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[实用新型]基于光束检测技术的车库停车辅助系统-CN201520381486.8有效
发明人：王祥军;郑怀臣;王维兵;尹胜;尹斌 -专利权人：四川五新智能设备有限公司
申请日： 2015-06-04 - 公布日： 2015-10-07 - 主分类号： E04H6/42 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于光束检测技术的车库停车辅助系统，包括光束检测单元、语音播报单元和控制单元，光束检测单元包括多个光束检测装置，所述光束检测装置包括第一光束检测装置、第二光束检测装置、第三光束检测装置和第四光束检测装置，第一光束检测装置、第二光束检测装置、第三光束检测装置和第四光束检测装置分别设置在车库中车位的四个角，第一光束检测装置、第二光束检测装置、第三光束检测装置、第四光束检测装置和语音播报单元均与控制单元连接
基于光束检测技术车库停车辅助系统

[发明专利]分光检测系统和光束指向检测与稳定系统-CN202310425344.6在审
发明人：马程鹏;匡翠方;徐良;丁晨良;魏震 -专利权人：之江实验室;浙江大学
申请日： 2023-04-18 - 公布日： 2023-09-15 - 主分类号： G01J1/42 文献下载
摘要：本申请提供一种分光检测系统和光束指向检测与稳定系统。分光检测系统用于检测光束指向控制组件出射的光束的性质，包括分光检测组件和控制器。分光检测组件包括分光组件和检测组件，分光组件用于反射和透射光束，检测组件用于接收光束反射形成的反射光束，检测反射光束的性质。控制器连接于检测组件和光束指向控制组件之间，控制器用于根据反射光束的性质，确定光束调整量，控制光束指向控制组件根据光束调整量调制光源发出的光束。本申请提供的分光检测系统通过设置控制器根据检测组件检测得到的光束性质，控制光束指向控制组件调制光源发出的光束，降低光束在长距离传播的过程中的偏移和光学器件引入的指向误差，提高光束的稳定性。
分光检测系统光束指向稳定

[发明专利]颗粒度检测装置及其检测方法、光刻机-CN202110455084.8在审
发明人：申永强;杨晓青;韩雪山 -专利权人：上海微电子装备（集团）股份有限公司
申请日： 2021-04-26 - 公布日： 2022-10-28 - 主分类号： G03F7/20 文献下载
摘要：本发明提供一种颗粒度检测装置及其检测方法、光刻机，所述颗粒度检测装置包括照明单元和探测单元，所述照明单元用于提供主检测光束和辅助检测光束，所述主检测光束和所述辅助检测光束经待检测结构散射后进入所述探测单元，以通过所述主检测光束和所述辅助检测光束检测所述待检测结构的颗粒度，即通过所述主检测光束与所述辅助检测光束相结合对所述待检测结构的颗粒度进行检测，由此可通过所述辅助检测光束弥补主检测光束检测时的缺陷，从而解决因颗粒的尺寸大小
颗粒检测装置及其方法光刻

[发明专利]一种光谱检测系统和方法-CN202110511127.X在审
发明人：熊廷刚 -专利权人：华为技术有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2022-11-11 - 主分类号： G01N21/31 文献下载
摘要：本申请公开了一种光谱检测系统，应用于检测技术领域。系统包括光源组件和探测器。光源组件用于生成第一探测光束和第二探测光束。第一探测光束照射到被检测物质，生成第一待检测光束。第二探测光束照射到被检测物质，生成第二待检测光束。探测器用于分时的接收第一待检测光束和第二待检测光束，通过解调第一待检测光束得到第一电信号，通过解调第二待检测光束得到第二电信号。在本申请中，通过两个待检测光束共用一个探测器，可以减少探测器的数量，降低光谱检测系统的成本。
一种光谱检测系统方法

[发明专利]图像形成装置-CN99110690.3无效
发明人：朝田贤一郎 -专利权人：株式会社理光
申请日： 1999-07-27 - 公布日： 2000-03-08 - 主分类号： G03G15/04 文献下载
摘要：本发明涉及根据各信息信号对若干光束进行调制、通过该光束对媒体扫描进行记录的复印机、打印机等图像形成装置。设有光束检测装置和光束检测信号分离装置,光束检测装置检测光束来到所定位置状况,产生光束检测信号,光束检测信号分离装置分别分离光束检测信号,以所分离的各信号为基准分别控制若干光束形成图像的开始。
图像形成装置

