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[发明专利]回射制品以及包括球芯和两个同心光学干涉层的回射元件-CN200880126666.4有效
发明人：肯顿·D·巴德;马修·H·弗雷;克里斯托弗·K·哈斯;维维克·克里斯南 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2008-12-16 - 公布日： 2011-01-12 - 主分类号： G02B5/126 文献下载
摘要：第一完整同心光学干涉层(112)覆盖在芯的外表面上，从而在芯和第一光学干涉层之间提供第一界面，并且第二完整同心光学干涉层(122)覆盖在第一光学干涉层上，以在第一光学干涉层和第二光学干涉层之间提供第二界面在一些实施例中，第三完整同心光学干涉层覆盖在第二光学干涉层上，以在第二光学干涉层和该第三光学干涉层之间提供第三界面。回射制品包括具有第一主表面和第二主表面的基底，多个回射元件沿着基底的第一主表面附连。
制品以及包括两个同心光学干涉元件

[发明专利]水膜传感器及其液体厚度检测方法、液体厚度检测组件及其液体检测方法-CN202111425837.7在审
发明人：吴迅奇;钟少龙;刘昌霞;李伟伟;凌晶芳 -专利权人：上海拜安传感技术有限公司
申请日： 2021-11-26 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：一种水膜传感器及其液体厚度检测方法、液体厚度检测组件及其液体检测方法，所述水膜传感器包括：光学干涉腔，光学干涉腔的第一端具有受力后能够发生形变的水膜片，所述水膜片朝向所述光学干涉腔的一面为光反射面，所述光学干涉腔的第二端内表面设有光反射膜；光收发端，与所述光学干涉腔光耦接，用于接收激光信号并发出干涉光，所述干涉光为所述激光信号在所述光反射面和光反射膜之间往复反射后形成的；其中，所述水膜片在受力时的形变方向朝向或远离所述光学干涉腔；所述激光信号自所述光学干涉腔的第二端进入所述光学干涉腔
传感器及其液体厚度检测方法组件

[实用新型]一种用于光学干涉测量设备的减振框架-CN202320301638.3有效
发明人：刘云超 -专利权人：上海乾曜光学科技有限公司
申请日： 2023-02-23 - 公布日： 2023-08-25 - 主分类号： F16F15/02 文献下载
摘要：本申请涉及精密测量仪器减振领域，公开了一种用于光学干涉测量设备的减振框架，包括框架主体，框架主体的顶部设置有多个减振弹性件，多个减振弹性件沿框架主体中线左右对称设置，且多个减振弹性件位于同一水平面内，框架主体的一侧形成有供光学干涉测量设备进入框架主体内的安装敞口本申请具有能够通过采用框架主体，先将光学干涉测量设备轻微抬起使得光学干涉测量设备可进行运输，再将光学干涉测量设备从安装敞口处运送至框架主体内，即可将光学干涉测量设备放置在减振弹性件上，从而无需将光学干涉测量设备抬起至超过减振平台的高度，使得光学干涉测量设备搬运放置在减振平台上更加方便快捷，且光学干涉测量设备在减振平台上晃动幅度更小。
一种用于光学干涉测量设备框架

[发明专利]光电器件单元、光电神经网络以及计算模组-CN202111322795.4在审
发明人：田野;刘胜平;李强;赵洋;王玮 -专利权人：联合微电子中心有限责任公司
申请日： 2021-11-09 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G06N3/067 文献下载
摘要：一种光电器件单元、光电神经网络以及计算模组，所述光电器件单元包括：2K个光学干涉单元，每个光学干涉单元中包含第一干涉波导和第二干涉波导；其中，各个光学干涉单元之间经由所述第一干涉波导或第二干涉波导连接，每个光学干涉单元的不同的干涉波导分别连接至不同的光学干涉单元，且相连的干涉波导的非相连端分别延伸至所述光电器件单元的同一条边，以分别作为该边的输入端口和输出端口。
光电器件单元神经网络以及计算模组

[实用新型]干涉轮廓测量设备-CN202320675405.X有效
发明人：夏勇;何梓铭;王华 -专利权人：长川科技（苏州）有限公司
申请日： 2023-03-30 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种干涉轮廓测量设备，包括底座、位移平台、光学干涉模块及相机。位移平台包括压电陶瓷及与导向机构，导向机构与压电陶瓷配合，能够将电信号转化成导向机构的移动端在第一方向上的动作。光学干涉模块的干涉物镜能够在位移平台的带动下沿第一方向移动以获得不同光程差或相位差的干涉光束，从而实现干涉测量。由于位移平台及光学干涉模块可单独装配和调试后再组装，无需将压电陶瓷集成于光学干涉模块，且压电陶瓷与干涉物镜的光轴非同轴设置，故光学干涉模块内部的结构得到简化，且压电陶瓷的运动不会对光学干涉模块的干涉光路造成的影响因此，上述干涉轮廓测量设备具有较高的测量精度及稳定性。
干涉轮廓测量设备

