[发明专利]IC试验装置无效
| 申请号： | 99104796.6 | 申请日： | 1999-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN1232184A | 公开（公告）日： | 1999-10-20 |
| 发明（设计）人： | 中村浩人;根本真;山下和之 | 申请（专利权）人： | 株式会社爱德万测试 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G11C29/00 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 王永刚 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 转位时间短,生产率高的IC试验装置,把IC的保持时间吸收到其它的试验时间中,把IC向触点的传送时间吸收到从其它触点的取出时间中,同时进行由第6传送装置实施的从第6位置向第7位置的传送以及由第7传送装置实施的从第7位置向第8位置的传送,设置把IC传送到距缓冲部件最近的发生频率高的类别的托盘中的专用传送装置。 | ||
| 搜索关键词： | ic 试验装置 | ||
【主权项】：
1．一种IC试验装置，其特征在于具有：把被搬入到试验工艺的第1位置中的被试验IC传送到试验头的触点进行了试验以后，把上述被试验IC从该触点取出的第1传送装置；把被搬入到上述试验工艺的第2位置的被试验IC传送到上述触点进行了试验以后，把上述被试验IC从该触点取出的第2传送装置。
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