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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

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B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]表面及亚表面一体化共焦显微测量装置和方法-CN202010058975.5有效
发明人：刘辰光;刘俭;陈刚 -专利权人：哈尔滨工业大学;南京恒锐精密仪器有限公司;江苏锐精光电研究院有限公司
申请日： 2020-01-18 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01N21/95 文献下载
摘要：本发明公开了表面及亚表面一体化共焦显微测量装置和方法，装置包括环形光照明模块、环形光扫描模块、暗场共焦探测模块和反射共焦探测模块；环形光照明模块包括激光器、扩束镜、偏振片一、凹面锥透镜和半反半透膜一；环形光扫描模块包括二维扫描振镜、扫描透镜、管镜、物镜和待测样品；暗场共焦探测模块包括半反半透膜二、光阑、偏振片二、聚焦透镜一、针孔一和相机一；反射共焦探测模块包括偏振片三、聚焦透镜二、针孔二和相机二。
表面一体化显微测量装置方法

[发明专利]用于测量设备中的构形结构的方法-CN200580021370.2无效
发明人：麦克尔·斯特尔兹利;沃尔克·赛德曼;杰根·雷布;努哈东 -专利权人：肖特股份公司
申请日： 2005-05-13 - 公布日： 2007-07-11 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：为了能够以没有损坏的方式测量在晶片或设备上的构形，本发明提供了一种用于测量在晶片(2)或设备上的三维构形结构(22)的方法，其中借助于共焦显微镜(1)，使用激发光线扫描至少一个发荧光构形结构(22)，并且检测从物镜(15)的焦平面(19)中的焦点(17)发出以及由所述激发光线激发的荧光光线，并且从焦点(17)的位置和检测的荧光信号中获得测量数据。
用于测量设备中的构形结构方法

[发明专利]高空间分辨激光双轴差动共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置-CN201510117043.2有效
发明人：赵维谦;邱丽荣 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2015-03-17 - 公布日： 2017-05-17 - 主分类号： G01N27/64 文献下载
摘要：本发明涉及一种高空间分辨激光双轴差动共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将双轴差动共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用经超分辨技术处理的双轴差动共焦系统的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对双轴差动共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，利用光谱探测系统对双轴差动共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体发射光谱信息进行光谱成像，然后再通过探测数据信息的融合与比对实现被测样品微区高空间分辨和高灵敏形态与组分的成像与探测
空间分辨激光差动光谱显微成像方法装置

[发明专利]高空间分辨激光分光瞳共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置-CN201510116869.7有效
发明人：赵维谦;王允 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2015-03-17 - 公布日： 2017-07-11 - 主分类号： G01N21/63 文献下载
摘要：本发明涉及一种高空间分辨激光分光瞳共焦光谱‑质谱显微成像方法与装置，属于共焦显微成像技术、光谱成像技术和质谱成像技术领域。本发明将分光瞳共焦成像技术、质谱成像技术和光谱探测技术相结合，利用经超分辨技术处理的分光瞳共焦系统的微小聚焦光斑对样品进行高空间分辨形态成像，利用质谱探测系统对分光瞳共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的带电分子、原子等进行微区质谱成像，利用光谱探测系统对分光瞳共焦系统聚焦光斑解吸电离样品而产生的等离子体发射光谱信息进行光谱成像，然后再通过探测数据信息的融合与比对实现被测样品微区高空间分辨和高灵敏形态与组分的成像与探测
空间分辨激光分光瞳共焦光谱显微成像方法装置

[发明专利]横向相减差动共焦透镜折射率测量方法-CN201910317051.X有效
发明人：王允;邱丽荣;赵维谦 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2020-08-11 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开的横向相减差动共焦透镜折射率测量方法，属于光学精密测量技术领域。本发明公开的横向相减差动共焦透镜折射率测量方法，在共焦测量系统中，在CCD探测的艾丽斑图像上通过软件设置大、小虚拟针孔探测区域并将其探测的两条共焦特性曲线通过相减处理来锐化共焦特性曲线，将锐化共焦特性曲线进行差动相减处理得到轴向高灵敏的差动共焦特性曲线，利用该差动共焦特性曲线零点与差动共焦测量系统焦点精确对应的特性对被测透镜折射率测量时各顶点位置进行高精度定焦寻位，通过光线追迹补偿精确得到透镜的折射率，实现透镜折射率的高精度测量。本发明具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势，在光学精密测量领域具有广泛的应用前景。
横向差动透镜折射率测量方法

[发明专利]基于荧光差动共焦技术的光滑大曲率样品测量装置与方法-CN201410617215.8在审
发明人：刘俭;谭久彬;刘辰光;张贺 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2014-11-05 - 公布日： 2015-01-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：基于荧光差动共焦技术的光滑大曲率样品测量装置与方法光学精密测量技术领域，具体涉及一种利用差动共焦显微技术测量光滑大曲率样品表面形貌的装置和方法；该装置包括照明模块、第一探测模块、第二探测模块和镀膜样品；然后利用照明模块激发样品表面的荧光膜发出荧光，再分别利用第一探测模块和第二探测模块得到的差动响应曲线，通过差动响应曲线零点来确定镀膜样品表面位置，最后形成三维扫描成像，清洗膜，恢复待测样品镀膜前的状态；本发明不仅可以提高测量精度，而且可以提高测量效率，同时还可以降低测量成本。
基于荧光差动技术光滑曲率样品测量装置方法

