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[发明专利]光学测定系统-CN202211310530.7在审
发明人：福谷义树;牟田口绫夏;长泽广也;村上典彦;西田幸次;古谷勉;小岛广之;古贺毅 -专利权人：大塚电子株式会社;国立大学法人京都大学
申请日： 2022-10-25 - 公布日： 2023-04-28 - 主分类号： G01N23/201 文献下载
摘要：本发明提供一种光学测定系统。光学测定系统包括：光源，其产生光束；起偏器，其配置在光源与试样之间，用于对光束的偏振方向进行限制；检测器，其观测光束照射到试样而产生的散射光；以及检偏器，其配置在试样与检测器之间。
光学测定系统

[发明专利]主觉式验光装置-CN201910921800.X在审
发明人：泷井通浩;平山幸人 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2019-09-27 - 公布日： 2020-04-07 - 主分类号： A61B3/028 文献下载
摘要：提供抑制检测单元的影响而能够他觉性地良好测定被检眼的光学特性的主觉式验光装置。具备验光单元，该验光单元具有光学构件，配置在被检眼的眼前，使用光学构件来变更视标光束的光学特性，主觉式验光装置将视标光束经由验光单元向被检眼投影，用于主觉性测定被检眼的光学特性，其中具备测定光学系统，该测定光学系统具有投光光学系统和受光光学系统并他觉性测定被检眼的光学特性，投光光学系统具有射出测定光的测定光源，将从测定光源射出的测定光经由验光单元向被检眼的眼底照射，受光光学系统经由验光单元而利用检测器接受由被检眼的眼底反射的测定光的反射光，主觉式验光装置设定为测定光学系统的光轴相对于验光单元的光学构件的光轴成为轴外
主觉式验光装置

[发明专利]主观式检眼装置-CN202111055220.0在审
发明人：滝井通浩;羽根渕昌明;越智永 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2016-11-03 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： A61B3/00 文献下载
摘要：主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。
主观式检眼装置

[发明专利]主观式检眼装置-CN201610959315.8有效
发明人：滝井通浩;羽根渕昌明;越智永 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2016-11-03 - 公布日： 2022-01-04 - 主分类号： A61B3/032 文献下载
摘要：主观式检眼装置具备主观式测定部和客观式测定部，主观式测定部主观地测定上述受检眼的光学特性，并具有：向受检眼投影视标光束的投光光学系统；具有被设置为左右一对的右眼用矫正光学系统以及左眼用矫正光学系统且配置于上述投光光学系统的光路中变更上述视标光束的光学特性的矫正光学系统；为包括上述右眼用矫正光学系统的右眼用光路和包括上述左眼用矫正光学系统的左眼用光路共有且将经上述矫正光学系统矫正后的上述视标光束向上述受检眼导光的光学部件，客观式测定部具有向上述受检眼的眼底射出测定光并接受来自上述眼底的反射光的测定光学系统，客观式测定部经由配置于上述测定光学系统的光路的上述光学部件客观地测定上述受检眼的光学特性。
主观式检眼装置

[发明专利]光学测定装置以及光学测定方法-CN201810708073.4有效
发明人：泉谷悠介;若山育央 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2018-07-02 - 公布日： 2022-06-17 - 主分类号： G01N15/02 文献下载
摘要：本发明的光学测定装置包含：主体基座、可移动地结合于所述主体基座的光学基座、固定于所述光学基座的测定光学系统、以及使所述光学基座相对于所述主体基座进行相对移动的光学基座移动机构。所述光学基座移动机构使所述光学基座相对于所述主体基座在内部测定位置与外部测定位置之间进行相对移动。内部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座内的内部测定对象位置的位置。外部测定位置是指所述测定光学系统的测定对象位置位于设定在所述主体基座外的外部测定对象位置的位置。
光学测定装置以及方法

