专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学特性测定装置以及光学特性测定方法-CN201711363844.2有效
  • 冈本宗大;佐佐木勇贵;罗先钦 - 大塚电子株式会社
  • 2017-12-18 - 2021-11-02 - G01B11/06
  • 本发明使基于来自样本的光的样本的光学特性的测定容易进行。光学特性测定装置(1、1A)具备光学系统(12)、检测部(13)以及解析部(14)。光学系统对从样本(2)射入的检测光进行聚光。检测部对在样本与光学系统之间的光学距离相互不同的状态下经由光学系统射入的样本的检测光进行多次分光,生成表示各检测光的光谱的多个检测数据(D1)。解析部解析检测数据所示的光谱,测定样本的规定的光学特性。解析部基于多个检测数据中的检测光的大小,确定用于光学特性的测定的检测数据,基于所确定的检测数据,测定光学特性(S6、S6A)。
  • 光学特性测定装置以及方法
  • [发明专利]用于测量光之装置、系统及方法-CN201880056684.3在审
  • 金大亨;郑致云;罗先钦 - 韩国大塚电子股份有限公司
  • 2018-08-09 - 2020-05-22 - G01J3/46
  • 本发明系关于一种用于测量自检测体接收之光之装置、系统及方法。在测量自检测体放出之光而获得三激值等之经修正之影像的先前之复合系统中,由于利用分束器等光分歧机构,故有测量机之光感度降低、结果导致测量速度变慢之问题点。因而,本发明为了解决上述课题,而设为可使自检测体发出且入射至光测量装置之光不经由将光分歧为复数个并使其等指向互不相同之方向之光分歧机构而入射至第1测量机及第2测量机。且,为此本发明之特征在于以下述之方式配置第1测量机与第2测量机,即:至第1测量机之第1光之光路径中自共通测量区域内之一地点延长的第1光路径区间、与至第2测量机之第2光之光路径中自上述一地点延长的第2光路径区间不相互重叠,而在大于0°小于180°之范围内形成角。
  • 用于测量装置系统方法

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