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[实用新型]一种基于多维轨道的高速激光切割设备-CN201821626072.7有效
发明人：徐强 -专利权人：广州新可激光设备有限公司
申请日： 2018-09-30 - 公布日： 2019-08-16 - 主分类号： B23K26/38 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种基于多维轨道的高速激光切割设备，通过利用第一维度轨道和第二维度轨道，平行移动的方式用于大范围移动切割区域，而通过第三维度调位镜和第四维度调位镜的反射来在小范围的切割区域内快速定位切割点，最后通过准直切割镜使切割激光竖直向下切割。通过四个维度分配激光的平面位移，第一维度轨道和第二维度轨道负责大距离位移，将切割头快速移动至远距离处，而第三维度调位镜和第四维度调位镜对切割激光位移的控制速度远远快于第一维度轨道和第二维度轨道对切割头的整体移动
维度切割轨道调位高速激光切割切割区域激光切割头多维本实用新型大范围移动激光位移快速定位快速移动平面位移平行移动竖直向下整体移动超高速大距离切割点远距离准直反射分配

[发明专利]一种二维指向机构精度测量装置-CN202110504533.3在审
发明人：柴艳红;孙瑞峰;刘兰波;毛喆;魏鹏鹏 -专利权人：上海航天电子通讯设备研究所
申请日： 2021-05-08 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： G01C25/00 文献下载
摘要：本发明提供了一种二维指向机构精度测量装置，涉及卫星结构测量技术领域，包括：方位调整装置、俯仰调整装置、角度测量装置、测试台面；方位调整装置包括：支撑回转机构、俯仰支撑架，俯仰支撑架安装在支撑回转机构上；俯仰调整装置包括：安装板、轴承、第一伺服电机、第一减速机、第一转动轴、第二转动轴；角度测量装置包括：安装底板、水平调整杆、角度测量仪器；俯仰调整装置通过轴承与俯仰支撑架连接，支撑回转机构的底部与测试台面连接本发明的二维指向机构精度测量装置，可实现对二维指向机构精度的单点测量和连续测量，测量过程简单，大大节约了测量的时间。
一种二维指向机构精度测量装置

[发明专利]摄像装置-CN200410070854.3有效
发明人：武山哲英 -专利权人：奥林巴斯株式会社
申请日： 2004-07-23 - 公布日： 2005-02-09 - 主分类号： G03B17/00 文献下载
摘要：一种摄像装置，从物体侧依次包括：一维扫描镜(2)，扁平状透镜组(3)，扁平状二维图像传感器(4)，和图像合成处理装置(5)，其中由一维扫描镜扫描并由二维图像传感器获得的图像被连接成一合成图像。透镜组(3)在扁平面取向上与二维图像传感器(4)一致。二维图像传感器(4)的摄像面的高宽比α满足下面的条件：0.05＜α＜0.5相对于通过图像合成处理装置(5)合成的一个合成图像，分成2至32段的图像的其中一段对应于单一扫描操作中由二维图像传感器(4)所获得的拍摄图像
摄像装置

[发明专利]纳米金颗粒在DNA折纸芯片上的可控分布方法-CN201010503080.4无效
发明人：贺林;李璨;冯晓录;陈培华 -专利权人：上海交通大学;上海佰真生物科技有限公司
申请日： 2010-10-12 - 公布日： 2011-01-19 - 主分类号： C12Q1/68 文献下载
摘要：该方法为三种方案的任一种：一、构造一个非对称二维图形，制备DNA折纸芯片，制备胶体金探针，粒径胶体金探针与非对称二维图形DNA折纸芯片连接，原子力显微镜成像；二、构造一个非对称二维图形，制备DNA折纸芯片，制备胶体金探针，DNA短链与胶体金探针杂交，粒径胶体金探针与非对称二维图形DNA折纸芯片连接，原子力显微镜成像；三、构造一个非对称二维图形，制备DNA折纸芯片，制备胶体金探针，DNA短链与胶体金探针杂交，粒径胶体金探针与非对称二维图形DNA折纸芯片连接，原子力显微镜成像，本发明在极微量生化检测芯片研制，纳米器件开发，纳米粒子基本性质研究等学科领域具有广泛的应用空间。
纳米颗粒 dna 折纸芯片可控分布方法

