G06F11/26 文献下载
摘要：本发明提出一种内存压力自动化测试方法、系统、设备及存储介质，其中方法包括：定义系统浮点性能测试程序、内存宽带性能测试程序、内存错误性能测试程序；调用系统浮点性能测试程序，执行系统浮点性能测试；调用内存宽带性能测试程序，执行内存宽带性能测试；调用内存错误性能测试程序，执行内存错误性能测试；上述测试全部执行完毕后，输出系统报错日志。本发明解决了传统的机械测试带来了人力资源浪费，效率较低，不能在短时间内反应问题以及容易造成项目延时的问题，真正实现了内存压力的自动化测试，具有良好的技术价值及广阔的应用前景。
内存性能测试程序自动化测试宽带性能浮点测试程序存储介质性能测试调用报错日志调用系统定义系统反应问题机械测试人力资源输出系统压力测试测试传统的延时应用

[发明专利]内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质-CN202310369225.3在审
发明人：周玥 -专利权人：苏州浪潮智能科技有限公司
申请日： 2023-04-07 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： G06F11/07 文献下载
摘要：本发明涉及服务器测试技术领域，公开了内存漏斗错误上报机制的测试方法、装置、设备及介质，该方法包括：基于待测内存漏斗错误上报机制在基本输入输出系统中配置漏斗上报周期和漏斗数量阈值；基于漏斗上报周期、漏斗数量阈值及内存注错工具的单次注错时长，生成内存漏斗错误测试用例；利用内存注错工具按照内存漏斗错误测试用例向内存注入可纠正错误，并获取基板管理控制器中的系统事件日志；基于日志中的内存错误记录与内存漏斗错误测试用例对应的期望内存错误记录的关系，确定待测内存漏斗错误上报机制的测试结果。从而实现了内存漏斗错误上报机制的自动化测试，测试过程中途无需人工干预，提高了测试效率，减少人工测试成本，可实现长期测试。
内存漏斗错误上报机制测试方法装置设备介质

[发明专利]一种使用Xeon处理器的服务器的内存测试方法和系统-CN201210367361.0有效
发明人：李翔;S·考查尔;徐超;李海强 -专利权人：国际商业机器公司
申请日： 2012-09-28 - 公布日： 2014-04-02 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明公开了一种使用Xeon处理器的服务器的内存测试方法和系统，方法包括：响应于在所述服务器启动过程中接收到硬件内存测试的请求，获得存储的过去内存测试的结果，其中过去内存测试的结果至少包括在测试中使用的测试循环次数，测试模式以及测试中发生的错误；根据获得的过去内存测试的结果调整所述硬件内存测试的测试循环次数以及使用的测试模式；以及根据调整后的测试循环次数以及使用的测试模式执行硬件内存测试。该方法和系统能够平衡内存系统的可靠性和服务器的启动效率。
一种使用 xeon 处理器服务器内存测试方法系统

[发明专利]一种内存的测试方法、控制终端、服务器及系统-CN201710524438.3有效
发明人：姜庆臣 -专利权人：郑州云海信息技术有限公司
申请日： 2017-06-30 - 公布日： 2021-06-29 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明实施例提供一种内存的测试方法、控制终端、服务器及系统，该方法通过获取服务器网络中各台服务器的网络标识；根据网络标识，向目标服务器发送内存请求，用于指示目标服务器向控制终端返回内存的第一硬件信息；根据第一硬件信息，计算获得目标服务器的内存性能参考值；向目标服务器发送测试命令，所述测试命令中至少携带内存性能参考值，用于指示目标服务器进行内存测试，并根据内存性能参考值，向控制终端返回测试结果。控制终端与多台服务器互联从而实现大量内存、不同型号内存组合测试的同时进行，有效提高内存的测试效率；而且，通过内存性能参考值和内存性能测试值的比对计算，定量地对内存性能进行评估，有效提高内存测试精度。
一种内存测试方法控制终端服务器系统

[发明专利]内存测试方法、系统及计算机可读存储介质-CN202211625081.5在审
发明人：刘石柱;曾祥卫;赵春辉 -专利权人：深圳市章江科技有限公司
申请日： 2022-12-16 - 公布日： 2023-03-24 - 主分类号： G11C29/56 文献下载
摘要：本发明提供了一种内存测试方法、系统及计算机可读存储介质，方法应用于内存测试系统，内存测试系统上安装有统一可扩展固件接口，方法包括：通过统一可扩展固件接口，接收被测内存信息；接收第一测试指令；根据第一测试指令和被测内存信息，得到自定义测试配置；根据自定义测试配置，对被测内存进行配置；对配置完成的被测内存进行测试，得到测试结果。本发明中无需进入操作系统即可实现对内存的测试，节约了测试时间，同时也能够根据被测对象的不同而灵活配置针对被测对象的具体测试参数，提高了内存测试的覆盖面和灵活度。
内存测试方法系统计算机可读存储介质

[发明专利]一种内存泄漏的测试方法、装置及设备-CN201911151179.X在审
发明人：陈永林 -专利权人：杭州迪普科技股份有限公司
申请日： 2019-11-21 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G06F11/36 文献下载
摘要：本申请公开一种内存泄漏的测试方法、装置及设备，所述方法包括：将网络设备中的任一节点确定为目标测试节点；获取所述网络设备的当前内存信息，作为测试前内存信息；针对所述目标测试节点，执行预设次数的预设测试操作后，获取所述网络设备的当前内存信息，作为测试后内存信息；如果所述测试后内存信息与所述测试前内存信息的差值不小于预设阈值，则确定所述目标测试节点为存在内存泄漏的节点。本申请能够对网络设备中存在内存泄漏的节点进行定位。
一种内存泄漏测试方法装置设备

[发明专利]内存分级方法-CN202110868463.X在审
发明人：郭熙霖;钟明勋;张锦峯 -专利权人：十铨科技股份有限公司
申请日： 2021-07-30 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G06F11/22 文献下载
摘要：本发明涉及一种内存分级方法，包含：测试步骤，以至少一个测试项目组对内存进行测试，各个该测试项目组具有可靠性测试；以及分级步骤，依据至少一个该测试项目组的测试结果，将该内存分级为对应的级别，该测试结果包含可靠性测试结果，其中，该可靠性测试依序为：对于该内存执行写入数据操作，该写入数据操作为将数据写入至该内存；对该内存停止充电；等候预定时间；对该内存充电；检查该内存的数据完整性；及依据该数据完整性产生该可靠性测试结果。
内存分级方法