[发明专利]光路调节方法、检测设备和存储介质-CN202110350348.3在审
发明人：陈鲁;白园园;马砚忠;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2021-03-31 - 公布日： 2021-07-06 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：本申请实施方式的光路调节方法用于检测设备，检测设备包括泵浦光路及检测光路，泵浦光束沿泵浦光路传输至工件，检测光束沿检测光路传输至工件，光路调节方法包括：设置检测反射镜的反射面于工件所在位置，且使检测反射镜垂直于检测光束和泵浦光束所在的入射面；及调节泵浦光束的传播方向，和/或调节检测光束的传播方向，使泵浦光路中泵浦光束与经检测反射镜反射后的检测光束重合，及检测光路中检测光束与经检测反射镜反射后的泵浦光束重合。光路调节方法和检测设备能够实现检测光束和泵浦光束相互配合，以入射至工件的同一位置从而对工件进行检测，从而提高检测准确性。
调节方法检测设备存储介质

[发明专利]用于检测工件的边缘的装置以及激光加工机-CN200810185651.7无效
发明人：泽边大树;能丸圭司 -专利权人：株式会社迪思科
申请日： 2008-12-17 - 公布日： 2009-06-24 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种用于检测保持在加工机的卡盘台上的工件的边缘的装置，其具有：用于使检测光束振荡的光束振荡装置，用于使自光束振荡装置振荡的检测光束聚焦的物镜，和用于检测穿过物镜的检测光束的反射光的反射光检测装置，其中光束振荡装置以这种方式使检测光束振荡：检测光束的光轴在与物镜的中心轴偏置的位置平行于物镜的中心轴；以及反射光检测装置基于在当自光束振荡装置振荡并穿过物镜的检测光束在工件不存在的区域上反射并由物镜折射时获得的反射光和当检测光束在工件上反射并由物镜折射时获得的反射光之间的位置差来检测工件的边缘
用于检测工件边缘装置以及激光加工

[实用新型]一种非接触式多叶准直器叶片位置检测装置-CN202222860398.9有效
发明人：请求不公布姓名 -专利权人：中科超精（南京）科技有限公司
申请日： 2022-10-28 - 公布日： 2023-06-20 - 主分类号： A61N5/10 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种非接触式多叶准直器叶片位置检测装置，所述的多叶准直器包括多个叶片，检测装置包括：第一反射元件，设置在叶片上；光束控制机构，包括设置在叶片的运动路径外侧的光束发射元件和发射光束传输组件，光束发射元件发射的光束，通过发射光束传输组件沿叶片的运动路径传输至第一反射元件上；光束检测机构，包括光束检测元件，用于接收第一反射元件反射的光束；和中央处理元件，根据光束发射元件发射光束的时刻和光束检测元件接收光束时刻，计算得到单次光束发射的测量时间，根据两次光束发射的测量时间差计算叶片的实时位置。本实用新型采用光束测距的方式实时检测多叶准直器叶片的位置，检测精度高，为实现精准放疗提供支持。
一种接触式多叶准直器叶片位置检测装置

[发明专利]一种缺陷检测装置及缺陷检测方法-CN201810696844.2有效
发明人：杨晓青;申永强;韩雪山;王帆 -专利权人：上海微电子装备(集团)股份有限公司
申请日： 2018-06-29 - 公布日： 2022-07-08 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本发明公开了一种陷检测装置及缺陷检测方法。该缺陷检测装置包括照明模块和成像检测模块；照明模块用于产生探测光束，并使探测光束入射至待测产品的检测面上；成像检测模块用于检测探测光束是否经待测产品的检测面散射产生散射成像光束，并根据散射成像光束确定待测产品的缺陷信息；探测光束的照度满足：(U1×R)/(U2×L)≥S1；探测光束的半宽W满足：d×[tanα+tanβ]＞FOV/2+W。本实施例通过确定探测光束的半宽边缘与探测光束的中心之间的相对照度和探测光束的半宽确定照明模块产生的探测光束，以达到抑制缺陷检测过程中产生的串扰，提高缺陷检测精度。
一种缺陷检测装置方法

[发明专利]光学信息再现设备及使用其的光学信息再现方法-CN200710089190.9无效
发明人：金学善;尹弼相;黄义石 -专利权人：大宇电子株式会社
申请日： 2007-03-21 - 公布日： 2007-10-10 - 主分类号： G03H1/22 文献下载
摘要：该光学信息再现设备包括：参考光束提供单元，该参考光束提供单元向光学信息记录介质上的待再现的再现记录区和在该再现记录区周围的周边记录区输入参考光束；周边光束检测单元，该周边光束检测单元使响应于所述参考光束从所述再现记录区再现的再现光束透射，并检测从所述周边记录区再现的周边光束；跟踪伺服单元，该跟踪伺服单元对检测到的周边光束的光学信息进行分析并控制跟踪位置；以及再现光束检测单元，该再现光束检测单元检测已穿过所述周边光束检测单元的再现光束。因此，可以使用周边光束而判断当前跟踪状态，并且在再现光学信息时使用该判断的结果而进行跟踪伺服控制处理。
光学信息再现设备使用方法

