专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]近红外脑功能测量装置及测量方法-CN201680009588.4有效
  • 山田亨;梅山伸二 - 国立研究开发法人产业技术综合研究所
  • 2016-02-10 - 2020-02-28 - A61B10/00
  • 预先将所有衰减器的透过率设定为1,将所有光源强度设定为可安全地照射的最大,求出各光源探测器i的有效入射和其中最小的有效入射及最大的有效入射;通过将光源探测器侧的衰减器i的透过率ai变更为[最小的有效入射/光源探测器i的有效入射]而使有效入射平均化,进而,将所有光源强度变更为W=[最大的有效入射/最小的有效入射效率]倍,求出检测器探测器j的有效检测效率和其中最小的有效检测效率;以通过将检测器探测器侧的衰减器j的透过率aj变更为[最小的有效检测效率/检测器探测器j的有效检测效率]而事先使有效检测效率平均化的方式进行控制
  • 红外功能测量装置测量方法
  • [发明专利]液晶装置、图像传感器及电子设备-CN200810091164.4有效
  • 石黑英人 - 精工爱普生株式会社
  • 2008-04-07 - 2008-10-08 - G02F1/133
  • 本发明提供的液晶装置中,调节部(82)作为对从显示面(302s)向开口部(83)入射入射(L2)的进行调节的调整机构而发挥功能。由于调节部(82)能够控制液晶元件(50b)所具有的液晶部分的取向状态,所以,可按每个调节部(82)独立地调节入射(L2)的。因此,根据液晶装置(1),与在各像素中通过控制液晶层的取向状态来控制显示的光强度的情况相同,可独立调节向各传感器部(150)的受元件(151)入射入射(L2)的
  • 液晶装置图像传感器电子设备
  • [实用新型]光学系统和荧光信号检测装置-CN202120747480.3有效
  • 罗坤;孙英华;李军辉 - 上海芯像生物科技有限公司
  • 2021-04-13 - 2022-06-28 - G01N21/64
  • 提供了一种光学系统,该光学系统包括:分束器,被配置为接收入射并且按照分束器的分束比将入射分离成具有第一的第一部分和具有比第一小的第二的第二部分;第一图像传感器,被配置为接收并检测入射的第一部分;第二图像传感器,被配置为接收并检测入射的第二部分;以及控制器,被配置为使第一图像传感器基于入射的第一部分而生成第一图像,使第二图像传感器基于入射的第二部分而生成第二图像,以及融合第一图像和第二图像以生成融合图像
  • 光学系统荧光信号检测装置
  • [发明专利]摄像设备及其控制方法-CN201610176785.7有效
  • 上村英孝 - 佳能株式会社
  • 2016-03-25 - 2019-10-11 - H04N5/238
  • 镜筒的光圈和与该光圈分开设置的ND滤波器调整向用于对被摄体进行摄像的摄像装置的入射。基于在光圈和ND滤波器分别使入射最大的状态下所获得的所拍摄图像的评价值、以及基于光圈可调整入射的范围和ND滤波器可调整入射的范围所确定的预定的判断阈值,来判断在当前摄像环境下是否能够进行自动调整
  • 摄像设备及其控制方法
  • [发明专利]无色差光学元件-旋转型偏振椭圆率测量仪及利用其的试片的穆勒矩阵检测方法-CN201680015436.5有效
  • 赵龙在;诸葛园;赵贤模 - 韩国标准科学硏究院
  • 2016-03-08 - 2019-10-15 - G01B11/24
  • 本发明涉及元件旋转型偏振椭圆率测量仪,更详细地,涉及如下的偏振椭圆率测量仪:通过对借助试片反射或透射的的偏振态的变化进行检测及分析,来在对试片的穆勒矩阵成分进行检测时使用。本发明的一实施例包括:光源,向试片发射入射;固定偏光器,在所述入射的移动路径上配置于所述光源与所述试片之间,使从所述光源发射的所述入射偏光;以等速旋转的等速旋转偏光器,在所述入射的移动路径上配置于所述固定偏光器与所述试片之间,通过所述固定偏光器的入射并使所入射的所述偏光;以等速旋转的等速旋转检偏器,通过所述等速旋转偏光器所偏光的借助所述试片反射或透射,改变偏振态并入射,使所入射的所述偏光;固定检偏器,通过所述等速旋转检偏器所偏光的入射,使所入射的所述偏光;以及检测器,通过所述固定检偏器所偏光的入射,对所入射的曝光进行检测,输出与所述曝光相应的光辐射通量值。
  • 色差光学元件旋转偏振光椭圆测量仪利用试片穆勒矩阵检测方法

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