[实用新型]一种便于存储的光学干涉仪-CN201920859296.0有效
发明人：丁文辉 -专利权人：深圳市垌部科技有限公司
申请日： 2019-06-10 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： G02B27/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便于存储的光学干涉仪，包括干涉仪本体和接触块，所述干涉仪本体的上端的上表面固定设置有顶盒，且顶盒的左右两端均固定安装有连接柱，所述连接柱的上端设置有吸水海绵，且吸水海绵的上端安装设置有弹簧，所述接触块固定设置于弹簧的上端的上表面，所述干涉仪本体的左侧安装设置有射线头。该便于存储的光学干涉仪，通过吸水海绵通过弹簧与接触块构成弹性结构，在光学干涉仪放置叠加过程中，接触块可以通过弹簧与光学干涉仪弹性接触，防止光学干涉仪之间受压过大，弹性吸水海绵减轻光学干涉仪之间的压力，同时吸水海绵可以将光学干涉仪上端的水分子吸收
光学干涉仪上端吸水海绵弹簧干涉仪固定设置连接柱上表面顶盒存储弹性吸水海绵本实用新型水分子吸收弹性接触弹性结构叠加过程射线头受压

[发明专利]一种激光扫描频率带宽标定装置和标定方法-CN202110904239.1有效
发明人：靳刚;成永杰;刘星汛;黄承祖;彭博;付子豪;康宁;代明珍;齐万泉 -专利权人：北京无线电计量测试研究所
申请日： 2021-08-06 - 公布日： 2023-05-12 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：本申请公开了一种激光扫描频率带宽标定装置和标定方法，所述激光扫描频率带宽标定装置包括激光分束组件、光学延时组件、合束干涉组件和光学干涉探测组件；所述激光分束组件用于将光源激光分成待延时光束和原始光束两路激光光束；所述光学延时组件用于将所述待延时光束进行光学延时形成延时光束；所述合束干涉组件用于将所述延时光束与所述原始光束合束且干涉；所述光学干涉探测用于根据光学探测得到的干涉条纹，推得激光扫描频率范围；其依据马赫曾德尔光学干涉原理，通过干涉的高分辨能力将激光的扫描频率转换为激光的强度信息，在时域上即可测量激光的频率调谐范围；且由于干涉条纹与激光扫描频率严格呈正比关系，则使得测试稳定性强。
一种激光扫描频率带宽标定装置方法

[发明专利]眼科装置、眼科装置的控制方法以及程序-CN202180042426.1在审
发明人：森口祥圣;石川朗子 -专利权人：株式会社拓普康
申请日： 2021-05-13 - 公布日： 2023-04-21 - 主分类号： A61B3/10 文献下载
摘要：眼科装置包括干涉光学系统、光扫描仪控制部以及校正控制部。干涉光学系统包括像散校正光学部件和光扫描仪，干涉光学系统将来自光源的光分割为测定光与参照光，并将测定光经由像散校正光学部件和光扫描仪照射到被检眼，并且对来自被检眼的测定光的返回光与参照光的干涉光进行检测光扫描仪控制部控制光扫描仪，以使测定光在与干涉光学系统的光轴垂直的平面中的水平方向和垂直方向上偏转。校正控制部控制像散校正光学部件，以使得基于由干涉光学系统得到的干涉光的检测结果来校正像散。
眼科装置控制方法以及程序

[发明专利]一种干涉测量中成像畸变的标定系统及标定方法-CN201510962490.8有效
发明人：苗亮;张文龙;刘钰;马冬梅;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2018-09-21 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及光学检测技术领域，特别涉及一种干涉测量中成像畸变的标定系统，包括干涉测量中成像畸变的标定系统，包括干涉测量装置、调整机构、球冠网格板和数据处理装置，球冠网格板，用于对所述被检光学元件进行畸变标定；调整机构调整光学被检光学元件处于干涉测量装置共焦干涉检测位置，被检光学元件中心、球冠网格板的几何中心与干涉测量装置的光轴重合，球冠网格板的坐标轴与干涉测量装置探测器的坐标轴重合；干涉测量装置进行干涉检测；数据处理装置计算畸变函数及被检光学元件的面形误差。本发明还包括干涉测量中成像畸变的标定方法。通过设置网格板，进行成像畸变标定，达到了在不破坏被检元件的情况下，实现成像畸变标定的有益效果。
一种干涉测量成像畸变标定系统方法

[发明专利]光学膜和偏振分束器-CN201880068295.2有效
发明人：貟智省;蒂莫西·J·内维特;约翰·D·李;苏珊·L·肯特 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2018-10-18 - 公布日： 2022-12-20 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明描述了光学膜和包括光学膜的偏振分束器。在一些情况下，光学膜包括设置在第二光学叠堆上并由一个或多个间隔层从第二光学叠堆间隔开的第一光学叠堆，每个光学叠堆包括多个聚合物干涉层，该多个聚合物干涉层主要通过相同预定波长范围内的光学干涉来反射和透射光每个光学叠堆具有更靠近一个或多个间隔层的反射较长波长的干涉层，与更远离一个或多个间隔层的反射较短波长的干涉层。
光学偏振分束器