[发明专利]光学显微镜和用于利用光学显微镜记录图像的方法-CN201380025813.X有效
发明人：赫尔穆特·利珀特;拉尔夫·内茨;蒂莫·安胡特;尼尔斯·兰霍尔茨;马蒂亚斯·朗霍斯特 -专利权人：卡尔蔡司显微镜有限责任公司
申请日： 2013-05-16 - 公布日： 2018-03-27 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明涉及一种光学显微镜，其具有用于向试样方向发射出照射光的多色光源、用于将照射光聚焦到试样上的聚焦器件和探测装置，其中，聚焦器件具有纵向色差以产生深度分辨率；探测装置包括二维阵列的探测元件，用以检测来自试样的试样光根据本发明，光学显微镜的特征在于，为了既检测试样光的共焦部分又检测试样光的非共焦部分，从试样到探测装置的光学路径中没有用于完全滤除非共焦部分的元件。此外，本发明还涉及一种用于利用光学显微镜记录图像的方法。
光学显微镜用于利用记录图像方法

[发明专利]一种光纤荧光共焦显微成像装置及方法-CN201811495797.1在审
发明人：刘辰光;刘俭;赵唯淞;谭久彬 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2018-12-07 - 公布日： 2019-03-01 - 主分类号： G02B21/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种光纤荧光共焦显微成像装置及方法，其装置包括：共焦照明模块、光纤连接模块、共焦扫描模块和共焦探测模块；共焦照明模块包括沿光线传播方向依次设置的激光器、准直镜、分光镜和管镜一；光纤连接模块为多模光纤；共焦扫描模块包括沿光线传播方向依次设置的管镜二、XY扫描振镜、扫描透镜、管镜三、物镜和待测样品；共焦探测模块包括沿光线传播方向依次设置的滤光片、管镜四、PMT。
共焦管镜光线传播依次设置共焦显微成像光纤连接模块共焦扫描光纤荧光探测模块照明模块针孔待测样品多模光纤方便移动扫描透镜扫描振镜激光器分光镜滤光片准直镜物镜装调调试

[发明专利]激光共焦/差动共焦振动参数测量方法-CN202010165514.8有效
发明人：赵维谦;何奇;邱丽荣 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2020-03-11 - 公布日： 2021-01-01 - 主分类号： G01H9/00 文献下载
摘要：本发明公开的一种激光共焦/差动共焦振动参数测量方法，属于光学精密测量技术领域。本发明在共焦、差动共焦测量系统中，首先在共焦、差动共焦轴向响应曲线上定义了最优测试区间，在最优测试区间内，共焦、差动共焦轴向响应曲线对轴向位移的灵敏度最高。其次，针对不同的振幅，定义了不同的测量模式。通过不同的测量模式来确保振动的最大轴向位移始终位于最优测试区间内。进而利用强度与振动面轴向位置的对应关系实现具有高动态范围的振动特性测量。与已有的振动测量方法相比，本发明具有测量精度高、振幅测量范围广、频率测量带宽高、可测量周期运动和非周期运动、抗环境干扰能力强且结构简单等优势，在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
激光差动振动参数测量方法

[发明专利]反射式双边错位差动共焦焦距测量方法-CN201910316039.7有效
发明人：赵维谦;邱丽荣 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2019-04-19 - 公布日： 2020-06-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及反射式双边错位差动共焦焦距测量方法，属于光学精密测量技术领域。该方法通过大、小虚拟针孔共焦特性曲线的横向相减处理来锐化共焦响应特性曲线，通过锐化共焦响应特性曲线的双边错位差动相减处理来实现被测表面的差动共焦双极性定焦测量，通过差动共焦定焦曲线的线性拟合来提升焦点位置捕获精度，进而提高焦距测量中透镜表面顶点和焦点位置的定焦精度，以期实现焦距的高精度测量。本发明中横向相减双边错位差动共焦的光强响应曲线过零点附近的斜率大于传统的差动共焦光强响应曲线，显著提高了测量系统定焦精度。本方法相对已有方法，具有测量精度高、抗环境干扰能力强和结构简单等优势，在光学精密测量技术领域具有广泛的应用前景。
反射双边错位差动焦距测量方法

