专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]组合体、该组合体的利用及制造方法、光学设计辅助方法-CN201010132207.6无效
  • 池上豊 - HOYA株式会社
  • 2010-03-25 - 2010-09-29 - C03C14/00
  • 组合体、该组合体的利用及制造方法、光学设计辅助方法。提供即使使用光学玻璃的光学元件生产者与该光学玻璃生产者不同,也能根据规定信息生产具有期望折射率和/或阿贝数的光学元件的手段。组合体具有包含:光学玻璃坯料及表示包括该光学玻璃坯料的退火系数β值和基准折射率ns值的物性值的表示物。表示物所表示的物性值还包含基准阿贝数vs值。光学元件的光学设计的辅助方法包含:准备组合体的工序(10);使用上述组合体所包含的光学玻璃坯料,利用假定用于光学元件制造的冲压成型方法和条件,来制作光学元件的试制品的工序(11);求出光学元件的试制品的折射率n的工序(12);以及使用所求出的折射率n进行光学元件的光学设计的工序(13)。
  • 组合利用制造方法光学设计辅助
  • [发明专利]颗粒物性测量装置-CN201110137134.4无效
  • 山口哲司;伊串达夫;黑住拓司 - 株式会社堀场制作所
  • 2009-09-25 - 2012-01-18 - G01N15/02
  • 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25),并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1
  • 颗粒物性测量装置
  • [发明专利]颗粒物性测量装置-CN200980137028.7无效
  • 山口哲司;伊串达夫;黑住拓司 - 株式会社堀场制作所
  • 2009-09-25 - 2011-08-17 - G01N15/02
  • 本发明提供一种颗粒物性测量装置,该颗粒物性测量装置的光检测部件尽管具有单一的结构,但可以确保测量精度,而且可以尽可能减少光学元件的数量,从而可以实现抑制成本的增加和减少调整部位。颗粒物性测量装置(1)具有作为照射光学系统机构(2)的入射一侧的偏振镜(24)和入射一侧的1/4波片(25),并且具有作为受光光学系统机构(3)的能够以试样池(4)为中心转动到多个角度位置的出射一侧的1
  • 颗粒物性测量装置

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