[发明专利]薄膜过滤系统对数降低值预测及多孔薄膜完整性试验方法无效
| 申请号： | 98803016.0 | 申请日： | 1998-05-26 |
| 公开（公告）号： | CN1096286C | 公开（公告）日： | 2002-12-18 |
| 发明（设计）人： | 迈克尔·R·L·塞尔比;汉弗莱·J·J·德拉蒙德;沃伦·T·约翰逊 | 申请（专利权）人： | USF过滤分离集团公司 |
| 主分类号： | B01D65/10 | 分类号： | B01D65/10 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人： | 张祖昌 |
| 地址： | 美国马*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 一种预测薄膜过滤系统中对数降低值的方法，该方法包括确定通过薄膜的过滤流率，应用完整性试验测量结果，确定薄膜的旁通流率，以及应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按(2)确定对数降低值。还公开了多孔薄膜完整性试验方法。 | ||
| 搜索关键词： | 薄膜 过滤 系统 对数 降低 预测 多孔 完整性 试验 方法 | ||
【主权项】：
1.薄膜过滤系统对数降低值的预测方法，该方法包括以下步骤：i)确定通过薄膜的过滤流率Qfilt；ii)应用完整性试验测量结果确定薄膜旁通流率QBypass；iii)应用确定的过滤流率与确定的旁通流率的比例，按下式推测对数降低值：LRV=log10(QfiltQBypass).
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