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农业化学；冶金建筑机械工程区域搜索

主分类

B 作业；运输

C 化学；冶金

D 纺织；造纸

E 固定建筑物

F 机械工程、照明、加热

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公布日期

2023-10-24 公布专利

2023-10-20 公布专利

2023-10-17 公布专利

2023-10-13 公布专利

2023-10-10 公布专利

2023-10-03 公布专利

2023-09-29 公布专利

2023-09-26 公布专利

2023-09-22 公布专利

2023-09-19 公布专利

专利权人

国家电网公司

华为技术有限公司

中兴通讯股份有限公司

三星电子株式会社

中国石油化工股份有限公司

鸿海精密工业股份有限公司

松下电器产业株式会社

上海交通大学

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[发明专利]一种光学元件像差检测装置及系统-CN201811031557.6在审
发明人：王雪辉;王建刚;雷桂明;温彬;许维;马云峰 -专利权人：武汉华工激光工程有限责任公司
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2018-11-09 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请提供了一种光学元件像差检测装置及系统，用于解决光学元件的像差状态的有效测试的问题。所述装置包括：光源发射器、调制组件以及光斑检测分析仪，所述调制组件包括待测光学元件，所述光源发射器，用于发射无像差的平行光；所述调制组件，用于接收所述无像差的平行光，并将所述无像差的平行光通过所述待测光学元件后得到的有像差光聚焦到所述光斑检测分析仪；所述光斑检测分析仪，用于接收所述调制组件聚焦的有像差光，并根据所述有像差光聚焦产生的光斑信息得到所述待测光学元件的像差。
像差光学元件调制组件光斑检测分析仪平行光像差检测装置光源发射器光聚焦光斑信息有效测试聚焦发射申请

[实用新型]一种光学元件像差检测装置及系统-CN201821451255.X有效
发明人：王雪辉;王建刚;雷桂明;温彬;许维;马云峰 -专利权人：武汉华工激光工程有限责任公司
申请日： 2018-09-05 - 公布日： 2019-03-29 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型提供了一种光学元件像差检测装置及系统，用于解决光学元件的像差状态的有效测试的问题。所述装置包括：光源发射器、调制组件以及光斑检测分析仪，所述调制组件包括待测光学元件，所述光源发射器，用于发射无像差的平行光；所述调制组件，用于接收所述无像差的平行光，并将所述无像差的平行光通过所述待测光学元件后得到的有像差光聚焦到所述光斑检测分析仪；所述光斑检测分析仪，用于接收所述调制组件聚焦的有像差光，并根据所述有像差光聚焦产生的光斑信息得到所述待测光学元件的像差。
像差光学元件调制组件光斑检测分析仪平行光像差检测装置光源发射器光聚焦本实用新型光斑信息有效测试聚焦发射

[发明专利]一种微缩投影系统波像差检测系统及波像差检测方法-CN201510962446.7在审
发明人：谢耀;于杰;王丽萍;郭本银;王辉;周烽;金春水 -专利权人：中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请日： 2015-12-21 - 公布日： 2017-01-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明提供了一种微缩投影系统波像差检测系统及波像差检测方法，其中，微缩投影系统波像差检测系统包括点衍射干涉仪、微缩投影系统以及与点衍射干涉仪处于同一光路上的球面反射系统，所述微缩投影系统置于点衍射干涉仪和球面反射系统之间，所述点衍射干涉仪、微缩投影系统以及球面反射系统自上而下依次设置在同一光路上。同时，该发明提供了一种基于上述微缩投影系统波像差检测系统的波像差检测方法。本发明提供的微缩投影系统波像差检测系统，对机械结构的变化反应敏感、装调过程能快速收敛并且波像差检测精确。
一种微缩投影系统波像差检测方法

[发明专利]用于校正波前传感器的设备及相关方法-CN02824909.7无效
发明人：罗纳德·J·马蒂诺 -专利权人：博士伦公司
申请日： 2002-12-10 - 公布日： 2005-04-06 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：一种用于测量眼睛像差的波前传感器，包括校正测试元件(32)和存储在设备中用作比较的校正测量信息，以确保该设备被正确地校正而用于可靠的像差测量。可选择的互锁功能在像差仪超出校正范围或使用不安全时阻止该像差仪的诊断性/治疗性操作。还描述了一种用于校正像差仪的方法。
用于校正传感器设备相关方法