[发明专利]单筒视频显微镜的同轴共焦结构-CN201811453528.9在审
发明人：彭世艳 -专利权人：湖南三文科教仪器有限公司
申请日： 2018-11-30 - 公布日： 2019-02-22 - 主分类号： G02B21/36 文献下载
摘要：本发明公开了一种单筒视频显微镜的同轴共焦结构，显微镜的CCD连接套和调焦套通过该同轴共焦结构装配在固定轴筒上；CCD连接套滑套在固定轴筒上，调焦套同时套装在CCD连接套和固定轴筒上，并通过调焦螺纹与固定轴筒套接本发明实现了视频显微镜的显微镜本身和CCD相机之间的同轴共焦连接，在对显微镜进行旋转调焦时，确保CCD相机只能在显微镜的光轴中心上下移动，从而使原来对接的CCD相机出厂时调好的中心不变，满足了用户对产品的精度要求
固定轴调焦连接套同轴显微镜视频显微镜共焦定位销单筒联动轴向导向装配连接套外壁出厂时调工作效率共焦连接光轴中心结构装配精度要求圈环形槽上下移动周向限位环形槽滑动螺纹滑套嵌装筒套装配

[发明专利]多功能显微共焦光谱仪-CN201610130068.0有效
发明人：谭平恒 -专利权人：中国科学院半导体研究所
申请日： 2016-03-08 - 公布日： 2017-10-03 - 主分类号： G01J3/44 文献下载
摘要：本发明公开了一种多功能显微共焦光谱仪，该多功能显微共焦光谱仪包括一光学平台；以及设置于该光学平台上的第二激光器模块、光路耦合与输出主模块、第一激光器模块、照明观测模块、显微模块、第一信号检测模块、第二信号检测模块和第三信号检测模块；其中，该光路耦合与输出主模块和照明观测模块具有同一基座，第一激光器模块、显微模块、第一信号检测模块、第二信号检测模块和第三信号检测模块均固定在该基座的四周。本发明可以实现样品以及相应激光斑点的显微观测，能够方便地进行样品拉曼信号和光致发光信号的显微共焦测试，具有结构简单、稳定性好、调节方便和便于扩展的优点。
多功能显微光谱仪

[发明专利]一体化手持式的光声显微成像探头-CN201310035024.6无效
发明人：杨思华;纪轩荣;许栋;邢达 -专利权人：广州佰奥廷电子科技有限公司
申请日： 2013-01-29 - 公布日： 2013-04-24 - 主分类号： A61B5/00 文献下载
摘要：本发明公开了一种一体化手持式的光声显微成像探头。该探头包括扫描阵镜、光学显微物镜、碗状中空型聚焦超声探测器、光声共焦耦合器和手持把柄；扫描阵镜、光学显微物镜、碗状中空型超声探测器及光声共焦耦合器依次通过螺纹固定紧合，扫描阵镜、光学显微物镜、碗状中空型聚焦超声探测器和光声共焦耦合器可以分别拆卸本发明采用一体化刚性连结结构和背向接收方式，整个显微探头体积小，适用于在体光声显微成像；各部件采用螺纹的方式进行耦合，易于拆卸更换，成本较低，使用灵活方便；分辨率、信噪比和检测的灵敏度较高，适用于实际的应用和检测
一体化手持显微成像探头

[发明专利]计量级3D超景深显微系统及检测方法-CN202010235505.1在审
发明人：阳宇春;孙亮 -专利权人：阳宇春;孙亮
申请日： 2020-03-30 - 公布日： 2020-06-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明公开了一种计量级3D超景深显微系统及检测方法，涉及光电无损3D检测技术领域；该显微系统包括光学显微镜、光谱共焦传感器或白光干涉传感器、xyz轴电动位移平台以及控制模块和PC处理器；xyz轴电动位移平台包括xy轴平移台和z轴升降模块，光学显微镜配置有照明光源和图像采集单元，控制模块包括xyz电动控制单元、与光谱共焦传感器或白光干涉传感器连接的处理器及电源模块，图像采集单元用于采集目标检测区域的图像信息，并将图像信息传输至PC处理器；通过实施本技术方案，能够无损观察样品，并能够超大面积对材料表面的微观状态进行拍照、3D真彩色成像及3D精准测量，实现计量级的检测精度，并保有微观样品的细节与真实颜色，具有很好的应用前景。
量级景深显微系统检测方法

[实用新型]一种光谱共焦内径测量探头-CN202122349789.X有效
发明人：吴新峰;华志超;周远荣;周羊华;王海涛 -专利权人：泰州市计量测试院
申请日： 2021-09-27 - 公布日： 2022-04-05 - 主分类号： G01B11/12 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种光谱共焦内径测量探头，包括固定架，所述固定架上安装有光谱共焦探头，光谱共焦探头远离固定架的一端安装有直角反射镜，直角反射镜设置于工件圆孔内。本光谱共焦内径测量探头，利用光谱共焦测量原理将位移信息变换到波长信息中去，在光谱共焦探头前端加一个90度直角反射镜，形成小型探头，结合多测头静态测量方式，对工件圆孔内部进行测量，实现了内径尺寸的微米级高精度测量，采用线光源进行光谱共焦测量，不同波长的单色光色散至工件圆孔的两侧内壁，并以相反的方向再次通过色散组件经由光源耦合器传导至光谱信号接收组件，可以有效的改善光谱共焦测量系统的测量精度，从而减少测量误差，提高测量精度
一种光谱内径测量探头

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