[发明专利]一种应用于太赫兹波远距成像的二维扫描装置-CN201510678380.9在审
发明人：王斌;王海涛;何静;王平;韩永金 -专利权人：上海无线电设备研究所
申请日： 2015-10-20 - 公布日： 2016-01-20 - 主分类号： G01V8/18 文献下载
摘要：本发明公开了一种应用于太赫兹波远距成像的二维扫描装置，其包含：平面反射镜，用于接收或发射太赫兹波；第一扫描电机，其连接所述的平面反射镜，控制平面反射镜进行旋转动作；第二扫描电机，其连接所述的平面反射镜，控制平面反射镜进行俯仰动作；控制模块，其分别连接所述的第一扫描电机和第二扫描电机，通过控制两电机使平面反射镜进行复合运动，实现太赫兹波的远距二维扫描。其优点是：太赫兹收发系统通过平面镜实现成像，并结合装置的旋转、俯仰二维运动来实现太赫兹波的远距成像，极大地拓展了太赫兹成像的应用范围。
一种应用于赫兹波远距成像二维扫描装置

[发明专利]一种识别二维三维材料异质结中二维材料层数的光学方法-CN202111555010.8在审
发明人：吴宏荣;赵军华;李娜;童品森 -专利权人：江南大学
申请日： 2021-12-17 - 公布日： 2022-03-25 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种识别二维三维材料异质结中二维材料层数的光学方法，涉及二维/三维材料共形异质结测量表征技术领域，该方法包括：获取待识别二维/三维材料异质结的光学图像；从颜色厚度对应关系中确定与二维/三维材料异质结的颜色信息对应的二维/三维材料异质结厚度，从待识别二维/三维材料异质结的厚度对应的计算图谱中，得到二维/三维材料异质结的颜色随二维材料层数变化的计算图谱，将待识别二维/三维材料异质结光学图像与计算图谱进行比对，确定二维/三维材料异质结中二维材料的层数本发明基于光学图像与对应关系的比对，可以方便快捷有效的识别光学显微镜观测的二维/三维材料异质结中二维材料层数。
一种识别二维三维材料异质结中层数光学方法

[发明专利]一种二维电子气材料纳米沟道及其制备方法-CN202010064121.8在审
发明人：陆小力;焦安宁;马晓华;黄玉瑶;郭昊飞;郝跃 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2020-01-20 - 公布日： 2021-07-20 - 主分类号： H01L29/06 文献下载
摘要：本发明涉及一种二维电子气材料纳米沟道及其制备方法，其中，制备方法包括步骤：S1、采用原子力显微镜对二维电子气材料表面的第一区域进行原位机械刻蚀，形成第一凹槽；S2、采用所述原子力显微镜对所述二维电子气材料表面的第二区域进行原位机械刻蚀，形成与所述第一凹槽并列的第二凹槽；其中，所述第一凹槽与所述第二凹槽之间形成所述二维电子气材料的纳米通道。该制备方法通过对二维电子气材料进行原位机械刻蚀形成第一凹槽和第二凹槽，从而形成纳米通道，制备工艺简单，耗时较短，可以快速获得并研究小尺寸器件，进而获得二维电子气材料的纳米级器件。
一种二维电子材料纳米沟道及其制备方法

[发明专利]一种干涉增强上转换成像装置-CN202011119048.6在审
发明人：汪韬;马晓燠;杨奇龙;樊志华;贾天豪;游双慧 -专利权人：重庆连芯光电技术研究院有限公司
申请日： 2020-10-19 - 公布日： 2021-01-22 - 主分类号： G02F1/35 文献下载
摘要：本申请提供了一种干涉增强上转换成像装置，包括：分束器，反射镜，二维图像上转换器，参考光上转换器，相位调制器，二向色镜，光电探测器；分束器，用于将激光器发出的光分为两束，一束作为信号光，另一束作为参考光；反射镜，用于改变装置中的光路传播方向；二维图像上转换器，用于通过增大非线性晶体中激光模式的大小实现二维图像的高空间分辨的频率上转换；参考光上转换器，用于通过外腔增强泵浦光强度实现参考光高转换效率的转换；相位调制器，用于调整上转换信号光的相位；二向色镜，用于将上转换信号光和上转换参考光合束；光电探测器，用于探测干涉增强后的二维上转换图像。从而实现高转换效率和高空间分辨率的二维图像上转换。
一种干涉增强转换成像装置