[发明专利]干涉仪装置的系统误差校正方法-CN200810177435.8无效
发明人：斋藤隆行;葛宗涛 -专利权人：富士能株式会社
申请日： 2008-11-27 - 公布日： 2009-06-10 - 主分类号： G01J9/00 文献下载
摘要：本发明提供一种干涉仪装置的系统误差校正方法，分析性地求出由干涉仪装置的系统误差引起的系统固有的散光像差成分和慧形像差成分，而使被检透镜的波前像差的测定结果得以校正。将被检透镜(5)相对于测定光轴(C)保持在相互隔离90度的2个旋转位置而分别进行测定，将所得到的第1及第2像差函数分类为对应于赛德像差的各像差函数，将其中与散光像差对应的第1及第2散光像差函数求出。将第1散光像差函数和第2散光像差函数相加的函数再分类为对应于赛德像差的各像差函数，将其中与散光像差对应的第3散光像差函数求出，基于该第3散光像差函数的2分之1所对应的系统固有的像差函数而求出系统固有的散光像差成分
干涉仪装置系统误差校正方法

[发明专利]光栅剪切波像差检测干涉仪及检测方法-CN201310261140.X有效
发明人：李杰;唐锋;王向朝;戴凤钊;张敏 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2013-06-26 - 公布日： 2013-10-02 - 主分类号： G01J9/02 文献下载
摘要：一种光栅剪切波像差检测干涉仪及检测方法，该干涉仪包括：光源，小孔光阑，周期相同、方向相互正交的第一光栅、第二光栅的光栅板、具有两个小孔光阑和两个方形光阑的光阑板和探测器。利用本发明光栅剪切波像差检测干涉仪检测待测系统的波像差，可消除差分波前的待测系统几何光程误差，提高待测系统的波像差检测准确度。
光栅剪切波像差检测干涉仪方法

[发明专利]一种补偿粒子速度影像仪球面像差的方法及装置-CN201510107560.1有效
发明人：兰鹏飞;陆培祥;张鹏;张庆斌;罗四强 -专利权人：华中科技大学
申请日： 2015-03-12 - 公布日： 2017-10-31 - 主分类号： H01J49/00 文献下载
摘要：本发明公开一种补偿粒子速度影像仪球面像差的方法，所述方法为在粒子速度影像仪提取极电极板添加跳变电压，以在聚焦电场的基础上添加发散电场，从而补偿原有静电聚焦透镜球面像差。本发明还提供一种补偿粒子速度影像仪球面像差的装置，所述装置包括与粒子速度影像仪提取极电极板连接的跳变电压控制单元，用于在提取极电极板上产生跳变电压。本发明可补偿粒子速度影像仪补偿原有静电聚焦透镜球面像差，实施本发明无需改变原有装置结构，实施简便、成本低、成像分辨率高。
一种补偿粒子速度影像球面方法装置

[发明专利]一种闭环迭代补偿干涉检测方法、装置和系统-CN202110460304.6在审
发明人：薛帅;戴一帆;陈善勇;刘俊峰;翟德德 -专利权人：中国人民解放军国防科技大学
申请日： 2021-04-27 - 公布日： 2021-07-09 - 主分类号： G01B11/24 文献下载
摘要：一种闭环迭代补偿干涉检测方法、装置和系统，搭建闭环迭代补偿干涉检测装置，设置补偿相位优化子系统其智能优化算法的初始模式像差系数，模式像差系数即智能优化算法的优化变量；根据当前的模式像差系数，控制可变补偿元件产生相应相位，获得像差补偿后对应的干涉图以及干涉图对应的干涉图性能指标，判断相位补偿后的干涉图是否满足可完全被波面干涉仪解析的要求，若当前像差补偿后对应的干涉图不能满足可完全被波面干涉仪解析的要求，则更迭更新产生新的优化变量，直到像差补偿后的干涉图能够完全被波面干涉仪解析，执行检测操作。该方法具备适应光学元件实际加工过程中不同形态超干涉仪动态范围大面形误差的能力。
一种闭环补偿干涉检测方法装置系统

[发明专利]一种可校正系统像差的大视场太阳光栅光谱成像装置-CN201910610187.X在审
发明人：郑联慧;肖荣辉;洪海莲;林俊武;颜慧贤 -专利权人：三明学院
申请日： 2019-07-08 - 公布日： 2019-10-25 - 主分类号： G01J3/28 文献下载
摘要：本发明提供了一种可校正系统像差的大视场太阳光栅光谱成像装置，在不明显增加成本和系统复杂性的前提下，通过在光栅光谱仪系统引入一个标定光学系统，并在其焦平面的共轭位置引入一个波前探测器，用于标定大视场太阳光栅光谱仪的系统像差其中，标定光学系统用于对光栅光谱仪系统不同视场的像差进行标定，而波前探测器用于探测系统不同视场的像差；最后采用退卷积算法，消除系统像差对光谱成像质量的影响。这对于提高太阳光栅光谱仪系统的成像质量具有重要意义。
像差标定光栅光谱仪光栅光谱大视场太阳波前探测器成像装置光学系统校正系统视场系统复杂性共轭位置光谱成像探测系统系统像差消除系统重要意义焦平面引入算法退卷成像