[发明专利]主观式验光装置及主观式验光程序-CN201710787259.9有效
发明人：泷井通浩;羽根渊昌明;河合规二 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2017-09-04 - 公布日： 2022-02-11 - 主分类号： A61B3/032 文献下载
摘要：本发明提供一种主观式验光装置及主观式验光程序，在主观地测定被检眼的光学特性时，高精度地测定被检眼的光学特性。该主观式验光装置主观地测定被检眼的光学特性，具备：主观式测定部，具有配置在将视标光束向被检眼投影的投射光学系统的光路中并使视标光束的光学特性发生变化的矫正光学系统，且主观地测定被检眼的光学特性，其中，主观式验光装置包括：客观式测定部，具有向被检眼的眼底射出测定光并接收该测定光的反射光的测定光学系统，且客观地测定被检眼的光学特性；以及控制单元，在通过主观式测定部主观地测定被检眼的光学特性的期间，通过客观式测定部客观地测定被检眼的光学特性
主观验光装置程序

[发明专利]眼科装置及其控制方法-CN201910628307.9有效
发明人：多多良阳子 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2019-07-12 - 公布日： 2022-03-22 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：提供一种眼科装置及其控制方法，在能够进行屈光力测定和OCT测量的眼科装置中能够缩短测定等所需时间。眼科装置包括屈光力测定光学系统、OCT光学系统、固视投影系统和控制部。屈光力测定光学系统向被检眼投射光，检测来自被检眼的返回光。OCT光学系统将来自OCT光源的光分割为参照光和测定光，将测定光向被检眼投射，检测来自被检眼的测定光的返回光和参照光之间的干涉光。固视投影系统将第一固定视标和视角比第一固定视标的视角窄的第二固定视标向被检眼同时投影。控制部同时执行使用屈光力测定光学系统的屈光力测定和使用OCT光学系统的OCT测量。
眼科装置及其控制方法

[发明专利]激光加工前进行光学系统的污染检测的激光加工装置-CN201810956956.7有效
发明人：和泉贵士 -专利权人：发那科株式会社
申请日： 2018-08-21 - 公布日： 2020-07-17 - 主分类号： B23K26/046 文献下载
摘要：本发明提供一种激光加工前进行光学系统的污染检测的激光加工装置，该激光加工装置具备在激光加工前判定外部光学系统的污染的污染判定部，污染判定部根据在外部光学系统没有被加热的状态下通过能量测定部测定到的第一测定值与在外部光学系统已被加热的状态下通过能量测定部测定到的第二测定值之间的比较来判定外部光学系统中的透镜的污染
激光加工进行光学系统污染检测装置

[实用新型]眼科测定装置-CN201220120269.X有效
发明人：滨口浩二;乡野光宏 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2012-03-27 - 公布日： 2012-12-12 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：本实用新型提供一种眼科测定装置。该眼科测定装置包括：测定光学系统，其包括：照射光学系统，向受检眼照射测定光；以及受光光学系统，所述受光光学系统通过与外部空气接触的透光构件，通过受光元件接收由受检眼反射测定光而得到的反射光；以及装置主体，容纳测定光学系统，并且在受检眼一侧保持透光构件，所述眼科测定装置根据来自受光元件的输出信号测定受检眼的眼特性，所述眼科测定装置还包括除去与外部空气接触的透光构件上的结露的结露除去装置。所述的眼科测定装置使用方便，并能得到稳定的测定结果。
眼科测定装置

[发明专利]波面计测装置和波面计测方法-CN201580077921.0有效
发明人：佐藤阳辅 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2015-03-27 - 公布日： 2019-08-30 - 主分类号： G01M11/00 文献下载
摘要：波面计测装置(1)具有光源部(2)、保持部(3)、受光光学系统(4)、波面测定部(5)、波面数据生成部(6)，光源部(2)配置在计测轴(7)的一侧，波面测定部(5)配置在计测轴(7)的另一侧，保持部(3)配置在光源部(2)与波面测定部(5)之间，受光光学系统(4)配置在保持部(3)与波面测定部(5)之间，保持部(3)具有保持被检光学系统(10)的开口部(9)，从光源部(2)朝向被检光学系统(10)照射光束(L1)，利用波面测定部(5)测定透射过被检光学系统(10)的光束(L3)，利用波面数据生成部(6)，根据由波面测定部(5)测定出的结果生成波面像差数据，其中，通过受光光学系统(4)，开口部(9)附近和波面测定部(5)附近在光学上共轭，光束的测定至少包含使开口部(9)的中心从计测轴(7)离开规定距离的状态下的测定。
波面计测装置方法

