专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]光学扫描装置和使用其的成像设备-CN201010556684.5有效
  • 富冈雄一 - 佳能株式会社
  • 2008-05-04 - 2011-05-18 - G02B26/12
  • 一种光学扫描装置和使用其的成像设备,所述光学扫描装置构造成除去或充分减少重像,并且包括将光束从光源引导到偏转装置的偏转表面的输入光学系统、和将由偏转表面扫描偏转的光束成像到被扫描表面上的成像光学系统,其中在副扫描截面中,光束相对于成像光学系统的光轴从倾斜方向入射到偏转装置的偏转表面上,其中阻挡重像的遮光构件布置在偏转表面和被扫描表面之间的路上,其中遮光构件在副扫描方向上的端部形成为在副扫描方向上具有高度的弯曲形状
  • 光学扫描装置使用成像设备
  • [发明专利]利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置-CN201310027400.7有效
  • 叶莉华;王文轩;吕昌贵;赵翀;王叶轩;崔一平 - 东南大学
  • 2013-01-24 - 2013-05-08 - G02B26/10
  • 本发明公开了一种利用抛物面镜校正扫描角度的激光扫描采样装置,包括激光器组、合束镜组、半透半反镜、偏转器、抛物面镜、分色镜组和探测器组,所述激光器组发出不同波长的激光,经合束镜组合束后出射至半透半反镜,所述激光由半透半反镜分为透射激光与反射激光,其中透射激光经偏转偏转后形成一定角度的扫描激光,经由抛物面镜反射后,形成平行的扫描激光垂直入射扫描面,扫描面散射的部分光信号按原路返回至偏转器,再由偏转器反射至半透半反镜,经分色镜组将不同波长的信号送入探测器组。本发明解决非垂直入射的情况下,信息随扫描入射角度的增大而衰减的问题。
  • 利用抛物面镜校正扫描角度激光采样装置
  • [发明专利]扫描装置及图像形成装置-CN201710025777.7有效
  • 栗原隆之 - 京瓷办公信息系统株式会社
  • 2017-01-13 - 2019-08-02 - G02B26/12
  • 本发明提供扫描装置及图像形成装置。本发明的扫描装置具备光源、偏转器、反射镜和宽限制部。光源具有彼此隔开间隔配置在规定方向上的多个发光部。偏转器反射从各发光部射出的多个光束而进行偏转扫描。反射镜设置于光源与偏转器之间的路上,将从多个发光部射出的多个光束向偏转器引导。宽限制部限制由反射镜反射的多个光束在与主扫描方向对应的方向(Z)上的宽度。宽限制部与反射镜的反射面邻接设置,具有配置为在方向(Z)上彼此对置的一对限制壁部。根据本发明,在光源与旋转多面镜之间的路上设置有反射镜的多光束型扫描装置中,能够提高用于限制多个光束在与主扫描方向对应的方向(Z)上的扩散宽度的部件的配置自由度。
  • 扫描装置图像形成
  • [发明专利]拾取器的检测器用调节器-CN200410053201.4无效
  • 韩政烨 - 上海乐金广电电子有限公司
  • 2004-07-28 - 2006-02-01 - G11B7/13
  • 本发明是关于拾取器的检测器用调节器,是针对光检测器上所使用的调节器,使其可进行多轴驱动的装置,本发明包括:相对的上、下置有第一偏转线圈弯曲和内侧偏转线圈的偏转线圈板;第一偏转线圈内附有第一磁铁;在中心部放置有检测器,外侧有与第一磁铁相对的调焦、跟踪线圈附着的启动的检测器固定器;以及,支持检测器固定器的线悬挂。本发明的检测器置于内部,依靠周围的磁回路,不仅按调焦、跟踪的方向,也可按半径偏转和X轴方向启动,检测器通过透镜,对入射的激光可在最佳位置上收集到最好的光束。此外,在检测器固定器上,旋转有检测器,这可解决检测器不平衡问题,进而提高对光检测器的信任度。
  • 拾取检测器用调节器
  • [发明专利]扫描装置-CN202180014013.2在审
  • 宫地护 - 斯坦雷电气株式会社
  • 2021-01-29 - 2022-12-02 - G02B26/08
  • 本发明提供一种扫描装置。该扫描装置能够应对光检测器的安装位置、特性的偏差,从而提高镜部的偏转角的检测精度。扫描装置(1)具备控制部(2)、偏转器(3)、检测部(4a,4b)以及光源(5)。偏转器(3)的镜部(30)具有生成扫描(Lb)的平坦反射部(38)和生成2次反射(L2)的槽型反射部(39),并绕旋转轴(36)往复转动。检测部(4a,4b)配置在扫描(Lb)的扫描轨迹上且可对2次反射进行受的位置上,在扫描(Lb)的扫描方向上被分割线(53)分割成检测器(54a)和检测器(54b)。控制部(2)基于检测器(54a,54b)的两输出检测镜部(30)的偏转角(θ)。
  • 扫描装置
  • [发明专利]半导体检查装置-CN202210947735.X在审
  • 中村共则;岩城吉刚 - 浜松光子学株式会社
  • 2018-03-07 - 2022-11-11 - G01N21/95
  • 40b);检流计镜(44a、44b);壳体(32),其在内部保持镜(40b)与检流计镜(44a、44b),且具有用于安装光学元件的安装部(46);及控制部(21a),其控制检流计镜(44a、44b)的偏转角;控制部(21a)以在通过检流计镜(44a、44b)及镜(40b)的第1路(L1)与通过检流计镜(44a、44b)及安装部(46)的第2路(L2)之间切换与半导体器件(D)光学连接的路的方式控制偏转角,且以切换为第1路(L1)时的偏转角与切换为第2路(L2)时的偏转角不重复的方式控制偏转角。
  • 半导体检查装置
  • [发明专利]半导体检查装置-CN201880035932.6有效
  • 中村共则;岩城吉刚 - 浜松光子学株式会社
  • 2018-03-07 - 2022-08-26 - G01N21/956
  • 40b);检流计镜(44a、44b);壳体(32),其在内部保持镜(40b)与检流计镜(44a、44b),且具有用于安装光学元件的安装部(46);及控制部(21a),其控制检流计镜(44a、44b)的偏转角;控制部(21a)以在通过检流计镜(44a、44b)及镜(40b)的第1路(L1)与通过检流计镜(44a、44b)及安装部(46)的第2路(L2)之间切换与半导体器件(D)光学连接的路的方式控制偏转角,且以切换为第1路(L1)时的偏转角与切换为第2路(L2)时的偏转角不重复的方式控制偏转角。
  • 半导体检查装置
  • [发明专利]多光束扫描装置和成像装置-CN201110152828.5无效
  • 白石贵志 - 株式会社东芝;东芝泰格有限公司
  • 2005-02-02 - 2011-08-31 - G02B26/10
  • 本发明提供一种多光束扫描装置和成像装置,该多光束扫描装置包括:多个光源;偏转装置,用于偏转光源的光束;偏转后光学装置,用于使偏转装置偏转的光束沿垂直扫描方向进入被扫描表面,该垂直扫描方向与被扫描表面的法线方向形成预定角度;水平同步检测装置,用于使水平扫描方向的光束同步;路弯折装置,用于将射向被扫描表面的光束弯折到水平同步检测装置;屏蔽件,该屏蔽件这样倾斜,使得各光束达到被扫描表面而光束又不由路弯折装置弯折时,各光束在射到被扫描表面的同一位置时,光束以不变的比率射到水平同步检测装置的接收表面。
  • 光束扫描装置成像

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