[发明专利]光栅剪切干涉仪波像差检测的系统误差的消除方法-CN201310646820.3有效
发明人：李杰;王向朝;唐锋;吴飞斌;戴凤钊;余程 -专利权人：中国科学院上海光学精密机械研究所
申请日： 2013-12-04 - 公布日： 2014-03-26 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：一种光栅剪切干涉仪波像差检测的系统误差的消除方法。该方法使用±1级衍射光分别与0级衍射光剪切干涉，对差分信息进行波前重建以及翻转处理，采用数值计算得到影响光栅剪切干涉仪波像差检测精度的主要系统误差项的相关参数：不同级次衍射光汇聚点间距和探测器倾斜角度，消除波像差检测中几何光程误差和探测器倾斜误差，提高波像差检测的准确度。本发明根据实际情况消除重建波前中的几何光程误差和探测器倾斜误差，提高光栅剪切干涉仪波像差检测的准确度。
光栅剪切干涉仪波像差检测系统误差消除方法

[发明专利]统计式自动验光仪-CN201180074225.6有效
发明人： R.S.斯普拉特;T.克拉策 -专利权人：卡尔蔡司光学国际有限公司;卡尔蔡斯光学公司
申请日： 2011-10-17 - 公布日： 2017-06-06 - 主分类号： A61B3/103 文献下载
摘要：用于为人确定处方(Rx)的方法包括提供表征人的眼睛的波前误差的像差仪数据，所述像差仪数据是使用波前传感器来获得的并且包括表征所述波前误差的一个或多个系数；基于所述一个或多个系数并且基于与多个人的眼睛的像差仪数据和主观验光数据有关的预定信息来为该人的眼睛确定起始
统计自动验光

[外观设计]波前像差仪-CN201630259898.4有效
发明人： -专利权人：
申请日： 2016-06-20 - 公布日： 2017-01-11 - 主分类号： 24-01 文献下载
摘要：1．本外观设计产品的名称：波前像差仪；2．本外观设计产品的用途：本外观设计产品用于眼科临床对眼病的早期诊断，是眼科临床中一种新的常规检查仪器；3．本外观设计产品的设计要点：主视图；4．最能表明本外观设计设计要点的图片或照片
波前像差仪

[发明专利]测量波像差的系统-CN201310234586.3无效
发明人：赵卫;张周锋;谢永军;康福增 -专利权人：中国科学院西安光学精密机械研究所
申请日： 2013-06-09 - 公布日： 2013-09-18 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明涉及一种测量波像差的系统，包括干涉仪以及与干涉仪处于同一光路上的平面反射系统；待测光学系统置于干涉仪和平面反射系统之间；平面反射系统是液体反射镜；干涉仪、待测光学系统以及液体反射镜自上而下依次设置在同一光路上本发明提供了一种不仅可用来检测小口径光学系统波像差，同样适用于大口径光学系统波像差检测的系统。
测量波像差系统

[发明专利]大视场超光谱成像差分吸收光谱仪光谱定标装置-CN201410626066.1有效
发明人：司福祺;江宇;汪世美;周海金;赵敏杰 -专利权人：中国科学院合肥物质科学研究院
申请日： 2014-11-08 - 公布日： 2017-07-25 - 主分类号： G01J3/42 文献下载
摘要：本发明公开了一种大视场超光谱成像差分吸收光谱仪光谱定标装置，包括石英漫反射板积分球，位于石英漫反射板积分球外对应窗孔位置设置有监视用望远镜、监视用光谱仪，位于石英漫反射板积分球外对应窗孔位置还转动安装有旋转平台，旋转平台上设置有大视场超光谱成像差分吸收光谱仪。本发明解决了目前大视场超光谱成像差分吸收光谱仪光谱定标中存在的问题，提高了光谱定标效率和精度。
视场光谱成像吸收光谱仪定标装置

[发明专利]基于模拟退火算法的Placido盘面型设计方法-CN202110512500.3在审
发明人：田苗;吴春波;张培茗;曾祥堉 -专利权人：上海观爱医疗科技有限公司
申请日： 2021-05-11 - 公布日： 2021-08-03 - 主分类号： G06F30/20 文献下载
摘要：本发明提出一种基于模拟退火算法的Placido盘面型设计方法，包括：预设角膜顶点到角膜地形图仪中Placido盘顶点的距离和角膜顶点到角膜地形图仪中光阑的距离，作为后续优化的初始条件；设置Placido盘的面型对应的表达式；根据像差原理计算光阑处的像差函数；以像差函数作为评价函数，以Placido盘表面参数为变量，进行模拟退火运算，计算得到像差最小时的Placido盘表面参数。通过上述的方法计算形成的Placido盘具有在光阑处具有较小的像差，减少了后续镜头组的设计难度，并有助于提高后续图像处理的精度的优点。
基于模拟退火算法 placido 盘面设计方法

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