[实用新型]一种随动反射镜分辨率测试装置及测试系统-CN201721565471.2有效
发明人：展亚伦;张孟孟;白本宁 -专利权人：中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
申请日： 2017-11-22 - 公布日： 2018-08-24 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型涉及一种随动反射镜分辨率测试装置及测试系统，将二维调试台放置在光具座的载物台上，通过调节二维调试台的调节旋钮使得固定块保持相对水平，然后将待测随动反射镜与本装置固定，将平行光管和前置镜分别置于测试装置的二维调试台靠块的相对面的两侧，微调二维调试台使得平行光管发出的光线，经过随动镜反射后进入到前置镜。本装置使得整个测试过程中不需要反复调整随动反射镜的位置，即可在前置镜中快速找到平行光管的像，从而快速完成随动反射镜分辨率的测量。本实用新型不仅适用随动反射镜的测量，还可用于常规光学零件及类似的光学零件测量，在光学零件测试领域中有着重要的应用前景。
随动反射镜调试台二维平行光管前置镜本实用新型分辨率测试测试系统测量光学零件测量测试过程测试领域测试装置常规光学光学零件装置固定固定块光具座镜反射分辨率靠块可用旋钮载物微调应用

[实用新型]一种激光读数头-CN200420047532.2无效
发明人：赵立人;马立军 -专利权人：赵立人
申请日： 2004-04-02 - 公布日： 2005-03-09 - 主分类号： G11B7/12 文献下载
摘要：该激光读数头包括双波长激光器、光栅、半透半反镜、准直镜、反射镜、物镜、光电接收器，以及固定物镜的二维力矩器；其中，该光栅、半透半反镜设置在双波长激光器的入射光轴上，该准直镜、反射镜、该物镜设置在所说的半透半反镜的反射光路上，该光电接收器设置在所说的半透半反镜的透射光路上；其特征在于，所说的二维力矩器采用四悬线结构的二维力矩器。本实用新型设计的二维力矩器，动态特性好，以满足高清晰度影碟播放机信息传输率高的要求(清晰度是一般DVD播放机的5倍，信息传播速度是一般DVD播放机的3－4倍)。同时也可以用于普通DVD播放机。
一种激光读数

[发明专利]一种共享眼镜柜的多人扫码取镜系统及方法-CN201811467081.0在审
发明人：吴鹏 -专利权人：广州云镜科技有限公司
申请日： 2018-12-03 - 公布日： 2019-03-19 - 主分类号： G07F17/12 文献下载
摘要：本发明公开一种共享眼镜柜的多人扫码取镜系统及方法，取镜系统至少包括：出租柜体，包括有多个并列的收纳腔，每个收纳腔内放置有一个格盒，每个格盒与安装在其对应收纳腔内的电子锁相连接，每个格盒外表面都附有其唯一的二维码标签，每个电子锁均与控制主板信号连通；控制主板，内置在出租柜体内，负责接收由多人分别扫描不同收纳腔外二维码标签所产生的二维码信息，根据各二维码信息控制对应的电子锁打开，并生成控制指令统计开锁时长和计算相关费用；本发明的取镜方法能实现多用户同时取镜，减少用户排队取镜的情况，缩短用户取镜时间，同时减少多用户同时取物的出错几率。
收纳腔电子锁镜系统格盒二维码标签二维码信息控制主板多用户眼镜出错几率生成控制信号连通共享柜体开锁内置取物时长并列扫描体内指令排队统计