[发明专利]偏心测定装置、偏心测定方法、光学元件及其阵列和单元-CN201010244039.X无效
发明人：重光学道;花户宏之 -专利权人：夏普株式会社
申请日： 2010-07-30 - 公布日： 2011-03-23 - 主分类号： G01B11/27 文献下载
摘要：本发明涉及偏心测定装置、偏心测定方法、光学元件及其阵列和单元。为了实现一种可整批地测定所有光学元件而不需要将构成光学元件阵列的各光学元件单片化，同时以简单且小规模的装置构成便可实现的偏心测定装置等，偏心测定装置包括作为两侧远心光学系统的元件成像光学系统。元件成像光学系统通过所射入的透射光使透镜的两面分别成像。偏心测定装置根据使透镜的第1面成像所得的第1透射像、及使透镜的第2面成像所得的第2透射像的对比度，可测定出透镜的偏心量。
偏心测定装置方法光学元件及其阵列单元

[发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法-CN201711363844.2有效
发明人：冈本宗大;佐佐木勇贵;罗先钦 -专利权人：大塚电子株式会社
申请日： 2017-12-18 - 公布日： 2021-11-02 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光，生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱，测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小，确定用于光学特性的测定的检测数据，基于所确定的检测数据，测定光学特性(S6、S6A)。
光学特性测定装置以及方法

[发明专利]眼屈光力测定装置-CN201880076275.X有效
发明人：滝井通浩;羽根渕昌明;越智永 -专利权人：尼德克株式会社
申请日： 2018-11-28 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：本发明提供一种眼屈光力测定装置，其包括测定光学系统，所述测定光学系统用于将测定光投射到受检眼眼底并接收所述测定光的反射光，从而客观地测定受检眼的眼屈光力，所述眼屈光力测定装置包括：照明光源，配置在相对于所述测定光学系统的测定光轴倾斜30°以上的位置，用于对佩戴眼镜状态的受检眼前眼部进行照明；以及观察光学系统，由所述照明光源照明，观察所述佩戴眼镜状态的受检眼前眼部，所述眼屈光力测定装置能够客观地测定佩戴眼镜状态的受检眼的眼屈光力。
眼屈光力测定装置

[发明专利]用于测定墨滴的光学系统-CN202011007776.8在审
发明人：韩政洹 -专利权人：三星显示有限公司
申请日： 2020-09-23 - 公布日： 2021-11-12 - 主分类号： G01N21/01 文献下载
摘要：公开一种用于测定墨滴的光学系统。本公开的用于测定墨滴的光学系统包括：腔室；光学测定部，设置在腔室外部，并朝向基板照射光而测定墨滴的状态；光学部，设置在腔室内部，并位于光路径上；以及保护模组，具备移动部和辊部，移动部配置于光学部周围并进行升降运动，辊部向光学部和基板之间供应膜。
用于测定光学系统

[其他]光学系统构造体以及光学测定装置-CN201790000627.4有效
发明人：兴雄司;吉冈宏晃;森田金市 -专利权人：国立大学法人九州大学;优志旺电机株式会社
申请日： 2017-02-24 - 公布日： 2019-08-06 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：本实用新型的目的在于提供光学系统构造体以及光学测定装置。在对光路部的介质使用了固体或者液体的光学测定装置中，能够抑制拉曼光并提高测定精度的光学系统构造体等。在光学测定系统中具备：光路部，使在光学测定系统中对测定试样照射波数k1的第1光而产生的观测光透射；以及遮光部，遮挡从外部向所述光路部的光，并且通过折射率与所述光路部匹配而降低所述光路部的内部的噪声光，所述光路部使用固体或者液体作为介质，所述光学系统构造体具备滤波器部件，在所述光路部的内部遮挡由所述第1光穿过所述光路部时产生的拉曼位移所引发的波数k2的第2光的行进。
光路部光学系统构造体光学测定装置光学测定系统波数遮挡本实用新型滤波器部件介质使用观测光拉曼光噪声光遮光部折射率透射匹配照射行进穿过外部

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