[发明专利]一种自动聚焦的光学干涉测量装置及聚焦方法、存储介质-CN202111163424.6在审
发明人：陈鲁;吕肃;江博闻;张嵩 -专利权人：深圳中科飞测科技股份有限公司
申请日： 2021-09-30 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： G01B9/02 文献下载
摘要：本申请涉及一种自动聚焦的光学干涉测量装置及聚焦方法、存储介质，其中光学干涉测量装置包括干涉光源、光学传感器、驱动机构和处理器。由处理器获取干涉信号的包络曲线，根据包络曲线得到光学传感器的粗聚焦位置，在粗聚焦位置的预设范围内将干涉信号与预设的标准干涉信号进行比较，得到光学传感器的精准聚焦位置，从而在精准聚焦位置将光学传感器聚焦在被测物体的表面技术方案通过计算粗聚焦位置、精准聚焦位置来逐渐确定光学传感器的聚焦位置，相比传统单一的包络线拟合方法，这样更能够提高光学传感器的聚焦精度。
一种自动聚焦光学干涉测量装置方法存储介质

[发明专利]高对比度光学膜和包括该光学膜的设备-CN201880016559.X有效
发明人：亚当·D·哈格;蒂莫西·J·内维特;卡尔·A·斯托弗;安德鲁·J·欧德科克;罗伯特·D·泰勒;杨朝晖 -专利权人： 3M创新有限公司
申请日： 2018-02-26 - 公布日： 2022-05-27 - 主分类号： G02B5/30 文献下载
摘要：本发明公开了包括多个干涉层的光学膜。每个干涉层主要通过光学干涉来反射或透射光。干涉层的总数小于约1000。对于在预定波长范围内的基本上法向入射的光，所述多个干涉层具有对第一偏振态的大于约85％的平均光学透射率、对正交的第二偏振态的大于约80％的平均光学反射率、以及对所述第二偏振态的小于约0.2％的平均光学透射率
对比度光学包括设备

[发明专利]显示面板、显示装置及驱动方法-CN201911205301.7有效
发明人：方正;于美娜;石戈;孙艳六;张世玉;刘玉杰;杨松;韩佳慧;王宇瑶 -专利权人：京东方科技集团股份有限公司
申请日： 2019-11-29 - 公布日： 2021-08-10 - 主分类号： G09F9/35 文献下载
摘要：本发明公开了一种显示面板、显示装置及驱动方法，通过设置有光学干涉层，可以在第一透明电极和第二透明电极加载第一参考电压时，在第一透明电极和第二透明电极相对的表面上形成半透半反膜层，以形成谐振腔。谐振腔可以将对应子像素发出并入射到光学干涉层上的光进行干涉选择：在一定波长范围内且垂直入射到光学干涉层上的光相干相长，相当于以较高的透过率通过光学干涉层，以使用户能够看到显示内容。在同样的波长范围内且非垂直入射到光学干涉层上的光相干相消，相当于以较低的透过率通过光学干涉层甚至不能通过。这样可以使大角度出射的光通过光学干涉层较少甚至不能通过光学干涉层，从而使显示面板的出光角度较小，以达到防窥的目的。
显示面板显示装置驱动方法

[发明专利]高陡度光学镜凸面计算全息透射检测系统-CN202010064184.3有效
发明人：王超;管海军;张新;曲贺盟 -专利权人：长春长光智欧科技有限公司
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2021-04-02 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本发明涉及一种高陡度光学镜凸面计算全息透射检测系统，该系统的计算全息基板设置在干涉仪焦点后且位于标准镜与光学镜之间，其面向光学镜的一侧为衍射面；干涉仪发出的参考光经过出光口处的标准镜出射球面波，参考光经过计算全息基板和光学镜，由光学镜凸面反射后返回；返回的光线再经过光学镜和计算全息基板汇聚到干涉仪焦点，最终进入干涉仪，与内部参考光发生干涉；干涉仪根据干涉的相位信息获得光学镜凸面面形信息；计算全息基板的衍射面检测区域周期分布多个波浪形衍射环本发明能够实现高陡度光学镜凸面面形全口径检测，具有结构简单，成本低，检测耗时短，检测精度高等特点。
陡度光学凸面计算全息透射检测系统

[发明专利]基于条纹追踪的光学元件轮廓检测方法、设备及存储介质-CN202110205746.6有效
发明人：安其昌;刘欣悦;李洪文;王越 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2021-02-24 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：本申请公开了一种基于条纹追踪的光学元件轮廓检测方法、设备及存储介质，包括：利用迈克尔逊干涉系统对标准光学元件表面进行测试，获取干涉条纹图；根据干涉条纹图得到光程差，从光程差中提取相位信息，并根据相位信息，获取标准光学元件表面的矢高信息；以干涉条纹图为输入，以标准光学元件表面的矢高信息为输出，构建并训练第一神经网络；同理对待测光学元件表面进行逐点扫描，获取待测干涉条纹图；将待测干涉条纹图输入至第一神经网络，获取待测光学元件表面每个点的矢高信息；根据迈克尔逊干涉系统在逐点扫描时的测量点坐标和待测光学元件表面每个点的矢高信息，获取待测光学元件的三维轮廓。
基于条纹追踪光学元件轮廓检测方法设备存储介质

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