[发明专利]一种定日镜定位系统与方法-CN201110319467.9有效
发明人：黄文君;朱晓明;祝雪妹;项翀 -专利权人：浙江中控太阳能技术有限公司
申请日： 2011-10-20 - 公布日： 2012-05-09 - 主分类号： G05D3/12 文献下载
摘要：本发明公开一种定日镜定位系统，包括中央接收器，定日镜，二维伺服系统平台，CCD探测器，激光测距装置，主控制器，闪烁发光体，全反射棱镜。本发明还公开了一种基于上述系统的定日镜定位方法，包括：（1）利用二维伺服系统平台调整激光测距装置二维角度；（2）利用CCD探测器和闪烁发光体捕捉待测定日镜；（3）利用CCD探测器判断激光光斑与定日镜中心点的偏差大小，控制旋转二维伺服系统平台调整激光射至定日镜中心；（4）利用激光测距装置测量激光发射点至定日镜中心点距离；（5）重复步骤（1）-（4），由测得的激光测距装置至定日镜中心点的距离及激光测距装置的位置坐标求得定日镜中心点的实际坐标本发明可精确计算定日镜的实际坐标，实现定日镜的精确定位。
一种定日定位系统方法

[实用新型]微型二维激光扫描像源及投影系统-CN201820150156.1有效
发明人：沈文江;吴东岷;李敏;余晖俊;周鹏 -专利权人：中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
申请日： 2018-01-29 - 公布日： 2018-10-30 - 主分类号： G03B21/20 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种微型二维激光扫描像源及投影系统。微型二维激光扫描像源包括：激光光源、透镜单元、扫描振镜单元、显示单元和控制单元，所述透镜单元和扫描振镜单元依次设置于所述激光光源和显示单元之间，所述激光光源至少用以发射激光光束；所述透镜单元至少用以将激光光源发射的激光光束形成汇聚光束；所述扫描振镜单元至少用以反射所述汇聚光束并入射到显示单元；所述显示单元至少用以接收扫描振镜单元反射的汇聚光束；所述控制单元分别与激光光源和扫描振镜单元连接。本实用新型利用二维扫描振镜和激光器制作小体积、高分辨率、高亮度、高对比度的像源，并将所述二维扫描激光像源应用在HUD、VR、AR等领域。
激光光源像源扫描振镜二维激光扫描汇聚光束透镜单元本实用新型投影系统反射二维扫描振镜发射激光光束单元连接二维扫描高对比度高分辨率激光光束接收扫描依次设置振镜单元激光器激光发射制作应用

[实用新型]一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置-CN202222976572.6有效
发明人：张大伦;张斌;范浩 -专利权人：茂莱（南京）仪器有限公司
申请日： 2022-11-09 - 公布日： 2023-04-11 - 主分类号： G02B7/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种应用于四显微镜正交并共聚焦的调校装置，包括台架以及设置于台架上的四个二维位移台，每个二维位移台上均设有带相机的显微镜，显微镜I和显微镜III相对设置，显微镜II和显微镜Ⅳ相对设置；所述台架中心位置设有轴系轴系包括轴套以及设置于轴套内的竖轴，竖轴呈T型通过钢球组与轴套的内侧转动连接；轴系上还设有回转定位机构，回转定位机构包括柱塞与锥窝，柱塞设于竖轴的一侧；锥窝有四组，沿圆周均匀分布在轴套的外侧；竖轴上还设有二维调整架，二维调整架上垂直设置有刀片。
一种应用于显微镜交并聚焦调校装置

[发明专利]一种基于光谱法判断二维铁弹材料的畴取向以及局域光学各向异性的调控方法-CN202211365926.1在审
发明人：李洋;伏捷瑞;赵守鑫;徐成彦;甄良 -专利权人：哈尔滨工业大学
申请日： 2022-10-31 - 公布日： 2023-04-04 - 主分类号： G01N21/65 文献下载
摘要：一种基于光谱法判断二维铁弹材料的畴取向以及局域光学各向异性的调控方法，涉及二维纳米材料表征与畴结构调控技术领域。本发明是要解决目前二维铁弹材料难以通过透射电子显微镜等微观的表征方法表征畴取向，传统的铁弹畴调制方法由于过于不均匀的应变也难以在机械剥离的二维材料中得到控制的技术问题。本发明将二维铁弹材料置于通过偏振光显微镜引入的激光下，在收集拉曼信号端增加一个偏振方向可调的偏振片，旋转样品收集不同旋转角度的拉曼信号，通过拉曼信号的强度变化规律判断二维铁弹材料的畴取向，并通过外加应变调控二维铁弹材料中畴的分布本发明是一种无损判断二维铁弹材料中畴的取向并实现有效调控的方法。
一种基于光谱判断二维材料取向以及局域光学各向异性调控方法