[发明专利]检测方法、检测装置、空气净化器、控制方法和存储介质-CN201910739058.0在审
发明人：杨静慧;马联春;蔡晓龙 -专利权人：珠海格力电器股份有限公司
申请日： 2019-08-12 - 公布日： 2019-11-08 - 主分类号： G01V8/14 文献下载
摘要：本发明提供一种检测方法、检测装置、空气净化器、控制方法和存储介质，利用光发射器发射光束，所述光束穿过所述待检测区域，光接收器接收所述穿过待检测区域的光束。由于光束穿过待检测区域，当有物体落入待检测区域内时，光束的传播路径被物体所遮挡，光束的传播就会被阻断，使得本来能够接收到光束的光接收器无法接收到光束。因而通过判断光接收器是否接收到光束即可知道待检测区域内是否有物体进入，当光接收器未接收到光束时，待检测区域内有物体进入。
待检测区域光接收器空气净化器存储介质光束穿过检测装置传播路径发射光束光发射器种检测遮挡穿过检测传播

[发明专利]一种基于激光干涉成像检测疏松体的系统-CN202011520273.0在审
发明人：邓重辉 -专利权人：藤仓烽火光电材料科技有限公司
申请日： 2020-12-21 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01N21/88 文献下载
摘要：本申请涉及一种基于激光干涉成像检测疏松体的系统，涉及光纤预制棒生产技术领域，其包括激光发生器、分束镜、扩束机构和检测机构；其中，激光发生器用于周期性地发出激光光束；分束镜用于将激光发生器发出的激光光束分成检测光束与参考光束，并将检测光束和参考光束分别传输至扩束机构和检测机构；扩束机构用于将检测光束进行扩束，并射向疏松体上的预设的检测区域内；检测机构用于接收疏松体反射的检测光束，以使检测光束与参考光束产生干涉，并生成干涉图像；且检测机构还用于根据干涉图像，判断检测区域内的疏松体是否产生缺陷。
一种基于激光干涉成像检测疏松系统

[实用新型]发光组件-CN202223578207.6有效
发明人：李培文;秦家苗;陈亮亮 -专利权人：苏州宣嘉光电科技有限公司
申请日： 2022-12-30 - 公布日： 2023-04-07 - 主分类号： G01J1/06 文献下载
摘要：本实用新型公开了发光组件，包括发光单元；光路分离装置，设置有一入光面、第一出射面和第二出射面，所述入光面接收来自所述发光单元的入射光束，该入射光束在第一出射面和第二出射面的连接处分离出一检测光束和一治疗光束；光功率检测装置，接收所述检测光束。光路分离装置将发光单元发出的光束分离成治疗光束和检测光束，检测光束照射在光功率检测装置上用于检测，在本实用新型中，光功率检测位置较近，检测位置更贴近治疗位置，使检测更加精确。
发光组件

[发明专利]激光器测量系统和方法-CN201410748982.2有效
发明人： J·M·圣克莱尔;M·D·沃斯;W·D·舍曼;D·C·索瑞德 -专利权人：波音公司
申请日： 2014-12-09 - 公布日： 2019-04-12 - 主分类号： G01B11/00 文献下载
摘要：一种激光器测量系统10可以包括调制的测量光束26；分束器42，其用于将测量光束26分离为本地震荡器光束44和发射光束46；光学组件50，其用于将发射光束46投射到目标结构38的表面上的测量区域34并用于接收来自测量区域34的反射光束52；光束组合器24，其用于将反射光束52和本地震荡器光束44组合为检测光束68；检测器48，其用于处理检测光束68，检测器48包括用于投射检测光束68的微透镜72，光电检测器76，其用于执行检测光束68的相干检测，和与光电检测器76通信的检测器电子装置84，其用于根据检测光束68生成信息数据；以及范围处理器，其用于根据信息数据计算关于测量区域34的维度数据。
激光器测量系统方法

[发明专利]光束扫描装置及成像装置-CN99100950.9无效
发明人：谷本弘二;小宫研一;井出直朗;榊原淳 -专利权人：株式会社东芝
申请日： 1999-01-15 - 公布日： 2004-07-21 - 主分类号： H04N1/047 文献下载
摘要：本发明提供了一种光束扫描装置及图像成像装置，包括：生成光束的光束生成装置；将从光束生成装置生成的光束朝向被扫描表面反射、并扫描上述被扫描表面的扫描装置；检测扫描上述被扫描表面的上述光束的第1光束检测装置；以第1光束检测装置的输出为基准、规定上述光束扫描方向的扫描范围的扫描范围规定装置；在光束扫描方向上配置在第1光束检测装置的下游侧的、用来检测对扫描范围进行扫描的光束的第2光束检测装置；以及根据第2光束检测装置的输出判断由上述扫描范围规定装置规定的扫描范围和上述被扫描表面上的光束的扫描范围之间的关系根据本发明的成像装置，可以一直正确控制光束扫描方向的曝光位置。
光束扫描装置成像

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